1、现代分析仪器分析方法通则石墨炉原子吸收分光光度方法通则JY /T 023 1996 General rules for grapbite furnace atomic absorption spectropbotometry 1997-01-23发布1997-04-01实施前圭f曰本标准的编写格式和方法符合GB/T1.1-19931标准仕王作导则第1单元E标准的起草与在述规则第1部分标准编写的基本规定I，GB/TJ.-881标准化工作导则化学甘析方法标准编写规定的要求，本标准的附录A是标准的附录.本标准起草单位z国家教育委员会本标准主要起草人，勃本标准妻加起草人:许鼎荣次日范围. (371)
2、引用标准 071) 方法原理. . . (371) 试剂和材料.-. .川.-刊. . 仪器. 山(371) 样品 川.(;73) 分析步骤. . (:-1 73) 分析结果的茬述.(37,t) 安全注意事项. . (370) 123 45678 9 石墨炉原子吸收分光光度方法通则1 范围GeneraI rules for grapbite furnace atomic absorption spectrophotometry JY/T 023 1996 本标准规定了石墨伊原于吸收分光光匮法，适于用新购置的和在用的各种类型的石墨护1桌子吸收分光光度计。Z 引用标准下列标准包吉的J民主.通过在本
3、标准中引用而构成为本标准的矗立。在标准出版时，所示版本均为有效。所有标准都会被修汀，使用本标准的各方应探讨、使用下列标准最新版本的可能性GB/T6682-92 分析试验室用本规格和试验方法GB/T602-88 化学试剂杂质测定用标准溶液的制岳阳eqISO 6353/1 I 1982) GB/T603-88 化学试剂试验方法中所用制剂和制晶的制岳阳qJ旺)6353/1 I 1982) 3 万法原理原于吸收分光光度法是基于藕气相中苗圃元章的基草原子晴来自光源的特性辐射的共振咂收.石墨护原子吸收分光光度法是以电热石墨炉为原子住器进行原子咂收测定的方法回原F吸收的大小以吸光度茬示，咂光度与试样中被测组
4、分被度之间的关系，遵循光吸收定律zA叫K(1) 式中A 咂光度其单位为A)1. 入射辐射光)强度I 透射辐射(光强度K 摩尔吸光罩数c一一试样中被测组分的浓度L一光通过石墨护原子化器的光程4试剂和材料实验中所用的制剂和榕液按GB/T602化学试剂杂质测量用标准糟液的制备和GBIT603化学试剂试验方法中所用制剂和样晶的制备中所规定的方法配制。去离子水应符合GB/T6682中实验用水二级串规格.5仪器国意融青委员舍1997-刷11批准1997-刷刷实施371 JY/T 023-1996 石理护原子吸收分光光唐汁应有锐线光摞，石理护电热百于他系统、光学革统、检测器、背景校正某统与数据处理系统等主要
5、部件a5.1 锐线光源锐线光摞是发射被测Jt章恃伍的钝线辐射。常用的锐线仕盟是空心阴极灯与无极放电灯，5. 2 而墨炉原子it系统石墨炉原子化系统应有石墨护原子化器、陪却水箱、内外保护气气路与供电电路。石理炉原子f七器是提供能量.便被测元素ft合物解离与实用原子也百墨炉电热原于ft器育管式原于化器和抨式原子ft器及组合式原子七器。石墨炉电热原于七旱挠应设有慢速斜坡卉温与快速升温两种方式。在实际工作中，最用何种升温方式取决于i式样的性质。5.3 光学果统光学系统应有入射挟缝，准光镜，色散元件，成惶物镜弓ttl射挟缝，分先系统的核心部件是光栅。it栅应具有中等分畔能力，190nm9nm光谱植呵。5
6、.4 枪测器广泛使用的检测器是光电倍增管.光电倍增管的增川(达到10日倍，晴电illi小到lU;A。5.5 背景校正系统背景校正系统应有连续光耀、主事曼效应、或自吸效应校正背景肇置u5.5. 1 连续光源校正背景是先用锐线光摞测得分析线与背景吸收的且吸光度.再用连续光瞟(在紫外区用筑灯，在可见区用躏鸽灯)在周i皮*测量背景吸收的吸收值，两次测得的吸光度惶相减得到校正背景后的分析钱的咂光度值。官测得的背景是光谱带宽植围内的平均背景.只能性正低背景吸收，不能校正精细结向与光谱子扰，起的背景。5. 5. 3 辜量效应校正背景是基于光的偏振特性.目前在商占仪器中采用岐收线调制法，调配!方式有恒定磁场与
7、可变磁场调制两种方式。恒定磁场调制方式，在原子也器上垂直于光束方向随加假定磁场，当平行于磁场方向的情振光通过原子也器时，测得原子吸收与背景咂收的巴哇光度.当垂直于磁场方向的偏摄光血过原于化器时.测得分析线披桂址的背景的吸光度。吁变磁场调制方式，)在原子化器上垂直于光南方向施加A电磁铁，官仅在原子ft阶段被激磁，不激磁时耐得了9.f吸收与背景吸收的单吸光度，激磁时拥得分析线波士去处的背景的吸光度。b)叫向;i!Ii:事量效应校正背景系统，在军磁场时测得原F吸收与背景吸收的且幢光度.撒磁时测得背景吸收的吸光度。j，吸光度减去背景吸光度.得到l校正了背景吸收后的分析线的吸光度值.事量效应校正背景可以
8、较吸光度高达1.52. 0的背景，能校正精细结构号光谱干扰引起的背景。5.5.4 自吸现应校正背景是基于高电班脉冲供电时空心阴极好友射线的自吸效应。当以低电流脉冲供电时，空。阴极灯发射锐线光谱，测得原子吸收与背景喧收的且吸光度。当以短时间高电班脉冲供电时，测得背景吸收的眼光度，两IX.测悍的吸光11值相减，便得到校正了背景吸收后的分析线的吸光度值，这种校正背景方法可以校正精细结构与光谱子扰引起的背景，时于在高电llIi脉冲供电时发射线自吸效应不够大的元章，唰定灵敏查有损失。5. 6 数据处理.l统由检测器阳极输出的信号经前置耻大器放大.阻扰转换，锁相幢大器撞波，对盘查换等，最后用检植计指示出来
9、，或用记录N记录，或在CRT上显示。现代化的仪器还设有自动调草、自372 JV /T 023-1996 司曲线校直、背景校正，数据统计处理及数据库等多种事样的功能，睡个仪器的操作出计算机控制与管理。6样品实验室供分析用的试样与试制，应具有克仕的代表性。6.1.1 在预处理过程中，要防止站将试祥和试料与丢失被测组分。6. 1. 2 在样品、试样或试科的保存过自中，要来取必要的措施.防止真特性发生变化。易挥定性样品.旦低温密封保存s光敏样品要避光保存:睿易发生水解的样品，应在一定酸度下保存样品。6. 1. 3 鉴于实验室样品种类的事样性，应根据实验室样品的特性选择告适的预处理方法。取样量的大小应根
10、据分析方法的精度和所要求的分析精度确定。7 分析步骤7.1 开机严格按照仪器操作说明书的要求和规定程序启动仪器。7.2 工作矗件的选择7.2.1 在搞量分析中，般选用共振吸收线作为分析线e所选择的分析线不得受到其它谱线的干扰，7.2.2 在痕量分析中，通常要选择在得最大吸收值的光谱带宽.当可能有其它光谱干扰时，则应选择较窄的光谱带宽.7.2.3应选用空4、阴极灯上所标示的最佳工作电斑。若空4、阴般灯上只标有最大允许使用电流，因I用空心阴极灯上所示的最大电班的1/2-1/3作为工作电IlL或者根据在验确定最佳E作电榄。7.2.4 原子化是件的选择包括干蛐温度与时间、直化温度与时闻、原子也温度与时
11、间、空烧清脆温度与时间以及保护气体流量。干燥的目的是革友去除榕剂，选用的于燥温度应略低牙槽剂的沸点，适于选择斜坡升温方式.干燥时间的选择要与干镰温度相配合，且随样品性质不同而不同，应由实验决定。1度化的目的是破坏与除去试样的基体以及有机物.在保证被调元章没有损失的前提f.应尽量使用较高的1!i.化的温度.1!i.化时间要根据班化曲线决定。当幢测元章与基体挥世性接近时，要考虑使用基体改进剂。原子化的目的是使被测元素完全原于化。最佳的原F他温度应根据原于他曲线来决定.要综合考虑灵敏度和石墨炉原子比器使用寿命的要求.7.2.5空烧清洗温度与时间空烧的目的是除掉残留在原于化器内的被分析物，消除记忆敖应
12、，空烧温度要高于原子化温度，青适的空烧时间由实验确定?7.3分析方法7.3.1 标准曲线法，配制4-6个标准溶液样品，用辙量进悻器吸取定量(通常为10t-20)的标准溶液注入石墨护原子化器中，在所选择的最佳分析条件下，用峰高或峰面积法国际上推荐用峰面积法)唰定各标准榕液的吸光度值A.用最1、工乘法按线性回归拟合标准工作曲线，求出标准工作曲线的截距a与斜率L373 JY /T 023-1996 户l2.:A，-bl_三二耳衍(2) 二iA!i-:主州三人lb二三一一工-二(3) 飞1, :. 丰JC!土(2c, i2 J n ，! 式中 浓度t 浓度平均值A 吸光度1 咂光度平均值在同样的条件下
13、测定未知榕班的咂血置值，根据斓悍的眼宽度直由拟古的回归万理计算4由标准工作曲线查出来知榕植的浓度。测定结果必须扣除空白与校正背景.应适口制作标准E作曲线，或用标准榕搞对原有的标准工作曲线进行检查与世lE.7.3.1 标准M入法，功于标准榕榄试制难于匹配的基体星杂的未知悻品.币1用标准加入注涮走回在未知试样中分别力日入军和不同已知量的标准潜液，配制4个-6个溶液试悻。加入量的大小，应以能明E区分加入已知量标准榕被前后的分析信号辈决定(-，般说，最小加入量应与未知试样的浓度在同一散量级。在所选择的最佳分析条件f，测量已加入标准榕液的试料与未加入标准溶液的空白吸光度值a扣除空白的吸光庄值之百.用最小
14、二秉法按线性回归拟合净咂光度值与标准榕液加入量的工作曲线，根据公式(2)亏(3)分别求出标准工作曲线的截距a与斜率b.由a.b求出未知样品潜液的浓度。或者，用吸光度值对标准溶液加入量绘制L作曲线，将工作曲线向低浓方向延拉圭与横坐际相主，亘古至坐标草原占距离所相应的加入浓度，即为未知溶液试样的浓度回用该法测定时.必须扣除空白与世正背景，而且只盲工作曲线的斜率b.不随加入浓度而改变时.旗法才能应用.7.4 干扰试验在实际样品分析中，当有干扰时.应对干扰进行校正，或果取适当措施消除其干扰。7.5 质量控制在测试过程中，应进行全程质量控制B要测定与桂正圭程空白值.在分析未知样品时，应同时分析质控样晶。
15、为保证量值的溯摞性，应用标准物质配制挥准溶液.无标准物质可供使用时.应用能满足具体工作要求的相应纯度的物质配制标准潜液。8 分析结果的费述8. I 分析方法与分析结果的评价分析方法用检测能力、精密度，准确度与适用性来评定，撞测能力以检出限，测定结果的精密度用标准偏差或相对标准壁，准确度匍误差或相对误差表示.适用性当指它所适用的被测组分的融度硅围时，用工作曲线的线性遣回来葡量，当指时不同组成试样的适用性时，用它的抗F扰能力来说明.8. 1. 1 检出限检出限是指能用该仕析方法以适当置信度通常取置信度99.7%)检出被测组分的最小量(q.)或最小放度(!J，AL - A , 3.1, q 1. =
16、0 -c- b b (4) 374 JY厅。23-1996AL - A. 3.5, c, -=一1. - b b 式中b一一在检出限水平附近低融度区校正曲线的斜率A, 瞌度为检出限时的平均吸光度A 空白样品进行足够多次比如20次测定的平均咂光度 测定空白样品的际准偏差，按(旧式叶算主;?Ab)2jJ:中A二一空白样品吸光度单次测定值A，同(5)式n 测定次数8. 1. 2 精密度n - 1 (5 ) (6) 精密度是指事IX重星测定同一量时各测定值之间植此相符合的程度。用际准盖或相时标准差表示a精密度同浓度有关，报告精晤It时应该指明在得该精密度的雕度.将(6)式中的A，A.分别以眼度c和浓度
17、平均值c代替，即可计算标准偏差然后按(7)式计算相对标准是(RSD) RSD = : (7) C 8. 1. 3 准确度准确度是茬示在走精啻度矗件下多改测定平均值和被测定的(约定真值相符合的程度，准确度用绝对误差或相H民辈RE费示。在实际工作中，用标准样品或标准方法进行时照试验，或加入被测定组分的纯物质进行回收试验来估计与确定准确度。当用回收试验来估i准确度时，以回收率R茬征准确度。式中测定值一真值-c RE王 (8) (9) 在误差较小时，多次平行测定的平均值J接近于真值，放在实际工作中常将J作为的估计值.U代替(的式中的真值使用。式中C, 初始测定值C，一-加入量C，一一加入C，后的测定值
18、8. 2 分析结果汁算R = c3, - C -二C. (IO) 分析结果用它的精密度、准确度、置信区间来评定.精密度、准确度按8.1.2和8.1. 3计算。在消除墨统误盖的晶件f.置信区间由测定平均值2与随机不确定度自=tl.5.综合者示，随饥不确定直是在一定置信度下时被测定的真值所处量值范围的评定，真值的置信区间接(11) 375 lV /T 023-1996 式叶算。=正土卢=c+t,s, ) I ( 式中Ic 置信度为95%、自由度为/(/二，-1)的置信爵数，由，分布在查得 测定次数s 残命标准偏差亦韩剩余标准偏差).按(12)式计算门7丁(Ao二互)S , =寸!主十二i十一一一-
19、一vfnp吝k川(I2) ， fi豆王三JJEE(1 3 ) 式中b 标准工作曲线的斜率一一标准主作曲线试验点的数日p未知样品重重测定的次数A, 未知样品吸光匮庐次重复测定的平均值耳标准王作曲线各试验点吸光度测定的平均值当用标准拥入法测定时，求得的样品的浓JJr，的置信IK睛，仍由(11)式计算，其中由(4)式计算2/1 , 1 iF S, =1-:斗士+一 ,/ r bZ三;(c-4)2式中各符号的吉且同(12)和(3)式。8.3 分析结果茬述报告分析结果时.应给出测宦平均值，标准盖和走置信匿下(通常取置信度95%)的置信区间。(14) 9 安全注意事项用石墨妒原子吸收分光光度法进行唰走时，要严格按照仪器操作说明书正确地使用仪器.注意安全。376
