1、 ICS 19.040 K 04 道B国家标准国本日11: ./飞、中华人民G:B/T 2423.50-2012月EC60068-2-67: 1995 代替GB/T2423.50-1999 环境试验第2部分:试验方法试验Cy:恒定湿热主要用于元件的加速试验Environmental testing-Part 2: Test methods Test Cy: Damp heat, steady state, accelerated test primarily intended for components (IEC 60068-2-67: 1995 ,Environmental testing
2、-Part 2: Tests-Test Cy:Damp heat, steady state, accelerated test primarily intended for components,IDT) 2012-11-05发布苦艾才可v中华人民共和国国家质量监督检验检菇总局中国国家标准化管理委员会2013-02-01实施发布GB/T 2423.50-2012月EC60068-2-67: 1995 目次前言.m 1 范围.2 概述.3 试验装置说明.4 试验条件和严酷等级.25 预处理.2 6 初始检测.2 7 条件试验.2 8 中间检测.3 9 恢复.3 10 最后检测.3 11 有关规
3、范应给出的资料.3 附录A(资料性附录试验的物理意义.4 附录B(资料性附录)试验装置及其管理.5 附录NA(资料性附录)GB/T 2423标准的组成部分.6 I GB/T 2423.50-2012月EC60068-2-67: 1995 前本部分为GB/T2423的第50部分，GB/T2423标准的组成部分见资料性附录NA。本部分按照GB/T1. 1-2009给出的规则进行起草。本部分代替GB/T2423.50-1999(电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验CY:恒定湿热主要用于元件的加速试验。本部分与GB/T2423.50-1999相比主要变化如下z一一增加了前言部分z一一本标准改为本
4、部分气一一增加了资料性附录NAo本部分使用翻译法等同采用IEC60068-2-67: 1995 (第1版)(环境试验第2部分=试验试验CY:恒定湿热主要用于元件的加速试验。本部分与IEC60068-2-67: 1995 (第1版)相比，主要做了下列编辑性修改z一一删除了IEC60068-2-67: 1995的前言，增加了国家标准的前言F一一增加了资料性附录NA。本部分由全国电工电子产品环境条件与环境试验标准化技术委员会(SAC/TC8)提出并归口。本部分起草单位=中国电器科学研究院有限公司。本部分主要起草人z陈心欣、章蔷英、张驰。本部分所代替标准的历次版本发布情况为z一一-GB/T2423.5
5、0-19990 皿GB/T 2423.50-2012月EC60068-2-67 : 1995 1 范围环境试验第2部分:试验方法试验Cy:恒定湿热主要用于元件的加速试验GB/T 2423的本部分规定了一种以加速方式评价小型电工电子产品(主要是非气密元件耐湿热劣化效应的试验方法。本试验不适用于评价诸如腐蚀和变形等外部效应。2 概述在本试验中，样品在较长的时间内承受很高的未饱和湿热蒸汽压力的作用。通常要施加偏压。本试验在相对湿度为85%、温度为85c的条件下，提供多种优先选择的试验持续时间。就塑封元件而言，劣化是由塑料吸收水汽和水汽沿引出端渗入引起的。3 试验装置说明3. 1 试验箱试验箱的参数应
6、满足下列要求za) 应满足表1中给出的温度和相对湿度条件，并至少保持2000h不间断Fb) 试验期间，应能提供受控的温湿度条件，并能根据规定的条件升温和降温zc) 试验箱内的温度和湿度应由放置在工作空间内或和)能给出相同结果的其他区域内的传感装置检测zd) 工作空间的所有水应不断排出，且不能重复利用zd 凝结水不允许落在试验样品上zf) 箱壁结构材料不应引起试验样品的明显腐蚀和降低加湿水的质量见附录B.l)。士2K的温度容差考虑了测量的绝对误差、工作空间内任一点的温度波动和任意两点间的温差。然而，为了将相对湿度维持在规定的士5%容差范围内，应将工作空间任意两点的温差(在任意时刻)保持在更小范围
7、内。如果此温差超过1.5 K，规定的湿度容差将超差。因此，也需将由试验箱加热器的周期性加热所引起的短期温度波动限制在类似数值。试验样品不应明显阻碍空气流动。试验中任何时候都不允许在样品上形成冷凝水。3.2 加湿用水应采用蒸馆水或去离子水。该水在23c时，电阻率应不小于0.5Mn cm，pH值应在6.07. 2 之间。1 GB/T 2423.50-2012/IEC 60068-2-67: 1995 在将水装人加湿器之前，应对试验箱内部各部分进行清洗。清洗导则在附录B.3中给出。每次试验后，应将加湿器和试验箱中的水全部清除干净。4 试验条件和严酷等级本部分中，试验严酷等级由试验持续时间决定。除非另
8、有规定，应从表1中给出的持续时间中选取严酷等级。温度C. 85 5 6 7 条件试验表1严酷等级、二持续时间.d、: 吃芝士11飞、504 N .2000 7. 1 将试验样品置于试验室温度、气压和湿度条件下，再将试验样品放人试验箱的工作空间内。7.2 试验样品不应经受来自加热器和试验箱壁的辐射热。如果相关标准要求采用特殊安装装置，则安装装置的导热性及热容量应足够低，使试验样品实际上是绝热的。应认真选择安装装置及安装装置的材料，使污染的影响最小，并将因腐蚀和其他原因产生的劣化降至最低(见附录B.l)。7.3 如果相关标准有要求，应在试验期间对试验样品施加偏压，施加偏压的导则在附录B.2中给出。
9、铺压或偏压循环)应在温度和相对湿度达到稳定状态时施加到试验样品上，并连续施加到试验样品处于恢复条件为止。GB/Y 2423.50-2012月EC60068-2-67 : 1995 7.4 试验循环7.4. 1 将试验箱的温度和相对湿度升至适当值，在此期间，温度与相对湿度不应该超出规定的限值。试验期间，试验样品上不允许有冷凝水，温度和湿度应在3h内达到稳定。7.4.2 在相关标准规定的持续时间内，温度和相对湿度应维持在规定范围内。试验持续时间应从试验条件达到稳定立即开始计算。7.4.3 在规定的试验时间结束后，应在1h4h内将试验箱的温度和相对湿度恢复到检测和试验用的标准大气条件。7.4.4 在
10、此期间，温度和相对湿度不应超过规定值，并应维持偏压。7.4.5 降温阶段一结束，样品就应进入恢复程序。8 中间检测-飞11 b) 试验之间大气条件(如果不是标准文气压条件商前Yc) 预处理d) 初始检测e) 特殊安装装置f) 偏压g) 中间检测h) 恢复最后检测条款号4 4 5 6 7.2 7.3和B.28 9 10 3 GB/T 2423.50-2012月EC60068-2-67 : 1995 附录A(资料性附录)试验的物理意义A.1 水蒸气加速渗人试验样品是加速湿热试验最重要的物理因素。其加速作用是由非气密试验样品内部与试验环境间的水蒸气分压力差而引起的。A.2 该试验主要用于集成电路和其
11、他塑封半导体器件中敷铝的加速腐蚀。当考虑将该试验用于其他产品时，重要的是确定失效模式，针对每个失效模式选择适当的劣化过程和试验严酷等级。4 B.1 材料的选择GB/T 2423.50-2012/IEC 60068-2-67: 1995 附录B(资料性附录试验装置及其管理认真选择试验箱所用的材料，将大大地减少污染物的释放及由于腐蚀和其他机械原因产生的劣化作用，这些都是在本试验规定的温良踉综合条件下产生也合适的材料是:不锈钢、玻璃、陶瓷和其他耐腐蚀材料。/_.-/ 之二毛、己B.2 偏压好筒。对在试验前经特殊清洁的试验样5 GB/T 2423.50-2012/IEC 60068-2-67: 199
12、5 附录NA资料性附录GB/T 2423标准的组成部分除本部分外，GB/T2423标准的组成部分如下:GB/T 2423.1二2008电工电子产品环撞试验第2部分z试验方法试验A:低温(IEC60068-2-1 : 2007 , IDT) GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环撞试验第2部分z试验方法试验B:高温(lEC60068-2-2: 2007 , IDT) 、GB/T 2423. 3-2006 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验Cab:恒定湿热试验。EC60068-2-78:2001 ,IDD GB/T 2423. 4-2008 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法
13、试验Db交变湿热(12h+12 h循环)(IEC 60068-2-30: 2005 ,IDT) GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验第二部分z试验方法试验Ea和导则z冲击。EC60068-2-27: 1987, IDT) GB/T 2423.6-1995 电工电子产品环境试验第二部分z试验方法试验Eb和导则z碰撞(lEC 60068-2-29 : 1987 , IDT) GB/T 2423. 7-1995 电工电子产品环境试验第二部分z试验方法试验Ec和导则z倾跌与翻倒(主要用于设备型样品)(lEC 60068-2-31: 1982 , IDT) GB/T 2423. 8-1
14、995 电工电子产品环境试验第二部分z试验方法试验Ed:自由跌落。EC60068-2-32: 1990, IDT) GB/T 2423. 10-2008 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验Fc:振动(正弦)(lEC 60068-2-6: 1995 ,IDT) GB/T 2423. 15-2008 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验Ga和导则:稳态加速度(lEC60068-2-7: 1986 , IDT) GB/T 2423. 16-2008 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验J和导则=长霉。EC60068-2-10: 2005 , IDT) GB/T 2423. 17-
15、2008 电工电子产品环境试验第2部分E试验方法试验Ka:盐雾。EC60068-2-11:1981 ,IDT) GB/T 2423. 18-2012 电工电子产品环境试验第2部分E试验方法试验Kb:盐雾，交变(氯化锅溶液)(lEC 60068-2-52: 1996 ,IDT) GB/T 2423. 21-2008 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验M:低气压(IEC 60068-2-13: 1983 , IDT) GB/T 2423. 22-2002 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验N:温度变化。EC60068-2-14:1984 ,IDT) GB/T 2423. 23-19
16、95 电工电子产品环境试验试验Q:密封GB/T 2423.24-1995 电工电子产品环境试验第二部分z试验方法试验Sa:模拟地面上的太阳辐射(lEC60068-2-5 :1 975 , IDT) GB/T 2423. 25-2008 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM:低温/低气压综合试验。EC60068-2-40: 1976 , IDT) GB/T 2423. 26-2008 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BM:高温/低气压综合试验(lEC 60068-2-41: 1976 , IDT) 斗GB/T 2423.50-2012/IEC 60068-2-67: 1995 GB/T
17、2423.27-2005 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Z/AMD:低温/低气压/湿热连续综合试验。EC60068-2-39: 1976 , IDT) GB/T 2423. 28-2005 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验T:锡焊(lEC60068-2-20: 1979 , IDT) GB/T 2423. 30-1999 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验XA和导则=在清洗剂中浸渍(lEC60068-2-45: 1993 , IDT) GB/T 2423. 32-2008 电工电子产品环撞试验第2部分z试验方法试验Ta:润湿称量法可焊性(lEC60068-2-54
18、: 2006 , IDT) GB/T 2423. 33-2005 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验Kca:高浓度二氧化硫试验GB/T 2423. 34-2005 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验Z/AD:温度/湿度组合循环试验。EC60068-2-38: 1974, IDT) GB/T 2423. 35-2005 电工电子产品环境试验第2部分=试验方法试验Z/AFc:散热和非散热试验样品的低温/振动(正弦综合试验。EC60068-2-50: 1983 , IDT) GB/T 2423. 36-2005 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验Z/BFc:散热和非散热试验样
19、品的高温/振动(正弦)综合试验。EC60068-2-51 :1 983 ,IDT) GB/T 2423. 37一2006电工电子产品环境试验第2部分=试验方法试验L:沙尘试验(lEC 60068-2-68: 1994, IDT) GB/T 2423. 38-2008 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验R.水试验方法和导则(lEC60068-2-18: 2000 , IDT) GB/T 2423.39-2008 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验Ee:弹跳。EC60068-2-55: 1987 , IDT) GB/T 2423. 40-1997 电工电子产品环境试验第2部分z试验
20、方法试验Cx:未饱和高压蒸汽恒定湿热(lEC60068-2-66: 1994 , IDT) GB/T 2423.41-1994 电工电子产品基本环境试验规程风压试验方法GB/T 2423.42-1995 电工电子产品环境试验低温/低气压/振动(正弦综合试验方法GB/T 2423. 43-2008 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法振动、冲击和类似动力学试验样品的安装(lEC60068-2-47: 2005 , IDT) GB/T 2423.45-1997 电工电子产品环境试验第2部分=试验方法试验Z/ABDM:气候顺序(lEC 60068-2-61:1991 ,IDT) GB/T 2423
21、.47-1997 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验Fg:声振(IEC60068-2-65: 1993 , IDT) GB/T 2423.48-2008 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验Ff:振动-时间历程法(lEC 60068-2-57:1999 ,IDT) GB/T 2423.49-1997 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验Fe:振动一一正弦拍频法(lEC60068-2-59: 1990, IDT) GB/T 2423. 51-2012 电工电子产品环境试验第2部分E试验方法试验Ke:流动混合气体腐蚀试验(lEC60068-2-60: 1995 ,IDT) GB
22、/T 2423. 52-2003 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验77:结构强度与撞击(lEC 60068-2-27: 1999 ,IDT) GB/T 2423. 53-2005 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验Xb:由于的摩擦造成标记和印刷文字的磨损(lEC60068亿-70:1995，IDT)GB/T 2423.54-2005 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验Xc:流体污染GB/T 2423.50-20 12/IEC 60068-2-67: 1995 (IEC 60068-2-74:1999 ,IDT) GB/T 2423. 55-2006 电工电子产品环境试
23、验第2部分z环境测试试验Eh:锤击试验(IEC 60068-2-75: 1997 , IDT) GB/T 2423. 56-2006 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验Fh:宽带随机振动(数字控制)和导则(lEC60068-2-64:1993,IDT) GB/T 2423.57-2008电工电子产品环境试验第2-81部分z试验方法试验Ei:冲击冲击响应谱合成(lEC60068-2-81 :2003 ,IDT) GBjT 2423. 58二2008电工电子产品环境试验第2-80部分E试验方法试验Fi:振动提合模式(lEC60068-2-80: 2005 , IDT) GBjT 2423.
24、 59-2008 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验Z/ABMFh:温度(低温、高温)j低气压/振动(随机)综合GBjT 2423. 60-2008 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验U:引出端及整体安装件GBjT 2423. 101-2008 电工电子产品环境试验第2部分=试验方法试验z倾斜和摇摆GBjT 2423. 102-2008 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验z温度(低温、高温)j低气压/振动正弦)综合8 山FHBENEoou国NFZlg.mN叮NH阁。华人民共和国家标准环境试验第2部分z试验方法试验CY:恒定湿热主要用于元件的加速试验GB/T 2423.
25、50-2012/IEC 60068-2-67: 1995 国中 中国标准出版社出版发行北京市朝阳区和平里西街甲2号(100013)北京市西城区三里河北街16号(10004日网址总编室:(010)64275323发行中心:(010)51780235读者服务部:(010)68523946中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷各地新华书店经销 开本880X 1230 1/16 印张1字数18千字2013年4月第一版2013年4月第一次印刷* 书号:155066. 1-46349 18.00元如有印装差错由本社发行中心调换版权专有侵权必究举报电话:(010)68510107定价打印日期:2013年5月7日F002A
