1、NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 60512-2-1 Premire dition First edition 2002-02 Connecteurs pour quipements lectroniques Essais et mesures Partie 2-1: Essais de continuit lectrique et de rsistance de contact Essai 2a: Rsistance de contact Mthode du niveau des millivolts Connectors
2、 for electronic equipment Tests and measurements Part 2-1: Electrical continuity and contact resistance tests Test 2a: Contact resistance Millivolt level method Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 60512-2-1:2002Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI
3、 sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros dditi on 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, l
4、a publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des
5、renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo- nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes
6、qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet de faire des recherches
7、 en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications rempla- ces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des
8、dernires publications parues (www.iec.ch/JP.htm) est aussi disponible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplme
9、ntaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated
10、 editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on
11、IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition
12、 to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Cat
13、alogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/catlg-e.htm) enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On- line information is also available on recently issued publications, withdrawn and re
14、placed publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (www.iec.ch/JP.htm) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this
15、 publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 .NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 60512-2-1 Premire dition First edition 2002-02 Connecteurs pour quipements lectroniques Essais e
16、t mesures Partie 2-1: Essais de continuit lectrique et de rsistance de contact Essai 2a: Rsistance de contact Mthode du niveau des millivolts Connectors for electronic equipment Tests and measurements Part 2-1: Electrical continuity and contact resistance tests Test 2a: Contact resistance Millivolt
17、level method Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2002 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y
18、 compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechni
19、cal Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerland Telephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE E Commission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission 2 60512-2-1 CEI:2002 COM
20、MISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ CONNECTEURS POUR QUIPEMENTS LECTRONIQUES ESSAIS ET MESURES Partie 2-1: Essais de continuit lectrique et de rsistance de contact Essai 2a: Rsistance de contact Mthode du niveau des millivolts AVANT-PROPOS 1) La CEI (Commission lectrotechnique Internationale) e
21、st une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet ef
22、fet, la CEI, entre autres activits, publie des Normes internationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CE
23、I, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesur
24、e du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publis comme normes, spcifications techniques, rapports
25、techniques ou guides et agrs comme tels par les Comits nationaux. 4) Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes nationales et rgion
26、ales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. 5) La CEI na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilit nest pas engage quand un matriel est dclar
27、conforme lune de ses normes. 6) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Norme internationale peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de propri
28、t et de ne pas avoir signal leur existence La Norme internationale CEI 60512-2-1 a t tablie par le sous-comit 48B: Connecteurs, du comit dtudes 48 de la CEI: Composants lectromcaniques et structures mcaniques pour quipements lectroniques. Cette norme annule et remplace lessai 2a de la CEI 60512-2, p
29、arue en 1985, dont elle constitue une rvision technique. Le texte de cette norme est issu des documents suivants: FDIS Rapport de vote 48B/1130/FDIS 48B/1181/RVD Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. Cette pu
30、blication a t rdige selon les Directives ISO/CEI, Partie 3. Le comit a dcid que le contenu de cette publication ne sera pas modifi avant 2007. A cette date, la publication sera reconduite; supprime; remplace par une dition rvise, ou amende.60512-2-1 IEC:2002 3 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSI
31、ON CONNECTORS FOR ELECTRONIC EQUIPMENT TESTS AND MEASUREMENTS Part 2-1: Electrical continuity and contact resistance tests Test 2a: Contact resistance Millivolt level method FOREWORD 1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising all
32、 national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standa
33、rds. Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. The IEC co
34、llaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. 2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international consensus of op
35、inion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all interested National Committees. 3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form of standards, technical specifications, technical reports or guides
36、 and they are accepted by the National Committees in that sense. 4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any divergence between the
37、IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly indicated in the latter. 5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any equipment declared to be in conformity with one of its standards. 6) Attention is dr
38、awn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. International Standard IEC 60512-2-1 has been prepared by subcommittee 48B: Connectors, of IEC tec
39、hnical committee 48: Electromechanical components and mechanical structures for electronic equipment. This standard cancels and replaces test 2a of IEC 60512-2, issued in 1985, and constitutes a technical revision. The text of this standard is based on the following documents: FDIS Report on voting
40、48B/1130/FDIS 48B/1181/RVD Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on voting indicated in the above table. This publication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives, Part 3. The committee has decided that the contents of this publ
41、ication will remain unchanged until 2007. At this date, the publication will be reconfirmed; withdrawn; replaced by a revised edition, or amended. 4 60512-2-1 CEI:2002 CONNECTEURS POUR QUIPEMENTS LECTRONIQUES ESSAIS ET MESURES Partie 2-1: Essais de continuit lectrique et de rsistance de contact Essa
42、i 2a: Rsistance de contact Mthode du niveau des millivolts 1 Domaine dapplication et objet La prsente partie de la CEI 60512 est utilise, lorsque la spcification particulire le prescrit, pour essayer des composants lectromcaniques du domaine dapplication du comit dtudes 48 de la CEI. Cet essai peut
43、aussi tre effectu sur des dispositifs similaires, lorsquune spcification particulire le prescrit. Lobjet de cet essai est de dfinir une mthode dessai normalise pour mesurer la rsistance lectrique dune paire de contacts accoupls ou dun contact accoupl avec un calibre de mesure. 2 Exigences gnrales de
44、 mesure Les mesures peuvent tre effectues en courant continu ou en courant alternatif. Pour les mesures en courant alternatif, la frquence ne doit pas excder 2 kHz. En cas de litige, les mesures en courant continu font foi. La prcision des instruments de mesure doit tre telle que lerreur totale nexc
45、de pas 1 %. 3 Mthode de mesure 3.1 Dtails des mesures La rsistance de contact doit normalement tre dduite de la chute de tension mesure entre les zones prvues pour le raccordement du cblage aux contacts aux points dfinis dans la spcification particulire. Le contact ne doit pas tre manuvr pendant que
46、 la tension de mesure est applique. Durant les mesures, des prcautions doivent tre prises pour viter que des pressions anormales soient exerces sur les contacts soumis lessai et pour viter tout mouvement des cbles dessai. Quand les points de connexion dfinis dans la spcification particulire ne sont
47、pas directement accessibles, la rsistance du cble ou du fil doit tre dduite de la valeur mesure. La valeur corrige doit tre note. Les contacts mesurer doivent tre slectionns conformment la spcification particulire. 3.2 Courant et tension dessai La tension dessai ne doit pas excder 20 mV en courant c
48、ontinu ou la tension crte en courant alternatif, afin dviter la rupture des films isolants possibles sur les contacts. Le courant dessai ne doit pas dpasser 100 mA, en courant alternatif ou en courant continu.60512-2-1 IEC:2002 5 CONNECTORS FOR ELECTRONIC EQUIPMENT TESTS AND MEASUREMENTS Part 2-1: Electrical continuity and contact resistance tests Test 2a: Contact resistance Millivolt level metho
