1、中华人民共和国国家标准电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AFc：散热和非散热试验样品的低温振动（正弦）综合试验方法Basic environmental temng procedures f。relectric and electronic products Tests Z / AFc, Combined low temperature/vi -bmtion (sinusoidal) tests for bo由heat-dissipating and non -heat一dissipating叩ecimensUDC 621.3620. I GB 2423 .35-86 本标准等同采用国际电工
2、委员会！EC68 2 50 ( 1983第4版试验Z/AFc，散热和非散热试验样品的低温振动（正弦）综合试验。1召言1 1 概述本析J佳适用于散热和非散热试验样品的低温振动（正弦综合试验，基本上是试验Fe，振动（if弦）和试验A，低温的综合。本试验方法只限于试验样品在低温暴露条件下达到温度稳定的情况时用。1. 2振动本试验包括的振动试验基本主是等同于试验Fc，可以采用试验Fe的一个或多个耐久试验程序，但此综合试验中不包括耐久条件试验之后的振动响应检查。1. 3温度试验散热试验样品的温度条件是使试验样品经受与自由空气条件相同方式的热应力。由于在带振动器的试验箱中模拟自由空气条件困难所以本试验通常
3、使用强迫空气循环。试验样品表面最热点作为温度的监测点。在进行试验之前，试验样品在规定的环境温度下经受自由空气条件以确定温度监测点和监测温度。I. 4 与本标准同时使用的标准GB 2421 81 电工电子产品基本坏境试验规程总则GB 2422-81 电工电子内品基本环境试验规程名词术语GB 2423. l 81电工电子产品基本坏境试验规程试验A，低温试验方法GB 2423.10-81 4电工电子产品基本环境试验规程试验Fe，振动正弦）试验方桂GB 2424.1-81 电工电子产曲基本环境试验规程高温低温试验导则GB 2424.22-86 电工电子产品基本环填试验规程温度（低温、高温振动（正弦综合
4、试验导则GB 2423.22-81 电土电子产品基本环境试验规程试验N，温度变化试验方法国家标准局1986OT 3发布1987 08-01实施3l :l GB 2423.35-86 2 目的提供一个标准试验程序以确定散热、非散热元器件、设备或其他产品在低温与振动的综合条件下使用，贮存和运输的适应性。S一侬说明本试验是试验A，低温和试验Fe，振动（正弦）的综合试验。注2试验Ab和Ad要求在条件试验的升温和降握过程中温度变化速率不超过1min( 5 min平均，最大速率lmin不适用于能耐受热冲击的试验样品，即通常能经受试验Aa，并能耐受试验Na和Jlic面度快速变化的试验样品。对于这些试验样品，
5、可以使用能保持试验Aa（温度突变所规定条件的试验箱。试验样品除非已进行过试验A和FeC并记录其试验结果），否则应首先在试验拿温度条件下进行振动试验，而后经受低温试验，直到达到温度稳定。之后，试验样品经受振动和低温的综合试验。用图1和图2表示试验曲线。温度Ia初始检测9条件试轨1 l恢置12段后检测.I I 9.2 I 9.3 试验室温度J / / / / 试验环境）I幅度振动外观检查和性幢幢都l* * 试验持镜时间一一试险样品的者面温度试验精坏填温度 中间检测t见第四章图l非散热试验样品试验曲线图344 GB 2423.35怕温度试验宰温度，、，、 气、 , / / 钊条件试轨9.2.2 9
6、2. :l 11 tk盟I12最后轮浏j5 ；挂挥监测l.!.c朝确定监测温度8制帕枪刷II 9. t 9.3 试验环墙温度/ 一一一撮动试验样品通电外观枪击和性能检测民验冉续时间.;. I h ij验样品毒面温度试验翰环境温度 巾l闻检蝴见第10章图2散热试验样品试验曲线图振动l环境可以是以F一种!IX几种zll. 耐久扫频试验。b. 振动响应检查，以及由振动响应检查产生的那些频率上的耐久试验。c. 预定频率上的耐久试验。4 试验设备4.1 试验箱的要求4. 1.1 4非散热试验样品的试验这类试验箱应满足试验Aa或Ab中给出的要求（见第3在注）。4. 1. 2 散热试验样品的试验温度监测点的
7、选烽和监视1温度的确泣，吁以按照下j莲的a或者b进行。a. 在低温条件下，试验箱能模拟“自由空气条件”的影响，并满足试验A111试验Ad的第28章“试验设备”1j 1给出的要求。b. 试验幸自（或塞）能保护试验样品不受太阳辐照及通风的r扰（见6.1.2) n 这种试验使用的试验箱，通常应有强迫空气循环。应满足试验Ad中的第28章扫试验.1br 11的第18章所给出的要求（第2直在注）。4.2振动系统的要求4.2. 1 安装应满足试验Fe中给出的安装要求。J；试验样品是散热的，振动台台面温度同试挠的坏境温度不相rsJ，所以试验样品和振4J舍之间的安装应共有低的热传导性，最仔是绝热的。沌，IJ11
8、 ！：绝热装自作J1:111意，助中平，和试悦样川的安装动）J宁特忡在所采用的试验频率也ft内没有很大的.Q化J.1 ;, GB 2423 .35-86 4.2.2振LJJ系统振动系统应满足试验Fctjt给出的要求。5严酷等级z;IJ振幅值，顿取范围和持续时间的严酷等级，应从试验Fc所给出的优选数筒中选取，温度应以试验A巾所给出的忧选数值中选取。试验样品达到温度稳定时就开始耐久性试验。6 温度监测点的选择和监测温度的确定（仅适用于散热试验样品）6. 1 兀人L冷却的试验样品6. 1. 1 使用在低温条件下能模拟“自由空气条件”影响的试验箱。6.1.1.1 试验样品应该放进满足4.1.2a规定的
9、试验箱内并通屯。6.1.1.2 然后，试验箱的环境温度调节到相应的试验严酷等级上，并使试验样品达到温度稳定。注g温度也定、环境温度在GB2422 81 ct作了定义。6.1.1.3 应测定暴露于周围空气中的试验样品的最热点，并把它这作温度监测，（有关标准中应尽可能作出规定），记录这点的温度，并作为监测温度。注zl如果试验样品有多种工作方式，可以引起,-t;同的表面温度，监测点和监测温度通常在引起最高温度酌1作状态的情况下来礁定。也l确注：温度监测点费用高。如ti确定具有复杂结构的大型试验样品时，费用就更昂贵，对于这种情况，只能性！Vii推存和人为j，；计，在有关标准4现在。6. 1. 2 使用
10、仅在试验室温度下才能模拟“自由空气条件”影响的试验箱（窒）。如果在低温时不能得到模拟“自由空气条件”影响的试验箱，则可以在试验宅温度F使用F述和序选悴温度监视H,.i，和确定监测温度。6.1.2.1 试验样品应该放i挂满足4.l. 2 h规定的试验箱内，并通电。6.1.2.2 要保证试验样品达到温度稳定。然后确定样品暴露到周围空气中的最热点，并作为温度监测点。测量该点的温度和试验箱（室）的环境温度。6.1.2.3 用GB2423.1 81中附录2的“环境温度校正计算，阁”确定试验的监视u温度。自.2人E冷却的试验样品6.2.1 一般防护措施、术语、见试验Ad的对应条款。6.2.2冷却系统与试验
11、箱分开在温度监测点和1监ij!U温度按6.1. 1确定，在此情况下不能用6.1. 2中的可采用的方法。6. 2.3冷却系统与试验箱不分开温度监测点和监视j温度应按6.2.2确定，所不同的是从试验箱进入试验样品的空气进气点应是温度监测点，而那）. ；监测出的温度应是监测温度。7预处理有关标准可以要求预处理。初始检测有关标准要求时，试验样品应进行日枪以及电气与机械性能检测。 条件试验育关构；准应规定在试验样品的J个轴向戎几个轴向上进行振动。当在整个条件试验过程巾规定在3 .) fi GB 2C23 .35-86 几个轴向上振动时，应在每规定轴向重复整个试验程序。如果试验样品有冷却系统，当试验样品在
12、条件试验期间的任一阶段上加电时，同时要用上玲却系统。如果没有进行试验A和试验Fe，并记录其结果，IJllj应按照9.1和9.2给出的程序。9. 1 在试验2旨在革度下进行振动试驳试验样，S，安装到振动台七，有关标准要求时，则试验样品通电。达到温度稳定以后，试验样品加上规定等级的振动。在关标准要求时，则试验样品进行性能检测。在规定进行耐久扫频试验时，要在规定的频率范围内进行次扫频循环。在规定进行由振动响应检查所得频率上的耐久试验时，应在振动响应检查期间，进行规定频率范围的一次扫颇循环，其品是幅应由振动响应检查所得频率上的耐久试验来规定。注2为了简化低温时的振动响应枪查，则可在试验宰温度FIii!
13、究与扫频试验有关的振动ir.J应。在规定进行预定频率！二的耐久试验时，要在规定振阳的各规定频率t保持以观察，但持续时间要比规定的试验持续时间矩。9.2 无振动的低温试验. 2. 1 非散热试验样品的试验试验箱的温度要调整到规定试验值，持续时间要使试验样品达到温度稳定。. 2. 2 散热试验样品的试验试验样品通电，试验箱的温度升高到使监测点温度达到第6章所确定的监测温度士2c_、内09.2.3如高关标准要求，民I在达到温度稳定后进行性能检测。注2如果试验样J，：有多种工作方式，可引起不同的去面温度，则功能检测应在51也监测点最高温度的的状态1 i进行。9.3温度振动综合试验. 3. I 按9.2
14、试验样品达到温度稳定以后，按规定等级和挎续时闯进11振动，有关标准应规定在本试验期间，试验样品是否通电或工作。.3.2有关标准应规定必须采用试验Fe的哪试验程序。a. 耐久扫频试验b. 由振动响应枪查所产生的频率上的耐久试验，这就要求在耐久条件试验之前，必须进行振动响应检查，在条件试验结束时不要求做振动响应检查，伺可以推荐故此试验。在此情况F，试验样品的有关标准应说明这一点。在耐久条件试验期间，激励频率必须调整J以保证得到最大的响应。c. 预定频率上的耐久试驳注2如果有关标准要求试验样品进行不同I作方式的单行，这地应行公11也不同的表面温度则坏境温度应保打在9.2所叙述的试验部分所达到的等级i
15、。. 3.3 然后停止振动如试验样品在条件试验期间是通电lf乍的，此时应切断电梯。试验样品应保留在试验箱里，温度升高到正常的试验大气条件。此后，试验样品在试验箱内或按有关标准的规定经受恢复程序。10 中间检测见试验Ao11 恢复见试验A12 最后检测披有关l、（佳的安求，对试验样品进fj fl怡和l电气、相L.fl&t啡能粉测。37 GB 2423.35-86 13 失效判据失效判据应由布关标准规定。14有关标准应具有的内容当有关标准采用本试验时，必须给出试验A和试验Fe所要求的以下细节：a. 温度变化速率g突变（试验Aa）或渐变（试验Ab或Ad)见第3章。b. 安装和支撑的细节见4.2.l。
16、c. 严酷等级g温度、振幅、试验持续时间和频率范围或预定频率见第5章。d.顶处理见第7章。e.初始检测见第8章。r.振动的轴向见第9章。自条件试验期间试验样品的状态见99.11 9.3.l, h.性能检测见9.119.3.l。i . 振动试验程序耐久扫频试验，在响应频率上的耐久试验，在预定频率上的耐久试验）见9.3.2。注见9.3.zbPJi允许的选挥j案。j .非标准的恢复见第11章。k. 条件试验期间的检测和负荷见第10章。I .最后检测见第12章。m. 失效判据hl第13章。附加说明：本标准由全国电工电子产品坏境条件与坏境试验标准化技术委员会提出。本标准由“环标委”温度振动（正弦）综合试验E作组起草。34自
