DB41 T 1790-2019 纺织品导电纱线导电性能的测定.pdf

上传人:bonesoil321 文档编号:1486342 上传时间:2020-10-01 格式:PDF 页数:10 大小:692.67KB
下载 相关 举报
DB41 T 1790-2019 纺织品导电纱线导电性能的测定.pdf_第1页
第1页 / 共10页
DB41 T 1790-2019 纺织品导电纱线导电性能的测定.pdf_第2页
第2页 / 共10页
DB41 T 1790-2019 纺织品导电纱线导电性能的测定.pdf_第3页
第3页 / 共10页
DB41 T 1790-2019 纺织品导电纱线导电性能的测定.pdf_第4页
第4页 / 共10页
DB41 T 1790-2019 纺织品导电纱线导电性能的测定.pdf_第5页
第5页 / 共10页
亲,该文档总共10页,到这儿已超出免费预览范围,如果喜欢就下载吧!
资源描述

1、ICS 59.080.20 W 12 DB41 河南省 地方标准 DB41/T 1790 2019 纺织品 导电纱线导电性能的测定 Textiles - Determination of conductive yarn electrical conductivity 2019 - 02 - 13发布 2019 - 05 - 13实施 河南省市场监督管理局 发布 DB41/T 1790 2019 I 前 言 本标准 按照 GB/T 1.1 2009 给出的规则起草。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利,本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。 本标准由河南省 纺织服装标准化技术委员会 提出 并

2、归口。 本标准起草单位: 河南省纺织产品质量监督检验院、 郑州 四棉纺织有限公司、新乡市北方纤维有限 公司 、 中原工学院。 本标准主要起草人: 刘晓丹 、 张江燕、胡广 、 王诤 、赵华恩、牧广照、余秀艳、 魏婷、 李盛仙、李 李 。 DB41/T 1790 2019 1 纺织品 导电纱线导电性能的测定 1 范围 本标准规定了导电纱线单位电阻、质量比电阻的测试方法。 本标准适用于导电纤维含量在 75%及以下的导电纱线的测定。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。 凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用

3、于本文件。 GB/T 8170 数值修约规则与极限数值的表示和判定 3 术语和定义 下列术语和定义适用于本文件。 3.1 导电纱线 conductive yarn 由一定比例的导电纤维与其他纤维、纱 ,经混纺或复合等工艺生产的具有导电功能的纱线。 3.2 单位电阻 electrical resistance per unit 导电纱线的 单位长 度电阻值( RL),以 /cm为单位 。 3.3 质量比电阻 mass specific resistance 电流通过长度 为 1 cm、 质量为 1 g的 导电 纱线的电阻( m ),以 g/cm 2为单 位。 4 原理 在规定的温度和相对湿度大气

4、条件下,用电阻测试仪测量绕在 制样 板上的一组平行导电纱线的电阻 值,计算其单位 电阻或质量比电阻 。 5 调湿和 试验用大气条件 试样调湿及试 验大气条件:温度 20 5 ,相对湿度 35% 5%,试样调湿时间不小于 4 h。 6 试验仪器和装置 6.1 电阻测试仪 及配套装置:见附 录 A。 DB41/T 1790 2019 2 6.2 电子天平:称量 范围 0 g 100 g, 分度值 0.1 mg。 6.3 摇黑板机: 摇黑板机应能均匀排列导电纱线并能调节至规定密度的装置。 7 试样准备 7.1 取样 7.1.1 同 一 品种导电纱线,随机 抽取 5 个筒纱。每筒取 1 个试样,共 5

5、 个试样 。 7.1.2 测试样品不得有破损、污染。 7.2 制样 用摇黑板机将筒 纱在制样板绕取 25圈,使黑板上的导电纱线平行排列、间距均匀、相互不重叠,且 在电极有效夹持范围内 。共制成 5个测试 样板。 8 试验步骤 8.1 方法一:测试箱法 8.1.1 将试样架 放入 测试箱内 ,并将 所有电极导线 通过测试孔 引出箱外 ,密封测试孔。 8.1.2 将制好的测 试样板按顺序放入测试箱内的试样架上,依次连接好导线, 关闭测试箱门。 8.1.3 开启测试箱,按第 5 章规定设 置温湿度,对 试样 进行平衡 。 8.1.4 试样达到平衡后, 将 测试样板电极 导线与电阻测试仪连接,开启电阻

6、测试仪 ,设置电压 100 V, 通电 1 min,读取电阻值,做好记录。 测试样板的电阻为 50 根长度为 20 cm 纱线的并联电阻。 8.1.5 重复 8.1.4 依次完成 5 个测试样板 的电阻测试,并记录数据。 8.1.6 立即对每个试样 称重 , 样品的有效质量为 称重读数 的 80%, 保留三位有效数字。 8.2 方法二:恒温恒湿室法 8.2.1 将制好的测试样板按顺序放在试样架上,依次连接好导线 。 8.2.2 按 第 5 章规定 的 温湿度 平衡试样。 8.2.3 试样达到 平衡 后, 将 测试样板电极 导线与电阻测试仪连接 ,开启电阻测试仪,设置电压 100 V, 通电 1

7、 min,读取电阻值,做好记录。 测试样板的电阻为 50 根长度为 20 cm 纱线的并联电阻。 8.2.4 重复 8.2.3 依次完成 5 个样板 的电阻测试,并记录数据。 8.2.5 立即对每个试样称重 , 样品的有效质量为 称重读数 的 80%, 保留三位有效数字。 8.3 导电性能检验可以选用方法一或方法 二中的任何一种,一经确定,不得任意变更。发生质量争议 时,以方法一为准。 9 结果计算 9.1 单位电阻 LR 50LRR L ( 1) DB41/T 1790 2019 3 nRR ni i1 ( 2) 式中: RL 试样单位电阻,单位为欧姆每厘米( /cm); R 5个试样的平均

8、电阻 ,单位为欧姆( ); L 试样的有效长度 L =20 cm,单位为厘米 ( cm) 。 Ri 第 i 个试样的电阻(并联电阻),每块测试样板包含 50根长度 20 cm纱线, 单位为欧姆( ); n 试样 数量, n =5。 9.2 质量比电阻 m n n i mm i 1 ( 3) 2LmR iimi ( 4) 式中 : m 试样的质量比电阻,单位为欧姆 克每平方厘米( g /cm 2); im 第 i个试样的质量比电阻,单位为欧姆 克每平方厘米( g /cm2); mi 第 i块测试样板上 50根长度 20 cm的 试样质量,单位为克( g) 。 9.3 单位电阻、质量比电阻 试验结

9、果按 GB/T 8170 的规定 修约为两位有 效数字。 10 试验报告 试验报告应包括以下内容: a) 说明试验是按本标准进行的; b) 被测样品的描述; c) 试样数量; d) 试验和复核人 员; e) 仪器型号; f) 温度、湿度和调湿的时间; g) 结果:单位电阻、质量比电阻 ; h) 试验日期; i) 任何偏离本标准的细节。 DB41/T 1790 2019 4 附 录 A ( 资料 性附录) 电阻测试仪及配套装置 将试样架放入恒温 恒湿测试箱内, 5块导电纱线测试样板置于试样架上,用电极夹夹持每块测试样 板的两端,电极夹导线通过恒温恒湿测试箱侧面的测量孔引入箱外,与箱外电阻测试仪相

10、连接,测得试 样电阻值。试样连接装置示意图见图 A.1。 说明: 1 电阻测试仪; 2 测量电极; 3 样品电极; 4 恒温恒湿测试箱实验舱; 5 测量孔 ; 6 试样架。 图 A.1 试 样连接装置示意图 A.1 电阻测试仪 测 量 电压 设置直流 100 V, 测量范围: 110 0 110 14 。测量精度:电阻 1011 时 ,精度 5% ;电阻 1011 时 ,精度 20% 。 A.2 恒温恒湿测试箱 恒温恒湿 测试箱满足第 5 章要求, 内部空间可容纳载有制样板的试样架。测试箱可引出电极导线, 引出导线处不影响箱内温湿度稳定 。温度 20 5 ,相对湿度 35 % 5 %。 A.3

11、 导电纱线试样装置 A.3.1 制样板 + - 3 2 1 4 6 5 DB41/T 1790 2019 5 采用高绝缘 性材料,电阻率 110 14 m ,制成 250 mm220 mm2 mm的板子 。在制样板夹持端 正反面,对齐边缘,各安装一张宽 25 mm,厚度小于 0.5 mm的夹持铜片 , 见图 A.2。 单位: mm 说明: 1 制样板; 2 夹持面; 3 夹持翼; 4 电极夹; 5 试样; 6 夹持铜片。 图 A.2 测试样板 A.3.2 试样架 尺寸与测试箱内部空间相适应,底面平整,设置有若干平行的制样板插槽,可稳固承载制样板。插 槽间距应保证相邻制样板夹持电极的两翼间距不小于 50 mm, 见图 A.3。 单位: mm 说明: 1 制样板; 2 试样; 3 电极夹; 4 制 样板插槽; 5 试样架。 图 A.3 试样架 DB41/T 1790 2019 6 A.3.3 电极夹 夹持力 10 N,电极夹 夹持制样板时,应接触紧密、 导电 良好,接触夹持面长度 15 cm。 _

展开阅读全文
相关资源
猜你喜欢
  • EN 60747-16-3-2002 en Semiconductor devices - Part 16-3 Microwave integrated circuits - Frequency converters (Incorporates Amendment A2 2017)《半导体器件 第16-3部分 微波集成电路 变频器 包含修改件A1-2009》.pdf EN 60747-16-3-2002 en Semiconductor devices - Part 16-3 Microwave integrated circuits - Frequency converters (Incorporates Amendment A2 2017)《半导体器件 第16-3部分 微波集成电路 变频器 包含修改件A1-2009》.pdf
  • EN 60747-16-4-2004 en Semiconductor devices Part 16-4 Microwave integrated circuits - Switches (Incorporates Amendment A2 2017)《半导体器件 第16-4部分 微波集成电路 开关 IEC 60747-16-4-2004》.pdf EN 60747-16-4-2004 en Semiconductor devices Part 16-4 Microwave integrated circuits - Switches (Incorporates Amendment A2 2017)《半导体器件 第16-4部分 微波集成电路 开关 IEC 60747-16-4-2004》.pdf
  • EN 60747-16-5-2013 en Semiconductor devices - Part 16-5 Microwave integrated circuits - Oscillators.pdf EN 60747-16-5-2013 en Semiconductor devices - Part 16-5 Microwave integrated circuits - Oscillators.pdf
  • EN 60747-5-1-2001 en Discrete semiconductor devices and integrated circuits Part 5-1 Optoelectronic devices General (Incorporates Amendments A1 2002 and A2 2002 Remains Current)《分立.pdf EN 60747-5-1-2001 en Discrete semiconductor devices and integrated circuits Part 5-1 Optoelectronic devices General (Incorporates Amendments A1 2002 and A2 2002 Remains Current)《分立.pdf
  • EN 60747-5-2-2001 en Discrete Semiconductor Devices and Integrated Circuits - Part 5-2 Optoelectronic Devices - Essential Ratings and Characteristics (Incorporates Amendment A1 200.pdf EN 60747-5-2-2001 en Discrete Semiconductor Devices and Integrated Circuits - Part 5-2 Optoelectronic Devices - Essential Ratings and Characteristics (Incorporates Amendment A1 200.pdf
  • EN 60747-5-3-2001 en Discrete semiconductor devices and integrated circuits Part 5-3 Optoelectronic devices Measuring methods (Incorporates Amendment A1 2002 Remains Current)《分立半导体.pdf EN 60747-5-3-2001 en Discrete semiconductor devices and integrated circuits Part 5-3 Optoelectronic devices Measuring methods (Incorporates Amendment A1 2002 Remains Current)《分立半导体.pdf
  • EN 60747-5-5-2011 en Semiconductor devices - Discrete devices - Part 5-5 Optoelectronic devices - Photocouplers (Incorporates Amendment A1 2015)《半导体器件 分立器件 第5-5部分 光电子器件 光电耦合器》.pdf EN 60747-5-5-2011 en Semiconductor devices - Discrete devices - Part 5-5 Optoelectronic devices - Photocouplers (Incorporates Amendment A1 2015)《半导体器件 分立器件 第5-5部分 光电子器件 光电耦合器》.pdf
  • EN 60749-1-2003 en Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 1 General《半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分 总则 IEC 60749-1-2002 替代EN 60749 1999+A1+A2-2001》.pdf EN 60749-1-2003 en Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 1 General《半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分 总则 IEC 60749-1-2002 替代EN 60749 1999+A1+A2-2001》.pdf
  • EN 60749-10-2002 en Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods Part 10 Mechanical Shock《半导体器件 机械和气候试验方法 第10部分 机械振动[替代 EN 60749 CENELEC]》.pdf EN 60749-10-2002 en Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods Part 10 Mechanical Shock《半导体器件 机械和气候试验方法 第10部分 机械振动[替代 EN 60749 CENELEC]》.pdf
  • 相关搜索
    资源标签

    当前位置:首页 > 标准规范 > 地方标准

    copyright@ 2008-2019 麦多课文库(www.mydoc123.com)网站版权所有
    备案/许可证编号:苏ICP备17064731号-1