1、NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 60512-6-1 Premire dition First edition 2002-02 Connecteurs pour quipements lectroniques Essais et mesures Partie 6-1: Essais de contraintes dynamiques Essai 6a: Acclration constante Connectors for electronic equipment Tests and measurements Part 6-
2、1: Dynamic stress tests Test 6a: Acceleration, steady state Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 60512-6-1:2002Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les ve
3、rsions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros dditi on 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendement
4、s 1 et 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo- nibles dans le Catalogue
5、 des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles
6、par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de
7、publication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications rempla- ces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.ch/JP.htm) est aussi disponible par courrier lectronique. Veuil
8、lez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41
9、22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition n
10、umbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC,
11、thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work
12、 in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/catlg-e.htm) enables
13、 you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On- line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued public
14、ations (www.iec.ch/JP.htm) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custservi
15、ec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 .NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 60512-6-1 Premire dition First edition 2002-02 Connecteurs pour quipements lectroniques Essais et mesures Partie 6-1: Essais de contraintes dynamiques Essai 6a: Acclration constante Connectors for
16、electronic equipment Tests and measurements Part 6-1: Dynamic stress tests Test 6a: Acceleration, steady state Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2002 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre r
17、eproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photoco
18、pying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerland Telephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE E Commission
19、Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission 2 60512-6-1 CEI:2002 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ CONNECTEURS POUR QUIPEMENTS LECTRONIQUES ESSAIS ET MESURES Partie 6-1: Essais de contraintes dynamiques Essai 6a: Acclration constante AVANT-PROPOS 1) La CEI (Co
20、mmission lectrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines
21、de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normes internationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et n
22、on gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les quest
23、ions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publis comme n
24、ormes, spcifications techniques, rapports techniques ou guides et agrs comme tels par les Comits nationaux. 4) Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la
25、 CEI dans leurs normes nationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. 5) La CEI na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilit n
26、est pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ses normes. 6) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Norme internationale peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne p
27、as avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La Norme internationale CEI 60512-6-1 a t tablie par le sous-comit 48B: Connecteurs, du comit dtudes 48 de la CEI: Composants lectromcaniques et structures mcaniques pour quipements lectroniques. Cette norme annule
28、 et remplace lessai 6a de la CEI 60512-4, parue en 1976, dont elle constitue une rvision technique. Le texte de cette norme est issu des documents suivants: FDIS Rapport de vote 48B/1138/FDIS 48B/1189/RVD Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant a
29、bouti lapprobation de cette norme. Cette publication a t rdige selon les Directives ISO/CEI, Partie 3. Le comit a dcid que le contenu de cette publication ne sera pas modifi avant 2007. A cette date, la publication sera reconduite; supprime; remplace par une dition rvise, ou amende.60512-6-1 IEC:200
30、2 3 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ CONNECTORS FOR ELECTRONIC EQUIPMENT TESTS AND MEASUREMENTS Part 6-1: Dynamic stress tests Test 6a: Acceleration, steady state FOREWORD 1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising all
31、 national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standa
32、rds. Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. The IEC co
33、llaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. 2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international consensus of op
34、inion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all interested National Committees. 3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form of standards, technical specifications, technical reports or guides
35、 and they are accepted by the National Committees in that sense. 4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any divergence between the
36、IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly indicated in the latter. 5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any equipment declared to be in conformity with one of its standards. 6) Attention is dr
37、awn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. International Standard IEC 60512-6-1 has been prepared by subcommittee 48B: Connectors, of IEC tec
38、hnical committee 48: Electromechanical components and mechanical structures for electronic equipment. This standard cancels and replaces test 6a of IEC 60512-4, issued in 1976, and constitutes a technical revision. The text of this standard is based on the following documents: FDIS Report on voting
39、48B/1138/FDIS 48B/1189/RVD Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on voting indicated in the above table. This publication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives, Part 3. The committee has decided that the contents of this publ
40、ication will remain unchanged until 2007. At this date, the publication will be reconfirmed; withdrawn; replaced by a revised edition, or amended. 4 60512-6-1 CEI:2002 CONNECTEURS POUR QUIPEMENTS LECTRONIQUES ESSAIS ET MESURES Partie 6-1: Essais de contraintes dynamiques Essai 6a: Acclration constan
41、te 1 Gnralits 1.1 Domaine dapplication et objet La prsente partie de la CEI 60512 est utilise, lorsque la spcification particulire le prescrit, pour essayer des composants lectromcaniques du domaine dapplication du comit dtudes 48 de la CEI. Cet essai peut aussi tre effectu sur des dispositifs simil
42、aires, lorsquune spcification particulire le prescrit. Lobjet de cet essai est dtablir une mthode dessai normalise pour valuer laptitude dun composant supporter des svrits spcifies dacclration. 1.2 Rfrences normatives Les documents normatifs suivants contiennent des dispositions qui, par suite de la
43、 rfrence qui y est faite, constituent des dispositions valables pour la prsente partie de la CEI 60512. Pour les rfrences dates, les amendements ultrieurs ou les rvisions de ces publications ne sappliquent pas. Toutefois, les parties prenantes aux accords fonds sur la prsente partie de la CEI 60512
44、sont invites rechercher la possibilit dappliquer les ditions les plus rcentes des documents normatifs indiqus ci-aprs. Pour les rfrences non dates, la dernire dition du document normatif en rfrence sapplique. Les membres de la CEI et de lISO possdent le registre des Normes internationales en vigueur
45、. CEI 60068-2-7:1983, Essais denvironnement Deuxime partie: Essais. Essai Ga: Acclration constante Modification 1 (1986) CEI 60512-1-1, Connecteurs pour quipements lectroniques Essais et mesures Partie 1-1: Examen gnral Essai 1a: Examen visuel CEI 60512-2-1, Connecteurs pour quipements lectroniques
46、Essais et mesures Partie 2-1: Essais de continuit lectrique et de rsistance de contact Essai 2a: Rsistance de contact Mthode du niveau des millivolts CEI 60512-2-5, Connecteurs pour quipements lectroniques Essais et mesures Partie 2-5: Essais de continuit lectrique et de rsistance de contact Essai 2
47、e: Perturbation de contact CEI 60512-7:1993, Connecteurs pour quipements lectroniques Essais et mesures Partie 7: Essais dtanchit60512-6-1 IEC:2002 5 CONNECTORS FOR ELECTRONIC EQUIPMENT TESTS AND MEASUREMENTS Part 6-1: Dynamic stress tests Test 6a: Acceleration, steady state 1 General 1.1 Scope and
48、object This part of IEC 60512, when required by the detail specification, is used for testing electromechanical components within the scope of IEC technical committee 48. This test may also be used for similar devices when specified in a detail specification. The object of this test is to define a standard test method to assess the ability of components to withstand specified severities of acc
