1、NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 61 261 =I QC 660000 Premire dition First edition 1994-03 Filtres cramique pizolectrique destins aux quipements lectroniques - Spcification dans le systme CE1 dassurance de la qualit des composants lectroniques (IECQ) Partie 1: Spcification gnrique
2、- Homologation Piezoelectric ceramic filters for use in electronic equipment - A specification in the IEC quality assessment system for electronic components (IECQ) Part 1: Generic specification - Qualification approva Numro de rfrence Reference number CEIIIEC 61261-1: 1994 Numros des publications N
3、umbering Depuis le ler janvier 1997, les publications de la CE1 sont numrotes partir de 60000. Publications consolides Les versions consolides de certaines publications de la CE1 incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la
4、 publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Validit de la prsente publication Le contenu technique des publications de la CE1 est constamment revu par la CE1 afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des re
5、nseignements relatifs la date de reconfir- mation de la publication sont disponibles dans le Catalogue de la CEI. Les renseignements relatifs des questions ltude et des travaux en cours entrepris par le comit technique qui a tabli cette publication, ainsi que la liste des publications tablies, se tr
6、ouvent dans les documents ci- dessous: Site web de la CEI* Catalogue des publications de la CE1 Publi annuellement et mis jour rgulirement (Catalogue en ligne) Bulletin de la CE1 Disponible la fois au site web, de la CEI et comme priodique imprime Terminologie, symboles graphiques et littraux En ce
7、qui concerne la terminologie gnrale, le lecteur se reportera la CE1 60050: Vocabulaire Electro- technique International (VEI). Pour les symboles graphiques, les symboles littraux et les signes dusage gnral approuvs par la CEI, le lecteur consultera la CE1 60027: Symboles littraux 2 utiliser en lectr
8、otechnique, la CE1 6041 7: Symboles graphiques utilisables sur le matriel. Index, relev et compilation des feuilles individuelles, et la CE1 60617: Symboles graphiques pour schmas. * Voir adresse site web sur la page de titre. As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation
9、 in the 60000 series. Consolidated publications Consolidated versions of some IEC publications including amendments are available. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incor- porating amendment 1 and the base publication inc
10、orporating amendments 1 and 2. Validity of this publication The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to the date of the reconfirmation of the publication is available in the IE
11、C catalogue. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is to be found at the following IEC sources: IEC web site* Catalogue of IEC publications Published
12、yearly with regular updates (On-I i ne cata1 og ue) * IEC Bulletin Available both at the IEC web site* and as a printed periodical Terminology, graphical and letter symbols For general terminology, readers are referred to I E C 6 O O 5 O : International Electrotechnical Vocabulary (IEV). For graphic
13、al symbols, and letter symbols and signs approved by the IEC for general use, readers are referred to publications IEC 60027: Letter symbols to be used in electrical technology9 IEC 60417: Graphical symbols for use on equipment. Index, survey and compilation of the single sheets and IEC 60617: Graph
14、ical symbols for diagrams. * See web site address on title page. NORME CE1 IEC INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD 61 261 -1 QC 660000 Premire dition First edition 1994-03 Filtres cramique pizolectrique destins aux quipements lectroniques - Spcification dans le systme CE1 dassurance de la qualit d
15、es composants lectroniques (IECQ) Partie I: Spcification gnrique - Homologation Piezoelectric ceramic filters for use in electronic equipment - A specification in the IEC quality assessment system for electronic components (IECQ) Part 1: Generic specification - Qualification approval O IEC 1994 Droi
16、ts de reproduction rserves - Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni No part of this publication may be reproduced or utilized in utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun any form or by any means, electronic or mechanical, procd, lectro
17、nique ou mcanique, y compris la photo- including photocopying and microfilm. without permission in writing from the publisher. copie et les microfilms. sans laccord crit de lditeur. International Electrotechnical Commission Telefax: +41 22 919 0300 3, rue de Varemb Geneva, Switzerland IEC web site h
18、ttp: /www.iec.ch e-mail: inmailiec.ch U Commission Electrotechnique Internationale CODE PRIX International Electrotechnical Commission PRICE CODE Pour prix, voir catalogue en vigueur For prke, see current catalogue MeMAYHapOAHaR 3lleKTpOTeXHH4eCHaR HOMHCCHR O -2- SOM MAI RE 1261-1 O CEI:1994 Pages A
19、VANT-PROPOS . Artides Gnralits 1.1 Domaine dapplication 1.2 Rfrences normatives Aspects techniques . 2.1 Units. symboles et terminologie 2.2 Valeurs et caractristiques prfrentielles 2.3 Marquage . Procdures dassurance de la qualit 3.1 Homologation/systmes dassurance de la qualit 3.2 Etape initiale d
20、e fabrication . 3.3 Modles associables 3.4 Procdures dhomologation . 3.5 Contrle de la conformit de la qualit 3.6 Mthodes dessai de remplacement . Mthodes dessai et de mesure 4.1 4.2 4.3 4.4 4.5 4.6 4.7 4.8 4.9 4.10 4.1 1 4.12 4.13 4.14 4.15 4.16 4.17 4.18 4.19 4.20 4.21 4.22 4.23 Gnralits Condition
21、s atmosphriques normales Examen visuel et vrification des dimensions Rsistance disolement Frquence centrale . Largeur de la bande passante . Affaiblissement relatif . Affaiblissement dinsertion . Affaiblisse me n t des r so na nce s pa ras t e s Affaiblissement dans la bande attnue Robustesse des so
22、rties Rsistance la chaleur de brasage . Brasabilit Variations rapides de temprature . Vibrations . Secousses . Chocs . Etanchit Squence climatique Essai continu de chaleur humide Endurance Variation de la frquence centrale en fonction de la temprature Essai de rigidit dilectrique . 4.24 Stockage 4 8
23、 8 8 12 12 16 16 16 16 16 16 18 18 20 20 20 22 24 24 28 30 32 34 34 34 34 36 36 36 38 38 40 40 40 40 44 44 46 50 1261-1 O IEC:1994 -3- CONTENTS Page 5 9 9 9 13 13 17 17 17 17 17 17 19 19 21 21 21 23 25 25 29 31 33 35 35 35 35 37 37 37 39 39 41 41 41 41 45 45 47 51 FOREWORD Clause General . 1.1 Scope
24、 1.2 Normative references Technical features . 2.1 Units, symbols and terminology . 2.2 Preferred ratings and characteristics 2.3 Marking Quality assessment procedures . 3.1 Qualification approvaVquality assessment systems 3.2 Primary stage of manufacture 3.3 Structurally similar components . 3.4 Qu
25、alification approval procedures . 3.5 Quality conformance inspection . 3.6 Alternative test methods . Test and measurement procedures 4.1 4.2 4.3 4.4 4.5 4.6 4.7 4.8 4.9 4.10 4.1 1 4.12 4.13 4.14 4.15 4.1 6 4.17 4.18 4.19 4.20 4.21 4.22 4.23 4.24 General Standard atmospheric conditions . Visual exam
26、ination and check of dimensions . Insulation resistance Voltage proof Mid-band frequency . Pass bandwidth Relative attenuation . Insertion attenuation Spurious attenuation Stop-band attenuation Robustness of terminations . Resistance to soldering heat . So Ide ra bility . Rapid change of temperature
27、 Vibration . Bump Shock Sealing tests Climatic sequence . Damp heat, steady state Endurance Variation of mid-band frequency with temperature . Storage . 1261 -1 O CEI: 1994 -4- DIS 49( BC)233 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE Rapport de vote 49( BC)257 FILTRES CRAMIQUE PIZOLECTRIQUE DESTINS
28、AUX Spcification dans le systme CE1 dassurance de la qualit des composants lectroniques (IECQ) QUIPEMENTS LECTRONIQUES - Partie 1 : Spcification gnrique - Homologation AVANT-PROPOS 1) La CE1 (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensem
29、ble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CE1 a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normes internati
30、onales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CE collabore troitement
31、 avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CE1 en ce qui concerne les questions techniques, prpars par les comits dtudes o sont reprsents tous les Comits nationaux sintressa
32、nt ces questions, expriment dans la plus grande mesure possible un accord international sur les sujets examins. 3) Ces dcisions constituent des recommandations internationales publies sous forme de normes, de rapports techniques ou de guides et agres comme telles par les Comits nationaux. 4) Dans le
33、 but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CE1 sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CE1 dans leurs normes nationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de la CE1 et la norme nationale ou rgi
34、onale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. 5) La CE1 na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilit nest pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ses normes. La Norme internationale CE1 1261-1 a t tablie p
35、ar le comit dtudes 49 de la CEI: Dispositifs pizolectriques et dilectriques pour la commande et le choix de la frquence. La prsente partie 1 constitue la spcification gnrique: Homologation, dans le systme CE1 dassurance de la qualit des composants lectroniques, pour les filtres cramique pizolectriqu
36、e. La CE1 1261 -2 constitue la spcification intermdiaire: Homologation. La CE1 1261 -2-1 constitue la spcification particulire cadre: Homologation - Niveau dassurance E. 1261-1 O IEC:1994 -5- DIS 49(C0)233 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION Report on voting 49(C0)257 PIEZOELECTRIC CERAMIC FIL
37、TERS FOR USE A specification in the IEC Quality Assessment System for electronic components (IECQ) IN ELECTRONIC EQUIPMENT - Part 1 : Generic specification - Qualification approval FOREWORD 1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization compris
38、ing all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote international cooperation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International
39、Standards. Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. The
40、IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. 2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters, prepared by technical committees on which all the Nationa
41、l Committees having a special interest therein are represented, express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the subjects dealt with. 3) They have the form of recommendations for international use published in the form of standards, technical reports or guides and they ar
42、e accepted by the National Committees in that sense. 4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any divergence between the IEC Standard
43、 and the corresponding national or regional standard shall be clearly indicated in the latter. 5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any equipment declared to be in conformity with one of its standards. International Standard IEC 126
44、1 -1 has been prepared by IEC technical committee 49: Piezoelectric and dielectric devices for frequency control and selection. This Part 1 forms the generic specification: Qualification approval, in the IEC Quality Assessment System for Electronic Components, for piezoelectric ceramic filters. IEC
45、1261 -2 forms the sectional specification: Qualification approval. IEC 1261 -2-1 forms the blank detail specification: Qualification approval - Assessment level E. The text of this standard is based on the following documents: -6- 1261 -1 O CE1 11 994 Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-des
46、sus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. Le numro QC figurant sur la page de couverture est le numro de spcification dans le systme CE1 dassurance de la qualit des composants lectroniques (IECQ). 1261-1 O IEC:1994 -7- Full information on the voting for the ap
47、proval of this standard can be found in the report on voting indicated in the above table. The QC number that appears on the front cover of this publication is the specification number in the IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ). 1261-1 O CE1:1994 -8- FILTRES CRAMIQUE PIZOL
48、ECTRIQUE DESTINS AUX Spcification dans le systme CE1 dassurance de la qualit des composants lectroniques (IECQ) QUIPEMENTS LECTRONIQUES - Partie 1 : Spcification gnrique - Homologation 1 Gnralits 1 .l Domaine dapplication La prsente Norme internationale prescrit les termes et mthodes dessai applicables aux filtres cramique pizolectrique de grande slectivit et stabilit destins tre utiliss dans lappareillage lectronique. Elle tablit les termes normaliss, les procdures de contrle et les mthodes dessais normalises utiliser dans les spcifications intermdiair
