【公务员类职业资格】2017年河南省安阳市汤阴县事业单位招聘考试面试真题(二)及答案解析.doc

上传人:twoload295 文档编号:1293171 上传时间:2019-09-25 格式:DOC 页数:3 大小:28KB
下载 相关 举报
【公务员类职业资格】2017年河南省安阳市汤阴县事业单位招聘考试面试真题(二)及答案解析.doc_第1页
第1页 / 共3页
【公务员类职业资格】2017年河南省安阳市汤阴县事业单位招聘考试面试真题(二)及答案解析.doc_第2页
第2页 / 共3页
【公务员类职业资格】2017年河南省安阳市汤阴县事业单位招聘考试面试真题(二)及答案解析.doc_第3页
第3页 / 共3页
亲,该文档总共3页,全部预览完了,如果喜欢就下载吧!
资源描述

1、2017 年河南省安阳市汤阴县事业单位招聘考试面试真题(二)及答案解析 (总分: 100.00,做题时间: 90 分钟 ) 一、面试题 (总题数: 3,分数: 100.00) 1.现在都提倡“光盘行动”,但是饭店餐厅的半份菜却越来越难见踪影,对此你怎么看?(分数: 35.00) _ 2.焦裕禄家训:工作上向先进看齐,生活条件和差的比。请谈谈这句话对 你的启示。(分数: 35.00) _ 3.漫画题。漫画大意:有人落水了,路人欲施救。但是却有围观者说:“看,他在作秀。”对此,请谈谈你的看法。(分数: 30.00) _ 2017 年河南省安阳市汤阴县事业单位招聘考试面试真题(二)答案解析 (总分:

2、 100.00,做题时间: 90 分钟 ) 一、面试题 (总题数: 3,分数: 100.00) 1.现在都提倡“光盘行动”,但是饭店餐厅的半份菜却越来越难见踪影,对此你怎么看?(分数: 35.00) _ 正确答案: ( 提倡“光盘行动”是为了节约粮食,保 护环境。地球上的资源是有限的,随意浪费将会给我们的生存带来危机。半份菜,顾名思义是指餐厅推出的一种分量只有标准分量一半的小份菜品。餐厅的半份菜机制在一定程度上有利于“光盘行动”的开展。有好多顾客,特别是女性顾客饭量较小,整份点餐可能会造成浪费,半分餐可以较好地解决这个问题,同时也有利于减少粮食的浪费。 但是半份菜机制却未能在餐饮业大放异彩,相

3、反,随着“光盘行动”的持续,变得越发少见了。虽然半份菜有助于“光盘行动”,但是这一措施缺本质上是缺乏运行原动力的。一方面,对餐厅经营者来说,半份菜量偏少,经济成 本划不来,自然不愿推广;另一方面,对顾客来说,节约意识有待提高,很多顾客至今仍旧秉持“多点多要有面子”的观念,无节制地点餐,同时也不在乎点餐上的高消费。因此,半份菜的推行屡屡受挫。 “光盘行动”的推行需要更多的有效措施,单纯地靠号召餐厅推行半份菜难以从根源上解决问题。 推行“光盘行动”的关键是要提高消费者的节约意识,只有消费者自身加强环保意识,不奢侈浪费,才能对商家产生正面影响,从而使得“光盘行动”真正得到贯彻落实,才能在全社会树立节

4、约光荣的良好风气。 ) 解析: 2.焦裕禄家训:工作上向先 进看齐,生活条件和差的比。请谈谈这句话对你的启示。(分数: 35.00) _ 正确答案: ( 焦裕禄同志的家训:工作上向先进看齐,生活条件和差的比。这句话的意思是说在工作上我们要勇于争先,要争当先进模范,多付出,多贡献;而在生活上我们要简单朴素,不追求奢侈享受,将有限的精力用到无限的为人民服务的事业上。这种高贵的品质永远值得我们学习。 作为一名事业单位工作人员,我们要在日常工作中努力提升自身修养,向焦裕禄同志学习,永远向着榜样前进。在工作中,我们总会遇到意想不到的挫折与困难,总会有不尽如人意的地方,如果工作态度永远是得过且过,不求上进

5、那么我们的工作就永远做不好。心中有榜样,行动才有 力量,向先进看齐永远是进步的保障。 俗语说欲壑难填。人的欲望是永远没办法完全满足的,欲望总是指数倍增长,生活上一旦奢靡攀比起来,将会使人一事无成。“由俭入奢易,由奢入俭难”,因此我们一定要定好内心的底线,不要在生活条件上过度计较,不盲目攀比,作为事业单位的工作人员更应如此。 ) 解析: 3.漫画题。漫画大意:有人落水了,路人欲施救。但是却有围观者说:“看,他在作秀。”对此,请谈谈你的看法。(分数: 30.00) _ 正确答案: ( 漫画描述的是有人不小心落水,一位热心的路人想要过去施救,却被围观的人说是作秀。这幅漫画反映了当今社会一种乐于助人

6、会被质疑,每个人都将冷漠高高挂起的不良风气。 有时候,善的对立面不是恶,而是冷漠。面对他人的求助,我们应该伸出援助之手,不应该冷漠对待。正像题中的情况,有人落水,落水者危在旦夕,这是性命攸关的大事,对此,每一个善良的人都应该见义勇为,而不是单纯围观并对救人者品头论足。如果救人者 因为周遭非议,放弃营救,那围观评论的人便是杀人的帮凶,你不杀伯仁,伯仁却因你而死。 诚然,社会风气变的冷漠有着多方面的原因。一方面是市场经济的发展,物质利益越发被大家所看重,对于没有经济利益的事情不再热衷;另一方面,我们过去的思想道德建设欠账太多,道德宣传工作没有做到位,使得公众不再以高标准的道德要求自己。古人云:亡羊补牢,犹未晚也。我们要多方合力,共同营造和谐温暖的社会氛围。 第一,要大力弘扬社会主义核心价值观,让核心价值观成为人们最基本的道德遵循。第二,大力宣传各种道德模范,树立先进典型 ,从精神上给予公众道德营养。第三,创新制度机制,加大对见义勇为等行为的奖励力度,对道德模范予以大力表扬和丰厚的物质奖励,倡导“我为人人,人人为我”的良好氛围。只有如此,我们才能使每一个需要帮助的人感受到温暖与力量。 ) 解析:

展开阅读全文
相关资源
猜你喜欢
  • DIN EN 62047-22-2015 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 22 Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates (IEC 6.pdf DIN EN 62047-22-2015 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 22 Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates (IEC 6.pdf
  • DIN EN 62047-25-2017 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 25 Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of pull-press and shearing str.pdf DIN EN 62047-25-2017 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 25 Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of pull-press and shearing str.pdf
  • DIN EN 62047-26-2016 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 26 Description and measurement methods for micro trench and needle structures (IEC 62047-26 2016.pdf DIN EN 62047-26-2016 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 26 Description and measurement methods for micro trench and needle structures (IEC 62047-26 2016.pdf
  • DIN EN 62047-3-2007 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 3 Thin film standard test piece for tensile-testing (IEC 62047-3 2006) German version EN 62047-3 .pdf DIN EN 62047-3-2007 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 3 Thin film standard test piece for tensile-testing (IEC 62047-3 2006) German version EN 62047-3 .pdf
  • DIN EN 62047-4-2011 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 4 Generic specification for MEMS (IEC 62047-4 2008) German version EN 62047-4 2010《半导体器件 微电机器件 第4.pdf DIN EN 62047-4-2011 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 4 Generic specification for MEMS (IEC 62047-4 2008) German version EN 62047-4 2010《半导体器件 微电机器件 第4.pdf
  • DIN EN 62047-5-2012 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 5 RF MEMS switches (IEC 62047-5 2011) German version EN 62047-5 2011《半导体器件 微电机装置 第5部分 射频(RF)微电子机械.pdf DIN EN 62047-5-2012 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 5 RF MEMS switches (IEC 62047-5 2011) German version EN 62047-5 2011《半导体器件 微电机装置 第5部分 射频(RF)微电子机械.pdf
  • DIN EN 62047-6-2010 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 6 Axial fatigue testing methods of thin film materials (IEC 62047-6 2009) German version EN 62047.pdf DIN EN 62047-6-2010 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 6 Axial fatigue testing methods of thin film materials (IEC 62047-6 2009) German version EN 62047.pdf
  • DIN EN 62047-7-2012 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 7 MEMS BAW filter and duplexer for radio frequency control and selection (IEC 62047-7 2011) Germa.pdf DIN EN 62047-7-2012 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 7 MEMS BAW filter and duplexer for radio frequency control and selection (IEC 62047-7 2011) Germa.pdf
  • DIN EN 62047-8-2011 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8 Strip bending test method for tensile property measurement of thin films (IEC 62047-8 2011) Ger.pdf DIN EN 62047-8-2011 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8 Strip bending test method for tensile property measurement of thin films (IEC 62047-8 2011) Ger.pdf
  • 相关搜索

    当前位置:首页 > 考试资料 > 职业资格

    copyright@ 2008-2019 麦多课文库(www.mydoc123.com)网站版权所有
    备案/许可证编号:苏ICP备17064731号-1