1、NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 1115 Premiere dition First edition 1992-03 Expression des qualits de fonctionnement des systmes de manipulation dchantillon pour analyseurs de processus Expression of performance of sample handling systems for process analyzers Numro de reference R
2、eference number CEMEC 11 15: 1992 Numros des publications Depuis le ler janvier 1997, les publications de la CE1 sont numrotes partir de 60000. Publications consolides Les versions consolides de certaines publications de la CE1 incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros dd
3、ition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Validit de la prsente publication Le contenu technique des publications de la CE1 est constamment revu par la CE1 afi
4、n quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs la date de re- confirmation de la publication sont disponibles dans le Catalogue de la CEI. Les renseignements relatifs des questions ltude et des travaux en cours entrepris par le comit technique qui a tabli cette publication, a
5、insi que la liste des publications tablies, se trouvent dans les documents ci-dessous: Site web de la CEI* Catalogue des publications de la CE1 Publi annuellement et mis jour rgulirement (Catalogue en ligne)* Disponible la fois au 4te web, de la CEI et comme priodique imprim Bulletin de la CE1 Termi
6、nologie, symboles graphiques et littraux En ce qui concerne la terminologie gnrale, le lecteur se reportera la CE1 60050: Vocabulaire Electro- technique international (VE I). Pour les symboles graphiques, les symboles littraux et les signes dusage gnral approuvs par la CEI, le lecteur consultera la
7、CE1 60027: Symboles littraux 2 utiliser en lectrotechnique, la CE1 6041 7: Symboles graphiques utilisables sur le matriel. Index, relev et compilation des feuilles individuelles. et la CE1 60617: Symboles graphiques pour schmas. * Voir adresse 4te web, sur la page de titre. Numbering As from 1 Janua
8、ry 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. Consolidated publications Consolidated versions of some IEC publications including amendments are available. For example, edition numbers 1 .O, 1 .I and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publicat
9、ion incor- porating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Validity of this publication The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to the date of
10、the reconfirmation of the publication is available in the IEC catalogue. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical com- mittee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is to be found at the following IEC s
11、ources: IEC web site* Catalogue of IEC publications Published yearly with regular updates (On-line catalogue)* Available both at the IEC web site* and as a printed periodical IEC Bulletin Terminology, graphical and letter symbols For general terminology, readers are referred to I EC 60 050: Internat
12、ional Electrotechnical Vocabulary (IEV). For graphical symbols, and letter symbols and signs approved by the IEC for general use, readers are referred to publications IEC 60027: Letter symbols to be used in electrical technology, IEC 60417: Graphical symbols for use on equipment. Index, survey and c
13、ompilation of the single sheets and IEC 60617: Graphical symbols for diagrams. * See web site address on title page. NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 1115 Premire dition First edition 1992-03 Expression des qualits de fonctionnement des systmes de manipulation dchantillon pour ana
14、lyseurs de processus Expression of performance of sample handling systems for process analyzers 0 CE1 1992 Droits de reproduction rservs - Copyright - all rights reserved Auwne partie de cene publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que sol et par auwn proced, lectronique ou
15、mcanique. y compris la photocopie et les microfilms. sans raccord crit de Iditeur. No pari of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, induding photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher Bureau central de
16、la Commission Electrotechnique Internationale 3, rue de Varemb Genve Suisse Commission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission MemnvHaponHan 3nepoexeca HOMHCCHR I W CODE PRIX PRICE CODE Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue -2- SOMMAI
17、 RE CE1 11150CEI Pages AVANT-PROPOS 4 INTRODUCTION . 6 Articles Domaine dapplication et objet . 1.1 Domaine dapplication 1.2 Objet Rfrences normatives 2.1 Normes CE1 . 2.2 Normes IS0 . Dfinitions 3.1 Dfinitions gnrales 3.2 Termes lis aux conditions de fonctionnement. de transport et de stockage . 3.
18、3 Termes lis la spcification des qualits de fonctionnement des systmes de manipulation dchantillon et des composants des systmes de manipulation dchantillon Prsentation des caractristiques 4.1 4.2 4.3 Caractristiques concernant les prescriptions applicables a un systme Caractristiques concernant les
19、 prescriptions pour un systme de manipulation dchantillon (constructeur danalyseur de processus) Caractristiques concernant les composants du systme de manipulation dchantillon (constructeur de composants du systme de manipulation Caractristiques concernant les systmes de manipulation dchantillon (c
20、onstructeur de systmes de manipulation dchantillon) Caractristiques des qualits de fonctionnement particulires de conditionnement dchantillon (utilisateur) dchantillon) . 4.4 4.5 8 8 10 10 12 12 12 12 24 26 36 38 40 42 42 44 Annexes A Objet. fonctions et proprits des systmes de manipulation dchantil
21、lon . 48 B C Groupes dexploitation et tendues limites dexploitation. de stockage et de transport . Vrification des constantes de temps dun systme de mesure pour analyse de processus . 64 58 D Index des termes dfinis 66 E Bibliographie 70 IEC 11151EC -3- CONTENTS Page FOREWORD 5 INTRODUCTION 7 Clause
22、 1 . 2 3 4 Scope and object . 1 . 1 Scope . 1.2 Object . Normative references 2.1 IEC standards . 2.2 IS0 standards . Definitions . 3.1 General definitions . 3.2 Terms related to conditions of operation. transportation and storage . 3.3 Terms related to the specification of the performance of sample
23、 handling systems and sample handling system components . Procedures for statements . 4.1 Statements concerning the requirements for a sample handling system (user) . 4.2 4.3 Statements concerning the requirements for a sample handling system Statements concerning sample handling system components (
24、manufacturer (manufacturer of process analyzer) . of sample handling system components) 4.4 Statements concerning sample handling systems (manufacturer of sample handling systems) . 4.5 Statements on special performance characteristics . 9 9 11 11 13 13 13 13 25 27 37 39 41 43 43 45 Annexes A Purpos
25、e. functions and properties of sample handling systems . 49 B Operating groups and limit ranges of operation, storage and transport 59 C 65 D Index of definitions 67 E Bibliography 71 Verification of time constants of a measuring system for process analysis -4- CE1 11 15 0 CE1 66D(BC)12 COMMISSION L
26、ECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE 66O(BC)l5 EXPRESSION DES QUALITS DE FONCTIONNEMENT DES SYSTMES DE MANIPULATION DCHANTILLON POUR ANALYSEURS DE PROCESSUS AVANT-PROPOS Les dcisions ou accords officiels de la CE1 en ce qui concerne les questions techniques, prpars par des Comits dEtudes o sont reprsents t
27、ous les Comits nationaux sintressant ces questions, expriment dans la plus grande mesure possible un accord international sur les sujets examins. Ces dcisions constituent des recommandations internationales et sont agres comme telles par les Comits nationaux. Dans le but dencourager lunification int
28、ernationale, la CE1 exprime le voeu que tous les Comits nationaux adoptent dans leurs rgles nationales le texte de la recommandation de la CEI. dans la mesure O les conditions nationales le permettent. Toute divergence entre la recommandation de la CE1 et la rgle nationale correspondante doit, dans
29、la mesure du possible, tre indique en termes clairs dans cette dernire. La prsente Norme internationale a t tablie par le Sous-Comit 66D: Appareils pour lanalyse de composition, du Comit dEtudes no 66 de la CEI: Instruments, systmes et accessoires lectriques et lectroniques dessai et de mesure. Le t
30、exte de cette norme est issu des documents suivants: I r- DIS 1 Rapport de vote Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. Les annexes A, B et C sont normatives et les annexes D et E sont informatives. Dans la prs
31、ente norme, les caractres dimprimerie suivants sont employs: - prescriptions et dfinitions: caractres romains; termes dfinis larticle 3 et utiliss dans toute cette norme: caractres romains - NOTES: petits caractres romains; - gras. IEC 11150 IEC -5- INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION EXPRESSI
32、ON OF PERFORMANCE OF SAMPLE HANDLING SYSTEMS FOR PROCESS ANALYZERS FOREWORD 1) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters, prepared by Technical Committees on which all the National Committees having a special interest therein are represented, express, as nearly as possible,
33、an international consensus of opinion on the subjects dealt with. 2) They have the form of recommendations for international use and they are accepted by the National Committees in that sense. 3) In order to promote international unification, the IEC expresses the wish that all National Committees s
34、hould adopt the text of the IEC recommendation for their national rules in so far as national conditions will permit. Any divergence between the IEC recommendation and the corresponding national rules should, as far as possible, be clearly indicated in the latter. This International Standard has bee
35、n prepared by Sub-Committee 66D: Analyzing equipment, of IEC Technical Committee No. 66: Electrical and electronic test and measuring instruments, systems and accessories. The text of this standard is based on the following documents: Full information on the voting for the approval of this standard
36、can be found in the Voting Report indicated in the above table. Annexes A, B and C are normative and annexes D and E are informative. In this standard, the following print types are used: requirements and definitions: in roman type; NOTES: in smaller roman type; terms used throughout this standard w
37、hich have been defined in clause 3: bold - - - roman type. -6- INTRODUCTION La plupart des analyseurs de processus ou d?environnement sont conus pour travailler dans des limites spcifies des proprits du fluide chantillon (par exemple pression, point de rose), au point d?entre aussi bien qu?au point
38、de sortie de l?chantillon 1,2. En outre, les analyseurs de processus peuvent avoir besoin, pour fonctionner correctement, de fluides auxiliaires ou d?autres utilits. C?est le but d?un systme de manipulation d?chantillon que de connecter un ou plusieurs analyseurs de processus une ou plusieurs source
39、s de fluide et l?environnement, de faon a rpondre aux besoins de l?analyseur et rendre le fonctionnement de l?analyseur possible dans un laps de temps acceptable et au prix d?un volume conomiquement justi- fi de travaux de maintenance. (Voir l?annexe A la description de l?objectif, des fonctions et
40、des proprits des systmes de manipulation d?chantillon.) Les systmes de manipulation d?chantillon peuvent assurer les fonctions suivantes l: - prlvement de l?chantillon; - transport de l?chantillon; - conditionnement de l?chantillon; - - fourniture des utilits; - commutation du flux d?chantillon; - v
41、acuation du flux de rejet; surveillance et rgulation des qualits de fonctionnement. Quelques-unes de ces fonctions peuvent, en tout ou en partie, tre remplies par des com- posants qui sont partie intgrante de l?analyseur, ou qui sont extrieurs au systme de manipulation d?chantillon. Dans le cadre de
42、 cette norme, ces composants ne sont pas considrs comme faisant partie du systme de manipulation d?chantillon. La conception d?un systme de manipulation d?chantillon dpend des proprits du fluide source, de l?analyseur de processus et des points de rejet. La conception est lie d?autre part aux propri
43、ts requises pour le dispositif complet de mesure. II est tres important d?essayer un systme de manipulation d?chantillon. En raison de la varit des configura- tions de systme et des exigences propres un systme, de nombreuses procdures d?essai diffrentes sont appliques en pratique; dans cette norme,
44、on ne spcifie que les procdures d?essai qui sont utilises dans la plupart des cas. L?utilisateur et le constructeur peuvent se mettre d?accord sur des procdures d?essai additionnelles, mais ces procdures ne sont pas couvertes dans cette norme. IEC 111501EC -7- INTRODUCTION Most process or environmen
45、tal analyzers are designed to work within specified limits of the properties of the sample fluid (e.g. pressure, dew-point) at the sample inlet as well as the outlet I ,2. Moreover, process analyzers may need auxiliary fluids or other utilities for their correct function. It is the purpose of a samp
46、le handling system to connect one or more process analyzers with one or more source fluids and the environment, so that the requirements of the analyzer are met, and so that it is possible for the analyzer to work properly over an acceptable period of time with an economically justified amount of ma
47、intenance work. (See annex A for the description of the purpose, functions and properties of sample handling systems.) Sample handling systems may fulfill the following functions I: - sample extraction; - sample transport; - sample conditioning; - exhaust stream disposal; - supply of utilities; - sa
48、mple stream switching; - performance monitoring and control. Some of the functions can be completely or partly fulfilled by components which are integral parts of an analyzer or which are external to the sample handling system. For the purpose of this standard these components are not considered par
49、t of the sample handling system. The design of a sample handling system depends on the properties of the source fluid, the process analyzer, and the disposal points. Furthermore, the design depends on the proper- ties required for the complete measuring device. Testing a sample handling system is very imp
