1、IEC 345 71 4 on doit utiliser un systme trois lectrodes dont une lectrode garde. Les diffrences dpaisseur dun bord lautre dune plaque ne doivent pas dpasser 5%. Les lectrodes de lprouvette doivent tre de prfrence circulaires et constitues par un vernis conducteur cuit ou par une couche conductrice p
2、ouvant tre applique par vaporisation ou par pulvrisation. Lor et le platine sont des mtaux appropris; largent ne devrait pas tre employ, tant donn le risque de migration aux tempratures leves. Les couches minces dor peuvent perdre leur conductivit car lor peut sagglomrer temprature leve. I1 est asse
3、z dacile dappliquer des lectrodes par vaporisation ou par pulvrisation sur des matriaux poreux, de sorte que les rsultats obtenus peuvent tre de valeur douteuse. Afn de rduire leffet de surface aux angles de lprouvette (effet qui est parfois d aux manipulations lors de la prparation de lprouvette),
4、la distance minimale entre llectrode et langle de lprouvette devrait tre de 0,5 cm si aucune lectrode garde nest utilise. 3. Appareillage dessai 3.1 Mesure de rsistance (voir Jigure I, page 12) la sensibilit et la prcision requises (voir Publication 93 de la CEI). La rsistance entre les lectrodes do
5、it tre mesure au moyen dun dispositif appropri prsentant 3.2 Enceinte de chauflage Le chauffage des prouvettes se fait dans un four ou dans une tuve lectriques appropris. Le dispositif de chauffage doit permettre de soumettre lprouvette une temprature uniforme dans tout son volume avec fluctuations
6、aussi faibles que possible. Un moufle appropri est prvoir pour protger lprouvette du rayonnement direct des lments de chauffage. Le moufle peut tre en une cramique, telle que loxyde daluminium, ou en tout autre matriau quivalent. En outre, il y a lieu de prvoir lintrieur du four ou de lenceinte un c
7、ran mtallique mis la terre, en argent, en acier inoxydable ou en tout autre mtal quivalent, Cet cran sert mettre labri de linfluence des l- ments de chauffage lprouvette et le disnositif de mesure. Dans le cas dprouvettes rsistance trs leve, il peut tre ncessaire de couper le circuit de chauffage pe
8、ndant la mesure, afin de ne pas fausser les rsultats. . . . -5- METHOD OF TEST FOR ELECTRICAL RESISTANCE AND RESISTIVITY OF INSULATING MATERIALS AT ELEVATED TEMPERATURES 1. Scope This test method covers procedures for the determination of insulation resistance and volume resistivity of insulating ma
9、terials at temperatures up to at least 800 OC. The measurements shall be made in accordance with IEC Publication 93, Recommended Methods of Test for Volume and Surface Resistivities of Electrical Insulating Materials, and with IEC Publi- cation 167, Methods of Test for the Determination of the Insul
10、ation Resistance of Solid Insulating Materials, utilizing the following special procedures. 2. Preparation of specimens and electrodes For insulation resistance measurements, the specimens may be of any suitable size and shape and may have electrodes already attached (see IEC Publication 167). When
11、volume resistivity is measured, the specimens shall preferably be in the form of disks, a three electrode system shall be used, one of which is a guarded electrode. The thickness variation between any two places on the disk shall be no greater than 5% of the mean thickness. The specimen electrodes s
12、hall preferably be circular and consist of red-on conducting paint or a conducting coating evaporated or sprayed onto the specimen faces. Gold or platinum are suitable electrode metals. Silver should not be used since it migrates at elevated temperatures. Thin layers of gold may lose their conductiv
13、ity since the gold may agglomerate at the higher temperatures. It is difficult to apply evaporated or sprayed-on electrodes to porous test specimens and the results obtained with them are of doubtful value. To minimize surface effects at the edges of the specimen (due sometimes to handling in specim
14、en . preparation), it is recommended that if no guarded electrode is used, the minimum distance from the electrodes to the specimen edge shall be 0.5 cm. 3. Test equipment 3.1 Resistance measurement (see Figure 1, page 12) The resistance between electrodes shall be measured with a suitable device ha
15、ving the required sensitivity and accuracy (see IEC Publication 93). 3.2 Heating chamber For heating the specimen, a suitable electric oven or furnace shall be used. The construction shall be such that the specimen is subjected to a uniform temperature throughout its total volume with temperature fl
16、uctuations as small as possible. An adequate muffle should be provided to shield the specimen from direct radiation by the heating elements. This muffle may be made of a ceramic such as aluminum oxide or equivalent, A grounded metallic shield of silver, stainless steel or equivalent metal shall also
17、 be provided within the oven. The shield shai act as a guard to prevent leakage currents between the heating circuit and the measuring circuit. In the case of very high resistance specimens, it may be necessary to disccanect the heating element to prevent interference during the measurement, r IEC 3
18、95 71 W 9844873 0033994 8 -6- 3.3 Supports des prouvettes Les prouvettes doivent tre serres entre deux plaques de base servant de contre-lectrodes. Ces contre-lectrodes et leurs amenes de courant doivent tre ralises en un mtal mcaniquement stable et rsistant loxydation. On peut utiliser cet effet de
19、s alliages rsistant aux tempratures leves, par exemple, lacier inoxydable. Les mesures peuvent galement tre effectues dans une atmosphre inerte. Lpaisseur des contre-lectrodes doit tre suffisante pour viter tout gauchissement et pour assurer une galisation des tempratures des contre-lectrodes et de
20、lprouvette. Les surfaces de contact des contre-lectrodes doivent tre gales celles des lectrodes; une des contre-lectrodes doit tre mobile pour permettre la mise en place et lenlvement de lprouvette. 3.4 Conducteurs de mesure Les conducteurs de mesure isols devraient tre introduits dans lenceinte de
21、chauffage au moyen de traverses en cramique. Les traverses doivent tre places dans une zone froide de lenceinte et tre munies dun circuit de garde tel quaucun courant de fuite superficielle ne puisse fausser les rsultats de mesure. Note. - I1 est galement possible dintroduire les conducteurs par un
22、trou dans la paroi suprieure ou une des parois latrales de lenceinte de chauffage (qui doit tre raccorde la terre). Si lon utilise des conducteurs rigides, ils peuvent tre suspendus lextrieur de sorte quils ne soient en contact quavec leur support. La temprature du supporf sera alors relativement ba
23、sse et il pourra tre constitu par un quelconque matriau isolant rigide. 3.5 Rgulation de la temprature Une rgulation de temprature est prvoir qui doit maintenir la temprature dans les tolrances xes par la Publication 212 de la CEI: Conditions normales observer avant et pendant les essais de matriaux
24、 isolants lectriques solides. Lemploi de deux couples thermo-lectriques est recom- mand, lun servant la rgulation de la temprature de lenceinte et lautre la mesure directe de la temprature de lprouvette. La temprature de 1 prouvette doit tre mesure au moyen dun couple thermo-lectrique plac le plus p
25、rs possible de lprouvette, sans toutefois influencer le rsultat de la mesure de rsistance. On peut, par exemple, introduire le couple dans un trou perc dans une contre-lectrode et atteignant presque la surface de llectrode voisine de lprouvette (voir figure 1, page 12). Le trou peut tre perc partir
26、de la face de la contre-lectrode parallle la surface de lprouvette ou partir du ct de la contre-lectrode perpendiculaire la surface de lprouvette. Si le couple thermo-lectrique est plac dans une contre-lectrode, les conducteurs et lappareil de mesure de temprature doivent tre isols en consquence, ou
27、 bien le couple doit tre soit dbranch pendant la mesure, soit enlev de la contre- lectrode. 3.6 Prcautions particulires prendre pendant les mesures Si lisolation des conducteurs de mesure est soumise des tempratures leves dans lenceinte de chauffage, sa rsistance disolement peut diminuer au point di
28、nfluer sur le rsultat de mesure. Etant donn que le circuit est raccord la terre entre lappareil de mesure du courant et la source de tension (les deux faces de lprouvette sont isoles de la terre), on peut ngliger le courant de fuite entre le conducteur haute tension et la terre pour autant quil ne p
29、rsente pas un dbit trop important pour la source de tension. Un courant de fuite entre le conducteur basse tension et la terre quivaut un shun- tage de lappareil de mesure du courant. La rsistance entre llectrode de mesure et la terre doit tre grande (10 100 fois) par rapport la rsistance dentre de
30、lappareil de mesure du courant (jusqu 1011 Q dans le cas des appareils les plus sensibles). La rsistance de fuite doit tre dtermine par des mesures rptes chaque temprature. Si les conducteurs damene et les contre-lectrodes sont constitus par des mtaux diffrents, des diffrences de potentiel thermo-lectriques risquent de fausser les rsultats de mesure. Leur valeur peut tre dtermine en mesurant le courant lorsque la Source de tension est remplace par un court-circuit,
