1、 NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 62124Premire ditionFirst edition2004-10Systmes photovoltaques (PV) autonomes Vrification de la conception Photovoltaic (PV) stand-alone systems Design verification Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 62124:2004 Numrotation des publications Depu
2、is le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 i
3、ndiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI a
4、fin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo-nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavanc
5、ement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/
6、searchpub) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications remplaces ou retires, ainsi que sur les
7、 corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.ch/online_news/justpub) est aussi dispo-nible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de
8、cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example
9、, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication
10、 incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in
11、 the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also a
12、vailable from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/searchpub) enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On-line information is also avai
13、lable on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (www.iec.ch/online_news/justpub) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further informati
14、on. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 . NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 62124Premire ditionFirst editi
15、on2004-10Systmes photovoltaques (PV) autonomes Vrification de la conception Photovoltaic (PV) stand-alone systems Design verification Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2004 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette pu
16、blication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechan
17、ical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, SwitzerlandTelephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PR
18、ICE CODE W Commission Electrotechnique InternationaleInternational Electrotechnical Commission 2 62124 CEI:2004 SOMMAIRE AVANT-PROPOS6 1 Domaine dapplication et objet10 2 Rfrences normatives.10 3 Acronymes .12 4 Mthodes dessais12 5 Marquage .14 6 Essais 16 7 Critres dacceptation.18 8 Spcifications r
19、elatives la conception 20 9 Guide de lutilisateur.24 10 Guide du technicien26 11 Dfauts majeurs .26 12 Spcification de charge 28 13 Essai de performance.28 14 Essais lextrieur .36 15 Essais lintrieur en utilisant un simulateur solaire.40 16 Essais lintrieur en utilisant un simulateur de module PV .5
20、0 17 Dtermination du point dquilibre du systme52 18 Modifications 54 19 Rapport 54 Annexe A (normative) Classification de lexposition nergtique et des systmes56 Annexe B (normative) Instrumentation et quipement pour lessai du systme.58 Annexe C (normative) Dtermination de la sortie du module pour le
21、s essais lintrieur en utilisant un simulateur de module PV.62 Bibliographie.76 Figure 1 Organigramme reprsentant le processus de vrification .16 Figure 2 Profil dessai de lchantillon pour lessai de performance du systme PV autonome34 Figure 3 Profils dclairement nergtique journalier pour lessai fonc
22、tionnel, 10 jours.44 Figure 4 Graphique de caractrisation du systme, exemple de squence de charge avec 3 profils dexposition nergtique et 10 cycles. Dcharge: profil de charge constante54 Figure C.1 Organigramme pour obtenir les rglages appropris pour une source de courant constant simulant le module
23、 PV .62 Figure C.2 Ensemble de caractristiques IV pour un profil dclairement nergtique quotidien (exemple) 66 Figure C.3 Approximation des caractristiques du champ PV par un ensemble de lignes de fonctionnement du champ68 Figure C.4 Processus ditration pour lajustement du courant .70 62124 IEC:2004
24、3 CONTENTS FOREWORD.7 1 Scope and object11 2 Normative references .11 3 Acronyms .13 4 Testing methods.13 5 Marking 15 6 Testing .17 7 Pass criteria .19 8 Design specifications21 9 User manual.25 10 Technicians manual27 11 Major defects27 12 Load specification 29 13 Performance test 29 14 Outdoor te
25、sting.37 15 Indoor testing using a solar simulator .41 16 Indoor testing using a PV module simulator 51 17 Determination of the system balance point .53 18 Modifications 55 19 Report 55 Annex A (normative) Classification of irradiation and systems57 Annex B (normative) Instrumentation and equipment
26、for the system test59 Annex C (normative) Determination of the module output for the indoor testing using a PV module simulator63 Bibliography77 Figure 1 Flow diagram representing the verification process 17 Figure 2 Sample test profile for the stand-alone PV system performance test 35 Figure 3 Dail
27、y irradiance profiles for functional test, 10 days45 Figure 4 System characterisation chart, charge sequence example with 3 irradiation profiles and 10 cycles. Discharge: constant load profile 55 Figure C.1 Flowchart to arrive at appropriate settings for a constant current source simulating the PV m
28、odule .63 Figure C.2 Set of IV characteristics for a daily irradiance profile (example) 67 Figure C.3 Approximation of array characteristics by a set of array operation lines 69 Figure C.4 Iteration process for current adjustment71 4 62124 CEI:2004 Figure C.5 Montage exprimental pour les essais de p
29、erformance du systme PV 72 Figure C.6 Organigramme pour la simulation de la performance du champ prsente pour une tape du profil PTOC .74 Tableau 1 Gammes acceptables pour la temprature du module en fonction de lclairement nergtique36 Tableau 2 Cycles de lessai de performance 46 Tableau 3 Profils de
30、 niveaux types pour les cycles dexposition nergtique journaliers.46 Tableau A.1 Classes dexposition nergtique .56 Tableau B.1 Paramtres mesurer/dterminer 60 62124 IEC:2004 5 Figure C.5 Experimental set-up for PV system performance testing .73 Figure C.6 Flow chart for simulation of the array perform
31、ance presented for one time step of the PTOC profile .75 Table 1 Acceptable ranges for the module temperature depending on the irradiance .37 Table 2 Cycles of the performance test 47 Table 3 Typical step profiles for daily irradiation cycles47 Table A.1 Irradiation classes57 Table B.1 Parameters to
32、 be measured/determined.61 6 62124 CEI:2004 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ SYSTMES PHOTOVOLTAQUES (PV) AUTONOMES VRIFICATION DE LA CONCEPTION AVANT-PROPOS 1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comit
33、s lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI entre autres activits publie des Normes internationales, des Spc
34、ifications techniques, des Rapports techniques, des Spcifications accessibles au public (PAS) et des Guides (ci-aprs dnomms “Publication(s) de la CEI“). Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisation
35、s internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords
36、officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux de la CEI intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les Publications de la CEI se prsentent sous la forme de re
37、commandations internationales et sont agres comme telles par les Comits nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI sassure de lexactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas tre tenue responsable de lventuelle mauvaise utilisation ou in
38、terprtation qui en est faite par un quelconque utilisateur final. 4) Dans le but dencourager luniformit internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent, dans toute la mesure possible, appliquer de faon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications nationales et rgionales.
39、Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications nationales ou rgionales correspondantes doivent tre indiques en termes clairs dans ces dernires. 5) La CEI na prvu aucune procdure de marquage valant indication dapprobation et nengage pas sa responsabilit pour les quipeme
40、nts dclars conformes une de ses Publications. 6) Tous les utilisateurs doivent sassurer quils sont en possession de la dernire dition de cette publication. 7) Aucune responsabilit ne doit tre impute la CEI, ses administrateurs, employs, auxiliaires ou mandataires, y compris ses experts particuliers
41、et les membres de ses comits dtudes et des Comits nationaux de la CEI, pour tout prjudice caus en cas de dommages corporels et matriels, ou de tout autre dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les cots (y compris les frais de justice) et les dpenses dcoulant d
42、e la publication ou de lutilisation de cette Publication de la CEI ou de toute autre Publication de la CEI, ou au crdit qui lui est accord. 8) Lattention est attire sur les rfrences normatives cites dans cette publication. Lutilisation de publications rfrences est obligatoire pour une application co
43、rrecte de la prsente publication. 9) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Publication de la CEI peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de
44、proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La Norme internationale CEI 62124 a t tablie par le comit dtudes 82 de la CEI: Systmes de conversion photovoltaque de lnergie solaire. Le texte de cette norme est issu des documents suivants: FDIS Rapport de vote 82/355/FDIS 82/364/RVD Le rapport de
45、vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. Cette publication a t rdige selon les Directives ISO/CEI, Partie 2. 62124 IEC:2004 7 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ PHOTOVOLTAIC (PV) STAND-ALONE SYSTEMS DESIGN VERIFICATI
46、ON FOREWORD 1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote international co-operation on all questions concerning standardization in
47、the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications, Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC Publication(s)”). Their preparation is entruste
48、d to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agr
