1、NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 61014 Deuxime dition Second edition 2003-07 Programmes de croissance de fiabilit Programmes for reliability growth Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 61014:2003Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la C
2、EI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base,
3、la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des
4、 renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo- nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes
5、 qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (http:/www.iec.ch/searchpub/cur_fut.htm) vous permet de fai
6、re des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications rempla- ces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Publi
7、shed Ce rsum des dernires publications parues (http:/www.iec.ch/online_news/justpub/jp_entry.htm) est aussi disponible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette pub
8、lication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-
9、1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorpor
10、ating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC
11、Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available
12、from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (http:/www.iec.ch/searchpub/cur_fut.htm) enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On-line information is
13、also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (http:/www.iec.ch/online_news/justpub/jp_entry.htm) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see
14、below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 .NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD
15、61014 Deuxime dition Second edition 2003-07 Programmes de croissance de fiabilit Programmes for reliability growth Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2003 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut t
16、re reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including pho
17、tocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerland Telephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE X Commiss
18、ion Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission 2 61014 CEI:2003 SOMMAIRE AVANT-PROPOS . 6 INTRODUCTION .10 1 Domaine dapplication.12 2 Rfrences normatives .12 3 Termes et dfinitions 14 4 Concepts de base.26 4.1 Gnralits26 4.2 Origine des fragilits et des dfaillances26
19、4.2.1 Gnralits 26 4.2.2 Fragilits systmatiques 28 4.2.3 Fragilits rsiduelles28 4.3 Concepts de base de la croissance de fiabilit dans le processus de dveloppement de produit; concept de lingnierie de fiabilit intgre 30 4.4 Concepts de base de la croissance de fiabilit en phase dessai30 4.5 Planifica
20、tion de la croissance de fiabilit et estimation de la fiabilit atteinte pendant la phase de conception 34 4.5.1 Gnralits 34 4.5.2 Croissance de fiabilit dans la phase de dveloppement/conception de produit 34 4.5.3 Croissance de fiabilit avec les programmes dessai36 5 Organisation .40 5.1 Gnralits40
21、5.2 Mthodes comprenant les processus de la phase de conception .42 5.3 Relations .42 5.4 Main-duvre et cots de la phase de conception46 5.5 Economies.46 6 Prparation et excution des programmes de croissance de fiabilit.48 6.1 Concepts intgrs et aperu de la croissance de fiabilit.48 6.2 Activits de c
22、roissance de fiabilit en phase de conception .50 6.2.1 Activits en phase de concept ou de spcifications du produit .50 6.2.2 Dfinition et conception prliminaire du produit52 6.2.3 Phase de conception du projet.52 6.2.4 Outillage, premiers lots de production (pr-production), phase de production56 6.2
23、.5 Phase produit en exploitation.56 6.3 Activits de croissance de fiabilit en phase dessai de validation .56 6.4 Considrations pour les essais de croissance de fiabilit.58 6.4.1 Gnralits 58 6.4.2 Prparation dessai 58 6.4.3 Considrations particulires pour les entits non rparables ou utilisation uniqu
24、e (consommables) et les composants 62 6.4.4 Classification des dfaillances .64 6.4.5 Classes de dfaillances ne pas prendre en compte.64 6.4.6 Classes de dfaillances prendre en compte 66 6.4.7 Catgories de dfaillances, se produisant pendant lessai et prendre en compte66 6.4.8 Processus damlioration d
25、e la fiabilit dans les essais de croissance de fiabilit6861014 IEC:2003 3 CONTENTS FOREWORD 7 INTRODUCTION .11 1 Scope .13 2 Normative references13 3 Terms and definitions .15 4 Basic concepts .27 4.1 General .27 4.2 Origins of weaknesses and failures27 4.2.1 General27 4.2.2 Systematic weaknesses.29
26、 4.2.3 Residual weaknesses 29 4.3 Basic concepts for reliability growth in product development process; integrated reliability engineering concept.31 4.4 Basic concepts for reliability growth in the test phase 31 4.5 Planning of the reliability growth and estimation of achieved reliability during th
27、e design phase .35 4.5.1 General35 4.5.2 Reliability growth in the product development/design phase.35 4.5.3 Reliability growth with the test programmes .37 5 Management aspects41 5.1 General .41 5.2 Procedures including processes in the design phase .43 5.3 Liaison.43 5.4 Manpower and costs for des
28、ign phase.47 5.5 Cost benefit.47 6 Planning and execution of reliability growth programmes 49 6.1 Integrated reliability growth concepts and overview .49 6.2 Reliability growth activities in the design phase .51 6.2.1 Activities in concept and product requirements phase51 6.2.2 Product definition an
29、d preliminary design.53 6.2.3 Project design phase .53 6.2.4 Tooling, first production runs (preproduction), production phase 57 6.2.5 Product fielded phase 57 6.3 Reliability growth activities in the validation test phase57 6.4 Considerations for reliability growth testing59 6.4.1 General59 6.4.2 T
30、est planning.59 6.4.3 Special considerations for non-repaired or one-shot (expendable) items and components .63 6.4.4 Classification of failures.65 6.4.5 Classes of non-relevant failures.65 6.4.6 Classes of relevant failures67 6.4.7 Categories of relevant failures that occur in test 67 6.4.8 Process
31、 of reliability improvement in reliability growth tests .69 4 61014 CEI:2003 6.4.9 Modles mathmatiques dessai de croissance de fiabilit.72 6.4.10 Nature et objectifs de la modlisation 72 6.4.11 Concepts des mesures de fiabilit en essai de croissance de fiabilit utiliss dans la modlisation 74 6.4.12
32、Comptes rendus dessai de croissance de fiabilit et documentation80 7 Croissance de fiabilit en exploitation.84 Bibliographie.86 Figure 1 Comparaison entre processus de croissance et de rparation en essais de croissance de la fiabilit32 Figure 2 Amlioration (rduction) planifie du taux de dfaillance q
33、uivalente .36 Figure 3 Amlioration de fiabilit planifie exprime en termes de probabilit de survie .36 Figure 4 Diagrammes des dfaillances en essai ou en laboratoire prendre en compte avec le temps .38 Figure 5 Structure gnrale dun programme de croissance de fiabilit 42 Figure 6 Diagramme indiquant l
34、es relations et les fonctions .46 Figure 7 Processus intgr dingnierie de fiabilit.50 Figure 8 Processus de croissance de fiabilit en essai.70 Figure 9 Courbe caractristique reprsentant les intensits de dfaillance instantane et extrapole76 Figure 10 Intensit de dfaillance projete, estime par modlisat
35、ion 78 Figure 11 Exemples de courbes de croissance et de sauts.8061014 IEC:2003 5 6.4.9 Mathematical modelling of test reliability growth 73 6.4.10 Nature and objectives of modelling 73 6.4.11 Concepts of reliability measures in reliability growth testing as used in modelling .75 6.4.12 Reporting on
36、 reliability growth testing and documentation81 7 Reliability growth in the field .85 Bibliography87 Figure 1 Comparison between growth and repair processes in reliability growth testing .33 Figure 2 Planned improvement (reduction) of the equivalent failure rate.37 Figure 3 Planned reliability impro
37、vement expressed in terms of probability of survival37 Figure 4 Patterns of relevant test or field failures with time 39 Figure 5 Overall structure of a reliability growth programme.43 Figure 6 Chart showing liaison links and functions .47 Figure 7 Integrated reliability engineering process .51 Figu
38、re 8 Process of reliability growth in testing.71 Figure 9 Characteristic curve showing instantaneous and extrapolated failure intensities.77 Figure 10 Projected failure intensity estimated by modelling.79 Figure 11 Examples of growth curves and “jumps” .81 6 61014 CEI:2003 COMMISSION LECTROTECHNIQUE
39、 INTERNATIONALE _ PROGRAMMES DE CROISSANCE DE FIABILIT AVANT-PROPOS 1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopr
40、ation internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI entre autres activits publie des Normes internationales, des Spcifications techniques, des Rapports techniques et des Guides (ci-aprs dnomms “Publication(s) de la C
41、EI“). Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement
42、avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant
43、 donn que les Comits nationaux de la CEI intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les Publications de la CEI se prsentent sous la forme de recommandations internationales et sont agres comme telles par les Comits nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que
44、la CEI sassure de lexactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas tre tenue responsable de lventuelle mauvaise utilisation ou interprtation qui en est faite par un quelconque utilisateur final. 4) Dans le but dencourager luniformit internationale, les Comits nationaux de la
45、CEI sengagent, dans toute la mesure possible, appliquer de faon transparente, les Publications de la CEI dans leurs publications nationales et rgionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications nationales ou rgionales correspondantes doivent tre indiques en term
46、es clairs dans ces dernires. 5) La CEI na prvu aucune procdure de marquage valant indication dapprobation et nengage pas sa responsabilit pour les quipements dclars conformes une de ses Publications. 6) Tous les utilisateurs doivent sassurer quils sont en possession de la dernire dition de cette pub
47、lication. 7) Aucune responsabilit ne doit tre impute la CEI, ses administrateurs, employs, auxiliaires ou mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comits dtudes et des Comits nationaux de la CEI, pour tout prjudice caus en cas de dommages corporels et matriels, ou de tou
48、t autre dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les cots (y compris les frais de justice) et les dpenses dcoulant de la publication ou de lutilisation de cette Publication de la CEI ou de toute autre Publication de la CEI, ou au crdit qui lui est accord. 8) Lattention est attire sur les rfrences normatives cites dans cette publication. Lutilisation de publications rfrences
