1、ICS 29.080.30 K 15 GB 中华人民=lI二/、不日国国家标准G/T 26170-201 O/IEC/TS 62101 : 2005 电气绝缘系统热、电综合应力快速评定Electrical insulation systems-Short-time evaluation of combined thermal and electrical stresses (IEC/TS 62101: 2005 , IDT) 2011-01-14发布2011-07-01实施数饲防伪中华人民共和国国家质量监督检验检痊总局中国国家标准化管理委员会发布GBjT 26170-201 OjIECjTS
2、62101: 2005 目lJr:I 本标准等同采用IECjTS62101 :2005(电气绝缘系统热、电综合应力快速评定)C第一版，英文版)。本标准在技术内容上与IEC62101: 2005 C第一版，英文版)元差异。为便于使用，本标准做了下列编辑性修改:a) 删除了国际标准的前言;b) 第2章规范性引用文件中的引用文件，凡有与之对应国家标准(或行业标准)的IEC标准均以国家标准(或行业标准)替代，随后文中引用的IEC标准号也作相应修改。本标准由中国电器工业协会提出。本标准由全国电气绝缘材料与绝缘系统评定标准化技术委员会CSACjTC301)归口。本标准负责起草单位:上海电器科学研究所(集团
3、)有限公司、山东齐鲁电机制造有限公司、上海电科电机科技有限公司、江门市江展电机厂有限公司、浙江金龙电机股份有限公司、苏州巨峰绝缘材料有限公司。本标准参加起草单位:桂林电器科学研究所、哈尔滨电机厂交直流电机有限责任公司。本标准主要起草人:张生德、李锦梁、戎伟康、张妃、苏启明、刘权、叶锦武、徐伟宏、于龙英、方建国。I GBjT 26170-2010jIECjTS 62101 :2005 电气绝缘系统热、电综合应力快速评定1 范围本标准规定了以下设备适用于电气绝缘系统(EIS)的热、电综合应力快速评定规程:一一供电电压1000 V及以下(直流、交流、脉冲)的设备;一使用绕线线圈模型:适用于变压器、扼
4、流器、镇流器、电抗器、铁氧体逆变器等;一-正常情况下不经受振动的产品。为测定热老化条件下的化学反应，模型应包含最终产品的所有组分。评定整个EIS的老化程序不允许修改。2 规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。GB 6109. 1-2008漆包圆绕组线第1部分:一般规定(lEC60317-0-1 : 2005 ,IDT) IEC 60216-5 电气绝缘材料耐热特性第5
5、部分:绝缘材料相对耐热性指数(RTE)的测定IEC 61857-1: 2004电气绝缘系统热评定规程第1部分:通用要求低压3 术语和定义IEC 61857-1:2004确立的以及下列术语和定义适用于本标准。3. 1 包封1fiJencapsulant 除和外部的连接外完全包封住线圈的电气绝缘材料，并且是电气绝缘系统(EIS)的一部分。3.2 包封encapsulation 使用包封剂的工艺过程。注:注塑成型、模压成型、浇铸及其他技术工艺均可用于评定电气绝缘系统(EIS)。3.3 线圈架bobbin 线圈绕制于其上的骨架。3.4 双线绕组bifilar winding 由互相绝缘的两个相邻导体组
6、成匣间的两个线圈组。注:双线绕组两个线圈的感应泄漏因数通常忽略不计。3.5 对地绝缘earth insulation 线圈和接地之间的电气绝缘材料(EIM)。3.6 EIS估计耐热性指数EIS assessed thermal endurance index (EIS ATE) 从己知运行经验或已知对比功能性评定获得的基准EIS，以摄氏温度的数值表示。1 GB/T 26170-2010/IEC/TS 62101 :2005 3. 7 EIS相对耐热性指数EIS relative thermal endurance index (EIS RTE) 待评EIS和基准EIS均经受相同老化规程和诊断规
7、程的对比试验，与基准EIS的已知EISATE相对应的待评EIS，以摄氏温度的数值表示。3.8 3.9 待评模型candidate model 用来评估必测耐热性的模型。注:通过对比待评模型和基准模型的热老化进行测定。基准模型reference model 用作基准与待评模型进行对比性试验，由己知运行经验的热老化获得的耐热性已知的模型。注:试验结果作为待评模型试验结果的基准。元基准模型试验结果提供，但有运行经验数据时，运行所用的EIS模型应作为与待评模型进行比较试验的基准模型。4 结构4. 1 概述用来评定待评EIS中所有组分相容性的模型，能够等效模拟实际制造工艺的影响，比如绕组工艺、端部工艺、
8、浸漆及/或包封工艺。4.2 待评模型和基准模型的相似度待评模型和基准模型的外形和装配应相似。按GB6109.1-2008中表1规定，基准模型和待评模型用绕组线的尺寸望应小于两级。待评模型和基准模型结构的详情应按IEC61857-1:2004中7.1写人报告。4.3 模型组件a) 线圈:应用两股完全相同的线平行统制线圈(双线统组); b) 线:2级漆膜电磁线;优先采用线径0.1mmO. 63 mm的电磁线，认为其可代表其他线径用于试验;c) 对地绝缘(主绝缘):作为线图架评定的EIM应不同时作为包封材料。作为包封材料使用的EIM同样要进行评定fd) 线圈间绝缘:若有设计要求，相邻线圈间的绝缘;e
9、) 引接线:连接绕组线至接钱端或引线处的部分，其应延伸到浸渍层或包封层。引接线是模型的基本部件;f) 评定时不承受电应力的部件，在最终产品里不应作为EIM使用;g) 铁心:与模型一体的金属机座或冲片;h) 浸渍树脂/漆:可能是模型的组分。4.4 模型装配2 a) 用认可的绕线工艺将电磁线绕制在线圈架上;b) 绑扎绕组线圈;c) 将线圈嵌入铁心;d) 连接绕组线至接线柱或引线;巳)若是待评EIS的部件，则使用浸渍树脂/攘处理;f) 若是待评EIS的部件，使用包封材料处理。注:实际电工设备也可进行试验。GB/T 26170-2010/IEC/TS 62101 :2005 5 试晶数量每一老化温度下
10、每种待评EIS和基准EIS试品应不少于5件。6 试验规程6. 1 概述所有试品、待评EIS和基准EIS均应在经受初始筛选试验后按下列顺序进行反复循环的耐热性试验:a) 热老化试验分周期pb) 电气诊断试验。6.2 初始筛选试验6.2. 1 概述所有试品，待评EIS和基准EIS在高温下经受第一个热老化分周期之前，应进行初始筛选试验以便剔除有缺陷的试品。初始筛选试验可包括下述步骤并应按规定顺序进行za) 条件预处理见6.2.2); b) 外观检查;c) 初始介电试验(见6.2.3)。6.2.2 条件预处理初始筛选试验之前试品应在低温点下进行48h的预处理。6.2.3 初始介电试验应在其他预诊断应力
11、和热老化试验之前对每-试品进行初始筛选耐电压试验(筛选电压不小于1 500 V，持续时间30s土2吵。初始介电试验在线圈对线圈、线圄对地(铁心)间进行。绕组线间的试验电压不小于500Vo 试验电压频率在48Hz62 Hz范围。注:不推荐施加瞬时满载电压。19议在试验电路中加入脉冲保护器以消除意外的岭值高压。对于施加电压进行评定的试品，提前校准过的跳闸时阳为2s3 s的过电流继电器可成功地用来检测其失效。6.3 耐热性试验6.3. 1 老化试验周期在规定数量的待评试品和基准试品进行初始筛选试验后，试品应进行反复循环的耐热性试验周期。待评模型和基准模型应按IEC61857-1: 2004进行每个耐
12、热性试验周期。试验周期的组成如下:a) 热老化分周期;b) 电气诊断试验。6.3.2 热老化应在4个不同的老化温度下进行热老化分周期试验。最低温度下应获得不小于1500 h的平均试验寿命。最高温度下应获得不小于100h的平均试验寿命。选择最高老化温度时宜考虑到EIM的转变温度如熔点或玻璃态转化温度，最高老化温度应比最低转变温度至少低5K。每个热老化周期期间，应对试品的双线绕组施加一个500V士25V a. c. ，频率48Hz62 Hz的电压。铁心应接地。热老化由老化温度、初始老化时间和老化规程组成，应按IEC61857-1: 2004中6.3进行试验。按IEC 61857-1:2004中6.
13、3.4，采用烘箱加热法。3 GBjT 26170-2010jIECjTS 62101 :2005 6.3.3 老化温度老化温度应基于待评EIS的预期耐热等级(EISTCA) ，最低温度为EISTCA +40 K，如表1所示。其他试验温度必须符合6.3.2所述准则。6.3.4 老化时间为使每套试品在3个试验周期的最小值内达到预期的平均试验寿命，每个老化温度应是指定的所选曝露时间。若第一个周期或第2个周期后就发生失效，则周期持续时间应减半。老化温度应基于待评EIS的预期耐热等级(EISTCA)，耐热等级180及以下EIS采用10K间隔，耐热等级200及以上EIS采用15K间隔。推荐的老化温度和老化
14、时间见表1。最低温度等于预期等级温度加上40K。每个温度增量表示一组试样被置于相应的烘箱。表1推荐的老化温度和老化时间推荐的周期老化时间(预期等级h 120 130 155 180 200 220 250 336504 160 170 195 220 240 260 290 168240 170 180 205 230 255 275 305 EIS TCA 老化温度72120 180 190 215 240 270 290 320 。C2448 190 200 225 250 285 305 335 一一一为显示EISTCA和受试模型适合的其他老化温度及时间，可以在规定温度下进行预老化试验。
15、注:为方便考虑，建议老化时间为24h(l d)的整数倍。6.3.5 电气诊断试验按6.3.2和6.3.4所述，每一老化周期后，在室温下按表2规定的电气诊断试验评定试样。表2模型的电气诊断试验试验方法试验条件失效判据双线线圈绕组线间绝缘电阻500 V d. c. 主二2M.n 线圈间(对多线圈结构)介电诊断试验600 V土30V a. c. , 48 Hz62 Hz 击穿绝缘电阻500 V d. c. 7M.n 主绝缘介电诊断试验600 V士30V a. c. , 48 Hz62 Hz 击穿绝缘电阻500 V d. c. 7M.n 注:使用大约500V的直流电压测量绝缘电阻，电压施加1min之后
16、测量。为检查试品状况及测定终点寿命，电气诊断试验应在经受每一连续的热老化周期后进行。7 寿命终点标准每个单独试样的寿命终点标准均应是符合表2的试验条件下的模型失效，或者在热老化分周期期间由于施加交流电压而使模型发生失效。当检查出试品失效时，该试样应不再进行后续试验。8 分析、报告和分级分析、报告和分级应和IEC61857-1: 2004中第7章规定一致，并参考IEC60216-5规程。待评模型的RTE应写作表示鉴别耐热性的数字，再加上(IEC62101)，例如，耐热等级130(62101)。GB/T 26170-2010/IEC/TS 62101 :2005 介电诊断试验检查出失效，或平行绕组
17、线间发生击穿且击穿发生在连续的两个周期，其寿命终点值是连续两个热老化周期数的平均值。在上述两种结果都发生的情况下，较低的数值被认为是寿命终点。数据分析要求至少3个温度点。最低老化温度应有不小于1500 h的平均试验寿命。最高老化温度应有不小于100h的平均试验寿命。注:本标准不同于IEC61857的分级。仅限于不经受低温、潮湿或振动的设备，使用本标准试验将得到EIS相同数值的分级结果。另外，除非经过完整的重复试验，否则就不能对结构进行调整。5 的OONH-23自UM嗣同OFONlohFNH国。华人民共和国家标准电气绝缘系统热、电综合应力快速评定GB/T 26170-2010/IEC/TS 62101: 2005 国白，* 中国标准出版社出版发行北京复兴门外三里河北街16号邮政编码:100045网址电话:6852394668517548 中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷各地新华书店经销 印张O.75 字数10千字2011年5月第一次印刷开本880X12301/16 2011年5月第一版晤-15号:155066 1-42364 16.00元如有印装差错由本社发行中心调换版权专有侵权必究举报电话:(010)68533533定价GB/T 26170一2010打印日期:2011年6月10日F002A
