1、中国航天工韭总公司航天工韭行监标准航天液压污染控制测定工律液圄体颗粒污染的显撮镜颗粒计数法QJ 2724.4- 95 本标准参照采用自O斜。71991液压传动工作液污染用显微镜计数法测定颗粒污染和JSO5884 1亨87航空航天一液压系统和元件液压工作液固体颗毅污染的系统取祥和曹雪试方法的第三部份：测定固体颗粒污染的方法回1 主题内容与适用范围本标准规定了用显微镜颗粒计数法测定液压系统工作液固体颗位污染的方法本标准适用于航天液压伺服系统和地面设备液压系绞中工作液固体颗粒污染的测定，亦适用于其它液压系统。2 引用标准QJ 2724.2 航天液压污染按刽工作液试样容器约清洗和清洗方法检定QJ 27
2、24.3 航天液压污染控制从工作系统中抱取工作液试样QJ 2724.7 航天液压污染控和j污染分析数据报告方法3 2拉法3. 1 有效面积过滤试辛辛时液流通过滤膜的jfi积（通常为100个方格的福积，约890mm2).3. 2 方格一种印在法膜表面上的正方形格子，每个方格边长约3.08mm，面积等于法辈辈有效窗积的l/ 100.在过法和处理滤膜时，方格应不变形和损坏s3. 3 计算子滤E要有效面积和被测量计数的总面极之比3. 4 瓢位尺寸用显微镜法测定的颗粒的最长投影尺寸或给定方向的投影尺寸，3. 5 纤维颗粒长度大于lOOm，而t是宽比不小于10: I. 3. 6 单元主E积根据估计滤膜上的
3、污物颗粒总数，用两组等距离正交平行线把滤蹊划分为若干在中国航天工业总公司1995-04一篇批准1995 10 01实施21 QJ 2724.4 95 显微镜下适合于测量计数的部分a通常一个单元面貌内的被溅尺寸颗粒数为30到个单元面积可以是一个方格的萄积或方格面积的一部分；也可以用不印方格的滤膜奎利用显微镜的技术性能划分单元否积3. 7 固定渡使滤积有污物辈辈毅的法膜粘的在璇琼底片上形成不透明蜂窝状物的一种液体23. 8 透明滚放到菠藕底片的蜂窝状物上使其透明的一种液体透明溃的折射指数应与滤膜一致4 原理利用抱真空使己知容积的工作液这样通过滤膜过法，使污号费颗粒滤积在滤膜表窗上草草滤膜处理透明，
4、在透射光或入射光下，用显微镜检吉普法膜，接颗栓的投影尺寸测定污物颗粒的大小和计数颗粒数5 仪器设备5. 1 过滤装置a.有刻度的玻藕漏斗，容积250ml;b.带有法膜支承板的漏斗底座；漏斗组合夹紧装置；d.漏斗羞。5. 2 滤膜也直径不小于47rnm，白色，印有方格或不印方格，微孔尺寸不大子lm.b.直径不小于47rnm，白色，不印方格，微孔尺寸不大于0.5乒m.c直径适合于过滤喷枪和冲洗瓶的法膜，徽孔尺寸不大于0.5乒m（溶剂未经过法比或l.2m（溶剂已经O.Sm滤膜过滤） 5. 3 真空烧瓶容积大于100。距1.5. 4量筒容织大于JOOml. 5. 5 试样瓶容积25古时，最小150ml
5、，辛苦有不引进污染的塑料薄膜和瓶盖5. 6 抽真空设备能建立87kPa真空度5. 7 过滤曦枪或；中洗瓶能产生一般经过滤的溶剂射溅，是一种可调节压力的工作系统22 QJ 2724.4-95 5. 8镶子用不锈钢制造，平头，无齿5. 显微镜载物玻藕底片及盖片和塑料皿尺寸与法膜相适应，羞片厚度不大子。25mm.5. 10 试片刽备设备雪慧备透嘿滤膜该片使用的干燥箱等，5. 11 显微镜能分辨小到如盟的重要粒，带有合适的目镜测徽尺和载物台测微尺装有能扫锚滤E盖有效面积的载物台推荐采用的名义放大倍数和光学组合见表1和表2.表1透射光测试的名义放大倍数和光学组合放大倍数自镜物镶名义健差x i岱士lOx
6、lO xIO X2(刀土IOx lO X2() X45() 土20x lO X45 表2入射光测试的名义放大倍数和光学组合放大倍数i;f 镜钩镜名义偏差 50 士IOx IO 5土i 100 士10x 10 lO土ix200 主20x JO x2()土2允许采窍颗粒测量用投影显徽镜或光学扫檐显微镜及配套的测量计数电子设备。5. 12 显吉撞撞光源采用可读光强的入射或透射光源，岳仪器设备的清洗与试样接触的仪器设备的清洗和检定接QJ2724.2约规定进行，7 取样工作液试样取辛辛按QJ2724.3的规定进行23 Q.J 2724.4-95 8 那试8. 1 环境条件测试工作应在清洁室或净化工作台中
7、进行，或者工作问装有除尘净化设施，要求环境空气没有大于知盟的颗拉回工作人员应穿戴非棉纤维工作服8. 2 空白试验用清洁液进行试验8. 2. 1 用镜子取一片清洁钓滤罢章，用清洁液冲洗滤蟆两西8. 2. 2 把法蟆放到过滤装置的支承板上如果滤膜印有方楼，则方格00朝上放好漏斗，用夹紧装置突好过滤漏斗组合体必要时盖好漏斗盖8. 2. 3 用量筒取lOOml清洁液倒入试样瓶中，盖好瓶盖并充分撼动，再倒入组装好的漏斗中8. 2. 4 接遂抽真空设备，使真空度达到87腔盐，待清洁液过滤药费量斗中液位约乘ilOmm, 用冲洗瓶中的清洁液冲洗漏斗内壁，注意不得拨动法摸上的污物颗粒分布a最后拍子漏斗中的液体，
8、8. 2. 5 卸去漏斗组合夹紧装置和漏斗，用慑子取下法膜e8. 2.岳按8.4条很j备显微镜该片，按岳条进行颗粒测量计数8. 2. 7 空白试验计数结果不得超过试祥总计数的10%，通常为大于知盟的颗粒不超过1000个如果超过这个值则应接第6章的规定重新清洗仪器设备，并按第8章重做空白试验8. 3 斌样远滤8. 3. 1 重复8.2.l和8.2.2条8. 3. 2 按第7章提供的试样，去掉外包装，记录试得标签的内容8. 3. 3 用清洁液清洗试样瓶盖及周围摇动武样獗，使该样中的污物均匀悬浮去撑瓶盖及塑料摸，用清洁液；中洗掉瓶口外的到守着物a注意不得有任何清洗物进入瓶内。8. 3. 4 在经装好
9、的漏斗中倒入约lOml清洁液，用量筒取约IOOml试样倒入漏斗中。很据试辛辛中的污物浓度，可以适当源整试挥重8. 3. 5 重复8.2.4和8.2.5条8. 3.岳按QJ2724.2的规定清洗过滤装置重复8.3.l8.3.5条，直到做完试祥瓶中的全部法样，并且最后要用约50醋的清洁液倒入试样瓶中，清洗后倒入漏斗与最后一次试样一起过滤8. 4 试片8. 4. 1 在透射先下在盘il!IJ勇试片lli!J备8. 4. 1. 1 把过滤试样后的滤臻移到显微镜我物玻藕底片上，滤蟆载有污物的一面额上。如果法簇印有方格，则使格线与玻璃片边绞平行，24 QJ 2724.4-95 8. 4. 1. 2 级据显
10、微镜的技术性能，用固定液和透嘿液等适当处理滤膜，使滤摸变得光学透明s处理过程中滤膜不得收缩或变彩，不得扰动滤模上的污物颗粒分布8. 4. 1. 3 制备好的试片应作好识别标记8. 4. 2 在入射先下检混黑试片和j备根据显微镜的技术性能，把过滤试幸芋后的法膜移到载物玻璃片上或不透明的塑料血中，并做好识别标记8. 5 显微镜技正8. 5. I 按显微镜的使用说明书画计量部门定期进衍调整和校正8. 5. 2 每次试验前用标准物理量（如载物台泌微尺或经计量标定的标准板）测量并校正每章中选用的放大倍数和光学组合下所对应的单元窗积的边长和00积。面颗粒的测量E计慧8. 6. 1 额章主尺寸范围8. 6.
11、 1. 1 按颗栓的最大投影尺寸或给定方向的投影尺寸L但m）分类如下：5 5; 15; 25; 到；100：，纤维8. 6. 1. 3 允许按其他尺寸范离分类，但其中必须包括大于如血和大于15m两章中尺寸8. 6. 2 选择放大错戴8.6.2.1 颗粒尺寸与名义放大倍数量号关系推荐采用表3的数据表3颗粒尺寸范围和名义放大倍数尺寸范围名义直立大倍数四透射光入射光S/ 、 、. 1号单元面毅20单元噩积50单元面积图1典型的单元面织（方格）分布图8.6.3.4 测量计数第一个单元iii积上规定尺寸范理约颗粒数，并继续测量计数下一个单元面积的颗粒数如果开始IO个单元酒积靠在定尺才范围的颗粒总计数超过
12、300个，.!il!I认为该尺寸范围的辈辈粒计数已完成如果不到300个，则继续测量计数单元面积的颗粒数，室到总颗粒数超过300个，或者100个单元面积被计数8.6.3.5 按8.6.3.4条规定继续测量计数第二种尺寸范围的颗粒数，直到测完规定的全部尺寸范围约颗粒数很据显微镜和计数设备的技术性能，允许在一个单元iii积上同时完成各辛辛尺寸范围颗粒的测量和计数8. 6. 3. 6 如果一份工作液试样翻备有几个显微镜试片.j!重复8.6.3.4条和S丘3.5条，直到割完全部试片乱？数据处理按每JOOml工作液试样中每种规定尺寸范清的颗粒数表示测试结果，8. 7. 1 如果一份试样正妻子是IOOml（
13、允许偏差为土5%），并且只制备一个试片，设每JOO ml试样9L尺寸范围的颗粒数为NL，则26 QJ 2724.4 95 NL =n F=n一至一叠.（I)a m 式中：n被计数的L尺寸范围的颗粒数；F=A/a m一计算因子iA一法膜有效面秧，890n也1;a一计数L尺寸范蜀颗粒的单元面积，mm;m-L尺寸范围颗位被计数的单元面积数。事.7. 2 如果一份试样的容狈为Qml，锁备成K个该片，则NL男纣（芒）. . (2) ”也Z”K式中：K试片数，正整数：1、2、3.i; n一第K个试片被计数的颗粒数；m._ 第K个试片被计数的单元面积数，9 结果表示和测试报告接QJ2724.7的规定提供液压工作液团体颗粒污染分析测试报告附加说明本标准函中国航天工业总公司七OJ.所提出a本标准函中国航天工业总公司一院七O三所负责起草本标准主要起草人：潭建安、王振武、高额庆，谢文盛，王匡砖。27
