1、RAPPORTTECHNIQUECEIIECTECHNICALREPORT60943Deuxime ditionSecond edition1998-01Guide concernant lchauffement admissibledes parties des matriels lectriques,en particulier les bornes de raccordementGuidance concerning the permissibletemperature rise for parts of electrical equipment,in particular for te
2、rminalsNumro de rfrenceReference numberCEI/IEC 60943:1998Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-Numros des publicationsDepuis le 1er janvier 1997, les publications de l
3、a CEIsont numrotes partir de 60000.Publications consolidesLes versions consolides de certaines publications dela CEI incorporant des amendements sont disponibles.Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2indiquent respectivement la publication de base, lapublication de base incorporant lamendem
4、ent 1, et lapublication de base incorporant les amendements 1et 2.Validit de la prsente publicationLe contenu technique des publications de la CEI estconstamment revu par la CEI afin quil reflte ltatactuel de la technique.Des renseignements relatifs la date de reconfirmationde la publication sont di
5、sponibles dans le Catalogue dela CEI.Les renseignements relatifs ces rvisions, ltablis-sement des ditions rvises et aux amendementspeuvent tre obtenus auprs des Comits nationaux de laCEI et dans les documents ci-dessous: Bulletin de la CEI Annuaire de la CEIAccs en ligne* Catalogue des publications
6、de la CEIPubli annuellement et mis jour rgulirement(Accs en ligne)*Terminologie, symboles graphiqueset littrauxEn ce qui concerne la terminologie gnrale, le lecteurse reportera la CEI 60050: Vocabulaire Electro-technique International (VEI).Pour les symboles graphiques, les symboles littraux etles s
7、ignes dusage gnral approuvs par la CEI, lelecteur consultera la CEI 60027: Symboles littraux utiliser en lectrotechnique, la CEI 60417: Symbolesgraphiques utilisables sur le matriel. Index, relev etcompilation des feuilles individuelles, et la CEI 60617:Symboles graphiques pour schmas.Publications d
8、e la CEI tablies par le mme comit dtudesLattention du lecteur est attire sur les listes figurant la fin de cette publication, qui numrent lespublications de la CEI prpares par le comit dtudesqui a tabli la prsente publication.* Voir adresse site web sur la page de titre.NumberingAs from 1 January 19
9、97 all IEC publications are issuedwith a designation in the 60000 series.Consolidated publicationsConsolidated versions of some IEC publicationsincluding amendments are available. For example,edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively,to the base publication, the base publication incor-por
10、ating amendment 1 and the base publicationincorporating amendments 1 and 2.Validity of this publicationThe technical content of IEC publications is kept underconstant review by the IEC, thus ensuring that thecontent reflects current technology.Information relating to the date of the reconfirmation o
11、fthe publication is available in the IEC catalogue.Information on the revision work, the issue of revisededitions and amendments may be obtained from IECNational Committees and from the following IECsources: IEC Bulletin IEC YearbookOn-line access* Catalogue of IEC publicationsPublished yearly with
12、regular updates(On-line access)*Terminology, graphical and lettersymbolsFor general terminology, readers are referred to IEC60050: International Electrotechnical Vocabulary (IEV).For graphical symbols, and letter symbols and signsapproved by the IEC for general use, readers arereferred to publicatio
13、ns IEC 60027: Letter symbols tobe used in electrical technology, IEC 60417: Graphicalsymbols for use on equipment. Index, survey andcompilation of the single sheets and IEC 60617:Graphical symbols for diagrams.IEC publications prepared by the same technical committeeThe attention of readers is drawn
14、 to the end pages ofthis publication which list the IEC publications issuedby the technical committee which has prepared thepresent publication.* See web site address on title page.Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction
15、 or networking permitted without license from IHS-,-RAPPORTTECHNIQUE TYPE 3CEIIECTECHNICALREPORT TYPE 360943Deuxime ditionSecond edition1998-01Guide concernant lchauffement admissibledes parties des matriels lectriques,en particulier les bornes de raccordementGuidance concerning the permissibletempe
16、rature rise for parts of electrical equipment,in particular for terminalsCommission Electrotechnique InternationaleInternational Electrotechnical CommissionPour prix, voir catalogue en vigueurFor price, see current catalogue IEC 1998 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reservedAucun
17、e partie de cette publication ne peut tre reproduite niutilise sous quelque forme que ce soit et par aucunprocd, lectronique ou mcanique, y compris la photo-copie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur.No part of this publication may be reproduced or utilized inany form or by any means, ele
18、ctronic or mechanical,including photocopying and microfilm, without permission inwriting from the publisher.International Electrotechnical Commission 3, rue de Varemb Geneva, SwitzerlandTelefax: +41 22 919 0300 e-mail: inmailiec.ch IEC web site http: /www.iec.chCODE PRIXPRICE CODEXACopyright Interna
19、tional Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,- 2 60943 CEI:1998SOMMAIREPagesAVANT-PROPOS 6INTRODUCTION . 10ArticlesSection 1: Gnralits1 Gnralits . 141.1 Domaine dapplication et objet . 141.2 D
20、ocuments de rfrence . 141.3 Dfinitions 161.4 Symboles 16Section 2: Thorie2 Gnralits sur la nature du contact lectrique, le calcul et le mesurage de larsistance ohmique des contacts 182.1 Contacts lectriques et bornes de raccordement . 182.2 Nature du contact lectrique. 182.3 Calcul de la rsistance d
21、e contact . 223 Mcanismes de vieillissement des contacts et des bornes de raccordement . 303.1 Gnralits . 303.2 Contacts de mtaux diffrents . 323.3 Mcanismes de vieillissement par oxydation 363.4 Rsultats relatifs au vieillissement des contacts en cuivre . 403.5 Mise en oeuvre et prcautions prendre
22、lors de lutilisation des matriauxde contact 464 Calcul des chauffements des conducteurs, des contacts et des bornesde raccordement 484.1 Reprsentation symbolique . 484.2 Echauffement Tsdun conducteur par rapport la temprature Tedu fluideenvironnant . 524.3 Echauffement Toau voisinage du contact: cha
23、uffement des bornes de raccordement 544.4 Echauffement des points de contact lmentaires . 54Section 3: Application5 Valeurs admissibles des tempratures et des chauffements 565.1 Temprature de lair ambiant a 565.2 Temprature et chauffement des diffrents organes dun matriellectrique 585.3 Temprature e
24、t chauffement des conducteurs de raccordementdun matriel lectrique . 745.4 Tempratures et chauffements des bornes de raccordement dun matriellectrique Influence sur les conducteurs raccords . 76Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo
25、 reproduction or networking permitted without license from IHS-,-60943 IEC:1998 3 CONTENTSPageFOREWORD . 7INTRODUCTION . 11ClauseSection 1: General1 General. 151.1 Scope and object . 151.2 Reference documents 151.3 Definitions 171.4 Symbols. 17Section 2: Theory2 General considerations concerning the
26、 nature of electric contact and the calculationand measurement of the ohmic resistance of contacts . 192.1 Electric contacts and connection terminals . 192.2 Nature of electrical contact. 192.3 Calculation of contact resistance 233 Ageing mechanisms of contacts and connection terminals 313.1 General
27、 313.2 Contacts of dissimilar metals 333.3 Oxidation ageing mechanisms 373.4 Results concerning ageing of copper contacts 413.5 Usage and precautions to be taken in the use of copper contact materials 474 Calculation of temperature rise of conductors, contacts and connection terminals . 494.1 Symbol
28、ic representation . 494.2 Temperature rise Tsof a conductor with respect to the temperature Te of the surrounding medium. 534.3 Temperature rise To in the vicinity of the contact: temperature riseof connection terminals 554.4 Temperature rise of the elementary contact points 55Section 3: Application
29、5 Permissible temperature and temperature rise values 575.1 Ambient air temperature a . 575.2 Temperature and temperature rise of various equipment components 595.3 Temperature and temperature rise of conductors connecting electricalequipment 755.4 Temperature and temperature rise of connection term
30、inals for electricalequipment Influence on connected conductors. 77Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,- 4 60943 CEI:1998Articles Pages6 Marche gnrale suivre pour la
31、dtermination des tempratures et chauffementsadmissibles 786.1 Paramtres fondamentaux 786.2 Mthode suivre pour dterminer les tempratures et les chauffementsmaximaux admissibles 78AnnexesA Exemples numriques de lapplication de la thorie et autres caractristiques 82B Caractristiques physiques de quelqu
32、es mtaux et alliages 88C Caractristiques physiques de fluides dilectriques 90D Donnes sur la raction des mtaux de contact avec les substances de latmosphre 92E Echauffement dun conducteur refroidi par rayonnement et convection prsdune borne. 94F Liste des symboles littraux utiliss 112G Bibliographie
33、 . 116Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-60943 IEC:1998 5 Clause Page6 General procedure to be followed for determining permissible temperature andtemperature rise
34、796.1 Basic parameters . 796.2 Method to be followed for determining maximum permissible temperatureand temperature rise 79AnnexesA Numerical examples of the application of the theory and other data . 83B Physical characteristics of selected metals and alloys 89C Physical characteristics of fluid di
35、electrics . 91D Information on the reaction of contact metals with substances in the atmosphere. 93E Temperature rise of a conductor cooled by radiation and convectionin the vicinity of a terminal . 95F List of symbols used in this report 113G Bibliography 117Copyright International Electrotechnical
36、 Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,- 6 60943 CEI:1998COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE_GUIDE CONCERNANT LCHAUFFEMENT ADMISSIBLEDES PARTIES DES MATRIELS LECTRIQUES, EN PARTICULIERLES BORNES DE RACCO
37、RDEMENTAVANT-PROPOS1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation composede lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet defavoriser la coopration internationale pour toutes les questions de n
38、ormalisation dans les domaines dellectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normes Internationales.Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par lesujet trait peut participer. Les organisations internatio
39、nales, gouvernementales et non gouvernementales, enliaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisationInternationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations.2) Les dcisions ou accords officiels de la
40、 CEI concernant les questions techniques, reprsentent, dans la mesuredu possible un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intressssont reprsents dans chaque comit dtudes.3) Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations internationales. I
41、ls sont publiscomme normes, rapports techniques ou guides et agrs comme tels par les Comits nationaux.4) Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent appliquer defaon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI da
42、ns leurs normesnationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou rgionalecorrespondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire.5) La CEI na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilitnest pas eng
43、age quand un matriel est dclar conforme lune de ses normes.6) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Norme internationale peuvent fairelobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pourresponsable de ne pas avoir ident
44、ifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence.La tche principale des comits dtudes de la CEI est llaborer des Normes internationales.Exceptionnellement, un comit dtudes peut proposer la publication dun rapport technique delun des types suivants: type 1, lorsque, en dpit de m
45、aints efforts, laccord requis ne peut tre ralis en faveurde la publication dune Norme internationale; type 2, lorsque le sujet en question est encore en cours de dveloppement techniqueou lorsque, pour une raison quelconque, la possibilit dun accord pour la publicationdune Norme internationale peut t
46、re envisage pour lavenir mais pas dans limmdiat; type 3, lorsquun comit dtudes a runi des donnes de nature diffrente de celles quisont normalement publies comme Normes internationales, cela pouvant comprendre, parexemple, des informations sur ltat de la technique.Les rapports techniques des types 1
47、et 2 font lobjet dun nouvel examen trois ans au plus tardaprs leur publication afin de dcider ventuellement de leur transformation en Normesinternationales. Les rapports techniques du type 3 ne doivent pas ncessairement tre rvissavant que les donnes quils contiennent ne soient plus juges valables ou
48、 utiles.La CEI 60943, rapport technique de type 3, a t tabli par le comit dtudes 32 de la CEI:Coupe-circuit fusibles.Cette deuxime dition annule et remplace la premire dition parue en 1989.Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted
