1、UNIN INTERNACIONAL DE TELECOMUNICACIONESUIT-T J.64(ex CMTT.569)SECTOR DE NORMALIZACIN (05/86)DE LAS TELECOMUNICACIONESDE LA UITTRANSMISIONES RADIOFNICASY DE TELEVISINDEFINICIONES DE LOS PARMETROS PARALA MEDICIN AUTOMTICA SIMPLIFICADADE SEALES DE PRUEBA DE INSERCINEN TELEVISINRecomendacin UIT-T J.64(
2、Anteriormente Recomendacin UIT-R CMTT.569)PREFACIOEl Sector de Normalizacin de las Telecomunicaciones de la UIT (UIT-T) es un rgano permanente de la UninInternacional de Telecomunicaciones. El UIT-T tiene a su cargo el estudio de las cuestiones tcnicas, de explotacin yde tarificacin y la formulacin
3、de Recomendaciones al respecto con objeto de normalizar las telecomunicaciones sobreuna base mundial.La Conferencia Mundial de Normalizacin de las Telecomunicaciones (CMNT), que se rene cada cuatro aos,establece los temas que habrn de abordar las Comisiones de Estudio del UIT-T, que preparan luego R
4、ecomendacionessobre esos temas.La Recomendacin UIT-T J.64 (anteriormente, Recomendacin UIT-R CMTT.569) fue elaborada por la antiguaComisin de Estudio CMTT del UIT-R. Vase la Nota 1 que figura ms abajo._NOTAS1 Como consecuencia del proceso de reforma de la Unin Internacional de Telecomunicaciones (UI
5、T), el CCITTdej de existir el 28 de febrero de 1993. En su lugar se cre el 1 de marzo de 1993 el Sector de Normalizacin de lasTelecomunicaciones de la UIT (UIT-T). Igualmente en este proceso de reforma, la IFRB y el CCIR han sido sustituidospor el Sector de Radiocomunicaciones UIT-R).Conforme a la d
6、ecisin conjunta de la Conferencia Mundial de Normalizacin de las Telecomunicaciones (Helsinki,marzo de 1993) y de la Asamblea de Radiocomunicaciones (Ginebra, noviembre de 1993), la Comisin de EstudioCMTT del UIT-R ha sido transferida al UIT-T como Comisin de Estudio 9, salvo para el rea de estudio
7、periodismoelectrnico por satlite (SNG, satellite news gathering) que fue transferida a la Comisin de Estudio 4 del UIT-R.2 Por razones de concisin, el trmino Administracin se utiliza en la presente Recomendacin para designara una administracin de telecomunicaciones y a una empresa de explotacin reco
8、nocida. UIT 1990Reservados todos los derechos. No podr reproducirse o utilizarse la presente Recomendacin ni parte de la misma decualquier forma ni por cualquier procedimiento, electrnico o mecnico, comprendidas la fotocopia y la grabacin enmicropelcula, sin autorizacin escrita de la UIT.Recomendaci
9、n J.64 (05/86) 1Recomendacin J.641)Recomendacin J.64 (05/86)DEFINICIONES DE LOS PARMETROS PARA LA MEDICIN AUTOMTICASIMPLIFICADA DE SEALES DE PRUEBA DE INSERCIN EN TELEVISIN(1978; revisada en 1982 y 1986)El CCIR,CONSIDERANDOa) que en la Recomendacin 567 es la referencia de base en la que se definen l
10、os parmetros que deben medirse ylos elementos de seales de prueba y mtodos de medicin que deben utilizarse para determinar la calidad defuncionamiento de un circuito para transmisin de televisin;b) que en los Informes 628 y 411 se describen diversas tcnicas para la medicin y la comprobacin tcnicaaut
11、omticas de la calidad de funcionamiento de las cadenas de televisin que utilizan seales de prueba de insercin;c) que se efectan generalmente mediciones operacionales utilizando seales de prueba de insercin definidas enla Recomendacin 473.d) que en el Informe 314 se describe la asignacin de lneas en
12、el intervalo de supresin de trama para finesespeciales;e) que, aunque existe equipo automtico de medicin que permite efectuar mediciones conformes a laRecomendacin 567, existe tambin equipo de medicin automtico simplificado que requiere una modificacin de losmtodos de medicin y de las definiciones;f
13、) que esas mediciones automticas simplificadas de seales de prueba de insercin se ajustan a las necesidadesdel personal de explotacin y facilitan el anlisis de los resultados de las mediciones,RECOMIENDA, POR UNANIMIDAD:Que, cuando se utilice equipo automtico simplificado para la medicin de una seal
14、 de prueba de insercin, ycuando se desee la presentacin normalizada de los resultados, las definiciones utilizadas para cuantificar los parmetrosde esa seal sean las contenidas en el anexo I.ANEXO I1. IntroduccinLa necesidad de las mediciones descritas en la presente Recomendacin (y posiblemente de
15、otras mediciones)depender del tipo de instalacin empleado y de la poltica que sigan las administraciones.Las seales de prueba especificadas son las que figuran en la Recomendacin 473.Las definiciones parten de la base de que la calidad de funcionamiento del equipo de medicin empleado es talque ningu
16、na componente armnica de la seal de entrada, por encima de la banda nominal de video, originar errores demedicin superiores a la precisin especificada de dicho equipo. Las definiciones estn tambin basadas en uninstrumental que suprimir substancialmente los efectos de todo ruido presente en la seal d
17、e entrada como consecuenciade la medicin de cualquier parmetro de la seal de prueba.La magnitud de las distorsiones de las seales que han pasado por un circuito de transmisin no lineal tiende avariar con la componente media de la imagen. Por tanto, tal vez convenga tambin medir automticamente el val
18、or de lacomponente media de la imagen asociado a cualquier magnitud particular de distorsin o de error._1)Antiguamente, Recomendacin UIT-R CMTT.569.2 Recomendacin J.64 (05/86)2. Definiciones2.1 Amplitud de la barra de luminanciaDiferencia entre el nivel que corresponde al punto medio de la barra (el
19、emento B2) y el nivel correspondiente aun punto inmediatamente posterior al impulso compuesto (elemento F). En las figs. 1 y 2 estos puntos se designan b2y b1, respectivamente. Se expresar como un porcentaje de la amplitud nominal de la barra (0,7 V para las seales de lossistemas de 625 lneas, 0,714
20、 V para las seales de los sistemas de 525 lneas).2.2 Error en la amplitud de la barra de luminanciaDiferencia entre la amplitud real medida de la barra de luminancia y su valor nominal (0,7 V para las sealesde los sistemas de 625 lneas, 0,714 V para las seales de los sistemas de 525 lneas), expresad
21、a en porcentaje del valornominal.2.3 Inclinacin de la barraSe define la inclinacin de la barra de luminancia como la diferencia entre el nivel de la barra de luminancia enun punto situado 1 m s despus del punto de semiamplitud de su frente anterior (punto b3en las figs. 1 y 2), y el nivel dedicha ba
22、rra en un punto situado 1 m s antes del punto de semiamplitud de su frente posterior (punto b4en las figs. 1 y 2),expresada en porcentaje de la amplitud de la barra. La diferencia es positiva si b4es mayor que b3.Nota. El parmetro inclinacin de la barra definido permite realizar, mediante dispositiv
23、os automticos, una medicinespecfica de una forma particular de distorsin con duracin de una lnea, a saber, la diferencia de nivel de la barra de lnea en dospuntos especficos de referencia. Esta medicin es diferente a las de la distorsin de una forma de onda con duracin de una lneadescrita en la Reco
24、mendacin 567 (punto C.3.5.1.3 y anexo III a la parte C, punto 2.1) en las que se mide la diferencia mxima denivel en cualquier punto situado entre puntos definidos de referencia.2.4 Distorsin de la lnea de baseLa distorsin de la lnea de base se define como la diferencia entre el nivel de la seal en
25、el punto b7, que estsituado despus del punto de semiamplitud del frente posterior de la barra (elemento B2), a una distancia de 400 ns en lossistemas de 625 lneas y de 500 ns en los sistemas de 525 lneas (vanse las figs. 1 y 2), y un punto de referencia b1situado antes del comienzo de la escalera de
26、 la lnea 17 (vanse tambin las figs. 1 y 2).Esa diferencia se expresa como porcentaje de la amplitud de la barra de luminancia y debe medirse despus delimitar la anchura de banda de la seal (vase la nota). La diferencia es positiva si el nivel de la seal en el punto b7essuperior al nivel en el punto
27、de referencia b1.Nota. La limitacin puede obtenerse utilizando una red cuyo diseo se basa en la Solucin 3 descrita enThomson, 1952 que tiene su primer cero en 3,3 MHz, o por una tcnica equivalente.2.5 Error en la relacin entre el impulso 2T y la barraEl error en la relacin entre el impulso 2T en sen
28、o cuadrado y la barra se define como la diferencia entre lasamplitudes del impulso 2T (elemento B1) y la amplitud de la barra de luminancia (elemento B2) expresada en porcentajede la amplitud de la barra de luminancia. La amplitud de la cresta del impulso 2T est referida a un punto de refe-rencia b1
29、(vase la nota) (figs. 1 y 2) situado antes del primer peldao de la escalera. La diferencia es positiva si laamplitud del impulso 2T es superior a la amplitud de la barra.Nota. Para evitar los errores debidos a la inclinacin de la barra, puede resultar preferible emplear exclusivamente para lamedicin
30、 del error en la relacin impulso 2T/ barra, un punto de referencia, definido de forma que est en el nivel medio lineal de laseal de prueba de insercin en los intervalos de tiempo de 2 a 1 m s antes y de 1 a 2 m s despus del impulso 2T.2.6 Distorsin de la forma del impulso 2TEsta definicin requiere u
31、lteriores estudios.2.7 Desigualdad de ganancia crominancia-luminanciaDiferencia entre la amplitud de cresta a cresta de la componente de crominancia de los elementos G, G1, G2, yla amplitud de la barra de luminancia (elemento B2) expresada en porcentaje de la amplitud de la barra de luminancia. Ladi
32、ferencia es positiva si la amplitud de la componente de crominancia es superior a la amplitud de la barra. Se observarque, en el caso de los sistemas de 525 lneas, la amplitud nominal del elemento G es de 80 unidades IRE, factor que debetomarse en consideracin al normalizar los resultados.Si, por cu
33、alquier razn, no se dispone de los elementos de seal G, G1o G2, puede hacerse la medicin con lacomponente de crominancia del elemento F.Recomendacin J.64 (05/86) 32.8 Desigualdad del retardo crominancia-luminanciaDiferencia de tiempo (expresada en nanosegundos) entre las componentes de luminancia y
34、de crominancia delimpulso compuesto (elemento F). La diferencia es positiva si el eje de simetra de la componente de crominanciademodulada muestra retardo respecto del eje de simetra de la componente de luminancia.2.9 No linealidad de la luminanciaLa no linealidad de la luminancia debe medirse en la
35、 escalera de la lnea 17 (elemento D1para los sistemas de625 lneas, D2para los de 525 lneas), y se define como la diferencia entre las amplitudes mxima y mnima de losescalones, expresada en porcentaje de la amplitud mxima. Como, en este caso, el signo carece de significacin, se tomasiempre como posit
36、ivo.2.10 Ganancia diferencialSe determina evaluando la modulacin de amplitud de la subportadora de crominancia superpuesta a laescalera del elemento D2.En la Recomendacin 567 se define la ganancia diferencial en funcin de dos parmetros +x, y, querepresentan las diferencias mximas (de cresta) de ampl
37、itud entre la subportadora en los peldaos de la seal de pruebarecibida y la subportadora en el nivel de supresin, expresadas como porcentaje de esta ltima. En el caso de unacaracterstica montona, x o y sern igual a cero.Las expresiones siguientes permiten obtener los valores de x e y :x = 100AmxA0 1
38、y = 100 AmnA0 1dondeA0: amplitud de la subportadora recibida en el peldao del nivel de supresin del elemento D2,Amx: valor mximo de la subportadora en cualquier peldao,Amn: valor mnimo de la subportadora en cualquier peldao.Para mediciones automticas se aceptan dos mtodos alternativos para expresar
39、los resultados, a saber:a) Ganancia diferencial de cresta, que se define por +x o y, en funcin del parmetro de mayor magnitud.b) Ganancia diferencial cresta a cresta, que se define como x + y.Nota. Algunas administraciones prefieren medir la ganancia diferencial cresta a cresta utilizando Amxen luga
40、r de A0. Lafrmula empleada es:x + y = 100 Amx AmnAmxLos resultados obtenidos con este mtodo diferirn slo ligeramente de los definidos anteriormente, si la magnitud de ladistorsin no es excesiva.2.11 Fase diferencialSe determina la fase diferencial calculando la modulacin de fase de la subportadora d
41、e crominanciasuperpuesta a la escalera del elemento D2(fig. 5: 625 lneas; fig. 2: 525 lneas).En la Recomendacin 567 se define la fase diferencial en funcin de dos parmetros, +x, y, que representanlas diferencias mximas de fase entre la subportadora en los peldaos de la seal de prueba recibida y la s
42、ubportadora enel nivel de supresin, expresadas como porcentaje de esta ltima. En el caso de una caracterstica montona, x o y sernigual a cero.x e y pueden determinarse a partir de las expresiones siguientes:x = Fmx F0y = Fmn F04 Recomendacin J.64 (05/86)dondeF0: fase de la subportadora en el peldao
43、del nivel de supresin del elemento D2,Fmx: valor mximo de la fase de la subportadora en cualquier peldao,Fmn: valor mnimo de la fase de la subportadora en cualquier peldao.Para mediciones automticas se aceptan dos mtodos alternativos para expresar los resultados, a saber:a) Fase diferencial de crest
44、a, que se define por +x o y, en funcin del parmetro de mayor magnitud.b) Fase diferencial de cresta a cresta, que se define como x + y.2.12 Intermodulacin crominancia-luminanciaLa intermodulacin crominancia-luminancia se mide en los elementos G, G1o G2, despus de suprimir lasubportadora de crominanc
45、ia de llegada. Se define como la diferencia entre la amplitud de la luminancia en el elementoG1, o en la ltima seccin del elemento G o G2(b5en las figs. 3 y 4), y la amplitud de la seccin siguiente (b6en las figs.3 y 4), en la que la seal de prueba carece de subportadora. Se expresa en porcentaje de
46、 la amplitud de la barra deluminancia (elemento B2), y su signo es positivo si la amplitud de la luminancia del elemento b5es superior a la de laluminancia del elemento siguiente, b6.Nota. Para medir este parmetro, algunas administraciones utilizan el elemento F en vez de G, G1o G2. En tal caso, par
47、amedir la amplitud de la componente de luminancia del impulso compuesto (elemento F) se suprime previamente la subportadora decrominancia de llegada. El resultado vendr dado por la diferencia entre la amplitud de la luminancia del impulso compuesto y lasemiamplitud de la barra de luminancia, expresa
48、da en porcentaje de la amplitud de la barra. La diferencia es positiva si la amplitud dela componente del impulso compuesto es superior a la semiamplitud de la barra de luminancia. En algunos casos, el resultado puedediferir del correspondiente al mtodo preferido, pues el elemento de seal F no es tan idneo como el elemento G para medir estadistorsin.2.13 No linealidad de amplitud de crominancia; medicin en dos nivelesEste parmetro se mide en el elemento G o G2. Su valor, expresado en porcentaje, con un signo, se definecomo:(V3
