1、Februar 2013DEUTSCHE NORM DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDEPreisgruppe 18DIN Deutsches Institut fr Normung e. V. Jede Art der Vervielfltigung, auch auszugsweise, nur mit Genehmigung des DIN Deutsches Institut fr Normung e. V., Berlin, gestattet.ICS
2、31.260!$Q“1929046www.din.deDDIN EN 62341-6-3Anzeigen mit organischen Leuchtdioden (OLEDs) Teil 6-3: Messverfahren fr Bildqualitt(IEC 62341-6-3:2012);Deutsche Fassung EN 62341-6-3:2012Organic light emitting diode (OLED) displays Part 6-3: Measuring methods of image quality(IEC 62341-6-3:2012);German
3、version EN 62341-6-3:2012Afficheurs diodes lectroluminescentes organiques (OLED) Partie 6-3: Mthodes de mesure de la qualit des images(CEI 62341-6-3:2012);Version allemande EN 62341-6-3:2012Alleinverkauf der Normen durch Beuth Verlag GmbH, 10772 Berlin www.beuth.deGesamtumfang 34 SeitenDIN EN 62341-
4、6-3:2013-02 2 Anwendungsbeginn Anwendungsbeginn fr die von CENELEC am 2012-09-13 angenommene Europische Norm als DIN-Norm ist 2013-02-01. Nationales Vorwort Vorausgegangener Norm-Entwurf: E DIN IEC 62341-6-3:2008-10. Fr dieses Dokument ist das nationale Arbeitsgremium K 742 Audio-, Video- und Multim
5、ediasysteme, -gerte und -komponenten“ der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE (www.dke.de) zustndig. Die enthaltene IEC-Publikation wurde vom TC 110 Electronic display devices“ erarbeitet. Das IEC-Komitee hat entschieden, dass der Inhalt dieser Publik
6、ation bis zu dem Datum (stability date) unverndert bleiben soll, das auf der IEC-Website unter http:/webstore.iec.ch“ zu dieser Publikation angegeben ist. Zu diesem Zeitpunkt wird entsprechend der Entscheidung des Komitees die Publikation besttigt, zurckgezogen, durch eine Folgeausgabe ersetzt oder
7、gendert. Fr den Fall einer undatierten Verweisung im normativen Text (Verweisung auf eine Norm ohne Angabe des Ausgabedatums und ohne Hinweis auf eine Abschnittsnummer, eine Tabelle, ein Bild usw.) bezieht sich die Verweisung auf die jeweils neueste gltige Ausgabe der in Bezug genommenen Norm. Fr de
8、n Fall einer datierten Verweisung im normativen Text bezieht sich die Verweisung immer auf die in Bezug genommene Ausgabe der Norm. Der Zusammenhang der zitierten Normen mit den entsprechenden Deutschen Normen ergibt sich, soweit ein Zusammenhang besteht, grundstzlich ber die Nummer der entsprechend
9、en IEC-Publikation. Beispiel: IEC 60068 ist als EN 60068 als Europische Norm durch CENELEC bernommen und als DIN EN 60068 ins Deutsche Normenwerk aufgenommen. EN 62341-6-3 September 2012 EUROPISCHE NORM EUROPEAN STANDARD NORME EUROPENNE ICS 31.260 Deutsche Fassung Anzeigen mit organischen Leuchtdiod
10、en (OLEDs) Teil 6-3: Messverfahren fr Bildqualitt (IEC 62341-6-3:2012) Organic light emitting diode (OLED) displays Part 6-3: Measuring methods of image quality (IEC 62341-6-3:2012) Afficheurs diodes lectroluminescentes organiques (OLED) Partie 6-3: Mthodes de mesure de la qualit des images (CEI 623
11、41-6-3:2012) Diese Europische Norm wurde von CENELEC am 2012-09-13 angenommen. Die CENELEC-Mitglieder sind gehalten, die CEN/CENELEC-Geschftsordnung zu erfllen, in der die Bedingungen festgelegt sind, unter denen dieser Europischen Norm ohne jede nderung der Status einer nationalen Norm zu geben ist
12、. Auf dem letzten Stand befindliche Listen dieser nationalen Normen mit ihren bibliographischen Angaben sind beim CEN-CENELEC Management Centre oder bei jedem CENELEC-Mitglied auf Anfrage erhltlich. Diese Europische Norm besteht in drei offiziellen Fassungen (Deutsch, Englisch, Franzsisch). Eine Fas
13、sung in einer anderen Sprache, die von einem CENELEC-Mitglied in eigener Verantwortung durch bersetzung in seine Landessprache gemacht und dem CEN-CENELEC Management Centre mitgeteilt worden ist, hat den gleichen Status wie die offiziellen Fassungen. CENELEC-Mitglieder sind die nationalen elektrotec
14、hnischen Komitees von Belgien, Bulgarien, Dnemark, Deutschland, Estland, Finnland, Frankreich, Griechenland, Irland, Island, Italien, Kroatien, Lettland, Litauen, Luxemburg, Malta, der ehemaligen jugoslawischen Republik Mazedonien, den Niederlanden, Norwegen, sterreich, Polen, Portugal, Rumnien, Sch
15、weden, der Schweiz, der Slowakei, Slowenien, Spanien, der Tschechischen Republik, der Trkei, Ungarn, dem Vereinigten Knigreich und Zypern. CENELEC Europisches Komitee fr Elektrotechnische Normung European Committee for Electrotechnical Standardization Comit Europen de Normalisation Electrotechnique
16、Management Centre: Avenue Marnix 17, B-1000 Brssel 2012 CENELEC Alle Rechte der Verwertung, gleich in welcher Form und in welchem Verfahren, sind weltweit den Mitgliedern von CENELEC vorbehalten. Ref. Nr. EN 62341-6-3:2012 DDIN EN 62341-6-3:2013-02 EN 62341-6-3:2012 Vorwort Der Text des Dokuments 11
17、0/374/FDIS, zuknftige 1. Ausgabe der IEC 62341-6-3, erarbeitet vom IEC/TC 110 Flat panel display devices“, wurde zur parallelen IEC-CENELEC-Abstimmung vorgelegt und von CENELEC als EN 62341-6-3:2012 angenommen Nachstehende Daten wurden festgelegt: sptestes Datum, zu dem die EN auf nationaler Ebene d
18、urch Verffentlichung einer identischen nationalen Norm oder durch Anerkennung bernommen werden muss (dop): 2013-06-13 sptestes Datum, zu dem nationale Normen, die der EN entgegenstehen, zurckgezogen werden mssen (dow): 2015-09-13 Es wird auf die Mglichkeit hingewiesen, dass einige Elemente dieses Do
19、kuments Patentrechte berhren knnen. CENELEC und/oder CEN sind nicht dafr verantwortlich, einige oder alle diesbezglichen Patentrechte zu identifizieren. Anerkennungsnotiz Der Text der Internationalen Norm IEC 62341-6-3:2012 wurde von CENELEC ohne irgendeine Abnderung als Europische Norm angenommen.
20、_ 2 DIN EN 62341-6-3:2013-02 EN 62341-6-3:2012 Inhalt SeiteVorwort .2 1 Anwendungsbereich.5 2 Normative Verweisungen.5 3 Begriffe, Symbole, Einheiten und Abkrzungen 5 3.1 Begriffe, Symbole und Einheiten5 3.2 Abkrzungen 5 4 Standard-Messausrstung und Koordinatensystem6 4.1 Lichtmessgerte.6 4.2 Koordi
21、natensystem zur Beschreibung der Betrachtungsrichtung6 5 Messbedingungen7 5.1 Standard-Umgebungsbedingungen fr die Messungen 7 5.2 Elektrische Versorgung 7 5.3 Aufwrmzeit7 5.4 Standard-Messbedingungen fr den Dunkelraum .8 5.5 Standard-Einstellbedingungen.8 6 Messverfahren fr die Bildqualitt8 6.1 Bet
22、rachtungsrichtungsbereich8 6.1.1 Zweck8 6.1.2 Messbedingungen.9 6.1.3 Einstellungen.9 6.1.4 Messung und Auswertung.10 6.1.5 Prfbericht.11 6.2 bersprechen.11 6.2.1 Zweck11 6.2.2 Messbedingungen.11 6.2.3 Messung und Auswertung.12 6.2.4 Prfbericht.14 6.3 Flimmern 14 6.3.1 Zweck14 6.3.2 Messbedingungen.
23、15 6.3.3 Einstellungen.15 6.3.4 Messverfahren 15 6.3.5 Auswerteverfahren16 6.3.6 Prfbericht.18 6.4 Bildauflsung im statischen Fall.19 6.4.1 Zweck19 6.4.2 Messbedingungen.19 3 DIN EN 62341-6-3:2013-02 EN 62341-6-3:2012 Seite6.4.3 Messverfahren 19 6.4.4 Berechnung und Prfbericht. 20 6.5 Auflsung beweg
24、ter Bilder 21 6.5.1 Zweck . 21 6.5.2 Messbedingungen 21 6.5.3 Methode der zeitlichen Integration . 23 6.5.4 Messverfahren mit nachgefhrter Kamera. 25 6.5.5 Berechnung der dynamischen Modulationsbertragungsfunktion. 27 6.5.6 Prfbericht 27 Anhang A (informativ) Einfache Matrix-Methode zur Korrektur de
25、s Streulichts bei bildgebenden Instrumenten 28 Literaturhinweise 30 Anhang ZA (normativ) Normative Verweisungen auf internationale Publikationen mit ihren entsprechenden europischen Publikationen . 32 Bilder Bild 1 Darstellung der Betrachtungsrichtung (entspricht der Messrichtung) durch den Neigungs
26、winkel und den Drehwinkel (Azimutwinkel) in einem polaren Koordinatensystem 7 Bild 2 Installationsbedingungen fr das Testobjekt 8 Bild 3 Geometrie des Aufbaus zur Messung des Betrachtungsrichtungsbereiches. 9 Bild 4 Standard-Messpositionen, bezeichnet durch P0bis P8, sind relativ zur Hhe (V) und Bre
27、ite (H) der aktiven Anzeigenflche angeordnet 12 Bild 5 Leuchtdichtemessung innerhalb eines 4-%-Fensters bei P . 12 00PBild 6 Leuchtdichtemessung an der Stelle P0mit den Fenstern AW1, AW2, AB3und AB413 Bild 7 Leuchtdichtemessungen an der Stelle mit den Fenstern AW5, AW8, AB5und AB8. 14 Bild 8 Aufstel
28、lung der Messausrstung 15 Bild 9 Zeitliche Kontrastempfindlichkeitsfunktion 17 Bild 10 Beispiel fr einen Flimmer-Modulations-Kurvenverlauf 18 Bild 11 Messung der Kontrastmodulation. 20 Bild 12 Spitzenwert und Amplitude des Prfsignals . 22 Bild 13 Aufbau zur Messung der zeitlichen Antwort des Testobj
29、ekts. 23 Bild 14 Sinusfrmiges Leuchtdichtemuster und die entsprechenden Graupegelwerte 24 Bild 15 Eingangscodesequenzen (links) und entsprechende zeitliche Leuchtdichtebergnge (rechts). 24 Bild 16 Beispiel eines aufgenommenen Bildes. 26 Bild 17 Beispiel einer Fourier-Transformation 26 Bild 18 Beispi
30、el einer Bestimmung der Grenzauflsung 27 Bild A.1 Ergebnis der rumlichen Streulichtkorrektur fr ein bildgebendes Photometer zur Messung eines schwarzen Punktes, umgeben von einer groen hellen Lichtquelle . 29 Tabellen Tabelle 1 Zeitliche Kontrastempfindlichkeitsfunktion 16 4 DIN EN 62341-6-3:2013-02
31、 EN 62341-6-3:2012 1 Anwendungsbereich Dieser Teil von IEC 62341 legt die Standard-Messbedingungen und Messverfahren zur Bestimmung der Bildqualitt von Anzeigemodulen und Anzeigen mit organischen Leuchtdioden (OLEDs) fest. Im Besonderen beleuchtet diese Norm fnf spezielle Aspekte bezglich Bildqualit
32、t, z. B. den Betrachtungsrichtungsbereich, bersprechen, Flimmern und Bildauflsung bei Standbildern und bewegten Bildinhalten. 2 Normative Verweisungen Die folgenden Dokumente, die in diesem Dokument teilweise oder als Ganzes zitiert werden, sind fr die Anwendung dieses Dokuments erforderlich. Bei da
33、tierten Verweisungen gilt nur die in Bezug genommene Ausgabe. Bei undatierten Verweisungen gilt die letzte Ausgabe des in Bezug genommenen Dokuments (einschlielich aller nderungen). IEC 62341-1-2:2007, Organic light emitting diode (OLED) displays Part 1-2: Terminology and letter symbols CIE 015:2004
34、, Colorimetry, 3rdEdition ISO 11664-1/CIE S 014-1, Colorimetry Part 1: CIE standard colorimetric observers ISO 11664-5/CIE S 014-5, Colorimetry Part 5: CIE L*u*v* Colour space and u, v uniform chromaticity scale diagram 3 Begriffe, Symbole, Einheiten und Abkrzungen 3.1 Begriffe, Symbole und Einheite
35、n Fr die Anwendung dieses Dokuments gelten die Begriffe, Symbole und Einheiten nach IEC 62341-1-2. 3.2 Abkrzungen CCD ladungsgekoppelte Schaltung (en: charge coupled device) CIE Internationale Beleuchtungskommission (en: International Commission on Illumination (fr: Commission internationale de lcla
36、irage) CFF kritische Flimmer-Frequenz (en: critrical flicker frequency CIELAB CIE-1976-(L*a*b*)-Farbraum (en: CIE 1976 (L*a*b*) colour space) DUT Testobjekt (en: device under test) HVS menschlicher Sehapparat (en: human visual system) LED Leuchtdiode (en: light emitting diode) LMD Lichtmessgert (en:
37、 light measuring device) OLED organische Leuchtdiode (en: organic light emitting diode) ppf Pixel je Bildwiederholperiode (en: pixels per frame) PSF Punktspreizfunktion (en: point spread function) RGB Rot, Grn, Blau (en: red, green blue) SLSF spektrale Linienspreizfunktion (en: spectral line spread
38、function) 5 DIN EN 62341-6-3:2013-02 EN 62341-6-3:2012 4 Standard-Messausrstung und Koordinatensystem 4.1 Lichtmessgerte Die Aufbaudiagramme und/oder Betriebsbedingungen der Messausrstung mssen mit dem Aufbau bereinstimmen, der im jeweiligen Unterpunkt festgelegt ist. Zur Sicherstellung von verlssli
39、chen Messungen gelten die folgenden, unten aufgefhrten Anforderungen fr die Lichtmessausrstung: a) Leuchtdichtemessgert 11): Die spektrale Empfindlichkeit des Detektors muss der spektralen Hellempfindlichkeitskurve des helladaptierten Sehsinns entsprechen und einen Anpassungsfehler CIEf1 von nicht m
40、ehr als 3 % 2 aufweisen; die Messunsicherheit der Leuchtdichte (bezogen auf die CIE-Normlichtart A-Quelle) darf bei Messwerten oberhalb 10 cd/m2nicht mehr als 4 % betragen und nicht mehr als 10 % bei niedrigen Leuchtdichten. b) Farbmessgert: Die spektrale Empfindlichkeit des Detektors muss den Norms
41、pektralwertfunktionen des CIE 1931 farbmetrischen Normalbeobachters (wie in ISO 11664-1/CIE S 014-1 festgelegt) entsprechen und eine farbmetrische Genauigkeit von 0,002 bei den x-, y-Normfarbwertanteilen sicherstellen (bezogen auf die CIE-Normlichtart A-Quelle). Eine numerische Korrektur kann zur Er
42、reichung der notwendigen Genauigkeit zum Einsatz kommen, und zwar durch die Verwendung einer Standard-Lichtquelle mit einer hnlichen spektralen Verteilung wie die der zu messenden Anzeige. c) Spektroradiometer: Der Wellenlngenbereich muss von 380 nm bis 780 nm reichen, und die Genauigkeit muss gerin
43、ger als 0,5 nm sein. Die relative Leuchtdichteunsicherheit der gemessenen Leuchtdichte (relativ zu CIE-Normlichtart A-Quelle) darf nicht grer als 4 % fr Leuchtdichten oberhalb von 10 cd/m2und nicht grer als 10 % fr Leuchtdichten von 10 cd/m2 und darunter sein.Zu beachten ist, dass durch spektrales S
44、treulicht verursachte Fehler innerhalb des Spektroradiometers schwerwiegend sein knnen und daher korrigiert werden mssen. Eine einfache Matrix-Methode kann angewendet werden, um die Streulicht-Fehler zu korrigieren wobei Streulicht-Fehler um eine oder zwei Grenordnungen reduziert werden knnen. Einze
45、lheiten dieser Korrektur-Methode werden in 3 diskutiert. d) Goniophotometrischer Mechanismus: Das Testobjekt (DUT) oder Lichtmessgert (LMD) kann angesteuert werden durch Rotation um eine horizontale und eine vertikale Achse; die Winkelgenauigkeit muss besser als 0,5 sein. e) Bildgebendes Farbmessger
46、t: Die Pixel des Detektors mssen je Teilbildelement der zu messenden Flche der Anzeige nicht weniger als 4 sein, womit die lichtempfindliche Flche gefllt wird; mehr als 12 Bit digitale Auflsung; die spektrale Empfindlichkeit entspricht den Spektralwertfunktionen fr den CIE 1931 farbmetrischen Normal
47、beobachter mit farbmetrischer Genauigkeit von 0,004 fr die Koordinaten x und y oder spektralen Hellempfindungsgrad mit CIEf1 nicht grer als 3 %. f) Schnelles Photometer: Die Linearitt muss besser als 0,5 % sein, die Frequenzantwort hher als 1 kHz und die photopische Sehen-Antwortfunktion CIEf1 nicht
48、 grer als 5 %. 4.2 Koordinatensystem zur Beschreibung der Betrachtungsrichtung Die Betrachtungsrichtung ist diejenige Richtung, unter der der Betrachter einen Zielpunkt auf dem Testobjekt anschaut (siehe auch IEC 62341-1-2:2007, Bild A.2). Whrend der Messung ersetzt das Lichtmessgert den Betrachter
49、und schaut“ aus der gleichen Richtung auf den anzugebenden Fleck (Messfleck, Messfeld) auf dem Testobjekt. Die Betrachtungsrichtung wird in geeigneter Weise durch zwei Winkel angegeben: den Neigungswinkel (in Bezug auf die Flchennormale des Testobjekts) und den Drehwinkel (auch als Azimutwinkel bezeichnet), wie in
