1、1 印行年月94年10月 本標準非經本局同意不得翻印 中華民國國家標準 CNS 總號 類號 訊技術設備電磁免疫力性限制值與量測方法 經濟部標準檢驗局印行 公布日期 修訂公布日期 91年9月23日 年 月 日14675 C6423ICS 33.100.20 Information technology equipment Immunity characteristics Limits and methods of measurement 1. 適用範圍與目的 本標準適用於CNS 13438定義的資訊技術設備(ITE)。 本標準定義ITE的測試程序，以及規定ITE在頻率範圍0Hz至400GHz之間
2、的規格。 本標準之目的為建立各種相關要求，使設備具備適當的免疫力位準，以在其環境中如所預期地操作。 對特殊的環境條件，可採用特定的放寬(mitigation)措施。 基於測試和性能評估的考慮，某些測試法規定在定義的頻帶內或在選定的頻率上。就電磁現象而言，在這些頻率上符合要求的設備，被視為在0Hz至400GHz之整個頻率範圍內皆符合要求。 本標準之目的在為定義於與連續和暫態、傳導和輻射的擾動相關範圍之設備，包括靜電放電(ESD)，作免疫力測試要求之定義。 對每個考慮的埠端，要確立測試要求。 備考1.本標準未涵蓋安全的考量。 2.在特殊情況下，會發生擾動的位準超過本標準所規範的大小，例如在設備附近
3、使用手持發射器。在這些情形下，可能必須使用特定的放寬措施。 2. 引用標準 CNS 14299 電磁相容性詞彙 【IEC 60050(161)】 CNS 13438 資訊技術設備射頻干擾的限制值與量測方法 【CISPR 22】 CNS 14676-2電磁相容測試與量測技術第2部：靜電放電免疫力測試 【IEC 61000-4-2】 (共32頁) 2 CNS 14675 , C 6423 CNS 14676-3 電磁相容測試與量測技術第 3 部 :輻射、射頻、電磁場免疫力測試 【 IEC 61000-4-3】 CNS 14676-4 電磁相容測試與量測技術第 4 部 :電性快速暫態 /叢訊的免疫力
4、測試 【 IEC 61000-4-4】 CNS 14676-5 電磁相容測試與量測技術第 5 部 : 突波免疫力測試 【 IEC 61000-4-5】 CNS 14676-6 電磁相容測試與量測技術第 6 部 : 射頻場感應的傳導擾動免疫力【 IEC 61000-4-6】 CNS_(IEC61000-4-8)： 1993, Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4: Testing and measurement techniques Section 8: Power frequency magnetic field immunity test.
5、 Basic EMC Publication. CNS_(IEC61000-4-11)： 1994, Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4: Testing and measurement techniques Section 11: Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity test. CNS_(IEC 60318) :1970， IEC artificial ear, of the wideband type, for the calibration
6、 of earphones used in audiometry. CNS_(ISO 9241-3):1992 ， Ergonomic requirements for office work with visual display terminals(VDTs) Part 3 : Visual display requiremenss. CNS_(ITU-T I.241.1): Telephony. CNS_(ITU-T I.411):Integrated service digital network (ISDN) user network interfaces. CNS_(ITU-T K
7、.15):Protection of high capacity transmission systems against overvoltages and HF-disturbances. CNS_(ITU-T K.17):Tests on power fed repeaters using solid state devices in order to check the arrangements for protection from external interferences. CNS_(ITU-T K.20): Resistibility of telecommunication
8、switching equipment to overvoltages and overcurrents. CNS_(ITU-T K.21): Resistibility of subscribers terminals to overvoltages and overcurrents. CNS_(ITU-T K.22): Overvoltage resistibility of equipment connected to an ISDN T/S bus, Blue Book, Volume IX, November 1998 3. 用語釋義 本標準之名詞定義適用 CNS 14299、 CN
9、S_(ITU-T Recommendation I.411)及以下各 3 CNS 14675 , C 6423 定義： 3.1 連續波 (continuous wave, CW):電磁波，在穩態條件下，其連續振盪為完全相同的正弦波形，可被中斷或調變來傳遞資訊。 3.2 劣化 (degradation): 因電磁擾動而造成一 EUT 在操作性能上產生非期望的改變。這不一定指故障或嚴重的失效。 3.3 待測設備 (equipment under test, EUT):一典型的 ITE 或相互作用的一群 ITE(即所謂系統 )，包含一個或多個主機單位 (host units)，且做為評量之用。 3.
10、4 資訊技術設備 (information technology equipment, ITE):ITE 的定義如 CNS13438中所述。 3.5 抖動 (jitter) (陰極射線管 (CRT)螢幕 ): 觀察 CRT 螢幕表面上圖像的幾何位置，其峰值對峰值的變動。 3.6 暫態不穩定 (閃爍 ) (temporal instability, (flicker):可察覺之非預期的亮度暫態變動。 3.7 埠 (port): 設備對外界電磁環境的特定介面 (參照圖 1) 圖 1 埠的描述 資訊技術設備DC 電力埠AC 電力埠信號埠電信埠機殼埠接地埠3.8 機殼埠 (enclosure port
11、):設備的實體邊界，電磁場可能穿透機殼輻射或入侵設備。對插入式單元 (plug-in unit)，實體邊界將由主機單元 (host unit)定義。 3.9 接線埠 (cable port):在導體或纜線連接至設備上的一點。例如信號埠和電力埠。 3.10 通話呼叫 (a telephony call):網路和電信終端設備 (TTE)中施行的程序，以允許經由網路與其它 TTE 的資訊 (語音、影像或資料 )交換。 備考 : 呼叫應以製造商所規定的方式操作。對電路切換服務而言，當 64kbit/s或等效的頻道可以實際使用時，可認定資料的交換是可行的。對封包服務 (packet service)而言
12、，當一條虛擬路徑被建立至被呼叫之 TTE 時，可認定資料的交換是可行的。 4 CNS 14675 , C 6423 3.11 建立通話呼叫 (to establish a telephony call):作為使用者或自動程序與網路連結，以達到與其它 TTE 交換資訊能力之操作程序，參照第 3.10 節備考。 3.12 接收通話呼叫 (to receive a telephony call):作為使用者或自動程序被網路啟動及與網路連結，以達到與其它 TTE 交換資訊能力之操作程序。參照第 3.10 節備考。 3.13 維持通話呼叫 (to maintain a telephony call):不
13、須清除和重建一呼叫而交換資訊之能力。參照第 3.10 節備考。 3.14 清除通話呼叫 (to clear a telephony call):作為使用者或自動程序與網路連結之操作程序 (本地端或遠端的起動皆然 )以終止交換資訊的能力，且有系統地返回可再建立新呼叫的狀態。參照第 3.10 節的備考。 3.15 網路終端器 (network terminator, NT):代表通信網路端點的輔助設備。 3.16 電話服務 (telephony service):提供使用者經網路達成即時雙向語音交談能力的服務 (參照 CNS_(ITU-T Recommendation I.241.1)。 3.17
14、 電信終端設備 (telecommunication terminal equipment, TTE):用以連接公共或私人網路的設備，即 : (a) 直接連接至電信網路終端以傳送、處理或接收資訊 ;或 (b) 與一直接或間接連至一電信網路終端的電信網路互動 (interwork)，以傳送、處理或接收資訊。 4. 免疫力測試要求事項 4.1 概述 設備的免疫力測試要求是以 ”依各埠而定 ”(port-by-port)為基礎。 測試應以明確定義和可再現的方法進行。 測試應按順序以逐項測試來執行。而測試的順序是可選擇性的。 測試的描述、測試產生器、測試方法和測試設定，列於 CNS 基本 EMC 標準
15、中，在之後的表格裡都參照這些標準。 這些 CNS 基本 EMC 標準的內容不在此重複；然而，測試實際應用所需之修正或附加的資訊列於本標準中。 4.2 特定的要求事項 4.2.1 靜電放電 (ESD) 靜電放電應只適用於 EUT 在一般操作期間，可能被接觸的點或表面，包括如 5 CNS 14675 , C 6423 使用手冊所規定的使用操作，例如更換色帶或紙捲。 應施加兩種放電的測試方式： (a) 對導體表面和耦合平面的接觸放電： EUT 應施予至少 200 次放電，負極性和正極性各 100 次，且最少在四個測試點上 ( 每點最少正負共計 50 次放電 ) 。測試點之一對水平耦合平面(horiz
16、ontal coupling plane, HCP)前緣的中央應受至少 50 次間接放電 (接觸 )。其它三個測試點，每個應接受至少 50 次直接接觸放電。若無直接接觸測試點可用，則至少 200 次間接放電應施加在間接模式 ( 參照 CNS 14676-2)垂直耦合平面 (Vertical coupling plane)的使用 )。每次放電測試的間隔最少一秒。 (b) 在縫隙、孔、以及絕緣表面之空氣放電 : 在那些 EUT 不可能執行接觸放電測試的部分，應探查設備以確認使用者可觸及而故障可能發生的點；例如按鍵邊緣或在鍵盤表面和電話聽筒的裂縫，這些點以空氣放電的方法來測試，並參照 CNS 146
17、76-2 有關表面塗裝的規定。此探查應限制在那些使用者正常操作的區域。對每個這樣的區域，在選定的測試點上應施加最少 10 次空氣放電。 本標準不要求對開放式接頭的接點施予靜電放電測試。 4.2.2 電的快速暫態 (EFT) 測試方法規定在 CNS 14676-4 中，然而現場量測之測試設定不適用於 ITE。 測試程序如 CNS 14676-4 所述，併用下列變更及說明： 若設備有相同的埠，只要測試一個； 多導體纜線，例如一條 50 對通信纜線，應視為單一纜線來測試。對此測試，纜線不應被分開或分成導體群組。 介面埠，其為製造商意圖用來連接至長度不超過 3m 的資料纜線，不必被測試。 4.2.3
18、連續性的射頻擾動 對輻射場測試，優先選定的頻率範圍為 80MHz 至 1 000MHz。對連續傳導測試，優先選定的頻率範圍為 0.15 MHz 至 80 MHz。然而，輻射測試可在一低於 80MHz 的起始頻率執行；在此情形，連續傳導測試 (若適用 )只須執行至此頻率。 按規定要求在對上述頻率範圍進行掃描；然而，在有限數目的選定頻率上， 6 CNS 14675 , C 6423 可能需要一更廣泛的功能性測試。需要執行此額外選定頻率的測試，並不是適用在所有產品上，而是只在附錄 A 中所述，具有此要求的產品上 (在特定產品指定要求下 )。選定的頻率如表 1 至表 4 所示。 在每個頻率上的暫留時間
19、，不應小於 EUT 運作所需和能夠回應的時間 ;然而，掃瞄時在每個頻率上的暫留時間應不超過 5 秒。 運作 EUT 的時間，不應認為是一程式或一循環的合計時間，而與當 EUT 故障時的反應時間有關。 4.2.3.1 連續性的輻射擾動 測試程序依照 CNS 14676-3 之規定。 EUT 應適當地放置，使 EUT 的四個面可依序暴露到電磁場。 EUT 在每個位置的特性將被探查。 在整個頻率範圍，已知 EUT 最敏感面的情形下 (例如，經初步測試 )，可僅就該面作測試。 當有爭議時，須作四個面的測試。 若 EUT 太大以致於無法被輻射天線充分地投射時，應使用局部投射。 局部投射應以下列技巧之一執
20、行： 為使 EUT 超出天線波束寬度的部分得到投射，應改變 EUT 位置，使其朝向天線的面 (與校正點和輻射天線間的軸垂直 )與天線保持測試距離； 當 EUT 是由分開的模組構成時，這些模組可在天線波束寬度內分別測試。 當有爭議時，須作 EUT 的全部投射。 頻率範圍可用不超過基頻的 4%為一步階遞增地掃描，其測試位準為規定測試位準的兩倍。 當有爭議時，須以 1%步階作測試。 4.2.3.2 連續性的傳導擾動 應與 CNS 14676-6 一致。 4.2.4 電力頻率磁場 測試程序應依照 CNS_(IEC 61000-4-8)之規定。 EUT 應安裝和連接，以達到其功能要求。且應放在線圈系統的
21、中央 (浸沒法(immersion method)。 7 CNS 14675 , C 6423 應使用由設備製造商提供的纜線。若無，應使用合於相關信號之型式的適合代用纜線。 大型產品不須完全置於磁場中，只要敏感裝置 (例如 CRT 螢幕，若其是唯一敏感的部分 ) 即可。在此情況，且若 CRT 螢幕是與 ITE 一體，則可將 CRT 螢幕或敏感裝置移出來測試。 4.25 突波 測試程序應依照 CNS 14676-5 、 CNS_(ITU-T K20) 、 CNS_(ITU-K21) 或CNS_(ITU-K22)之規定。 4.2.6 電壓瞬降和瞬斷 測試程序依照 CNS_(IEC 6100-4-1
22、1)，且應與該標準一致。 5. 適用性 應根據表 1 至表 4 對於設備有關的埠進行測試。測試只針對存在的相關埠執行。 從特定設備的使用和電氣特性的考量，可決定一些測試是不合適的，也因此不必要測試。在此情況下，對任一特定埠不施予任一特定測試的決定和理由，都要記錄於測試報告中。 6. 測試期間的條件 6.1 一般條件 測試應執行在最具代表性模式和典型應用下執行所有基本功能。測試樣品應以典型安裝實際使用時的方式來配置。 若設備是系統的一部分或可連接至輔助設備，則設備應以 CNS13438 所述的類似方法，連接必須之輔助設備，以有代表性最小的典型配置來測試。 測試期間操作的模式和配置應明確地記錄在測
23、試報告中。一般而言，不可能對裝置的每個功能作測試；在此情形下，應選擇最關鍵性的操作模式。 若設備有很多的端點或很多的類似連接的埠端，則應選定足夠的數量來模擬實際操作的情況，且涵蓋所有不同型式的端點。 螺旋狀電纜線 (例如鍵盤電纜 )在測試期間不應故意拉長。對這些電纜而言，表格註明的長度是指未拉長的情況。 連接至 EUT的測試設備或輔助設備 (例如 NT或模擬器 )對測試結果不應有任何影響。 若廠商規格需要外部的保護裝置或防護方法，已清楚地記載於使用手冊中，則本標準的測試要求，應將外部的保護裝置或防護方法一併列入。 8 CNS 14675 , C 6423 在測試期間，環境情況和供應電壓應維持在
24、該產品所指定的操作範圍內，除非在其他標準中有特別指定。 若有提供電源線以外的接地，在做其他所有埠的測試 (如表 1 至表 4 所述 )時，此接地應根據製造商的規格安裝。 6.2 特定條件 (EUT 操作模式等 ) 附錄中所述的特定條件較一般條件所對應的部分為優先。 對未列於本標準內之特定功能的特定條件，則應採用一般條件。 7. 性能判定準則 製造商有義務以其產品正常使用時之相關性能，提出性能判定準則。 下列性能判定準則是可適用的，且只在相關功能執行時作評估。 7.1 一般性能判定準則 製造商所定義的功能，在測試期間受評估之例子包含下列各項，但不限於此： 基本操作模式和狀態； 所有週邊 (硬碟，
25、軟碟，印表機，鍵盤，滑鼠等 ) 存取之測試； 軟體執行之品質； 資料顯示和傳輸之品質； 語音傳輸之品質。 性能判定準則 A： 設備應如在無操作者介入下連續地正常操作。當設備如所預期般使用時，其性能劣化或功能喪失不得低於製造商所訂的性能水準以下。性能水準可用可允許的性能喪失程度來代替。若製造商未規定最低性能水準或可允許的性能喪失，則此二者可從產品說明和文件，及由使用者對正常使用設備之合理的期望推論出。 性能判定準則 B： 在測試後，設備應在無操作者介入下連續地正常操作。當設備如所預期般操作時，性能劣化或功能喪失，不得低於製造商所訂的性能水準以下。性能水準可用可允許的性能喪失程度來代替。 在測試期
26、間，允許性能劣化。然而，在測試後不允許操作狀態或儲存資料持續的改變。 若製造商未規定最低性能水準 (或可允許之性能喪失 )，則此二者可從產品說明和 9 CNS 14675 , C 6423 文件及使用者對正常使用設備之合理的期望推論出。 性能判定準則 C： 允許功能喪失，只要功能是可自我恢復，或可由使用者根據使用手冊來控制而恢復。 功能及 /或儲存在不變 (non-volatile)記憶體中的資訊或由備份電池保護的資訊不得失去。 7.2 特定的性能判定準則 規定附錄中所述的特別性能判定準則，較一般性能判定準則所對應的部分優先。 對某些功能沒有特定的性能判定準則，則應採用一般性能判定準則。 8.
27、 產品文件 製造商用以定義本標準要求之測試性能判定準則的規格，應隨時提供使用者。 表 1機殼埠之免疫力 環境現象 測試規格 單位 參考標準 附註 性能判定準則 1.1 電力頻率 磁場 60 1 Hz A/m(r.m.s) CNS_(IEC 61000-4-8) 參照 (1) A 參照附錄 B 1.2 射頻 電磁場 振幅調變 95 0.5 減少之% 週期 B 4.2 電壓瞬降 30 25 減少之% 週期 CNS_(IEC 61000-4-11)參照(2) C 4.3 電壓瞬斷 95 250 減少之% 週期 CNS_(IEC 61000-4-11)參照(2) C 4.4 突波 1.2/50(8/2
28、0) 1 線對線 2 線對地 Tr/Th s kV(峰值) kV(峰值) CNS 14676-5參照(4) B 4.5 快速暫態 1.0 5/50 5 kV(峰值) Tr/Th ns 重複頻率 kHz CNS 14676-4B 註(1)：如所述掃瞄的頻率範圍。然而，當附錄 A規定時，在一有限數目的頻率上應執行附加之全面性的功能測試。選定的頻率為 : 0.2;1;7.1;13.56;21;27.12 和40.68MHz(1%)。 (2)：發生在電壓波形的零交越點之改變。 (3)：若輻射測試已執行至一較低頻率，則測試範圍應只延伸至此頻率。 (4)：當製造商規定了保護措施，且在測試期間要模擬這些措施
29、是不實際時，則施加的測試位準應降至 0.5kV 和 1kV。 13 CNS 14675 , C 6423 附錄 A 電信終端設備 (telecommunication terminal equipment) A.1 具有類比介面之電信終端設備 (TTE) A.1.1 特定的測試條件 電信終端設備 (TTE)應配置以標稱阻抗連接至一電信線 (或參考線 )。可使用輔助設備以模擬電信網路。 A.1.2 特定的性能判定準則 下列性能判定準則只在有具備的功能才適用： 性能判定準則 A： (a) 掃瞄頻率測試 測試應依據下列所述二種量測方法之一來執行。 當有爭議時，應依最初選用的方法來執行測試。 量測方法
30、 1： 音量控制 (若有 )應設定在盡可能接近於製造商所標示之標稱值的位置。 聲音音壓位準 (acoustic sound pressure level(spl)應以 CNS_(IEC 60318-1)定義之校正過的人工耳，無損失地耦合至 TTE 的聲音接收裝置來進行測試。背景聲音雜訊應小於 40dB(spl)。聲音頻道應開啟和作用。 在整個所規定頻率範圍內，在一掃瞄期間應符合下列所述： TTE 應能維持一已建立的呼叫 ; 對支援通話服務的 TTE，也要符合下列要求 : 在電信埠量測之解調窄頻帶 1 kHz(最大量測頻寬 100Hz)差模信號，在 TTE標稱阻抗 (如製造商所指定 )下的量測值
31、，不應大於表 A.1 所示之值； 對具有聲音介面的 TTE 也要符合下列要求 : 接收方向的聲音解調音壓位準 (spl)不應大於表 A.1 所示之值。 14 CNS 14675 , C 6423 表 A.1 在電信埠和聲音接收裝置上之最大聲音解調位準 (量測方法 1) 頻帶 (MHz) 免疫力測試 型式 雜訊 (dBm) 聲音音壓位準 (dB) spl 0.15 至 30 傳導 -50 55 30 至 40. 66 傳導 -30 75 40.66 至 40. 70 傳導 -50 55 40.70 至 80 傳導 -30 75 80 至 1 000(900 除外 ) 輻射 -30 75 900
32、輻射 -50 55 備考：這些測試設計來確保具有聲音介面的裝置對調幅射頻擾動之最小可接受的免疫力。解調擾動位準比實際可接受的來得高。測試中的位準以使實際測試方便來決定，考慮 40dB(spl)之最大可允許背景噪音位準及應用至功能性測試的測試位準。振幅解調擾動幾乎必然地從有如一平方律檢波器之半導體接面發生。這表示對應用射頻訊號的位準每改變 1dB，解調位準將改變 2dB。因此，若一個使 EUT 接受一 3V/m 測試場載波位準的輻射免疫力測試，結果產生一55dB(spl)的 1kHz 解調聲音之擾動輸出 (對大多數正常聽力的聽者，是一個明顯擾人的聲音位準，但合宜地高於允許的背景噪音位準 40dB
33、(spl)，此測試保證一 1V/m 之振幅調變擾動場 (約低 10dB 的場強度 )應用至真實世界情況中的相同設備，可產生約 35dB (spl)之解調聲音擾動位準，在實際聽覺環境中，大多數人不會覺得擾人。 量測方法 2： 音量控制 (若有 )在校正期間應設定在一固定位準，且在測試期間不應改變。 在整個所規定頻率範圍內，在一掃瞄期間應符合下列所述： TTE 應能維持已建立的呼叫 ; 對支援通話服務的 TTE，也要符合下列要求 : 在聲音頻道開啟且作用時，以 TTE 標稱阻抗量測之電信埠的解調差模雜訊，不應大於表 A.3 所示之值。最大量測頻寬在 1kHz 應為 100Hz； 對有聲音介面的 T
34、TE，也要符合下列要求： 在電信線上加上一個表示 1 kHz,-40 dBm 正弦波訊號 (無射頻場之信號位準 )。以微音器量測所獲致的聲音壓位準，量測到的位準應當做參考位準來使用和記錄。在實際量測期間，應關掉用以建立參考位準的信號。最大量測頻寬應為 100Hz。 15 CNS 14675 , C 6423 背景噪音位準，應低於參考位準至少 15dB。 以對參考位準記述的方法量測之接收方向解調差模雜訊，不應大於表 A.2 所示之值。 表 A.2 在電信埠之最大解調差模雜訊位準 (量測方法 2) 頻帶 (MHz) 免疫力測試型式 解調差模雜訊 (dBm) 0.15 至 30 傳導 參考位準 -1
35、0 dB 30 至 40.66 傳導 參考位準 +10 dB 40.66 至 40.70 傳導 參考位準 -10 dB 40.70至 80 傳導 參考位準 +10 dB 80 至 1 000 (900 除外 ) 輻射 參考位準 +10 dB 900 輻射 參考位準 -10 dB 參照表 A.1 備考。 (b) 選定頻率測試 在表 1,2,3 和 4 的頻率上應符合下列所述 (這可查對送到線上的資料來顯示，以避免有操作人員在場 )： TTE 應能以通話服務建立一呼叫 ; TTE 應能接受一呼叫 ; TTE 應能清除一呼叫 ; 在 TTE 用以提供資料 (非通話 )服務時，其測試執行的結果，傳輸所
36、需的時間不應由於測試而導致的增加超出製造商所定。 性能判定準則 B： 應符合下列所述： 應維持在施加擾動前建立的呼叫。 施加擾動後應檢查的要件 : TTE 應能建立一呼叫 ; TTE 應能接收一呼叫 ; TTE 應能清除一呼叫 ; 性能判定準則 C： 16 CNS 14675 , C 6423 施加擾動發生後應檢查的要件 : TTE 應能建立一呼叫 ; TTE 應能接收一呼叫 ; TTE 應能清除一呼叫 ; A.2 具有數位介面之電信終端設備 (TTE) A.2.1 特定的測試條件 TTE 應以其標稱阻抗連接至一電信線 (或參考線 )來配置。可使用輔助設備來模擬電信網路。 對數位化方式為基本的
37、存取，提供 TTE 通話服務的 ISDN 介面，應在如應用數位轉換類比所定義的閒置模式 (idle mode)。 A.2.2 特定的性能判定準則 下列性能判定準則只在功能具備時才適用。 性能判定準則 A： (a) 掃瞄頻率測試 測試應依據下列所述二種量測方法之一來執行。 當有爭議時，測試應依最初選用的方式來執行測試。 量測方法 1： 音量控制 (若有 )應設定在儘可能接近於製造商所標示之標稱值的位置。 聲音音壓位準 (acoustic sound pressure level (spl)應以 CNS_(IEC 60318-1)定義之校正過的人工耳，無損失地耦合至 TTE 的聲音接收裝置來進行測
38、試。背景聲音雜訊應小於 40dB(spl)。聲音頻道應開啟和作用。 在整個所規定頻率範圍內，在一掃瞄期間應符合下列所述： TTE 應可維持一已建立的呼叫； 對提供通話服務的 TTE，也要符合下列要求。 接收方向的解調差模雜訊和聲音音壓位準不應大於表 A.3 所示之值。 對具有聲音介面的 TTE 也要符合下列要求 : 接收方向的聲音解調音壓位準 (spl)不應大於表 A.3 所示之值。 17 CNS 14675 , C 6423 表 A.3 在聲音接收裝置和電信埠之最大解調差模雜訊和聲音音壓位準 (量測方法 1) 頻帶 (MHz) 免疫力測試型式 解調差模雜訊 (dBmO) 聲音音壓位準 (dB
39、(spl) 0.15 至 30 傳導 -50 55 30 至 40.66 傳導 -30 75 40.66 至 40.70 傳導 -50 55 40.70 至 80 傳導 -30 75 80 至 1 000(900 除外 ) 輻射 -30 75 900 輻射 -50 55 參照表 A.1 備考。 量測方法 2： 音量控制 (若有 )在校正期間應設定在一固定位準，且在測試期間不應改變。 在整個所規定頻率範圍內，在一掃瞄期間應符合下列所述： TTE 應能維持一已建立的呼叫 ; 對支援通話服務的 TTE，也要符合下列要求 : 在聲音頻道開啟且作用時，在指定的 B-頻道所量測來自 EUT 之解調差模雜訊
40、和聲音音壓位準，不應大於表 A.3所示之值。最大量測頻寬在 1kHz應為 100Hz； 對有聲音介面的 TTE，也要符合下列要求： 在電信線上加上一個表示 1 kHz,-40 dBmO 正弦波信號之以 A-law 編碼的數位信號 (無射頻場擾動之信號位準 )。以微音器量測聲音的音壓位準。量測到的位準應當做參考位準來使用和記錄。在實際量測期間，應關掉用以建立參考位準的信號。最大量測頻寬應為 100Hz。 在測試期間，閒置碼應以指定的 B-頻道傳送至 EUT。 背景噪音位準，應低於參考位準至少 15dB。 以對參考位準記述的方法量測之接收方向解調差模雜訊，不應大於表 A.4 所示之值。 18 CN
41、S 14675 , C 6423 表 A.4 最大解調差模雜訊位準 (量測方法 2) 頻帶 (MHz) 免疫力測試型式 解調差模雜訊 (dBm) 0.15 至 30 傳導 參考位準 -10 dB 30 至 40.66 傳導 參考位準 +10 dB 40.66 至 40.70 傳導 參考位準 -10 dB 40.70至 80 傳導 參考位準 +10 dB 80 至 1 000 (900 除外 ) 輻射 參考位準 +10 dB 900 輻射 參考位準 -10 dB 參照表 A.1 備考。 (b) 選定頻率測試 在表 1、表 2、表 3 和表 4 的頻率上應符合下列所述： TTE 應能通話服務建立一
42、呼叫 ; TTE 應能接受一呼叫 ; TTE 應能清除一呼叫 ; 在 TTE 用以提供資料 (非語音 )服務，其測試結果，傳輸所需的時間，不應由於測試而導致的增加超出製造商所規定。 對僅作為主要存取功能的 ISDN 設備，也要符合下列規定： 資訊段定位 (frame alignment)漏失的數目，在 10 秒的測試週期中應少於 10。若整個測試期間一個語音呼叫可明確地持續，則不須評估資訊段定位的漏失。 性能判定準則 B： 應符合下列所述： 應維持施加現象前建立的呼叫。 施加現象後應檢查的要求； TTE 應能建立一呼叫 ; TTE 應能接收一呼叫 ; TTE 應能清除一呼叫 ; 19 CNS
43、14675 , C 6423 性能判定準則 C： 施加現象後應檢查的要求 : TTE 應能建立一呼叫 ; TTE 應能接收一呼叫 ; TTE 應能清除一呼叫 ; A.3 傳真 A.3.1 特定的測試條件 EUT 應連接至允許測試圖樣傳送至或從 EUT 接收之第二個 EUT 或模擬器。一從相關 CNS_(ITU-T Recommendation)選定的測試圖樣應優先採用，但非強制的。下列是除 TTE 性能要件外的要求。 A.3.2 特定的性能判定準則 性能判定準則 A： EUT 在測試期間和測試後應正常地操作，而無下列狀況 : 資料傳輸錯誤，例如在規定的最大重試次數無效； 列印圖像的劣化超出製造
44、商規格； 全部或部分文字遺失，例如文字截斷 ; 非預期的跳行或跳頁 (line or page feed); 顏色的改變超出製造商規格； 重新啟始呼叫。 性能判定準則 B： 如同性能判定準則 A。若 EUT 的正常操作是可立即恢復到施加擾動前的狀態，則允許在施加擾動期間出現下列狀況 : 列印圖像的劣化，超出製造商規格； 非預期的跳行 (line feed)。 性能判定準則 C： 若正常運作是可自我恢復的，或測試後可經由操作者控制而恢復，則容許任何性能的劣化，且滿足下列要求： 傳輸的任何中斷均應記錄，且通知使用者 ; EUT能重建一呼叫 ; 20 CNS 14675 , C 6423 EUT能接
45、受一呼叫 ; EUT能清除一呼叫 ; 21 CNS 14675 , C 6423 附錄 B 資料處理設備 (data processing equipment) 測試應使用一可重複設備功能順序的實行程式來執行，若出現失敗時，可使操作者藉由設備上的顯示或操作者的操作得知失敗的性質。 根據待測設備製造商定義的功能，依下列內容選定測試順序，且根據欲測試的擾動來選定性能判定準則 A， B 或 C。 B.1 讀、寫和儲存資料 B.1.1 特定的測試條件 應以內部儲存裝置 (例如半導體記憶體、磁碟或光碟或磁帶裝置 )來重複循環資料的讀寫，然後將拷貝過來的資料與原始資料比較。 應重複讀取唯讀記憶體 (ROM
46、)，且此資料要與所預期的資料比較。 B.1.2 特定的性能判定準則 性能判定準則 A： 儲存設備在讀 /寫和待機狀態下，應維持正常操作。 性能判定準則 B： 容許可藉由讀寫重試而恢復的失敗 (由此程序所導致的暫時性處理延遲，是可接受的 )。 EUT 的正常操作應在測試後恢復，若自我恢復是正常的恢復方式，容許其立即自我恢復至測試之前的狀況。在此情況下，允許由操作者重新啟始 (re-initiate)。 性能判定準則 C： 容許外界擾動移除後，出現的處理延遲所導致、但可經由重置 (reset)或重開機(reboot)以恢復至正常操作的失敗。 容許系統中斷所導致、但可經由重置或重開機以恢復至正常操作
47、的失敗。 B.2 資料顯示 B.2.1 特定的測試條件 文字或圖形應顯示在如 CRT 監視器和液晶、電漿或 LED 顯示器等的顯示裝置上。 B.22 特定的性能判定準則 性能判定準則 A： 22 CNS 14675 , C 6423 當從正常觀察距離觀看， EUT 的操作，在閃爍，顏色，焦距和抖動 (除了電力頻率磁場測試外 )等方面，應不超出製造商的規格。 電力頻率磁場測試 對 CRT 監視器，也要符合下列要求 : 抖動應以 CNS_(ISO 9241-3)第 6.6.14 節所述之量測顯微鏡量測。 將 CRT 監視器置於電力頻率 60Hz、 1 A/m(r.m.s)之連續磁場中，其 抖動 (
48、單位 mm)應不應超過 3.335.2)mm,3.0( + 單位字元高度或者，施加 50A/m 磁場，並使用透明的刻度板來評估抖動。在此情形下，抖動應不超過上式之值的 50 倍。 備考 : 此測試位準是用來簡化抖動的量測。若遇非線性情形，例如因螢幕材質飽和所致，可使用較小的測試位準。 EUT 應在兩個位置受測試，二者皆與磁場垂直。 性能判定準則 B： 容許測試執行期間螢幕的擾動。 性能判定準則 C： 容許在移除外界擾動後無法自我恢復、但可經由重置或重開機恢復正常的失敗。 B.3 資料輸入 B.3.1 特定的測試條件 資料由輸入裝置如鍵盤、滑鼠、磁卡讀卡機、光學字元閱讀機、影像掃瞄器、輸入筆或各式感測器取得。 即使連續輸入較合宜，但對需要操作人員操作的設備，准許在待機條件下進行測試。 當 EUT 是一種大量資料輸入裝置，例如字元閱讀機或掃描器，則在測試期間中央處理單元應執行連續讀取適當測試圖表的程式。讀取的輸入資料可被直接顯示、列印或儲存，以供之後的評估。 B.32 特定的性能判定準則 性能判定準則 A： 不容許從輸入裝置產生非意圖的輸入。 輸入裝置應維持符合品質要求的圖像資料。 23 CNS 14675 , C 6423
