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GB T 20724-2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法.pdf

上传人：周芸 文档编号：105698 上传时间：2019-07-08 格式：PDF 页数：6 大小：231.77KB
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资源描述

本标准规定了用透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。本方法适用于测定线度为10m10m、厚度在几十至几百纳米范围的薄晶体厚度。

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