1、Q.J 中国航天工业总公司航天工业行业标准QJ 2837-96 半导体集成电路HCT移位寄存器详细规范1996一0419发布1996-11 01实拖中国蓝天工业总公司发布E次1范围. ,. . ,. . (1) 1. 1 主题内容.，.H Cl) 1. 2适用范围.H.(1) 1. 3分类.,. ,. . (1) 1. 4 绝对最大额定值. (2) 1. 5 推荐工作条件.“.(2) 2 引用文件.,. .H.“仅3要求.,. ,.“3.1 详缀要求.(4) 3.2 设计、结构和外骂骂尺寸.(4) 3 3 弓i线材料和涂覆，. soo ” , . (15) 3.4 电特性H“. .山”.川.”
2、川(15)3. 5 电测试要求“.(17) 3. 6 标志.23)3. 7 微电路组的划分.,. (23) 4 质量保证规定u . .(23) 4. 1 抽样和检验.（23)4. 2 筛选.”. . (23) 4. 3 鉴定检验“.9 .H H . （30) 4. 4 质量一次性检验.H.6. 1 定货资料.，. . (38 s 2 缩写词、符号和定义.山.“.(39 6. 3替代性.,. .“. . . . . . . (39) 6.4操作“.非.“.“.(39) 中国航天工业总公司航天工业行业标准申导体集成电路HCT移位寄存器详细规范QJ 2837-96 1 范围1. 1 ：题内睿本规有5
3、规定了磁.片微电路TTL兼容的HCMOS移位寄存器（以下简称器件的详细要求。1.2适用范囤本规范适用于器件的研制、生产和采购。1. 3 分类本规范给出的器件按器件骂型号、器件等级、封袋形式分类。1. 3. 1 器件编号糯件编号应符合GJB597微墩路总规范）第3.6. 2条的本规范的规定。1. 3. 1. 1 器件型号器件型号如农1所示。袋1器件型号器件型号JC54日CT164JC54日CT165JC54日CT166JC54HCT194 JC54日CT1951. 3. 1. 2 器件等级器件名称8位移位寄存苦苦Oil入并出8位移位寄存帮（并入.出8位移位寄存苦苦（并入申出、带消零4优双向通用移
4、位寄存器4位并行存取移位唱吁释器器件等级成为GJB597第3.4条所规定的S级和B极以及本规范规定的日l级。日1级夜产品保证要求的筛选、鉴定和质最一致性检验的某些项目和要求上不同于日级。1. 3. 1. 3 到装形式封装形式应符合GB7092半导体集成电路外形尺寸第5澈的规定。具体形式如农2所示。中国航天工业总公司1996-04-19批准1996 11 01实施1 QJ 2837 96 表2封辈辈形式封装形式I 外形代号D（多层商瓷双列封装I m.is, 0（多层掏瓷双列主才装I Dl6S, 1. 4绝对最大额定值绝对最大额定值应符合表3的短定表3绝对最大额定值数值1重目符号单位最小最大电摞宅
5、压1 Yoo -0.5 1.0 DC输入电压Vi -0.5 1. 0+0.5 v DC输出电压Vo 0.5 i 1. 0十0.5 E皿土20铐位二极管电流E恤主20输出电流Io 土25mA loo 50 电普雷电流foND 50 贮存温度T咀-65 150 C 允许功耗PM 300 mW 引线耐焊接温度(lOs)T, 300 c 结温T; 175 1. 5推荐工作条件推荐工作条件应符合表4的统定。表4推荐工作条件数值项目符号单位最小最大电源电压Yoo 4. 5 5.击输出电压Vo 1. 0 v 输入商电子电压V田2.咀辘入低电子电压v . 0.8 工作环境温度TA -55 125 。C2 QJ
6、 2837 II岳续表4数傻项吕符号单位最小最大输入除神上升慰问t. 500 输入脉冲下择对闵, 5号。对告中（CLIO27 JC54HCT164 33 脉：中清零（CLR)JC54HCT166 42 意，宽度JCS岳王CT19427 JC54江CT195装载（LOAD)JC54豆CT16527 工作模式(SO/Sl) I JC54HCT194 5号JC54豆CT165! 33 tsu 移位装载JC54HCT166 5自(SH/LD) 建立JC54HCT195 33 串行数据ns 对！写JCM日CT19542 方式时串、并行数据方式时S凯J33 时铮禁止JC54日CT16533 (CLK E技
7、H)JC54日CT166JC54HCT164 9 JC54HCT165 12 保持对何JC54豆CT166tH 17 j JC54HCT山9 JC54HCT195 时铃允许对i写意JC54日CT16617 E才钟禁止对同，挡. JC54HCT165 12 移位装载（SH/LD)复位对i胃 JC54HCT166 JC54HCT164 33 清零（CL丑JC54HCT166 27 ，辑幅时钟（CLK)a才饲JC54HCT194 33 JC54HCT195 3 QJ 2837 9岳2 51Jfi文件GB 3431. 1半导体集成电路文字符号电参数文字符号GB 3431. 2半导体集成电路文字符号引出
8、端功能符号GB 3439 半导体集成电路TTL电路浏试方法的基本原理GB 3834 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理GB 4590 半导体集成电路机械和气候试验方法GB 4728 电气图用图形符号GB 7092半导体集成电路外形尺寸GB 9178 集成电路术语GJB 548微电子器件试验方法和程序GJB 597微电路总规范3要求3. 1 详细要求各项要求应符合GJB597和本规范的规定3.2设计、结构和外形尺寸设计、结梅应符合GJB597和本规范的规定e外形尺寸应符合GB7092的规定。3. 2.1逻辑符号、逻辑臣和引出端排列逻辑符号、逻辑图和引出端排列应符合图I的规定。其中引出端
9、排列给出的是俯视图。4 JC54日CT164引出端捍7JJC54HCT164逻辑医QJ 2837 9岳JC54HCT164逻辑符号CLR E口王A B Qc QD (3 ,_中i可老化反偏老Al Al 后电化豆A71 1革试动态Al Al到老化A7 最终电泌试A2,A3,A9,A10,All A2,A3,A7,A9 A2,A3,A7,A9 A组测试要求Al ,A2 ,A3 ,A7 Al,A2,A3董A7,Al,A2,A3,A7, A8,A9,A10,All A8,A9 B组测试要求Al纱，A2,A3 ,A7, 不适用不适用(BS分毯A8,A9,A10,All C经终点电测试！不适用Al A2
10、Al纷A2n A3町A3 C组检验不远思AlO,All D经终点电测试Al,A2,A3 Al,A2,A3 Al.A2,A3 注,1)该分组要求进行PDA僚计算见第4.2条2) 老化和寿命试主主要求变化量（6）测试，其极限值应符合表15的规定。17 QJ 2837 96 表SA组吉思试测试方法规范值分组符号(GB 3834 条f佯器件单位条款号若无其它规定，T.=25最小最大Voo=4.5V J=-20p.A, 全部器件4. 40 Vo贸2.1 Vw=5. 5V Ioa= 4.如nA全部器件3. 98 v Vnn=4. 5V Io2011A 全部器件0.1 VOL 2. 8 ! o. 26 Vo
11、o=5. SV lOL=4. OmA 全部器件I国2. 9 V由5.5VV,=V国全部器件0.1 ln. 2. 10 Vw=5. 5V V1=GND 全部器件-0. l 严AAl I四2.15 Voo=5. 5V V1=Vw或m喝D全部器件1. 0 Vo=GND V田4.0V全部器件一101-120GB 3439 V1=GND mA I面2. 21 或1=V酶VIK+ GB 3439 v =GND li=lmA 全部器件1. 5 v Vi反2.1 V国塌开路，,=-1国A全部器件-1.5 Vw=4.5V I佣2白严A全部器件4. 4 VOH 2. 7 、Voo=5.5V loH=-4.0mA
12、全部吉普件: 3. 7 v Vnn=4. 5V f Io.=20件全部吉普件0. 1 OL 2. 8 A2 VDD=5.5V lOH=4. OmA, 全部器件0. 4 TA= Im 2. 9 125 Vw=5. 5V V,=Voo 全部器件0.1 In. 2.10 Voo=5. 5V V,=GND 全部器件1一-o.1j 11A Inn 2.15 Vnn=5. 5V V1=Voo或GND全部器件IO Z酷GB 3439 VoGND v，GND oo4. OV 全部器件10 120 mA 2. 21 lit v，。A3 除T.=-55外，测试参数、条件、辈辈俘和统范锺均同AZ分经只普普VOH、V
13、oi.A7 功能测试V00=4. 5V ,Vm=2. OV ,V,L母.8V按各器件的功能表（窗纱进行。A8 除TA=-55和TA=l25外，浪试条件向A7分蕴c, 3. 1 全部器件10 A9 草草量频率为lMf也pF Cc 3.1 全部善事件15 18 QJ 2喜379岳续表8E曾试方法规范值分组符号GB 3834 器件单位条款号若无其它规定，TA25最小最大V四4.5VJC54HCT164 51 CL=50pF JC54HCT165 55 、tr豆6ns负载线路图2，被形见图JC54HCT165 51 4. JC54HCT194i一51 JC54HCT195 51 3.1号JC54HCT
14、164 60 CLR 3. 9 JC54HCT194 44 Q（并出JC54HCT195 46 ns D并入JC54日:CT16552 Q A9 HILDQ I JC 54HCTI 55 59 CLR Q JC54HCT166 一Is1 3.15 V四4.SV CL=50pF IT指L自由t，巾运在血全部器件25 负载线路见图3，被形觅图3.16 i 4. f 3，在Voo=4. SV CL= 50pF 皿JC54日CT164JC54日CT16517 JCS岳王CT166MHz JC54HCT194 21 JC54豆CT19519 QJ 2837-96 续表8测试方法规范筐条件分组符号(GB
15、3834 若无其它定，TA=25）器件单位条款号最小最大CLK Q 3.1白Voo=4. 5V JC54HCT164 51 CL=50pF JC54HCT165 55 3. 9 6ns负载线路见图2，被形觅00JC54日CT16651 3. JC54HCT194 51 JC54日CT19551 1HLJC54HCT164 60 l CLR JC54HCT194 44 f?Ui Q（并出? JC54HCT195 4u ns D（并入）JC54日CT16552 AlO Q TA= 125 SH/LD q JC54日CT16559 CLR Q JC54日CT16651 tT皿俞国Vro=4. 5V
16、CL=50pF 3.15 .，.6ns 负载线路见图2，波形见图；全部器件25 3.16 3. f盹3. 8 Vw=4. SV CL =50pF t,.e,;6ns JC54HCT164 JC54日CT16517 JC54日c1号6MHz JC54HCT194 元54HCT195121 All 涂TA=-55外，辈革试参数、条件、器件和统范值均属Alo分重量。注，1)负载电容CL容许误差为主10%,CL包含探头和布线电容20 被翻试输出翰QJ 2837-96 罪i试点工F町图3负载线路m注，1)负载电容CL部容许误差为主10%,CL包含探头和有线电容-30V CLK Yott Q (a) 串行
17、移位模式（全部器件和并行装载模式。C54HCT166,JC54HC194,JC54日CT195)21 22 QJ 2837 9岳SH/LD -30万Q CLR Q Q !. 3V 10% -VOL 也并行装载模式。C54HCT165)7V 3. ov -GND 1. s -VOL (c) 并行装载模式。C54HCT165)3.)V -G刻DVoH 才一vOL 付清零模式。C54HCT164,JC54日CT16毡，JC54HCT194,JC54HCT195) 图4波形mQJ 2837-96 3.6标志标志应符合臼B597第3.6条的规定。3.7微电路短的划分本规范所规定的器件应为第40楼电路纽（
18、觅GJB597附录在补充伶4质量保证窥定4.1抽样和检验除本规范另有规定外，抽祥和检挫程序应符合GJB597、GJB548方法5005的规定。4.2筛选在鉴定检验和质量一致性检验之前，全部器件均应按GJB548方法5004和本规范表9的规定进行筛选。JC54HCT164 这ICP2 H DD CPI Vnn 2 23 CPI Rl $ Rl 4 Rl 6 Rl CP2 Rl Rl R1 Rl Cfi - 24 QJ 2837-96 JCS往fCT165：￥， 14 u 12且E 三ol.-iRl R2 JC54HCT166 16 15 Rl R2 4 13 Rl 12 Rl 11 R1 7 R
19、l Vw CP2 Vnn 2 Vnn Vnn 2 QJ 2837一%JC5江CT194Rl 16 CP2 R 刽Rl JC54HCT195 去i. 去2R! Rl . KZ CPZ 图5动态老化和寿命试验线路m注g丘，470047k0主20%,R,=lKO士5%1( VDD=5. 5工o.sv, Voo VD CPl Voo Voo 2 CPI CPl，频率为100.泣如土20%，方波，占空比50士15%,V田4.5VV血，Vn.=O士o.sv品，t,运5岳阳剖CP2，频率为CPl的一半，其余参数与CPl裙闵25 注z 26 DD GND 或CP JN R QJ 2837-96 E主DUT R
20、 GND 图6反偏老化和寿命试验线路图OUT Voo2. 开路就第一种反偏老化而言，段有输入端接GND，输出端开路或接Voo/2,R=680fl47k.O就第二种反偏老化商言，所有输入端必须通过电阻接V田，输出端开路或接V00/2,R=6喜悦347ldh V皿5.5土o.sv. OMN曲hw叶l咱也筛选穗序方法、条件利婴求（GJB548) 筛选项目$级稽仲B级音器件Bl级普普件说明方法条件要求方法条仲要求方法条件要求品片批验收5007 按规定所有批非破坏性键2023 按规定100% 抽丰非抽样舍拉力试验进行进行内部因检2010 试S盘条件A100% 2010 试验条件H100% 2010 试骏
21、条件B100% f封帽前）稳定蚀然烙（不1008 试验条件C（温度s100% 1008 试验条件C温度100% 1080 试验条件以温度g100% 要求终点测试lSOC时间，24h)150时间124h)150时间，24h)撞草皮循环1010 试战条件C100% 1010 试骏条仲C100% 1010 试验条件C100% 恒班加速度2001 试lli条件E,Yl100% 2001 试验条仲E,Yl100% 2001 试S生条件D,Yl100% 方向方向方向因槛100% 一100% 100% 可在“密封”筛选后进行哥线断带吉、管壳破裂、对帽脱落视为失放粒子碰攘噪声2020 试验条件A100% 20
22、20 试战条件A100% 可在温度循环之后，中问被测（PIND)（老化后）电测试项之前的任何顺序上进行盐1级器件用户若要求，可在订货合网中规定。编顺序号100% 100% 100% 表9、。、必f。筛选项目中间（老化前）电视l试反偏老老化I反偏；！：化E动态化;!: 1t 巾闵（态化后咆测试允许不合格晶$(PDA）计算方法1015 1015 1015 $级辍件条件要害求Al分组100% A7分组试验条件A100% 125，24h 试验ffi-1牛B100% 125，24h 试验条件P100% 125，192h Al分级100% A7分组民测甜Al分组a所有报PDA为5%着米淄过该项，但PDA值
23、不超过20%时，可重新提交化，m.只允许次，且PDA傻加严为3%.续表9方法、条件和要求（GJB548) B级辘仲Bl级熔f中说明方法条件要求方法条件里哥求Al分组100% Al分锁100% 自制泼广决定是否进仔细不基要求不要求动态老化采用图5试撞线路。1015 试$盘条件B,100% 一100% 反偏斗f化采用阁6试验OMM响MJ可唱也125C ,160h 线路。不要求1015 试验条件D或E100% 125，160h Al分怨100% Al分组100% A测剖A测iiiAl分组g所有Al分组所有提藉着化前来逃行中间也PDA为5%PDA为10%参数测试，则老化后Al辛苦来通过该辛苦米通过谈分
24、组检出的失效数也IN.琐，但PDA值不项，但PDA值不计入PDA内应E过20%时，可蓝超过20%时，可法新提交老化，但只新提交老化，倪只允许一次，JiPDA 允许一次，且PDA值加严为3%.俄加严为7%。OMM帽这法续表9方法、条件和要求（GJB548) 筛选项目S级糯仲B缀器件Bl级器件说明方法条件要求方法条伴要害求丁时法条件要求最终电测试100% 100% 100% 本项测试后，著改变了精A2、A3、A9、AlOA2、A3和A9分件的寻l线涂：（就返工，贝tl乎日All分级A2、A3、A9分组组应再进行Al分组测试攒纣1014 100% 1014 100% 1014 100% 细检漏试验条
25、件Al和试验条件Al和试验务中Al和A2 A2 A2 植被漏试验条件C试验条件C试验条件CX射线照相2012 两个视图100% 一可我编顺序号之后的任何筛选顺序上进行对扁平封装只要求个视朗鉴定就质去盖一5005 3,5条5005 3. 5条5005 3.5条致性检验试验样品的抽取外部目检2009 按规定100% 2009 按规定100% 2009 按规定100% 可在发货前按批激行。t、3巳。QJ 2837 96 4.3 鉴定检验鉴定检验应按GJB597始规定进行。所进行的检验应符合GJB548方法5005和本规范A、B、C、D幸EE组检验（见4.4. 1 4. 4. 5条的规定。4.4质量一
26、致性检验质量一致性检验应按GJB597的规定进行。所进行的检验应符合GJB548方法50部和本规范A、8、C、D、和E组检验觅4.4. 1 4. 4. 5条的规定。4. 4. 1 A组检验A组检验应符合表10的规定。电测试要求应符合表7的规定各分组的具体电参数测试应符合表8的规定。各分组的测试可JflI可一样本进行。当所要求的祥本大小超过批的大小对，允许进行100%检验g各分组的测试可接任意跟序进行。允许的最大合格判定数（C）为2。试主主Al分组25下静态泌试A2分组125下静态测试A3分主E-55下静态泌试A7分组25下功能泌试表10A组检敦LTPD S和B级一厂2 3 5 2 A8分经12
27、5和一55下功能测试5 A9分组25下开关那试AlO分组125下开关测试All分经-55下开关测试注，1)、2）分别按C3、C4分组进行，4. 4. 2 B组检验8级检验应符合表11的规定。z 3 Bl级2 3 5 2 5 2 1) 2) 不要求主要点电测试的分组可采用同一检捡批中电佳能不合格的器件作为样本。30 QJ 2837 96 表11-1S组器件B组检验方法、条件和要求（GJB548) 试验辛辛品数接校数说晓条件或LTPDBl分组尺寸2016 2(0) B2分组B2分组的样品必须经过抗溶这2015 4(0) B6分组的温度循环和空内部自捡和极2告13由订货合同规定合定如速度试验。格判据
28、2(0) 对键合强度试验.LTPD被检查或系指键合数而言s2014 键合强度2011 3 超声焊试验条件C或D芯片剪切强度2019 按相E主芯片尺寸3(0) B3分毯15 LTPD系对弓I线数而言，可焊佐2003 焊接温度，245土5被试器件数应不少于3或个。2022 B4分组2（白寻i线牢医性2004 试验条件B2寻！线疲劳密封1014 主E检费量 A I 程检漏试基金条件Cl或C231 试验部分豆豆电吉普试稳态寿命电吉司试部分运电善起试温度循环f重定加速度密封细检漏粗栓漏电草草试B7分组电喜怒试静宅放电灵敏E主宅墨西试32 QJ 2837-96 续表11-1方法、条件积要求（GJB548)
29、 方法条件ALA2和A3分组z读出并记录A7、AB、A9、AlO和All分重至3作记录ioos I试验条件D；温度125对问,lOOOhALA2和A3分组g读出并记录A7、A8、A9、AlO和All分组z作记录ALA2和A3分主！, 读出并记录1010 I试验条件C，至少循环100次2001 I试验条件E,Yl方向1014 接GJBI 1649 I 试验条件Al或A2试验条得Cl或C2ALA2和A3分组E读出并记录Al分主主I Al分组样品数接战委主或LTPD5 15 15(0) 该项军主态寿命凿的宅参数可室接采fflA组检验数据，不再另行测试e军主态寿命试验试验前部电参数可直接采用A经检验数
30、据，不再另行测试，除非另有规定，这验至少应对初次鉴定辛苦重新设汁的产品送窍。QJ 2837-96 表112 B和Bl级器件B纽检验方法、条件和要求（GJB548) 试验B级器伶Bl级器牛方法条件方法条件Bl分组尺寸2016 2016 B2分组就溶诠! 2015 2015 部分主E可得这焊接温度z2022 焊接温度z245士5或245士52003 2003 B4分组究部巨检和2014 2014 机械检查部分组辈辈合强度2011 2011 超声焊试验条件C试验条件C或D草草D部分组不要求电视i试Al分主E静电放电灵按童在度GJB 1649 电流试Al分组4.4.3 c组检验B级和Bl级器件的C经检
31、验应符合表12的规定。S级器件不要求进行C组检验。样品数（接3次数）或LTPD 2(0) 4(0) 15 3(0) B级器件，5Bl级器件，715(0) 说明LTPD系对被过器件数应不少于3个。LTPD系指从至少回？器件中选择的键舍数而言除非另有规定，试验至少应对初次鉴定和重新设汁能产品进可r.33 QJ 2837 96 表12C组检验试验B级器件方法、条件却要求也JB54的Bl级器件Cl分组稳态寿命室丢东电1雷试C2分组温度锯环方法条件ioos I试验条件D温度,125时！可，10oohAL A2幸EA3 分组四”试验条件C恒定加速度12001 I试验条件E.密封1014 缎检漏革呈检漏巨捡
32、终点电泌试Yl方向试验条件Alt或AZ试验条件Cl或C2按方法1010的目淦判据ALA2和A3分组Z町开关；一！不要求不要求4.4.4 D纽检验D组检验应符合表13的双定e方法条件1005 I试验条件D温度z125 时刻lOOOhAl、A2和A3分组1010；试验条件C2001 I试验条件D,f 1014 Yl方向试罢盘条件Al或A2试验条件Cl或C2按方法1010的目检判据ALA2幸EA3 分组- AlO分组All分组LTPD 5 15 3 5 说明来J!l图5的试基主线路。DLD2、D5、D6和D7分组可采用同一检验批中电性能不合格去？器件作为样本c34 QJ 2837-9岳表13D组检检
33、方法、条件和要求（GJB548) 试验S级和B级器件Bl级器俘祥总数接收数）说明方法：或条件！方法条件LTPD D1分组15 尺寸2016 2016 D2分组15 引线牢固性2白04I试主主条件B22004；试验条件B2密封1014 1在14细检漏试验条件Al试验条件Al或A2或A2程检漏试验条件Cl试验条件Cl或CZ或CZD3分组15 热冲击1011 试验条件B,1011 试验条件A,至少15次在重15次循环1010：环试验条件c,瘟1t循环1010；试验条件C,至少100次10次智富环循环抗溜湿1004 1004 Bl级器千辛，可)fl GB 4590 3. 6条的试验代替，到才商z56d
34、. 密封1014 1号14级检摄试验条件Al试验条件Al或A2或AZ位检苦苦试验条件Cl试验条件Cl或C2或C2自检按方法1。04按方法1004和1010的自幸日1010的吕捡到据检判结35 QJ 2837 9岳续表13方法、条件和要求（GJB548) 试验S级和B级器件BI级器件样品数接收数说明或方法条件方法条件LTPD 终点电测试ALA2和A3ALA2和A3王军在抗潮湿分组分忽试验后和密封试验前进行终点电参数测试。D4分组15 用在D3分组机械冲击2002 试验条件B2002 试验条件A中“热稳定性变频振动2007 试验条件A2007 该革主条停A和抗潮湿”的器件可甩在恒定加速度2001
35、试验条件E,2001 试验条件D,四分组中Yl方！每Yl方向“机械试验”密封11014 1014 细检漏试验条伶Al：试验条件Al或A2军A2粗检苦苦t试验条伶Cl试整条件Cl草草C2或C2自检接方法2002接方法2002和2白07始吕和20叨的百i检判据捡到据终点电测试ALA2和A3ALA2和A3分组分主ED5分组15 盐雾1009 试验条伶A1009 Bl级器件用户密封1014 1004 若要求，可在订货合同中规定c级检漏试验条件Al试验条停Al或A2或A2粗检漏试墨盘条件Cl试验条件Cl或C2或C236 QJ 2837 96 续表13号耳说方法、条件辛苦要求（GJB548) S级和E级器
36、件祥品数接收数或LTPD Bl级器件E方法？验试f牛条件条接方法1009！的自检判据的自检邦据自检3 器件出现1个失效时，可再加试2个器件并豆末失效。着第一次试验来通过，可在鉴定机将认可动另一试验室进行第二次试验，若第二次试兹通过，则该找应被3(0) 主主5(1) 不要求大为最量2时含阳盹汽wnvbk比WAV-5 06 VD6分组内部水汽含量15 D7分组I LPD系主？引线数需言。2025 2号25 引线涂覆粘湾强度4.4.5 E组检验E组检验应符合表H的规定。E主E失效的器件不得作为被试等级部RHA器件，但可用作非RHA器件，当器件符合较低等级要求时，也可作为较低等级的Rf王A器件。Bl级
37、器件不要求进行E组检验合37 QJ 2837一96表14E组检监方法、条件和要求（GJB54的S级B级试验祥本数（接没数! 方法条f牛幸羊本数接收数E2分组1019 25最大电源电压稳态总剂量辐射也鉴定(a) 4(0) (a) 15(0) 直走量一致性检验(b) 4(0) (b) 11(0) 终点电苦苦试按本主革范表SAl分怨和表17规定4.5检验方法4.5. 1 电压、电流检验中规定s所有绘出豹电压均以器件GND端为参考点；电流以流入器件引出端为正。4. 5. 2老化及寿命试验的冷却过程在老化或寿命试验完成之后，去掉如电之前，器件必须在室温状态下冷却到25立3，然后即可进行最终电参数泌试。在
38、老化或寿命试验之前及之后都必须对表15中所规定的参数进行测试并记录其数筐，以得出其变化量（.6.）值。表15变化量（.6.）极限（25老化寿命试验号寺注i符号！器件b.极限值电源电流Inn i 历有器件士1口号口A士150nA4.5.3静态电源电流测试当进行静态电源电流泌试对，电袤的安置应使全部电流流过电表。5 交货准备5. 1包装要求包装应合GJB597第二1条的规定e6说明事项6. 1订货资料订货合同应规定下列内容sa. 完整的器伶编号见第1.3. 1条；b. 需要衍，对器件制造厂每次交付的器件，需提供相应检验批的质量一致性检验数据38 QJ 2837 96 的要求Pc. 需要时，对合格证
39、书的要求Fd. 对产品或工艺的更改情况，应遥知签定机构，需要时还应通知采购单位的要求se. 需要时，对失效分析包括GJB548方法5003要求的试验条件纠正措施和结果提供报告的要求；f. 对产品保证选择的要求；辜，需要肘，对特殊载体封装、引线民度或引线形式的要求h. 对认证标志的要求Fi. 需要对，其它要求。6.2缩写词、符号和定义除下述定义外，本规范采用的缩写、符号和定义均符合GB3431. l、GB3431. 2、GB4728、GB9178和GJB597的规定，6.2.1 移位装载复位对铃（R移位装载脉冲信号从切断至tl恢复约对阅。6. 2. 2清零（CLR）时钟（CLK）时间trem,从
40、1青零脉冲信号开始时费H!JH才钟脉冲信号开始时刻约时阁部瓶。6. 3替代性本嫂范规定的器件其功能可替代普通工业用器件。普通工业用器件在军用温度范围内不具有与军用器件等效的工作性能和特性，即可靠性指标不同于军用器件。因此，不允许F吉普通工业用器伶替代军用器件。6.4操作器件必须采取防静电措施进行操作。推荐下列操作措施g 器件应在防静电的工作台上操作多总试验设备和器具应接地；c. 不能触摸器件引线；d. 器件应存放在导电材料或容器中多e. MOS区域内避免使用塑料、橡胶或丝织物zf. 若可行，相对湿度保持在50%以上。附加说明z本标准由中室主航天工业总公司七0人所提出。本标准由中雷航天工业总公司七七一所负责起草。本标准主要起草人z谷粟39 响WAM卜的wN气。中型航天工业总公司航天工业行业标准半导体集成电路HCT移位寄存器详握理需QJ 2837-96 中霆航天工业总公司第七0人研究所出极发行七OJI.Ji稍F奴印刷1996年li月出版定价：10.50元
