1、 NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 62132-5Premire ditionFirst edition2005-10Circuits intgrs Mesure de limmunit lectromagntique, 150 kHz 1 GHz Partie 5: Mthode de la cage de Faraday sur banc de travail Integrated circuits Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz Part 5
2、 Workbench Faraday cage method Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 62132-5:2005 Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaine
3、s publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplme
4、ntaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo-nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (vo
5、ir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web
6、de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/searchpub) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en
7、ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications remplaces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.ch/online_news/justpub) est aussi dispo-nible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact a
8、vec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publicat
9、ion numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1
10、2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that th
11、e content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertak
12、en by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/searchpub) enables you to search by a var
13、iety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On-line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (www.iec.ch/onlin
14、e_news/justpub) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel:
15、41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 . NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 62132-5Premire ditionFirst edition2005-10Circuits intgrs Mesure de limmunit lectromagntique, 150 kHz 1 GHz Partie 5: Mthode de la cage de Faraday sur banc de travail Integrated circuits Measurement of electroma
16、gnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz Part 5: Workbench Faraday cage method Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2005 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme
17、 que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission
18、 in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, SwitzerlandTelephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE S Commission Electrotechnique InternationaleInternati
19、onal Electrotechnical Commission 2 62132-5 CEI:2005 SOMMAIRE AVANT-PROPOS 6 1 Domaine dapplication.10 2 Rfrences normatives .10 3 Termes et dfinitions 10 4 Gnralits.12 4.1 Applicabilit.12 4.2 Philosophie de la mesure.12 4.3 Montage dessai de base .14 4.4 Concept du banc de travail 14 5 Conditions de
20、ssai.14 6 Equipement dessai.16 7 Montage dessai16 7.1 Gnralits16 7.2 Blindage et champs ambiants 18 7.3 Montage du banc de travail18 7.4 Connexions la carte dessai 18 7.5 Points en mode commun .20 7.6 Cage de Faraday sur banc de travail Application pratique22 7.7 Carte dessai .24 8 Procdure dessai.2
21、4 8.1 Gnralits24 8.2 Exigences pour lessai de la cage de Faraday sur banc de travail.26 9 Rapport dessai.26 Annexe A (normative) Spcification particulire de la cage de Faraday sur banc de travail (WBFC) 28 Annexe B (informative) Thorie de la mthode sur banc de travail 36 Annexe C (informative) Impda
22、nces en mode commun.38 Annexe D (informative) Niveaux dimmunit RF 40 Bibliographie.44 62132-5 IEC:2005 3 CONTENTS FOREWORD.7 1 Scope.11 2 Normative references11 3 Terms and definitions .11 4 General 13 4.1 Applicability .13 4.2 Measurement philosophy .13 4.3 Basic test set-up15 4.4 Workbench concept
23、15 5 Test conditions .15 6 Test equipment.17 7 Test set-up .17 7.1 General .17 7.2 Shielding and ambient fields 19 7.3 Workbench set-up .19 7.4 Connections to the test board 19 7.5 Common-mode points21 7.6 Workbench Faraday cage Practical implementation.23 7.7 Test board.25 8 Test procedure .25 8.1
24、 General .25 8.2 Requirements for the workbench Faraday cage test .27 9 Test report27 Annex A (normative) Detailed specification of workbench Faraday cage (WBFC) 29 Annex B (informative) Theory of workbench Faraday cage method .37 Annex C (informative) Common-mode impedances.39 Annex D (informative)
25、 RF immunity levels 41 Bibliography45 4 62132-5 CEI:2005 Figure 1 Mthode de mesure de limmunit conduite Montage gnral .14 Figure 2 Montage pour les essais dimmunit RF laide de la mthode de la cage de Faraday sur banc de travail .18 Figure 3 Influence du nombre choisi de points en mode commun20 Figur
26、e 4 Position des points en mode commun .22 Figure A.1 Dessin mcanique de la cage de Faraday sur banc de travail.30 Figure A.2 Dessin mcanique du banc de travail Couvercle .30 Figure A.3 Filtre de traverse passe-bas 32 Figure A.4 Exemple de construction du rseau de 150 32 Figure A.5 Exemple dimpdance
27、 mesure du rseau de 150 32 Figure A.6 Jig dtalonnage mtallique pour les mesures dimpdance en mode commun34 Figure B.1 Modle de constantes localises de cage de la Faraday sur banc de travail .36 Tableau C.1 Valeurs statistiques de rsistances au rayonnement mesures sur des cbles longs38 Tableau C.2 Pa
28、ramtres dimpdance en mode commun des RCD .38 Tableau D.1 Niveaux dessai pour limmunit40 62132-5 IEC:2005 5 Figure 1 Conducted immunity measurement method General set-up 15 Figure 2 Set-up for RF immunity testing using the workbench Faraday cage .19 Figure 3 Influence of selected number of common-mod
29、e points 21 Figure 4 Position of common-mode points 23 Figure A.1 Mechanical drawing of workbench Faraday cage31 Figure A.2 Mechanical drawing of workbench Cover 31 Figure A.3 Low-pass feed-through filter 33 Figure A.4 Example of a construction of the 150 network 33 Figure A.5 Example of the measure
30、d impedance of the 150 network .33 Figure A.6 Metallic calibration jig for common mode impedance measurements 35 Figure B.1 Workbench Faraday cage lumped elements model 37 Table C.1 Statistical values of radiation resistances measured on long cables 39 Table C.2 CDN common-mode impedance parameters.
31、39 Table D.1 Test levels for immunity41 6 62132-5 CEI:2005 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ CIRCUITS INTGRS MESURE DE LIMMUNIT LECTROMAGNTIQUE, 150 kHz 1 GHz Partie 5: Mthode de la cage de Faraday sur banc de travail AVANT-PROPOS 1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est
32、une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet
33、 la CEI entre autres activits publie des Normes internationales, des Spcifications techniques, des Rapports techniques, des Spcifications accessibles au public (PAS) et des Guides (ci-aprs dnomms “Publication(s) de la CEI“). Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Co
34、mit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions f
35、ixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux de la CEI intresss sont reprsents dans chaque com
36、it dtudes. 3) Les Publications de la CEI se prsentent sous la forme de recommandations internationales et sont agres comme telles par les Comits nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI sassure de lexactitude du contenu technique de ses publications; la CEI n
37、e peut pas tre tenue responsable de lventuelle mauvaise utilisation ou interprtation qui en est faite par un quelconque utilisateur final. 4) Dans le but dencourager luniformit internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent, dans toute la mesure possible, appliquer de faon transparente les
38、 Publications de la CEI dans leurs publications nationales et rgionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications nationales ou rgionales correspondantes doivent tre indiques en termes clairs dans ces dernires. 5) La CEI na prvu aucune procdure de marquage valant
39、 indication dapprobation et nengage pas sa responsabilit pour les quipements dclars conformes une de ses Publications. 6) Tous les utilisateurs doivent sassurer quils sont en possession de la dernire dition de cette publication. 7) Aucune responsabilit ne doit tre impute la CEI, ses administrateurs,
40、 employs, auxiliaires ou mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comits dtudes et des Comits nationaux de la CEI, pour tout prjudice caus en cas de dommages corporels et matriels, ou de tout autre dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supp
41、orter les cots (y compris les frais de justice) et les dpenses dcoulant de la publication ou de lutilisation de cette Publication de la CEI ou de toute autre Publication de la CEI, ou au crdit qui lui est accord. 8) Lattention est attire sur les rfrences normatives cites dans cette publication. Luti
42、lisation de publications rfrences est obligatoire pour une application correcte de la prsente publication. 9) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Publication de la CEI peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saura
43、it tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La Norme internationale CEI 62132-5 a t tablie par le sous-comit 47A: Circuits intgrs, du comit dtudes 47 de la CEI: Dispositifs semiconducteurs. Le texte de cette norme est iss
44、u des documents suivants: FDIS Rapport de vote 47A/721/FDIS 47A/728/RVD Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. Cette publication a t rdige selon les Directives ISO/CEI, Partie 2. 62132-5 IEC:2005 7 INTERNATION
45、AL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ INTEGRATED CIRCUITS MEASUREMENT OF ELECTROMAGNETIC IMMUNITY, 150 kHz TO 1 GHz Part 5: Workbench Faraday cage method FOREWORD 1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnica
46、l committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications, Te
47、chnical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, govern
48、mental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. 2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as poss
