KS C IEC 60749-32-2006 Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-Part 32:Flammability of plastic-encapsulated devices(externally induced)《半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分 塑料密.pdf

上传人:bowdiet140 文档编号:816570 上传时间:2019-02-12 格式:PDF 页数:6 大小:433.75KB
下载 相关 举报
KS C IEC 60749-32-2006 Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-Part 32:Flammability of plastic-encapsulated devices(externally induced)《半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分 塑料密.pdf_第1页
第1页 / 共6页
KS C IEC 60749-32-2006 Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-Part 32:Flammability of plastic-encapsulated devices(externally induced)《半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分 塑料密.pdf_第2页
第2页 / 共6页
KS C IEC 60749-32-2006 Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-Part 32:Flammability of plastic-encapsulated devices(externally induced)《半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分 塑料密.pdf_第3页
第3页 / 共6页
KS C IEC 60749-32-2006 Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-Part 32:Flammability of plastic-encapsulated devices(externally induced)《半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分 塑料密.pdf_第4页
第4页 / 共6页
KS C IEC 60749-32-2006 Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-Part 32:Flammability of plastic-encapsulated devices(externally induced)《半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分 塑料密.pdf_第5页
第5页 / 共6页
点击查看更多>>
资源描述

1、 KSKSKSKS SKSKSKS KSKSKS SKSKS KSKS SKS KS 2006 11 30 http:/www.kats.go.krKS C IEC 6074932 32: ( )KS C IEC 60749 32: 2006 (2011 )C IEC 60749 32: 2006 : ( ) ( ) ( ) ( ) : (http:/www.standard.go.kr) : : 2006 11 30 : 2011 12 13 2011-0563 : : ( 02-509-7294) (http:/www.kats.go.kr). 10 5 , . ICS 31.080.01

2、 KS C IEC 32: ( ) 60749 32: 2006(2011 ) Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices(externally induced) 2002 1 IEC 60749 32 Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 32: Flammability of plastic-encapsulated de

3、vices(externally induced) . 1. ( ) . . . 2. . . KS C IEC 60695 2 2: 2002 2: 2: 3. . a) : b) : 3, c) : KS C IEC 60695 2 2 1 b) d) , KS C IEC 60695 2 2 1 b) e) : , KS C IEC 60695 2 2 4. f) (ta): 10 s g) : 10 s h) : . 32 : ( ) 153787 1 92 3(13) (02)26240114 (02)2624 0148 9 http:/ KSKSKSSKSKS KSKS SKS KSKS SKSKS KSKSKSKS C IEC 60749 32: 2006 Semiconductor devicesMechanicaland climatic test methodsPart 32:Flammability of plastic encapsulateddevices(externally induced)ICS 31.080.01 Korean Agency for Technology and Standards http:/www.kats.go.kr

展开阅读全文
相关资源
猜你喜欢
相关搜索

当前位置:首页 > 标准规范 > 国际标准 > 其他

copyright@ 2008-2019 麦多课文库(www.mydoc123.com)网站版权所有
备案/许可证编号:苏ICP备17064731号-1