YD T 1766-2008 光通信用光收发合一模块的可靠性实验失效判据.pdf

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资源描述

1、ICS 33180 99M 33 Y口中华人民共和国通信行业标准YD厂r 1 766-2008光通信用光收发合一模块的可靠性实验失效判据Failure Criteria of Reliability Tests forOptical TransceiverTransponder Used in Optical Communications2008-07-01实施中华人民共和国信息产业部发布目 次前言IIl 范围l2规范性引用文件l3术语和定义”-l4符号和缩略语35可靠性实验分类36可靠性实验条件361机械完整性实验、耐久性实验、物理特性实验实验条件362电磁兼容实验条件37可靠性实验方法67

2、1机械完整性实验、耐久性实验、物理特性实验实验方法672电磁兼容实验方法68可靠性实验失效判据681机械完整性实验、耐久性实验和物理特性实验失效判据682电磁兼容实验失效判据6YD厂r 1766-2008刚 罱本标准是在部分参照M几STD883G:2006微电子器件实验方法标准和Telcordia的GR-468-CORE:2004用于通信设备中的光电子器件的一般可靠性保证要求的基础上,并结合我国具体情况制定的。本标准在制定过程中注意了与以下行业标准的协调与统一:1YDT 9861998 155Mbits和622Mbiffs光收发合一模块技术条件;2YDT 1294-2003 ATM无源光网络(

3、A-PON)光收发模块技术要求155Mbi以突发式收发模块;3YDT 13211-2004具有复用去复用功能的光收发台一模块技术条件第l部分:25Gbits光收发合一模块:4YDr 13212-2004具有复用,去复用功能的光收发合一模块技术条件第2部分:10Gbiffs光收发合一模块:5。YDT 1351-2005 粗波分用光收发合一模块技术要裳和测试方法I6YDT 1352-2005 千兆比以太网用光收发合一模块技术要求和测试方法。本标准由中国通信标准化协会提出并归口。本标准起草单位:信息产业部电信研究院、武汉邮电科学研究院、深圳新飞通光电子技术有限公司本标准主要起草人:赵文玉、李伟、赵先

4、明、时伟、李春芳IIYD丌1766-2008光通信用光收发合一模块的可靠性实验失效判据1范围本标准规定了光通信用光收发合一模块可靠性实验的分类、实验条件、实验方法和失效判据等。本标准适用于155Mbits、622Mbits、125Gbiffs、25Gbits和10Gbits等不同速率的光通信用光收发合一模块(包括波长可调光收发合一模块),其他速率的光收发合一模块可参照执行。注:这里描述的信号速率只是简化说法,155Mbiffs、622Mbits、125Gbits、25Gb叫s和10Gbits准确速率应该是15552Mbits、62208Mbits、125Gbits、2 48832Gbits和9

5、95328Gbits。另外,25Gbits速率包含支持具有前向纠错(FEC)功能的267Gbits速率,10Gbits包含支持具有FEC功能的1070923125Gbi以速率。2规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用丁本标准。然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。GBT 9254-2001 信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法GB,r 1762631998YD厂r 9861998YD,r 12942003YD,r

6、 13211-2004YD,r 13212-2004YD厂r 13512005YD,r 1352-2005M几STD883G(2006)Telcordia GR468COl也(2004)3术语和定义电磁兼容实验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度实验155Mbits和622Mbits光收发合一模块技术条件ATM无源光网络(AI ON)光收发模块技术要求155Mbi以突发式收发模块具有复用去复用功能的光收发合一模块技术条件第1部分t25Gbits光收发合一模块具有复用去复用功能的光收发合一模块技术条件第2部分:10Gbits光收发合一模块粗波分用光收发合一模块技术要求和测试方法千兆比以太网用光收发合一

7、模块技术要求和测试方法微电子器件实验方法标准用于通信设备中的光电子器件的一般可靠性保证要求下列术语和定义适用于本标准。31光收发合一模块Optical TransceiverTransponder一种光发射和光接收合为一体的光模块。根据是否支持复用,去复用功能,光收发合一模块可分为两类,即不具有复用去复用功能的光收发合一模块(仃ansceiver)和具有复用去复用功能的光收发合一模块(订ansponder)。YD厂r 1 76620083_2平均发射光功率Mean Output Optical Power在发射侧参考点所测得的光模块发射端耦合进光纤的伪随机序列光信号的平均功率。33光接收灵敏度

8、Optical Receiver Sensitivity在不同的调制速率下,满足比特差错率为一定值时,光模块接收部分所能接收到的最小平均光功率。34过载光功率Overload Olotical Power在不同的调制速率下,满足比特差错率为一定值时,光模块接收部分所能接收到的最大平均光功率。35色度色散容限Chromatic Dispersion Tolerance在不同的调制速率下,光模块接收部分所能容忍光通道的最大色度色散值。36输入抖动容限Input Jitter Tolerance光模块接收部分在不同抖动频率下能够容忍的最大输入抖动。37比特速率偏移容限(输入频偏)BitRateTol

9、eranceOffset(FrequencyOffset)光模块接收部分实现正常工作时能够容忍输入信号的最大和最小比特速率。38392中心波长Centml Wavelength对于单纵模(SLM)激光器,中心波长丸为:卜盟竽式中:,(五)已调制光谱的功率谱密度,单位mWnm五已调制光谱的波长,单位为nm;尸_一己调制光谱的总功率,单位为mW,其中P=芷,(X脚,。对于多纵模(MLM)激光器,中心波长以为:三n九。=生L ,式中:|口r一已调制光谱第i个纵模的功率,单位为mw;允已调制光谱第i个纵模的波长,单位为姗;一同式(1)。标称中心频率(波长)Nominal Central Frequen

10、cy(Wavelength)(2)以频率19310THz(真空波长155252nm)为参考频率(波长)隔分配的频率(波长)。4符号和缩略语下列符号和缩略语适用于本标准。ATM Asynchronous Transfer ModeCO Central OfficeCWDM CoarseWavelength Divison MultiplexingDWDM Dense Wavelength Divison MultiplexingESD Electrostatic DischargeFI犯 Forward Error CorrecfionL1PD Lot Tolerance Percent Def

11、ectiveMLM MultiLongitude ModeSLM Single Longitude ModeSS Sample SizeTEC Thermo Electric CoolerUNC UncontrolledYD厂r 1766-2008在波分复用系统中按照一定频率间异步转移模式中心局环境粗波分复用密集波分复用静电释放前向纠错批允许不合格品率多纵模单纵模样品数热电制冷器非受控环境5可靠性实验分类光通信用光收发合一模块的可靠性实验项目分为机械完整性实验、耐久性实验、物理特性实验和电磁兼容实验等4类。机械完整性实验包括机械冲击(模块非工作状态)、变频振动、光纤完整性(模块非工作状态)和插

12、拔耐久性(模块非工作状态);耐久性实验包括恒定湿热、高温工作(模块工作状态)、高温存储(模块非工作状态)、温度循环、低温存储(模块非工作状态)和耐湿(模块工作状态)l物理特性实验包括静电释放(ESD)阈值;电磁兼容实验包括射频电磁场辐射抗扰度和射频电磁场辐射发射。注:物理特性实验在目前已制定的标准中称为特殊实验。6可靠性实验条件61 机械完整-陛实验、耐久性实验、物理特性实验实验条件机械完整性实验、耐久性实验、物理特性实验的实验条件见表1。62电磁兼容实验条件射频电磁场辐射抗扰度的实验条件见GBT 1762631998第7节(实验等级2)。射频电磁场辐射发射实验条件见GB厂r92542001第

13、8节(B级信息技术设备)。YD厂r 17662008表1实验条件实验实验项目 依据标准 实验条件抽扫 E方案类别 r ss C1)冲击脉冲峰值3009,脉冲持续时间MIL-STD一883G- 3 0ms蜀、Yl、12、zI和历共6轴向20024:Telcordia 冲击各次数5次;机械冲击 20 1l 0GR-468CORE 2)冲击脉冲峰值509,脉冲持续时间3311 110ms,xl、局、yI、r2、zl和忍共6轴向冲击各次数5次6MIL-STD883G 条件A(峰值加速度209),频率202000模 变频振动 20Hz;振动频率循环周期大于4min,在x、 20 1l 0块20073Y、

14、z三个方向各进行循环4次非Telcordia机 工 光纤GR468CORE 025kg05kgc;900,距离模块2228cm 20 11械作光侧拉3313完 状纤 Telcordia整 态完光纤 oskg:0kg。;900;距离模块3cm;旷90性 扭转GR468CoRE 20 11 O0。,10个循环整3313性 Telcordia光纤 05kgt0kg。;距离光纤未扣牢端至少GR468一CORE 20 11保持力 lOcm,加载速率为400”mst保持lmin3313Tekordia插拔耐久性 GR468CORE 200次 20 11 03314模块 Telcordia 峰值加速度59,

15、频率IOHzIOOHz-IOHz;工作 变频振动。 GR-468CoRE 振动频率循环周期大于Imin,在X、y、z3 20 11 0状态 3311 个方向各进行循环10次Telcordia恒定湿热 GR468CORE +85,85RH。500h 20 1l 03323模Telcordia块高温存储 GR468CORB +852吣 20 11 0耐 非3321久 工性 作 Telcordia 温循范围-40一+85,循环周期大于100状温度循环 GR468-C0髓 次,500次要求温度变化率10Clmin, 20 11 O3322 高低温保持时间10rain态Telcordia低温存储g GR

16、468CORE 40,72h 20 11 033214表1(续)实验实验项目 依据标准 实验条件 抽样方案类别 UPD SS Crelcordia恒定湿热“ GR468一CORE +85,85RH1000h 20 11 03 3 23Telcordia模高温工作 GR468CORE +70,+851,2000h 20 11 03 331耐块久工 relcordia温循范围-40C-+85C,(测试具各TEC的模块TEC功能需打开)循环周期大于100作 温度循环j GR468CORE 20 11 0性 次500次,要求温度变化率P10Cmin,高状 3322 低温保持时间10min态Telcor

17、diaGR-468一CORE耐湿 3332: 循环次数为20。 20 ll 0MILSTD883G10047第0类;O225kg且10kg的模块;c该测试项条件ab中a适用于紧包缓冲层光纤,b适用于松包缓冲层光纤和加强性光纤;d该测试项条件ab中,a适用于紧包缓冲层光纤和松包缓冲层光纤,b适用于加强性光纤;e该测试项为可选项f测试条件中100次适用于工作环境为CO的应用,500次适用于工作环境为UNC的应用;g该测试项为可选项;h该测试项为可选项仅适用于非密封模块;i测试条件中+70适用于工作环境为CO的应用,+85C适用于工作环境为UNC的应用;J该测试项为可选项;k该测试项适用于模块工作环

18、境为UNC的应用,当在设备内部模块的工作温度变化速率量级在1小时或几小时时,测试的循环次数可减小为10次,但最后的低温子循环不能减少5YDI170620087可靠性实验方法71 机械完整性实验、耐久性实验、物理特性实验实验方法机械完整性实验的实验方法分别见M-STD-883G的实验方法20024、20073以及TclcordiaGR468CORE(2004)的331节。耐久性实验的实验方法分别见Telcordia GR-468-CORE(2004)的32节、33节以及MILSTD-883G的实验方法10047。物理特性实验的实验方法见MIL-STD一883G的实验方法30157。72电磁兼容实

19、验方法射频电磁场辐射抗扰度的实验方法见GBT 1762631998第8节(实验等级2)。射频电磁场辐射发射实验方法见GBT 9254-2001第9节(B级信息技术设备)。8可靠性实验失效判据81 机械完整性实验、耐久性实验和物理特性实验失效判据机械完整性实验、耐久性实验和物理特性实验的各项实验分别完成以后,在相同测试条件下,出现以下任何一种情况,则判定该模块失效:1)光模块不能正常工作,或者光模块封装外壳出现裂纹、标签丢失无法恢复等显著损伤;2)光接口的接口指标不满足相应技术要求,具体技术要求见YDT986-1998(155Mbits和622MNts)、YD,r 12942003(ATM无源光

20、网络,155Mbits)、YDT 13211-2004(25Gbits)、YD,r 132122004(10Gbits)、YDT 13512005(CWDM)以及YDT 13522005(千兆以太网)等;3)发送光接口输出功率的变化大于ldB(仅适用于155Mbits和622Mbits)或者3dB(仅适用于125Gbiffs、25Gbits和10Gbits),或者接收光接口接收灵敏度的变化大于ldB(仅适用于155Mbits)或2dB(适用于6221vIbits、】25Gbits、25Gbits和10Gbits速率);4)发送光接口输出中心波长与标称中心波长的差值绝对值小于008nm(仅适用于通路间隔为100GHzDWDM系统的光收发合模块)或004rim(仅适用于仅适用于通路间隔为50GHzDWDM系统的光收发合一模块):5)波长可调光收发合一模块的波长(频率)调整时间的变化值待定:6)模块制造商或设备制造商制定的光通信用收发合一模块可靠性实验其他失效判据。82电磁兼容实验失效判据在进行电磁兼容实验时,在相同的测试条件下,出现以下任何一种情况,则判定该模块的电磁兼容实验不合格:1)射频电磁场辐射抗扰度实验的电磁干扰作用的测试过程中,模块的比特误码个数发生变化;2)射频电磁场辐射发射实验的接个过程中,模块辐射强度大于B级信息技术设备的要求。6

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