1、ICS 25.040.20 J 50 中华人民不日11: /、量昌国国家标准GB/T 26220-2010 工业自动化系统与集成机床数值控制数控系统通用技术条件Industrial automation systems and integration-Numerical control of machines一General requirements for numerical control systems 2011-01-14发布数码防伪中华人民共和国国家质量监督检验检痊总局中国国家标准化管理委员会2011-05-01实施发布GB/T 26220-2010 目次皿1125558803445
2、55551566667777788889123ti-141i1i1i141i1i。町，臼叮L。，qhqeu9hH。由。白。，uqu9白9UHnL町，叮Lquququ同口项验义检u定与则类则原分规入型运十指验判和验功检验量断试统求求要求试HUUUUUuu质问性系要要求全求要验全查品障靠控求计号求要安要求件试计验试安检产故可数要设信要度和性要条测设试度和性F能本口境扰护靠件验能本境扰护整即功基接环抗保可文试功基环抗保完upuuhhh录录录录文U的的的的的的的的的的的的的的的验的UHHU附附附附用义u先克充充壳充充充统统统统统统查件试验类验验验运性性性性引定求系系系系系系系系法系系系系系系检文性试定
3、分检检检储范范范料u性和要控控控控控控控控方控控控控控控装机靠验规验型厂式与装存输规规规资围范语术数数数数数数数数验数数数数数数包随可才验检定出型装包储运川UUCD言范规术技12345678试123456789四检1234包123录录录录前1234AhAtAh4.AhAhAh4.5旦旦旦旦丘丘丘E山丘丘6队队6.6.7117附附附附I GB/T 26220-2010 目U吕本标准的附录A、附录B、附录C均为规范性附录，附录D为资料性附录。本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由全国自动化系统与集成标准化技术委员会(SAC/TC159)归口。本标准起草单位:北京机床研究所、北京凯恩帝数控技术有限
4、责任公司、广州数控设备有限公司、西门子数控(南京)有限公司、沈阳高精数控技术有限公司、武汉华中数控股份有限公司、国家机床质量监督检验中心等。本标准主要起草人:杨少阳、刘伟、杨洪丽、梁若琼、张建国等。本标准为首次发布。皿GB/T 26220-2010 1 范围工业自动化系统与集成机床数值控制数控系统通用技术条件本标准规定了机床数控系统研发、设计、制造、验收及应用的基本要求，内容包括:技术要求、试验方法、检验规定及包装储运等。本标准适用于各种类型的机床数控系统，包括金属切削机床、锻压机床、木工机床及特种加工机床等的数控系统。其他用途的数控系统亦可参照执行。2 规范性引用文件下列文件中的条款通过本标
5、准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适合于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。GB/T 191 包装储运图示标志(GB/T191-2008 ,IS0 780:1997 , MOD) GB/T 2423.1 2001 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验A.低温(idtIEC 60068 2-1: 1990) GB/T 2423. 2-2001 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验B.高温(idtIEC 60068-2-2:1974)
6、 GB/T 2423.3-2006 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Cab:恒定温热试验(lEC 60068-2-78: 2001 , IDT) GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验Ea和导则:冲击。EC60068-2-27: 1987 ,IDT) GB/T 2423. 8二1995电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验Ed:自由跌落(idt lEC 60068-2-32: 1990) GB/T 2423. 10-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fc:振动(正弦)(lEC 60068-2-6: 1995 , IDT) GB
7、/T 2423.22-2002 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验N:温度变化。EC60068-2-14:1984 ,IDT) GB/T 3167 金属切削机床操作指示形象化符号(neqGB/T 3167-1993 , IS0 7000:1984) GB/T 3168 数字控制机床操作指示形象化符号(neqGB/T 3168-1993 , IS0 2972: 1979) GB/T 4205 2003 人机界面(MMI)操作规则(lEC60447: 1993 , IDT) GB 4208-2008 外壳防护等级(lP代码)(IEC 60529: 2001 , IDT) GB/T 5080
8、. 7-1986 设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均元故障时间的验证试验方案(idtlEC 60605-7: 1978) GB 5226. 1-2002 机械安全机械电气设备第1部分:通用技术条件。EC60204-1: 2000 , IDT) GB/T 8129-1997 工业自动化系统机床数值控制词汇(idtIS0 2806: 1994) GB/T 8870一1988机床数字控制点位、直线运动和轮廓控制系统的数据格式(eqvIS0 6983-1: 1982) 1 GB/T 26220-2010 GB 9969.1 工业产品使用说明书总则GB/T 12668.1-2002 调速电气传
9、动系统第1部分:一般要求低压直流调速电气传动系统额定值的规定(lEC61800-1: 1997 , IDT) GB/T 12668.2二2002调速电气传动系统第2部分:一般要求低压交流变频电气传动系统额定值的规定(lEC61800-2 :1 998 , IDT) GB/T 13384 机电产品包装通用技术条件GB 14050-1993 系统接地的型式及安全技术要求GB/T 14436 工业产品保证文件总则GB 15760-2004 金属切削机床安全防护通用技术条件GB/T 17161-1997机床控制装置的操作方向CeqvISO 447 :1984) GB/T 17626. 2-2006 电
10、磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验(lEC61000-4-2: 2001, IDT) GB/T 17626.3200电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验CIEC61000-4-3: 2002 , IDT) GB/T 17626.4-2008 电磁兼容试验和测量技术电快速瞬变脉冲群抗扰度试验CIEC61000-4-4: 2004 , IDT) GB/T 17626.5-2008 电磁兼容试验和测量技术浪涌(冲击)抗扰度试验CIEC61000-4-5: 2005 , IDT) GB/T 17626. 6-2008 电磁兼容试验和测量技术射频场感应的传导骚扰抗扰度CIEC61000-4
11、-6: 2006 , IDT) GB/T 17626. 8-2006 电磁兼容试验和测量技术工频磁场抗扰度试验ClEC61000-4-8: 2001, IDT) GB/T 17626. 11 -2008 电磁荣容试验和测量技术电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验(lEC61000-4 11: 2004 , IDT) GB 18209. 1-2000 机械安全指示、标志和操作第1部分:关于视觉、昕觉和触觉信号的要求Cidt IEC 61310-1: 1995) GB 18209.2 -2000 机械安全指示、标志和操作第2部分:标志要求CidtIEC 61310-2: 1995) GB/T
12、19660-2005 工业自动化系统与集成机床数值控制坐标系和运动命名CISO841: 2001 ,IDT) JB/T 3208-1999 数控机床穿孔带程序段格式中的准备功能G和辅助功能M的代码JB/T 5058-2006 机械工业产品质量特性重要度分级导则IEC 61000-6-2:2005 电磁兼容第6-2部分:通用标准工业环境抗扰度IEC 61131-2: 2007 程序控制器第2部分:设备要求和试验IEC 61800-3: 2004 可调速电力传动系统第3部分z包括特定试验方法的电磁兼容CEMC)产品标准3 术语和定义GB/T 8129-1997确立的以及下列术语和定义适用于本标准。
13、3. 1 数控系统numerical control system 使用数值数据的控制系统，在运行过程中不断地引入数值数据，从而实现机床加工过程的自动控制。数控系统的基本组成包括数控装置和驱动装置两部分。其中驱动装置又包括完整驱动单元和电机2 GB/T 26220-2010 二部分。3.2 数控装置NC device 数控装置为数控系统的控制部分，一般由微处理器、存储器、位置控制器、输入/输出、显示器、键盘、操作开关等硬件电路和包括相关的控制软件所组成。3.3 3.4 驱动装置driving device 数控系统的驱动装置是由完整的驱动单元加上相应的电机而组成。以上分类见图l数控系统的典型组
14、成与端口/接口的示意图。电柜、机箱与内置型机箱electric cabinet, enclosure and build-in enclosure 电柜和机箱是用来安装数控系统的电路和部件，用以防止外部影响及操作人员触电的壳体。通常机柜体积较大，开有柜门，机箱较小，开有盖。内置型机箱是指安装在电柜或其他机箱内部的机箱。注:对于做成内置型机箱的数控系统的控制装置，其操作面板部分通常为操作人员可以接触到，而其余部分则安装在电柜或其他机箱内部。3.5 端口port 数控系统各装置和单元上，能够提供和接受电磁能量或信号，且这些电磁能量或信号能够被测量到的特定边界(见图1)。3.6 3. 7 3.8 注
15、:端口一般是指数控系统对外部的边界，而接口一般是指数控系统内部各装置或单元的边界。机箱端口enclosure port 数控系统的物理边界，电磁场可以通过这个边界辐射或侵入。电源端口power port 连接数控系统各装置和单元与供电电源的端口。电源端口中通常包含保护接地端口。注:驱动单元连接电机的电源输出端口为电机电源接口。控制与测量信号接口signal interfaces of control and measurement 连接数控系统各装置和单元之间的控制与测量信号的接口。接口之间通过相应的信号线或信号电缆相连接从而完成指定的功能。3.9 计算机信号端口signal ports of
16、 computer 数控系统各装置与计算机之间的信号端口，通常包括RS232/485、USB、键盘、网络等信号端口。3. 10 第一类环境first environment 民用环境，同时还包括那些不经过中间变压器而直接连接到向民用供电的低压供电电网的应用环境。注:第一类环境的示例:居住房屋、公寓、商业区和居住区内的办公楼。3. 11 第二环境second environment 除了直接连接到向民用供电的低压供电电网的应用环境之外的所有环境。注:第二类环境的示例z工业区以及由专用电力变压器供电的用于技术服务区的建筑物。3 GB/T 26220-2010 3. 12 数控装置数控系统机箱端口一
17、_l一一一一L一一| 信号接口数控装置接地端口信号接口L一一一一一一一-一一_j计算机信号端口计算机1 驱动装置(驱动单元十电机电源端口接地端口驱动单元驱动单元-, 电机信号接口l 一一一-一一一一-一一-一一一电机信号接口电机电源接口电机电源接口电源端口接地端口图1数控系统的典型组成与端口/接口的示意图电磁兼容性electromagnetic compatibility EMC 数控系统在其电磁环境中能正常运行且不对该环境中任何事物构成不能承受的电磁骚扰的能力。3. 13 (对骚扰的)抗扰度immunity (to disturbance) 数控系统及其各装置或单元面临电磁骚扰不降低运行性能
18、的能力。3. 14 静电放电electrostatic discharge 具有不同静电电位的物体相互靠近或直接接触引起的电荷转移。3.15 脉冲群electrical fast transient/burst 一串数量有限的清晰脉冲或一个持续时间有限的振荡。3. 16 浪涌(冲击)surge 沿线路或电路传播的瞬态电压波。其特征是电压快速上升后缓慢下降。4 G/T 26220-2010 3. 17 3. 18 3. 19 3.20 3.21 3.22 电压暂降voltage dip 电气系统某一点的电压突然下降，经历几周到数秒的短暂持续期后又恢复正常。辐射骚扰radiated distllr
19、bance 以电磁波的形式通过空间传播能量的电磁骚扰。传导骚扰condllcted distllrbances 通过一个或多个导体传递能量的电磁骚扰。工频磁场骚扰distllrbance of power freqllency magnetic field 由工频磁场所引起的电磁骚扰。可靠性reliability 数控系统在规定的条件下和规定的时间内，实现规定功能特性的能力。平均无故障工作时间mean time between failllres MTF 数控系统元故障工作时间的平均值。4 技术要求4. 1 数控系统的功能要求4. 1. 1 数控系统的功能分类数控系统按其功能用途可以分为金属切
20、削机床、锻压机床、成型加工机床、木工机床、特殊加工机床和专用机械等数控机床用的数控系统。各类数控系统的功能定义应符合GB/T8129-1997的规定。4. 1. 2 坐标轴与运动方向数控系统的坐标轴和运动方向应符合GB/T19660-2005的规定。4. 1. 3 准备功能与辅助功能代码数控系统使用的准备功能G和辅助功能M的代码应符合JB/T3208-1999的规定。4. 1. 4 数据格式数控系统所采用的数据格式应符合GB/T8870-1988的规定。4. 1. 5 数控系统的控制功能各类数控系统所具有的控制功能应能满足所控制的数控机床的使用要求。数控系统一般应具有自动操作、手动操作、程序输
21、入和编辑、自诊断、报警显示、机床回零点、手动数据输入(MDI)、手摇脉冲发生器或单步进给等基本功能。对于性能较高的数控系统，或特种数控系统，还应具有和数控机床要求相适应的更多的功能。对有特殊功能要求的数控系统，可以由供需双方在技术协议合同中规定。各个数控系统生产厂商的各个型号的数控系统的具体功能以及其有关技术指标，应在其产品说明书或使用于册中详细说明。4.2 数控系统的基本设计要求4.2.1 结构与外观数控系统的电柜、机箱及操作面板的结构与布局应合理、美观、协调并符合人类工效学原则，同时应具有使用及维护的方便性。5 GB/T 26220-2010 电柜、机箱以及零部件表面应平整匀称，不应有明显
22、的凹痕、划伤、裂缝或变形，表面涂、镀层不应有气泡、龟裂、脱落或锈蚀等缺陷，其外形及尺寸应符合设计要求。4.2.2 标志数控系统的电柜、机箱、操作面板上的开关、按键、按钮、旋钮、指示灯、保险丝及控制单元(如手摇脉冲发生器)等都应有表示其功能的标志并可以采用形象化标志;电源端口、保护接地端口及信号连接端口/接口等应有表示其作用或相应端子定义的标志;表示数控系统的技术要求或性能也可以使用相应的标志。所有这些标志应牢固、清晰、美观、经久耐用及易于观察，并且不会因为系统安装或连线时被破坏或永久遮盖。所使用的各种标志应符合GB18209. 1-2000、GB18209. 2-2000、GB/T17161-
23、1997、GB/T4205-2003、GB/T3167及GB/T3168等有关标准的规定。外包装上的标志应符合本标准第7章的规定。4.2.3 颜色4.2.3.1 连接导线当用颜色代码作连接导线的标记时可采用黑、棕、红、橙、黄、绿、蓝(包括浅蓝)、紫、灰、白、粉红、青绿等颜色。保护导线的颜色为黄/绿双色线且是绝对专用的。建议使用下列导线颜色代码:黑色:交流和直流动力电路;红色:交流控制电路;一一蓝色:直流控制电路;橙色:由外部电源供电的连锁控制电路。详细要求参见GB5226. 1-2002中14.204.2.3.2 操作控制元件操作控制元件(按键与按钮)的颜色应符合表1的规定，详细要求应符合GB
24、5226. 1-2002中10.2和GB18209. 1-2000中5.2的规定。表1按键与按钮的颜色代码及其含意颜色含义说明应用示例红紧急危险或紧急情况时操作急停紧急功能起动黄异常异常情况时操作干预制止异常情况干预重新起动中断了的自动循环绿正常起动正常情况时操作蓝强制性的要求强制动作的情况下操作复位功能白起动/接通(优先)停止/断开灰未赋予特定含义除急停以外的一般功能的起动(见注)起动/接通停止/断开黑起动/接通停止/断开(优先注:如果使用代码的辅助手段(如形状、位置、标记来识别按钮，则白、灰或黑同一颜色可用于各种不同功能性日白色用于起动/接通和停止/断开。4.2.3.3 指示元件指示元件(
25、指示灯、光标按钮、闪烁灯)的颜色应符合表2的规定，详细要求应符合GB5226. 1-2002中10.3、10.4和GB18209. 1-2000中5.2的规定。GB/T 26220-2010 表2指示灯的颜色及其相对于机械状态的含意颜色含义说明操作者的动作红紧急危险情况立即动作去处理危险情况(如操作急停)黄异常异常情况监视和(或干预(如重建帘耍的功能)紧急临界情况绿正常正常情况任选蓝强制性指示操作者需要动作强制性动作自元确定性质其他情况，可用于红、黄、绿、蓝监视色的应用有疑问时4.2.4 导线与连接连接导线和电缆的选择应符合GB5226. 1-2002中第13章的规定，连接与布线应符合GB52
26、26. 1 2002中第14章的规定。插头与插座组合的形式应使得无论何时，即使在连接器插入或拔出时，能够防止人与带电部分意外接触(保安特低电压电路除外)，从而避免危险隐患。4.2.5 防护4.2.5. 1 防护等级要求数控系统电柜和机箱的防护等级要求如下:电柜和机箱:IP54。内置型机箱:IP54IPOO。注1:对控制装置的内置型机箱，其操作面板部分防护等级要求为IP54，其他部分可以降低2防止人员触电的最低要求为IP20，PELV电路即保安特低电压电路防护等级可以为IPOO。注2:IP防护等级的定义如下:一一IP54:防尘，不能完全防止尘埃进入，但进入的灰尘量不得影响设备的正常运行，不得影响
27、安全;防溅水，向外壳各方向溅水元有害影响。IP20:防止人用手指接近危险部件;防止直径不小于12.5mm的固体异物进入外壳内;元防水。IPOO:无防护。有关防护等级IP代码的组成和含义的详细内容可以参见GB4208-2008中第4章、第5章、第6章。4.2.5.2 防护等级的设计为保证电柜和机箱达到IP54等级要求，其设计原则是保证它的密封性能，这样做不仅防尘并且防潮，对在恶劣条件下运行的数控系统尤为重要。具体方法包括将电柜或机箱的门边框采用密封条或密封圈，其材料应能经受侵蚀性液体、油、雾或气体的化学影响;机箱的所有通孔应密封住，电缆线进口在现场应容易打开等;详细要求应符合GB5226. 1-
28、2002中12.4的规定。电柜和机箱内部散热的解决方法:推荐采用小型工业用空调器或热交换器。一一不推荐采用普通散热结构的设计。一一推荐采用专门散热结构的设计。注1:普通散热结构的设计是指使用风扇散热的一种传统的简单结构设计，由于它会造成电柜或机箱内部与外部之间空气快速交流，容易引起灰尘、冷却液和油雾等在数控系统的电子电路内部快速沉积从而造成可靠性下降。它虽然看起来符合IP54的要求，但由于工业应用现场各种环境污染复杂，即便安装了风扇过滤网，但常因疏于清洗和更换，在使用过程中或者堵塞风道或者过滤网破损从而增加了数控系统故障率。注2:专门散热结构的设计是指将功率型发热元器件集中在散热器上，对散热器
29、及大功率电阻等发热部件采用独立风道进行强迫风冷(如果需要风冷的话)，其他电路及元器件采用无风扇的自然空气冷却的一种结构设计。它可以有效提高数控系统的可靠性。注3:以上推荐的方法同样适用于由数控机床制造厂商设计制造的用以安装内置型数控装置的电柜和机箱。也同样适用于机床数控化改造的电柜和机箱。7 GB/T 26220-2010 4.2.5.3 防护的其他要求如果工作、存放和运输环境有超量污染物(如灰尘、酸类物、腐蚀性气体或盐类物)和辐射时，供方与需方可能有必要达成专门协议。4.2.6 操作与维修性应充分考虑电柜、机箱的操作和维修性，并符合GB5226. 1-2002中12.2的规定。4.2.7 铭
30、牌数控产品应有包括型号、名称、制造厂名、制造日期、额定电压、相数、额定电流或功率等内容在内的铭牌，其文字要清晰，美观、耐久。铭牌的固定或张贴要牢固，易于观察。4.3 数控系统的接口信号要求4.3. 1 模拟接口信号数控系统的各个装置或单元之间的控制信号可以使用模拟接口信号，其要求如下:一二输入信号为:士10V或QV-10V，输入阻抗注10kD; 一一-输出信号为:士10V或(V10 V，负载阻抗二三1kDo 注:模拟输出应能承受直至短路时的任何过载。其他模拟输入输出接口信号也应符合IEC61131-2:2007中5.3的规定4.3.2 数字脉冲接口信号数字脉冲接口信号在数控系统的各个装置或单元
31、之间可以有多种类型:控制用电平接口信号、进给用脉冲接口信号、测量用脉冲反馈接口信号、通讯用接口信号(如RS232/485、USB、键盘接口)等。数控系统的生产厂商应在其产品说明书或使用于册上具体说明。对于脉冲和电平接口信号，还应说明脉冲信号的种类、电平、速率、信号电流等。4.3.3 现场控制总结接口高性能的数控系统往往采用现场控制总线来作为数控系统的装置或单元之间的接口。现场总线种类很多，各个数控系统生产厂商应根据自己使用的技术，在产品说明书或使用手册上说明。4.3.4 其他控制信号数控系统的驱功装置与控制装置之间应具备基本交换信号:一一准备就绪(驱动装置输出); 允许/封锁工作(驱动装置输入
32、); -故障报啻(驱动装置输出)。其他控制信号也应在使用说明书或使用手册中说明。4.4 数控系统的环境要求4.4. 1 数控系统的环境要求标准数控系统的环境要求根据以下标准:GB 5226. 1-2002、GB/T12668. 1-2002、GB/T12668. 2 2002和IEC61131-2 :2007。4.4.2 气候环境适应性要求数控系统应能在表3规定的气候环境条件下正常运行、储存和运输。表3数控系统对温度、相对湿度与大气压强的要求项自运行气候条件储存/运输气候条件环境温度范围(适用于采用电柜和机箱的。C-40.C 数控系统或装置)长期储运:一25.C-55.C环境温度范围(适用于采
33、用内置型机箱的短期储运(35 5/2 数控系统每一个装置的电源引人端口处连接外部保护导线的端子应使用字母标志PE来指明，连接到机械元件或部件的保护接地电路的其他接地端子，则应使用图形符号来表示。 详细要求应符合GB5226. 1-2002中5.2的要求。保护接地连线应保证接地电路的连续性，即任何情况下保证系统的接地部分能够可靠连通，详细要求应符合GB5226. 1- 2002中8.2和8.3的规定。4.6.4 绝缘电阻数控系统在各种工作气候环境下，在连接到外部电源的电路与保护接地电路之间施加500VDC时测得的绝缘电阻应大于1MQ。4.6.5 耐电压强度数控系统的电源输入电路与保护接地电路之间
34、，应能承受30s的耐电压试验，试验的电压为两倍的电源额定电压或1000 VAC/50 Hz，取其中较大者o试验电压应由不小于500VA的变压器供电。试验中应元绝缘击穿或飞弧，其漏电流有效值应不大于5mA。对于不适宜经受该项试验的元件应在试验期间断开。注:数控系统的供电电压50V(AC)或71V(DC) ，其试验电压为500V(DC) ，漏电流不大于10mA(DC) 0 4.6.6 数控系统的安全要求数控系统的安全要求应符合GB15760-2004中5.4.9的规定:一满足预期的操作条件和环境影响;设置访问口令或钥匙开关，防止程序被有意或元意改动;一一有关安全的软件未经授权不允许改变。4. 7
35、数控系统的可靠性要求数控系统的可靠性可以用平均无故障时间(MTBF)来评定，定型生产的数控系统其MTBF定为简易数控系统5000h以上和普及数控系统和高性能数控系统10000h以上二个等级，数控系统生产厂商可以对其不同的产品的要求，在其企业标准中规定。4.8 数控系统的文件要求4.8. 1 技术文件数控系统的制造厂商应向用户提供随行技术文件，内容包括产品规格、安装、连接、操作、编程等在内的使用说明书或使用手册，用户需要时还可提供维修手册。供国内用户使用的数控系统必须提供中文说明书并应采用国务院正式公布、实施的简体汉字。所有这些技术文件应符合GB9969.1的规定。4.8.2 保证文件数控系统的
36、制造厂商应向用户提供产品合格证书和保修单等文件，当用户需要时还应提供质量检验报告。所有这些保证文件应符合GB/T14436规定。GB/T 26220-2010 4.8.3 包装文件数控系统的制造厂商应向用户提供数控系统产品的装箱单，内容包括:二包装箱数量、产品型号、名称、数量;一一随机附件的名称、型号、数量;随行技术文件的名称、数量等。5 试验方法5. 1 数控系统的试验条件数控系统的试验除对专门的项目有专门的要求外，其他试验应符合表12的条件。当确定产品基本性能及技术参数的准确度，或做仲裁试验时，应采用表13的基准大气条件进行。表12一般试验的大气条件项目试验条件环境温度15 C 35 C
37、相对湿度25%75% 大气压强92 kPa106 kPa(海拔高度1000m以下)注:EMC试验的实验室的电磁条件不应给试验结果带来不利影响。表13仲裁试验的大气条件项目试验条件基准温度23 C士1C 相对湿度48%52% 大气压强92 kPa 106 kPa(海拔高度1000m以下)5.2 数控系统的功能测试数控系统的功能测试，应按4.1的要求进行。不同产品应根据其具体的功能测试项目来进行逐条测试。5.3 数控系统的基本设计要求检验5.3. 1 基本设计要求检验采用目测法及其他必要的手段对数控系统各个装置或单元进行基本设计要求检验，内容包括:结构与外观、标志、颜色、导线与连接、防护、操作与维
38、修性、铭牌等。其各项检验条款应符合4.2的规定。5.3.2 电柜和机箱的防护等级试验数控系统的电柜和机箱应进行防护等级试验并应符合4.2.5规定的防护等级要求。防护等级的试验方法应根据GB4208-2008中第12章和第13章。注:内置型数控系统控制装置的机箱，其操作面板为IP54等级要求，而它的其余部分则可能要求低，试验时应根据它的不同部位区别进行。5.4 数控系统的环境试验5.4.1 气候环境适应性试验5.4. 1. 1 一般要求数控系统的气候环境适应性试验方法根据标准GB/T2423. 1 -2001、GB/T2423. 2 -2001、GB/T 2423. 3-2006和GB/T242
39、3. 22一2002等有关电工电子产品环境试验的试验方法系列标准来进行。气候环境适应性试验的一般要求包括:一一试验开始时除标准另有规定，数控系统不应有包装且系统各装置之间应正常相连接且连接有15 GB/T 26220-2010 正常工作时的附件，系统处于准备使用状态;-一对于需通电运行的试验，供电电源电压应为其额定值士10%之内;一一数控系统的气候环境适应性试验均在空载条件下进行并可以将数控系统的电机置于温度控制箱之外;-一一每个试验之前及试验之后应对被测数控系统进行目视检验和运行功能测试，以确定试验对系统的影响，并最终确定被测数控系统是否通过试验。5.4. 1. 2 运行温度下限试验试验目的
40、:通过试验确定数控系统对下限运行温度的适应性。试验方法:根据GB/T2423. 1-2001试验Ad。试验温度:o.C士2C。试验箱内的湿度:绝对湿度不超过20g/m3水汽(相当于35.C时50%的相对湿度)。当试验温度低于35.C时，相对湿度不应超过50%。试验持续时间:(16士l)h，从温度箱内温度达到稳定后对试验样品通电开始计算。注:对于仅仅为了解数控系统在下限运行温度时能否正常工作，使温度箱温度降到下限运行温度且稳定后通电确定即可。试验用温度箱:对于有强迫空气循环的温度箱，循环风速度应尽可能低(若可能不要大于0.5m/s); 对于元强迫空气循环的温度箱，则其容积与数控系统体积比大于5:
41、 1。详细应符合GB/T2423. 1 2001第25章的规定。试验步骤za) 将数控系统在室温下放入同处于室温的温度箱内并处于准备通电状态。b) 将温度箱温度逐步降至o.C士2.C。注意箱内温度变化率不超过1.C/min(不超过5min的平均值)并没有凝露产生。c) 当箱内温度达到稳定后(至少30min) ，数控系统开始连续(16士1)h的通电运行检查程序且应运行正常。d) 运行时间满后将数控系统断电，将温度箱内温度逐步升至室温，箱内温度变化率不超过1.C/min(不超过5min时间的平均值)。e) 温度箱内温度的恢复要有足够长的时间(1h以上)，期间对可能产生的冷凝水应通过通风除湿等处理。
42、当温度稳定后，对数控系统目测和通电运行并进行功能测试以确定系统应运行正常。f) 单独进行的运行温度下限试验后应紧接着做5.6.5的耐电压强度试验。5.4. 1. 3 运行温度上限试验试验目的=通过试验确定数控系统对上限运行温度的适应性。试验方法:根据GB/T2423. 2-2001试验Bd。试验温度:一一电柜和机箱:40.C土2.C; 一一内置型机箱:55.C士2.C。注1:采用内置型机箱并且机箱内包含LCD、磁盘驱动器等温度敏感器件的数控系统或装置，试验温度为(45.C 55.C)土2.C。具体数值应根据生产厂商的产品说明书和使用手册的给定值来确定。注2:若数控系统的控制装置和驱动装置上限运
43、行温度不一致，该项试验应对各个装置分别进行。即将控制装置置于温度箱内时应将驱动装置置于温度箱外或相反。试验箱内的湿度:绝对湿度不超过20g/旷水汽(相当于35.C时50%的相对湿度)。当试验温度低于35.C时，相对湿度不应超过50%。试验持续时间:(16士l)h。从温度箱内温度达到稳定后对试验样品通电开始计算。试验用温度箱z对于有强迫空气循环的温度箱，循环风速度应尽可能低(若可能不要大于0.5m/s);对16 s GB/T 26220-2010 于元强迫空气循环的温度箱，应符合GB/T2423. 2-2001中36.1.2的规定。试验步骤:a) 将数控系统在室温下放入同处于室温的温度箱内并处于
44、准备通电状态。b) 将温度箱温度逐步升至试验温度。c) 当温度箱内温度达到稳定后(至少30min).数控系统开始连续(16士1)h的通电运行检查程序且应运行正常。d) 运行时间满后将数控系统断电，将温度箱内温度逐步降至室温，箱内温度变化率不超过1.C/ min(不超过5min时间的平均值)。e) 温度箱内温度的恢复要有足够长的时间(1h以上).期间对可能产生的冷凝水应通过通风除湿等处理。当温度稳定后，对数控系统目测和通电运行并进行功能测试以确定系统应运行正常。f) 单独进行的运行温度上限试验后应紧接着做5.6.5的耐电压强度试验。5.4. 1. 4 运行温度变化试验试验目的:通过试验确定数控系
45、统在环境温度变化期间运行的适应性。试验方法:根据GB/T2423. 22一-2002试验Nbo试验温度:低温为5.C士2.C.高温为运行温度的上限温度士2.C。注2数控装置与驱动装置的运行上限温度不一致时以小者为准。试验循环次数:2. 试验箱内的湿度:绝对湿度不超过20g/m3水汽。试验用温度箱:温度箱应能保持试验所要求的低温和高温，并能按试验要求的温度变化率进行。箱内空气应能充分流通，被测样品周围的空气流速不小于2m/s.详细要求应符合GB/T2423. 22一2002中2.3的规定。试验步骤:a) 将数控系统在室温下放入同处于室温的温度箱内，通电使数控系统运行检查程序并保持到试验结束。b)
46、 将温度箱温度逐步降至5.C士2.C.注意箱内温度变化率不超过1.C/min.c) 保持低温3h士1%.然后将温度箱温度逐步升至高温，注意箱内温度变化率不超过1.C/min. d) 保持高温3h士1%。然后将试验箱温度逐步降至室温，注意箱内温度变化率不超过1.C/min。到此第一循环结束。巳)进行试验的第二个循环，即重复步骤b)d)。f) 最后对数控系统目测和进行功能测试以确定系统应工作正常。5.4. 1. 5 储运温度下限试验试验目的:通过试验确定数控系统在低温下的存储和运输的适应性。试验方法:根据GB/T2423. 1-2001试验Abo试验温度:-40 .C土3.C。注:对带有温度敏感器
47、件如带有LCD显示器或磁盘驱动器的控制装置，试验温度为一20.C土2.C。应根据生产厂商的产品说明书和使用手册的给定值来确定。试验持续时间:(16士。h。以试验箱内温度达到稳定后开始计算。试验用温度箱:可以采用有强迫空气循环的温度箱以保持温度均匀。试验步骤:a) 将数控系统在室温下放入同处于室温的温度箱内且不通电。b) 将温度箱温度逐步降至下限试验温度，注意箱内温度变化率不超过1.C/min(不超过5min时间的平均值)。c) 当温度箱内温度达到稳定后(至少30min).将数控系统存放(16士1)h. 17 G/T 26220-2010 d) 而后将温度箱温度逐步升至室温，温度箱内温度变化率不
48、超过1.C/min(不超过5min时间的平均值)。温度箱内温度的恢复要有足够长的时间(1h以上)，当温度稳定后，应检查并去除任何冷凝水(如果有的话)之后再对数控系统目测和通电运行并进行功能测试以确定系统应工作正常。5.4. 1. 6 储运温度上限试验试验目的:通过试验确定数控系统在高温下的存储和运输的适应性。试验方法:根据GB/T2423. 2-2001试验Bb.试验温度:70.C士2.C。注:对带有温度敏感器件如带有LCD显示器或磁盘驱动器的控制装置，其试验温度上限为55.C士2C。应根据生产厂商的产品说明书和使用手册的给定值来确定。试验持续时间:(16士1)h。从试验样品的温度达到稳定后开
49、始计算。试验箱内的湿度:绝对湿度不超过20g/旷水汽(相当于35.C时50%的相对湿度)。当试验温度低于35.C时，相对湿度不应超过50%。试验用温度箱:可以采用有强迫空气循环的温度箱以保持温度均匀。试验步骤:a) 将数控系统在室温下放入同处于室温的温度箱内且不通电。b) 将温度箱温度逐步升至试验的上限温度，注意箱内温度变化率不超过1.C/min (不超过5min时间的平均值)。c) 当箱内温度达到稳定后(至少30min) ，将被测系统存放(16士1)ho d) 而后将温度箱内温度逐步降至室温，箱内温度变化率不超过1.C/min (不超过5min时间的平均值)。温度箱内温度的恢复要有足够长的时间(1h以上)，当
