1、中FL 5962 SJ 50597/22 94 、唱Semiconductor integrated circuits Detail specification for types JF709 and JF709A general operational amplifiers 1994-09-30发布1994-12二01实中华人民共和国电子工业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路F709、F709A型通用运放大器详细规范Semiconductor integrated circuits Detail specification for types JF709 and JF709A
2、 general operational amplifiers 1 范围1. 1 主题内容SJ 50597122 94 本规范规定了半导体集成电路JF709、JF709A型通用要求。以下简称器件的详细1. 2 适用范围本规范适用于器件的研制、生产和采用。1.3 分类本规范给出的器件按器件型号、器件等级、封装形式分类。1.3. 1 器件编号器件编号应符合GJB597(微电路总规范第3.6. 2条的规定。1. 3- 1.1 器件型号器件型号如下:f牛型号)F709 jF709A 1. 3. 1. 2 器件等级通用型通用 件名称(外补偿吵忡卡尝)器件等级应为GJB597第3.4条规定的B级和本规范规
3、定的Bl级。1. 3. 1. 3 封装形式封装形式应符合GB7092 R荤+ Cz C. R. AVF 补偿c RF/R, Cj (pF) C,(pF) 1000 10 100 100 图2注若无其他规定，电阻偏差为士1%，电-6一3 3 士10%.规范值单位最最大80 dB 25 V/mV 土8V 土12V 士101. 5 s 30% 0.15 V/s 件值Rj(kl) 。1.5 SJ 50597122 94 3.4.2 不稳定性振荡按本规范给出的测试工作时，应无振荡。3.5 键合应符合GJB597的第3.7.1.1条规定。3.6电电试验要求应为表2所规定的有关分组，各分组的电测试按表3的规
4、定.表2电试验要求分组觅表3) 项目B!级器件 中间老化前电试Al Al 一一一，咀晶且.、中间(老化后电试Al!) Al !) 一啡.-一最终电A2.A3.A4 A2.A3 ,A4 A组试验要求Al.A2.A3.A4 .A5 .A6 .A7 .A8 Al.A2.A3.A4.A5.A6.A7.t. C组终点电测试盯Al和表4.1极限盯Al和表4.1极限UD组终点电测试盯Al Al -.- 4 注，1) 该分组要求PDA计算见本规范第4.2条).2) C组和D组终点电测试中还应包括表3中测试号为27、28和43、44的值.的表4终点电测试用于V10.118+和118- 一7一咱通t引出端条件(V
5、)(见国3、电4 3 2 1 分组1.:) Al 10 1 23 一7-8 Kl.K2 5 TA=25C 2 7 一238 Kl.K2 5 3 15 一15。K1.K2 5 4 9 一9一。5 5 15 一15。K5.K6 5 斗1fJ 6 23 一7-8 无5 7 7 -23 8 无5 8 15 -15 。无5 9 9 一9。无5 118+ 10 23 一7一-8 Kl 5 11 7 一23一8 Kl 5 12 15 一15一。K1 5 13 9 -9 一o IK1 5 14 23 一7一一8K2 5 lm-15 7 一8 K2 5 16 15 一。K2 5 17 9 一9一。K2 5 KS
6、VR 18 由4 的E4和号3得的E3KSVR-19 KCMR 20 由号1得的El和2 得的E2表3也:JF;33电iE;式妓T-4-一一验值i单位i等-但王二、ZI V E2 v E3 v E4 v E5 v E6 V E7 v E8 v E9 v E10 V Ell v E12 v E133 v E14 v E15 v E16 v v I Vm=El 一一一11回=E2Vro=E3 一一V!O =E4 卜一一一Vm=Es/200 一一立兰兰EX(EI-E6)! lI0=10%X(E2-E7) lI0=10.X (E3-E8) lKl=10%X(E4-E的一l1B+罩10IX(EI-EI0
7、)l1B+ =101 X (E2-El1) lJB+ =10zX (E3-E12) llB+ =1OZX (宇4-E13)h咱一ltB- =1OZX (E14-E1) 一l1B- =10X (E15-E2; -一一一寸llB咱=1OZX(EI6-E3)hB- =IO X (E17-E4) 6-10 KSVR全自20lg1; .=:l I -一KCMR= 20g I (16X 10)/(EI-E2i规范值单位最小最大一5.05.0 rnV nA -500 nA 一一500 nA 76 一dB 10 一JF709电测试续表3-1gmog叫NMis引出端条件(V)(见图3)激励继测端规范值分组符号等
8、式单位l 2 3 4 电器数单位最小最大A3 V10 41 9 -9 。K1.K2 5 . E30 V VIO=E30 -6.0 mV 6.0 A=-55叫42 15 一15。K5.K6 5 E31 V VIO = E31/200 43 由测号40的E29和测号3得的E3计算得 的10=(E29-E3)/80X 10 一1010 DVIO V/.C 44 由号42的E31和测号5得的E5计算得到。VIO=(E31-E5)/80X 200 一2525 1Kl 45 23 -7 一8无5 E32 V 11O=10%X (E27-E32) 一500500 nA 寸+ 46 7 一23-8 无5 E3
9、3 V 1JO=10%X (E28-E33) 47 15 一15。无5 E34 V 11O=10%X (E29-E34) 48 9 一9。无5 E35 V 110=10% X (E30-E35) allO 49 由47 得的I号8得的1Kl计算得到.allo=10% X (E29-E34-E3十E8)/80一22 nA/C 11B+ 50 23 一7-8 K1 5 E36 V 118+ =10%X (E27-E36) 1500 nA 51 7 一238 K1 5 E37 v 118+ =102 X (E28-E37) 52 15 一15。K1 5 E38 v 118+ =10%X (E29-E
10、38) 53 9 -9 。K1 5 E39 v 11B+ =102X (E30-E39) 十118- =102X (E40-E27) 54 23 -7 一8K2 5 E40 v 1500 nA 1皿- 55 7 一238 K2 5 E41 v 11B- = 10% X (E41-E28) 56 15 -15 。K2 5 E42 v 118- =10X (E42-E29) -r 57 9 -9 。K2 5 E43 V 118- =lOX (E43-E30) 58 6X10 自号40测得的E29和号41得的E30到.dB KSVRT+=20lglEE30-E29| 76 K叫59KCIIR 60
11、由号38测得的E27和号39得的E28KcMR=201g 1(16 X 10 /(E27-E28) I 70 dB 7 续表3-1JF709电测试 分符引出端条件(V)(见图3)规范值等式组号1 2 3 4 电单位最15 61 15 -15 。K1 ,K2 2 13 mA 15=13 5.8 mA TA=-5 A4 62 15 -15 一15K1 ,K2 ,K3 3 v Vopp+=(EO)1 10 V V TA=25C 63 15 一15-15 K1 ,K2 ,K4 3 I(EO v Vopp+ = (EO)2 12 64 15 -15 15 K1 ,K2 ,K3 3 v Vopp-=(EO
12、)3 一10Vopp-V 十自4I(E汇)41V 65 15 -15 15 K1 ,K2 ,K4 3 Vopp- = (EO)4 一12AVD+ 66 15 一15-10 K1 ,K2 ,K3 5 E44 v AVD+ =10 /(E3-E44) 25 V/rnV AVD-67 15 一1510 K1 ,K2 ,K3 5 E45 v AVD- =10 /(E45-E3) 25 V/mV -+ A5 68 15 一15-15 K1 ,K2 ,K3 6 (EO)5 V Vopp+ = (EO)5 10 V V TA=125C 69 15 一15一15K1 ,K2 ,K4 6 (EO)6 V Vop
13、p+ = (EO)6 12 卡70 15 一1515 K1 ,K2 ,K3 6 (EO)7 v Vopp- = (EO)7 一10V V 71 15 一1515 Kl.K2 ,K4 6 (E0)8 V Vopp-=(EO)8 -12 AVD+ 72 15 一1510 K1 ,K2.K3 5 E46 V AVD+ =10 /(E3-E46) 25 V/mV VVD_ 73 15 一15一10K1 ,K2.K3 5 E47 V AVD- =10 /(E47-E3) 25 A6 74 15 一15-15 K1 ,K2 ,K3 6 (EO) v Vopp+ = (EO)9 10 V V TA=-55Q
14、 75 15 -15 -15 K1.K2.K4 6 rE0)1 V Vopp+= (EO)lO 12 、76 15 一1515 K1.K2 ,K3 6 EO)l V VoPP- = (EO) 11 -10 V V 77 15 一1515 K1 ,K2.K4 6 EO)l V Vopp- = (EO)12 一12AVD+ 78 15 一15一10Kl.K2.K3 5 E48 V AAD+ =10 /(E3-E48) 25 V/mV AVD_ 79 15 一1510 K1.K2.K3 5 E49 V AAD- =10 /(E49-E3) 25| i V/mV ,_. 加, 坦白。由电MM|UA28
15、3叫MM-2续表31 引出端条件(Vh见图的端规范值分组符号等式单位l 2 3 4 编号数单位最小最大t, 80 15 一1520mV 6 tl s t，=&l(波形1)1.0 s SR+ 81 15 一15士5V6 V儿.tl+SR+ =V1+/ (l+ 0.15 VI A7 牛TA=25叫82 15 -15 土5V6 VL .AtL SR- =AVL 1&1-O. 15 V Ip.s SR-Kov 83 15 -15 2臼nV6 Vl.AVl Kov = 100(All!V1) 30% 、t, 84 15 一152伽nV6 t2 s , t，=t(波形1】1.0 s i suzWUU2+
16、A8 SR+ 85 15 一15士5V6 AV2+ .At2+ 0.15 VIs TA= 125.C SR-86 15 一15士5V6 V2_ .t2-0.15 V !p. !KO卢刚AV2/V2); Kov 87 15 一152仇nV6 V2.V2 V 30% t, 88 15 -15 2伽nV6 Vt3 s t，=&3(波形1)1.0 s A8 SR+ 89 15 一15士5V6 AV3+ .At3+ SR+=AV3+1&3+ O. 15 VIs TA= 一55(:SR-90 15 一15士5V6 V3_ .At3_ SR_=AV3_1&3_ 0.15 VIs Kov 91 . 15 一1
17、520mV 6 V3.V3 V Kov = 100(AV3/V3) 30% HN1! 注z等式中己考虑了1000倍的闭环增益和标度因数.以便计算符合表1的单位.若无其他规定.静态和动态测试线路见图3.表3-2JF709A电测试引出端条件(V)(见图3)激继被端规植分组符号等式单位电器1 。3 4 号单位最小最大Al VIO 1 Z3 -7 一8Kl ,K2 飞5E1 V VlO=E1 一2.02.0 mV T, =25C 2 7 -23 8 K1 ,K2 5 E2 V VlO=E2 3 15 一15。Kl ,K2 5 E3 V VIO=E3 4 9 -9 。K1 ,K2 5 E4 V VIO=
18、E4 5 15 一15。K5 ,K6 5 E5 V VlO=E5/200 I皿6 23 一7-8 无5 E6 V 110=10 X (E1-E的-50 50 nA 7 7 -23 8 无5 E7 V 11O =10X (E2-E7) 8 15 一15。元5 E8 V 110= 10 X (E3-E8) 9 9 一9。无5 E9 V 11O =102X (E4-E9) I.R+ 10 23 一7-8 K1 5 E10 V I lB. =102 X (E1-E10) 200 nA 11 7 -23 8 K1 5 E11 V IIB+ =10X (E2-E11) 12 15 一15。K1 5 E12
19、 V I.B+ = 102 X (E3-E12) 13 9 -9 。K1 5 E13 V IIB+ =102 X (E4-E13) 14 23 -7 -8 K2 5 E14 V 1.日-=10X(E14-El)200 nA I.B-15 7 -23 8丰K2 5 E15 V IIB- =102X (E15-E2) 16 15 一15。K2 5 E16 V 1.8- =102 X (E16-E3) 牛17 9 -9 。K2 5 E17 V IIB- =102 X (E17-E4) KSVR 18 6X103 80 dB 由号4的剧和测号3得的E3计算得到KSVR士=20lg|E4-E3iKSVR
20、KSVR 35 KCMR 36 由22 得的E18和测号23得的E19KCMR = 201g I (l6X 103)/ 分组A3 TAZ-55c A4 TA=25.C 试叫U结;去LLL YU巧fib;一一一一号lili端条件(V)(见图。l 。 3 4 激励继电器15 I -15 I一-I 0 I K1 ,K2 , A5 15 I -15 I一I-15 I K1 ,K2.K3 15 1 -15 I一I-15 I K1 ,K2.K4 V 64 65 15 15 -15 I一15 15 -15 i一AVD+ 66 15 K1.K2.K3 K1.K2.K4 一15I一!一10I K1.K2.K3
21、A VD-TA=125d v, Vopp-67 68 69 70 71 15 15 15 15 15 AVD+ I 72 VVD-I 73 A6 TA=-55叫vVopp-74 陀一刊一付一15I一I10 I K1.K2.K3 一15一1-15 I K1.K2.K3 -15一1-151K1.K2.K4 一151I 15 I K1.K2.K3 一15I I 15 I K1.K2.K4 被测浦i品-RE每俨、一四-_一一2 3 13 一一一一V V0r俨+=EO)l一一一3 I (EO)马IV i iOPI + = (EO)2 (EO)3V!Vo=(二0)2CEO )4 I v I VOrr- =
22、 (E0)4 3 3 一-一5-5-6 E44 AVD; = 10 !(E3- E44) V 一-一E45 V AVD- =10 /(E45-E3) (EO)5 (EO)6 (EO)7 CEO)8 V I Vopp+ = (EO)5 V I Vopp+ = (E0)6 6 6 -V I VoPp- = (E0)7 6 V I Vo肌=(EO)8 E46 VIA肌=103/ 。 10kO DUT + JgdIOW i NC O. 1F lOOpF 2kO 一-一-一-口。Vo(mV) Vo(V) 一-s 串-4:. 5 。-2.5 -5 ,Wo(+) -At(+) t(JJS) 2 一19一8J
23、 50597122 94 参数脉冲发生器测量等式t，上升时间20mV幅度t(S)见:形lt, =.1t Kov过冲系数+20mV幅度.1V(mV)见波形1.1V kov=V O 160% .1Vo(V) t(S) SR+转换速率一5V5V阶跃S AVo+ R+一且波形2t+ SR-转换速率-5V-5V阶跃.1Vo(V) t(s) S AVo-见波形3R-=-t_ , 图4瞬态响应测试线路和波形注:若无其他规定，所有电阻偏差为土1%，所有电容偏差为士10% 器件在插入插座时，应避免器件受到损害.线路中应加上3.4. 1频率补偿线路.表4C组终点电测试CTA=25C，Vs=士15V)JF709 J
24、F709A 单位ns V/s V / J.I.S 试规范值变化量(.1)规程值变化时(，1)单位最最大最最大最最大最最犬十十V11口一5.05.0 士1-2 2 土0.8mV + 1m吐1500 士100200 士40nA 3. 7标志标志应符合GJB597第3.6条的规定。3.8 微电路组的划分本规范所涉及的器件应为第49微电路组见GJB597附录白。4质证规定4. 1 抽样和检验除本规范另有规定外，抽样和检验程序应符合GJB597和GJB548方法5005的规定。4.2 筛选在鉴定检验和定进行筛选。工页目内部目检(封装前)稳定性烘;培(不要求终点电测试)一20一十一致性检验之前，全部器件应
25、按GJB548方法5004和本规施表5的规表5今选条件和要求(GJB548) B级器件Bl级件说明方法条件方法条件2010 试验条件B2010 试验条件B斗1008 牛C1008 f牛C(150 C, 24h) (150 C , 24h) SJ 50597/22 94 续表5条件和要求(GJB548) 项B级器件B1 件说明方法条件方法条件1010 试件C1010 试验条件C可用方法1010试条件A替代.恒定加速度2001 件E.Y1方2001 条件D.Yl方试验后进目检.引向向断帮、外壳、封为失效.中间老化前)电范Al分组本规范Al分组由制造厂决定是否进试行本 老化1015 条件D验1015
26、 条件D采用本规范图6条件C(125C, 条件C(125C，采用本规范图5线路160h) F 160h)或F 采用本规范图7线路中间(老化后电测本规范Al分组本规范Al分组试斗允许不合格品率5%，本规范Al分10% ，本规范Al分着老化前来进行中间(PDA) .当不合格品率组，当不合格品率老化电测试，则不超过20%时，可不超过20%时，可老化后中间(老化后计算重新提交老化，但重新提交老化，但电试Al分组的失4只允许次只允许次.效也应计入PDA.最终电测试本规范A2，A3和本规范A2，A3和本项筛选后，若寻线A4分组A4分组涂改变或返工，则应再进行Al分组测试.密封1014 试条件:1014 条
27、件:细Al或A2Al或A2粗Cl或C2Cl或C2斗外部目检2009 按规定2009 按规定鉴定和质量性5005 3.5条5005 3.5条检验的试验样品取一21一SJ 505.97122 94 v 抖。一100kQ V+o G I 50kQ - r RL + v 图5老化和工作寿命试注入倩号为VIPP=士5V.j=50Hz输出Vopp=士10V.V + =15V.V _ =-15V. 老化试验时RL=I.8kn.稳态寿命时RL=2kn若无其他规定，所有电阻的偏差为1%.线路中应加上3.4.1频率补偿线路.V+ r R IN 1 + V_ 注:囱6老化稳、态功率和反偏和工作寿命试验线路件，TA=
28、12SC.Vs=士15V.线路中应加上3.4.1 入信号为Vt=士1.SV. 一22一SJ 50597122 94 30V 1000 lkO 5V _一+ , C V 图7加速老化和寿命试验线路注z如果使用高温加速试验条件，应保证在高温期间所施加的电压至少应有85%常温电压在器件上.加速试验条件不考虑器件的功能.线路中应加上3.4. 1频率补偿线路.4.3 鉴定检验鉴定检验应按CJB597的规定，所进行的检验应符合CJB548方法5005和本规范A组，B组，C组和D组检验(见本规范第4.4. 1条至第4.4.4条的规定。4. 3. 1 鉴定扩展如果制造厂的JF709A型器件通过鉴定检验，则对于
29、与JF709A型器件具有相同的设计和制造(相同管芯、相同工艺、相同筛选的JF709型器件，在鉴定机构批准之后其鉴定可以扩.展。4.4 质量一致性检验检验应按CJB597的规定，所进行的检验应按CJB548方法5005和本规范A组，B组，C组和D组检验见本规程第4.4.1条至第4.4. 4条的规定。4.4.1 A组检验A组检验应按本规范表6的规定。电试验要求应按本规范表2的规定，各分组的电测试应按本规范表3的规定。各分组的测试可用一个样本进行，当所要求的样本大小超过批的大小时，允许100%检验，各分组测试可按任意顺序进行。合格判定数(c)2. 表6A组检验(B级和Bl级器件)试LTPD Al分组
30、2SC下静态测试2 A2分组12SC下静态测试3 A3分组-55C下静试5 一23一SJ 50597122 94 续表6试验A4分组25C下动态测试A5分组125C下动态试A6分组一55C下动态试A7分组25C下功试A8分组-55C和125C下功试4, 4.2 B组检验B组检验应按本规范表7的规，定.B1 B5分组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本.表7B组检验若无其他规定，表中引用的试验方法指GJB548. 条件和要求试B级件BI级方法条件方法条件B1分组2016 按规定2016 按规定尺寸B2 2015 按规定2015 按规定抗溶性B3分组2022 2022 可焊性或焊接度或温度2
31、003 245士5C2003 245士5CB4分组2014 按规定2014 按规定 内部目检和机械性能部分组 2011 .2011 合强度试验条件C或试条件C或焊D D D8 适用时(a)电参数本规范A1分组(b)静电放电灵GJB 敏度等级1649 A规范A1分组(c)电4.4.3 c组检验C组检验应按本规范表8的规定一24一样本数/(接收数或LTPD2/(0) 4/(0) 15 1/(0) 15 15/(0) LTPD 2 3 5 2 5 明LTPD系对引线宫，牛数应不小于3个可在封装前的内目检选后，意抽取样品进行本分组 仅在初始鉴定或产品重 8J 50597122 94 表8C组检验若无其
32、他规定，表中引用的试验方法指GJB548 条件和要求试C1分组方法B级器件条件稳态寿命I 1005 I 件C或条件D(l25C ,1000h) 或试验条件F终点电测试本规范A1分组和表4，1极限见本规艳表2和表3)C2分组环1010 试验条件C恒定加速度2001 E Y1方向密封1014 , 细检A1或A2粗检漏Cl或C2日检|按方法1010的目检判据终点电测试本规范A1分组和表4，1极限(见本规范表2和表3)4.4.4 D组检验D组检验应按本规范表9的规定。方法1005 1010 2001 1014 BI 件条件件CD (125C ,1000h) 或试验条件F本规范A1分组和表4，1极限(见
33、本规范表2和表3)试验条件C试验条件DY1方向阵、立且安K1T:A1或A2C1或C2按方法1010的目检本规范A1分组和表4，1极限(见本规范表2和表3)样本数/(接收数)或LTPD5 15 说明采用本规范图5线路采用本规范图6线路采用本范图7线路01，02，05，06，07，和D8分组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。-25一8J 50597122 94 表9D组检验若无其他规定，表中引用的试验方法指GJB548。条件和要求B级方法|条件BI级器件方法|条件如数回本啪地U样啪或说日耳试验D1分组15 尺寸2016 按规定I 2016 D2分组15 引线牢固性2004 试验条件白20
34、04 件B2密封1014 1014 A1或A2A1或A2粗检C或C2C1或C2D3分组15 热冲击1011 试验条B，I 1011 I试验条件A，15次环15 环I 1010 I C 1010 试验条件C，100次循环10 抗潮湿1004 按规定I 1004 I I B1级器件允许按GB 4590第3，6条严格度D进行试验密封1014 试验条件:1014 试验条件2A1或A2A1或A2粗检C1或C2C1或C2日检按方法1004和按方法1004和1010的自检判1010的目检判据据终点电测试本规范A1分组本规范A1分组|可在抗潮湿后和(见本规范表2(见本规范表2密封试验前进行和表3)和表3)终点
35、电D4分组15 用于D3分组的样品机械冲击2002 B 2002 试验条件A可用在D4分组变频振动2007 A 2007 试验条件A恒定加速度I 2001 I E 2001 试验条件DY1方向Y1方向密封1014 试件:1014 I 趴在豆宋11: 细检A1或A2A1或A2C1或C2C1或C2目检按方法2002和|按方法2002和2007的目检判2007的目检判据据终点电测试本规范A1分组本规范A1分组(见本规范表2(见本规范表2和表3)和表3)一26一SJ 50597122 94 一续表9条件和要求|样本数/试验B级器件Bl级件(接收数)I 说明方法条件方法条件I YX LTPD 一一一一-
36、.D5分组15 盐雾川i试验条件A密封|适用时间1014试件:细Al或A28级器件桩检漏I C1或C2日检按方法10(目检判据D6分组 当试验3个器件出现1个失效时，可加试两个器件并且不失效，若第一次队姐/l-.JIS且，可在鉴定机构认可的另一试验室进行第二次队缸，在2队拙A且且，则该批应被接收3/(0)或5/(1) 内部六汽1号撞ll18 ! 100C时最大水汽含量为5000ppm 不要求覆度矩组会虽一组扭扑线附一收盖肌引柏肌封15 言2025 I 按规定2025 5/(0) I仅用于陶瓷熔封外壳2024 I按规定2024 I按规定4.5 检验方法检验方法应符合相应表格的规定。本规程给出的或
37、GJB5，48涉及的试验方法的电测试线路均可使用。替代的试验线路应由鉴定机构批准。4. 5. 1 电压相电流除输入失调电压(或电压差外，所有给出的电压均以外部电摞电压零点为基准，给出的电流均以流入器件引出端为正。4. 5. 2 老化和寿命试验冷却程序器件进行工作寿命或老化试验后，应将器件冷却至室温，才能去除偏置，然后进行25.C下测墨。5 交货准备5. 包装要求包装要求应按GJB却7第5.t条约规定。6 说明6. 1 订货资料-27一SJ 50597122 94 订货合同应规定下列内容:a. 完整的器件编号(见1.3. 1条hh. 需要时，对器件制造厂提供与所交付器件相应的C. 需要时，对合格
38、证书的要求;d. 需要时，对产品或工艺的更改通知采购单位的要求;一致性检验数据的要求;e. 需要时，对失效分析(包括GJB548方法5003要求的试验条件纠正措施和结告的要求F f. 对产品保证选择的要求;g. 南要时，对特殊载体，引线长度或引线形式的要求;h. 对认证标志的要求。i. 需要时的其他要求。6. 2 缩写词、符号和定义本规范所作用的缩写词、符号和定义均按GB3431. 1 ,GB 3431. 2和GJB597的规定。6.3 替代性本规范规定的器件其功能可替代普通工业用器件，不允许用普通工业用器件替代军用器件。附加说明:本规范由中国电子技术标准化研究所负责归口。本规范由国营四四三三厂负责起草。本规范主要起草人:陈明月计划项目代号:B21G40一28一
