1、1 范围中华人民共和国国家标准纤维光学第一部分:调制器总规范Fibre optic modulators Part1 :Generic specirication (可供认证用)第-篇总则本标准适用于各种类型的纤维光学调制器。GB/T 1 371 2 - 9 2 本标准规定了纤维光学调制器质量评定程序以及鉴定批准的分规范和详细规范中所用的标准光学、机械和环境试验及测量方法。本标准是纤维光学调制器生产、检验和使用的依据。 2 目的制定本标准的目的在于对下列各项内容规定统一的要求za. 光学、环境和机械性能，b. 试验方法; 纤维光学调制器的分类和分级sd. 安全事宜。3 规范体系本规范采用四层结
2、构.总规范与所属各项规范的关系在附录A中给出。4 有关文件GB 4728 电气图用图形符号GB 4210 电子设备用机电元件名词术语GB 44574460 机械制图GB 18001804 公差与配合GB 3100 国际单位制及其应用GB 2421 电工电子产品基本环坡试验规程总则GB 2422 电工电子产品基本环境试验规程名词术语GB 2423. 1 电工电子产品基本环境试验规程试验A:低温试验方法GB 2423.2 电工电子产品基本环境试验规程试验B:高温试验方法GB 2423. 3 电工电子产品基本环境试验规程试验Ca:恒定湿热试验方法国东技术监督局1992-10-04批准1993-06-
3、01实施117 GB/T 13712 92 GB 2423.4 电工电子产品基本环境试验规程试验Db:交变湿热试验方法GB 2423. 5 电工电子产品基本环竣试验规程试验Ea:冲击试验方法GB 2423. 6 电工电子产品基本环挠试验规程试验Eb:碰撞试验方法GB 2423. 1Q 电工电子产品基本环境试验规程试验Fc:振动(正弦)试验GB 2423.15 电工电子产品基本环境试验规程试验Ga:恒加速度试验方法GB 2423. 16 电工电子产品基本环境试验规程试验J:长霉试验方法GB 2423. 17 电工电子产品基本环绕试验规程试验Ka:盐雾试验方法GB 2423. 19 电工电子产品基
4、本环境试验规程试验Kc:接触点和连接件的二氧化硫试验方法GB 2423.21 电工电子产品基本环境试验规程试验M:低气压试验方法GB 2423. 22 电工电子产品基本环境试验规程试验N:温度变化试验方法GB 2423. 23 电工电子产品基本环镜试验规程试验Q:密封GB 2423. p 电工电子产品基本环境试验规程试验Z!AMD:低温/低气压/湿热连续综合试验方法GB 2423.24 电工电子产品基本环镜试验规程试验Sa:模拟地面上的太阳辐射试验方法GB 2424. 14 电工电子产品基本环境试验规程太阳辐射试验导则GB 295 1. 19 电线电缆燃烧试验方法IEC 68-2-38 电工电
5、子产晶基本环挠试验规程试验Z/AD第二部分z温度/湿度组合循环试验IEC 695-2-2 易燃性试验第二部分z试验方法一一针焰试验IECQ/QC 001001 IEC电子元器件质量评定体制E)基本章程IECQ/QC 001002 IEC电子元器件质量评定体系IECQ)程序规则IEC 102 电子元器件质量评定的规范结构IEC 410 计数检查抽样方案程序5 参照文件IEC 876-1纤维光学开关第I部分:总规范IEC 874-1 光纤光缆连接器第1部分z总规范IEC 794-1光缆第1部分g总规范6 术语、单位和符号、尺寸6.1 术语本标准涉及的名词术语除下列补充外均应符合有关标准规定。6.
6、1. 1 纤维光学调制器fibre optic modulators 指能根据要求在光源一侧把某些信息荷载在光信号上的纤维光学器件，简称光调制器。6. 1.2 型式type 指专用以完成分规范所规定的某种特定光信号调制功能的纤维光学调制器类别a6.1.3 品种style 指按照详细规范规定的某种给定型式中的一种特有式样、形状或工作原理。6 1. 4 规格variant 指按照详细规范中规定的某一品种在特定细节上(例如端口连接)的差别。6. 1. 5 初始制造阶段primary stage of manufacture 初始制造阶段是指这样一种制造阶段，在该制造阶段结束时，如果对实施的制造过程没
7、有确切的了解而只靠检验，则不能作经济地评定元器件半成品的质量。6.1.6 结构类似的元器件structurally similar components GB!T 13712-92 结构类似的元器件是指由于同一制造厂商采用本质相同的设计、材料、工艺和方法制造的元器件，因而对这些元器件中的一个型号进行试验的结果对该组中其他型号也有效，但是这些元器件又是能够区分的。6.2 单位和符号有可能，单位和图形符号应分别符合GB3100和GB4728中的规定。6.3 尺寸6.3.1 在分规范和详细规范中的细节分规范应提供工作原理、端口型式(尾纤、连接器或两者的结合)以及调制信号输入方式等方面的细节。分规范还
8、应提供尺寸、体积以及预定用途等。详细规范应提供最大尺寸及插入损耗、调帘j带宽、功率/带宽品质因数等工作参数的容许偏差及安装方面的尺寸数据。6. 3. 2 在分规范和详细规范中的尺寸单位。应以毫米为单位标注尺寸和公差。7 纤维光学调制嚣的分类下列的特性旨在有助于分规范或详细规范对光调制器的全面阐述或分类。光i周制器技术的发展可能会增加或取消分类中的若干项目。在分规范中阐述的光调制器典型系列参见附录队7.1 光学性能a. 工作波长;b. 调制带宽$C. 功率/带宽品质因数;d. 半波电压ge. 调制深度gf. 插入损耗gg. 回波损耗gh. 对环境光搞合的敏感性;i 调制电信号;j. 模式分布;k
9、. 光学性能的稳定性;l 对波长的敏感性;m. 对偏振的敏感性。7.2 机械结构7.2.1 外壳a. 端口型式(尾纤、连接器或两者的结合hb. 材料和表面处理$ 尺寸;d. 光纤或连接器的固定方法pt 端口在外壳立的方向;f. 密封pg. 安装方法gh. 驱动接口。119 7.2.2 内部设计a 工作原理3b. 驱动方式。7.3 气候类别气候类别用下列格式表示:40/ GB/T 1 371 2 - 9 2 70/ 下限类别温度CC)上限类别温度CC)恒定湿热持续时间(d)7.4 评定水平应对经质量评定的全部光调制器在分规范中指定-个字母标志，以表示己满足为鉴定通过所作的实验及所要求的严酷度。7
10、.5 额定值和特性在有关分规范中应对每种型式的光调制器最低的可被接受的额定值和特性加以规定。在有关详细规范中应说明适用于每个品种和规格的光调制器的额定值和特性。8标志8.1 器件标志当留出的空位允许时，在每个光调制器上均应有清晰而且耐久的标志。标志的顺序如下2a. 光调制器识别号$b. 制造厂商识别标志; 制造日期标志(年月)。8.2 密封包装的标志每个密封包装上都应标有下列内容za. 型号命名gb. 表示评定水平的字母代号$ 分规范和(或详细规范要求的任何附加标志。9型号命名在考虑中。10 安全事宜在考虑中。11 订货资料对符合本规范的产品，在采购合同中应列入下列订货资料za. 详细规范号，
11、b. 评定水平字母代号3c. 如在详细规范中列有不止一种表面处理时，要列出主体部分的表面处理$d. 任何附加的资料或特殊要求。12 在分规范和详细规范中的图给出这些图的主要目的是为了保证机械的互换性。这些图对那些不影响互换性的结构细节不加以ZO , GB/T 1 371 2 - 92 限制，也不作为制造图纸使用。设备的设计人员应掌握图中阐明尺寸的极限，而不是具体试样的尺寸。第二篇质量评定程序13 鉴定批准/质量评定体系当上述文件作为个完整的质量评定体系使用时，鉴定批准和质量一致性检验应遵循本规范第16和17章的程序。当这些文件用于不属于上述质量评定体系范围时，鉴定批准和质量一致性检验应遵守第1
12、6.1条和第16.2条b项的程序和要求。但是，各项试验和试验的各部分应按照试验一览表中给出的顺序进行。14 初始制造阶段对于光调制器规范来说，初始制造阶段应在分规范中规定。15 结构类似元器件对于鉴定批准和质量一致性检验用的，结构类似元器件的划分应在分规范中规定。16 鉴定批准程序16.1 概述制造厂应遵守一一管理鉴定批准的程序规则的一般要求;-一本标准第14章中规定的初始制造阶段的要求。16.2 除第16.1条的要求外，还应采用下述的程序a或b。8. 制造厂应在尽可能短的时间内进行三个批次的逐批检验以及一个批次的周期检验，以证明符合规范的要求。在抽样检验批的周期期间内，制造工艺应无重大改变。
13、祥品应按IEC410(见附录。规定从批中抽取。授予鉴定批准的光调制器性能范围按分规范的抽样程序抽取的样本来决定。应使用正常检查。但当样本大小按零个失效接收时，应抽取附加样品以满足按一个失效接收所需要的样本大小。b. 制造厂应按分规范给出的固定样品数试验一览表进行试验，以证明符合规范要求。构成样本的样品应从现行生产的产品中随机抽取或按与国家监督检查机构协商抽驭。对于这两种程序而言，样本大小和允许失效数应接近一致，试验条件和要求应相同。16.3 作为质量评定体系的一部分，所获得的鉴定批准应该通过符合质量致性(见第17章)要求的正规试验来维持。否则鉴定批准必须用IEC电子元器件质量评定体系IECQ)
14、的程序规则中规定的维持规则(见IECQC 001002第11.5. 2条和11.5. 3条)中所给出的鉴定批准的维持规则来检验。17 质量一致性检验与某个分规范有关的空自详细规范应规定质量一致性检验的试验一览表。一览表还应规定逐批和周期检验的组别划分、抽样和周期。检查水平(!L)和合格质量水平(AQL)应从IEC410中选取。如果需要可规定一个以上的一览表。17.1 放行批证明记录经过有关规范规定和购买方索要的放行批证明记录最低限度应给出下列内容z1 ?1 GB/T 13712 92 a. 周期检验各分组试验的计数数据即受试元器件数和失效元器件数)，但其中不涉及拒收的参数;b. 1 000 h
15、耐久性试验以后光学特性变化的变量数据。17.1.1 计数数据当有关详细规范要求记录计数数据时，应采用下列程序，当某个分组是由一项试验组成时，拒收的光调制器总数与出现失效的项目应该起记录F来，而不管造成拒收的参数。一二当某个试验分组由若干项试验组成时，有关详细规范应说明，是逐项记录试验结果还是把若干项试验作为一组来记录其试验结果。就本规范而言，气候顺序应该作为一个单项试验来看待。17.2 延期交货通过检验的批，保存周期超过二年的(除非分规范中另有规定)，在交货之前应按详细规范中A组和B组检验的规定进行重新检验。制造方的总检验长所采取的重新检验的程序应由国家监督检查机构认可e一旦某一批通过了重新检
16、验，其质量按规定的周期就再次得到确认。17. 3 B组试验完成前发货的放行当B组试验满足IEC410转为放宽检查的条件时，允许制造方在该检验完成前放行。18 替代的试验方法总规范中规定的试验方法并不是必须采用的唯一方法。但是，制造方应能使国家监督检验机构确信他可能采用的任何代替方法所得出的结果和用规定的方法获得的结果等效。有争议时，只应使用规定的方法进行判定和仲裁。19 不检验参数只有详细规范中有规定而且必须经过试验的那些光调制器参数，才能认为是在规定的极限范围内，对于未作规定的参数，不能认为各个光调制器之间是没有差别的。如果由于某一原因，必须控制更多的参数时，就应采用个新的更加广泛的标准。增
17、加的试验方法应作出全面的叙述，并应规定相应的极限值、AQL值和检查水平。第三篇试验和测量方法20 概述本章包括造用于电子元器件质量评定体系要求的试验项目。分规范应阐明相应的光调制器品种或规格的试验，并阐明光学性能和机械结构的类别。而详细规范则应引用在有关分规范中已阎明的适用于某一光调制器品种、规格的试验。21 标准试验条件试验应在GB2421中规定的试验标准大气条件下进行。测量前，光调制器应在试验的标准大气条件下进行预先处理，时间应足以使整个光调制器达到热稳定状态。除非在分规范和(或)详细规范中另有规定，均应按照上述要求。配用的连接器(如为光调制器的一部分)相互间均应正确连接。如在某一试验中规
18、定须安装时，应把器件牢固地安装在适当材料制成的刚性平板上。非安装式光调制器采用夹持件，对安装式光调制器则采用正常的固定件。安装板的尺寸应超过试样的外廓尺寸。122 GB/T 13712-92 任何不同于标准大气条件的要求均应在分规范和(或详细规范中加以规定。除非在分规范和(或)详细规范中另有规定，条件试验后停顿时的恢复条件应符合有关标准中的规定。22 外观检查标志符合第8.1条的规定。经过任何规定的试验之后标志仍应清晰。如无其他规定，经机械试验和气候试验之后，应无可见的损伤。包装的标志应符合第8.2条的规定。应检查所包装的光调制器组件的完整性和正确性。23 尺寸外形尺寸应符合详细规范的有关规定
19、，真重量应不超过规定的最大值。24 光学试验和测量步骤24. 1 调制带宽24. 1. 1 概述光调制器的调制带宽决定光调制器能处理的最大信息量。调制带宽的测量旨在给出光调制器在调制信号作用下使光信号的振帽、相位或偏振等发生相应变化的调制信号频率范围。24.1.2 测量方法图1表示本测量方法的原理图。克醺先阑嗣器幢涮尊元显示单元S, p , M Poo D, P川日，P.n S, 调制电信号赢图1图中zPin 由光源向光调制器注入的光功率pptn一由调制信号源向光调制器注入的信号功率;Pout 由光调制器输出的光功率;P out一由检测单元输出的电功率。在分规范中应对光源(S，)、调帘j信号源
20、(S，)、检测单元(0，)和显示单元(D2)的性能要求作出规定。24. 1. 3 测量步骤准备光纤的自由端面应平整，基本为一平面，并与光纤轴线垂直。应清洁光纤端口。调制信号传输线要保持平直，连接器要接触牢靠，以便获得良好匹配。调制带宽测量选择一根光纤作为输入光纤，并用光源(S，)向光调制器注入光功率Pin。123 GB/T 13712 92 调制信号源。，)应与光调制器保持良好匹配，并向光调制器注入信号功率Pin。光信号通过光调制器被调制后，有输出光功率P剧，它由检测单元变换成电信号输出电功率POl t , 用显示单元(Dz)显示结果。在显示单元(D，)上显示的最大电功率点的左、右方的电功率下
21、降3dB所对内的频率问距就是光调制器的调制带宽。本标准不限制采用其他的调制带宽测量方法，但是，各种方法均应符合分规范和(或)详细规范的有关要求。24.2 功率/带宽品质因数24. 2. 1 概述光调制器调制性能的评价采用功率/带宽品质因数，它是每单位带宽的驱动功率，用每兆赫的毫瓦数(mW/MHz)表示。24.2.2 测量方法图2表示本测量方法的原理图。壳，_直嗣割据5 , PI 在向根舍器s, I帽电信号目图2图中.P飞t代表定向稿合器(C)的藕合输出功率，D, P!.q 一显示尊I;.D, 在分规范中应对光源(SI)、调僧l信号源(S，)、检测单元(Dl)、显示单元(D，)、定向捐合器(C)
22、以及功率计(W)的性能要求作出规定。24.2.3 测量步骤准备按本标准24.1. 3条的规定进行准备，对定向藕合器(C)与功率计(W)的连接也按本保准24.1. 3条的规定进行，以便获得良好的匹配。功率/带宽品质因数测量8. 按本标准24.1. 3条规定的步骤测量并记录光调制器的调和j带宽M。b. 由功率计(W)读出功率P飞，然后攒下式计算光调制器信号源对光调制器注入的功率gPtn=KP飞t式中:P i且一一信号源向光调制器注入的信号功率;P飞E一一定向搞合器藕合臂输出的信号功率;K一定向搞合器的搞合系数。C. 光调制器的功率/带宽品质因按下式计算s124 =E2(mW/MHz) M ( 1
23、) .,. ( 2 ) G/T 13712-92 测量的调制带宽和调制信号源功率必须符合分规范和(或)详细规范的要求，以便按规定确定功率/带宽品质因数。24.3 半波电压在考虑中。24.4 调制深度在考虑中。24.5 插入损耗24. 5. 1 概述光调制器插入损耗的测量旨在给出光调制器插入光纤系统内所引起的有用光功率下降的数值，以分贝(dB)表示。在单模光纤条件下，在光调制器前后仅有基模传输，测得的插入损耗值可表示在长光纤系统和短光纤系统两种条件的损耗，但在多模光纤系统中，与经过一段长光纤传输后到达的稳态模式分布相比，具有较宽或较窄模式分布的光功率可能注入光纤。同时，对某些类型的光纤，光功率可
24、能注入包层，并沿包层传输。因此，测量结果并不一定都能代表在长光纤系统或短光纤系统两种条件下产生的损耗。光纤的几何尺寸和光学性能(例如z纤芯不圆度，纤芯与包层的同心度，数值孔径，模场直径等)的偏差可能导致插入损耗的差异。这种差异不能被视为光调制器质量所致。对单模光纤，注入条件应使光调制器注入端及检测端仅有基模传输，光源的波长(包括总的谱线宽度)比光纤截止波长要伏，光纤的配置和长度应使可能注入的高次模式受到足够的衰减。对多模光纤，应在稳态模式条件下测量。本标准不规定完整系统中插入损耗的测量。有两种类型的测量可供选用。类型13具有尾纤端口(如图3)的测量。量好呵?I-L. -i 图3类型2:具有活动
25、连接器端口，例如两端都端接连接器的光调制器(如图4)的测量。克惆斟榻M 矗篝嚣矗撞器图4两种类型的光调制器测量方法应按照分规范和(或详细规范中的规定。注:注入光纤的光功率应不高至能引起非线性散射的规定水平，检测系统的响应特性偏离线性的程度不大于规定的水平s测量系统的总稳定度在整个测量期间的变化应符合规定要求z对多模光纤，测量结果可能依赖于传输方向s而对单模光纤，测量结果与传输方向无关。应当保证不使包层模影响测量结果，按照分规范和(或)详细规范的规定，可依赖光纤自身的滤模作125 GB/T 1 3712 - 92 用。或靠增加个包层模式消除器来消除包层模。应选用与装配在被测光调制器上同样类型的光
26、纤。光纤几何尺寸，光学参数的偏差应在分规范和(或)详细规范规定的范围以内。在测量过程中，从光调制器或从临时接点引出的光纤位琶应保持固定，并要考虑到光纤的应力和最小弯曲半径的影响。在分规范和(或详细规范中应规定被测光调制器前后的光纤段L，和L，, 临时接点应具有低的连接损耗，可重复，并在光输出端具有最小的费涅尔反射，在需要时可采用某种折射率匹配材料。24.5.2 具有尾纤端口的光调制器的插入损耗测量。测量步骤(基准测量方法)a. 按照图5测量并记录光功率POU。当光纤和检测单元稿合和重复稿合时，光功率值P，旧的重复性应在有关的分规范和(或)详细规范中规定的范围之内。应调节临时连接点。使检测单元显
27、示最大的光功率值。蝙时连蟹点先醺先调制蟠幢涮单元lM l !D,| 5, 1 L. -i p, 1 L, | 图5光源(S，)、检测单元(0，)以及光纤参数、光纤段L，和L，的长度均应符合有关分规范和(或详细规范的规定。为了避免测量误差，在测量过程中，检测单元及临时接点(TJ)处的光纤末端应不发生位移。注:临时接点可以是微调架或机械接头等.b. 在保证P由皂的稳定性之后，截断临时接头和光调制器之间的光纤(如图6所示)。此截断点的位置(L，)应由分规范和或详细规范加以规定。临时连接点章., 截断点S, i-LE 出比曰图6c. 从测量装置主取下光调制器及其尾纤，应注意不使临时接点(TJ)处的光纤
28、发生位移。d. 处理临时接点的光纤自由端，端困应平整，基本为一平面，并与光纤轴线垂直。e. 与a项所述相类似，使处理好的光纤自由端与检测单元连接定位(如图7所示)。临时连接点撞圃单元克醺I D, |P. l 5 , l L氢图7f. 测量并记录光功率矶，当光纤与检测单元捐合和重复桐舍时，光功率的重复性应在有关分规范和(或)详细规范规定的范围之内。g. 光调制器这一特定光器件的插入损稀OM)按下列公式计算z126 G/T 13712-92 OM = - 10 log10号(dB)( 3 ) 注z由于在测量光功率P01和光功率P。这段时间内临时接点的位置不改变，因此本方法不受临时接点连接重复性的影
29、响。24.5.3 具有活动连接器端口的光调制器的插入损耗测量在本测量方法中，采用一个标准参考连接器对(R)(按分规范和(或)详细规范的定义)。测量步骤8. 按照回B测量并记录光功率凡。当光纤与检测单元桐合和重新搞合时以及标准参考连接器对(R)被连接和重新连接时，光功率的重复性应在有关分规范和(或)详细规范规定的范围之内。克11.老连接器时幢涮尊)(I R. I R. l L , 图8光源(S，)、检测单元(D，)、标准参考连接器对(R)以及光纤参数和光纤段Ll1 L2的长度应符合有关分规范和(或)详细规范的规定。b. 在保证Po的稳定性之后，将标准参考连接器对(R)分离，并利用连接器RA和RB
30、接合光调制器的输入、输出端口，使光调制器插入，如图9所示。Jt;谭先调制器幢测单元埠篝器S , lR.lC. M D Po u. t 问一L，一-l| L , -j 图9测量并记录光功率pout。当连接器RA和RB被分离和重新连接肘，光功率poul的重复性应在分规范和或)详细规范规定的范围之内。c. 光调制器这一特定的光器件的插入损耗按下列公式计算=24.6 回波损耗在考虑中。24.7 对环境光糯合的敏感性24.7.1概述句M=-10问号(dB) 0 ( 4 ) 测量光调制器对环境光精合敏感性的目的在于确定当光调制器进入工作状态后从外部光源能够榈合进波导通路中的光功率值。由于在实际的光学系统中
31、环境光对给定光调制器的照射方向是未知的，因此试验方法应在环境光从所有方向上照射光调和j器的条件下评定环境光藕合的敏感性。通过采用一个积分球可获得这样的照射条件。直接的方法就是从各个方向照射光调制器。在本试验中，假定通过光缆糯合进来的环境光可忽略不GB/T 13712 - 9 2 计。24.7.2 测量方法在分规范和或详细规范中应对光源(S，)、光散射极(F)、积分球OS)、窗口(W)处的检测单元(0，)和检测单元D，)作详细说明。斩波器(C)利用一个频率为313Hz或939Hz或任何不为50Hz或60Hz整数倍的方被斩波器。测量步骤a. 接通设备电源，使约经1h以达到稳定状态sb. 如图10所
32、示，将光调制棒置于积分球中，c. 在相应于一个通路的两个端口间连接上光缆，全部其他端口用不透明的连接器盖帽端接，或将各尾纤端通过积分球光缆孔引到积分球扑面并加以端接，d. 测量积分球中的光功率Po; e. 测量由被试光调制器引出的光纤中的光功率P，。则光调制器对外部光的不敏感性IL按下列公式计算zIL =一10lg旱(dB) 0 . ( 5 ) 24.8 调制电信号24.8.1 概述调制电信号是为驱动光调制器而提供电功率用的。调制深度越深，要求电功率越高。对于非电调制信号测量，在考虑中。24.8.2 调制电信号测量按图11连接调制电信号测量电路。也州 ., c 靳被揭M -监制制器D, 嘀接酷
33、、向内向-F克徽射板p、E锁榈植大器幢割尊兀P. D. 幢测单元图10128 G/T 13712-92 调制电信号源阻抗壶幢器功率itR, r一-1R. a 5, z w Ip 斗L.斗图11在分规范和或)详细规范中应对调制电信号源(S，)、阻扰变换器(Z)、电连接器(R，.R，.R，.R，)以及功率计(W)作出规定。精选LA和L.，并保持直线状态，以便获得良好的阻抗匹配。开动调制电信号源，选定调制频率，调节其功率输出，测量并记录电功率pin 0 p in的大小和稳定性以及调制电信号的频率变化范围必须符合分规范和(或)详细规范的规定。24.9 模式分布在考虑中。24.10 光学性能的稳定性在考
34、虑中。24. 11 对波长的敏感性在考虑中。25 机械性能试验和测量步骤25. 1 概述在任-试验阶段所进行的测量及试样数量，安装方法以及施加应力的速率等，均应在有关分规范和(或详细规范中加以规定。25.2 振动25. 2. 1 一般程序光调和l器应承受GB2423. 10中的试验F，。光调制器上各连接端口应按照有关规范的规定与适当长度的光缆连接。安装式光调JIlJ器应以正常方式加以固定，非安装式光调制器应按有关规范的规定采用下列固定方式2夹持住光调制器和光缆;只夹持住光缆，而使光调制器自由悬挂。在有关规范中规定的试验严酷度应当(并非必须)从表1和下列优先值中选择s振动频率达60Hz时，恒定位
35、移幅值为O.75mm;振动频率高于60Hz时，加速度保持在98m/s。表1频率范围各个轴向的持续时间光调制器!盖在三个互相垂直的每个方向t承受振动。1055 Hz 10150 Hz 10500 Hz 102 000 Hz 105 000 Hz 每个规定方向上10 min 每个规定方向上30 min 129 GB/T 13712 - 9 2 25.2.2 规定的细节进行此项试验时，除按照GB2423.10中规定的内容之外，在有关分规范和(或详细规范中还应规定下列细节2a. 所采用的光缆、光缆支撑和固定件的细节;b. 在振动试验过程中和或)振动试验之后，对试样的光学和(或)机械性能的要求，C. 在
36、振动试验过程中和振动试验之后的光学和(或)机械性能测量步骤的要求;d. 与标准试验程序的任何差别。25.2.3 最后测量光调制器应按照有关分规范和(或)详细规范的要求经受下列检查，并应符合规范规定的要求:a. 外观检查gb. 光学性能的稳定性sC. 调制机构的检查，d. 插入损耗pe. 调制深度。25.3 碰撞25. 3. 1 概述光调制器应承受GB2423.6中的试验Fb。25.3.2 规定的细节a. 所采用的光缆、光缆支撑和固定件(夹持装置)的细节sb. 在碰撞过程中试样的光学性能要求和测量步骤$ 与标准试验程序的任何差别。分规范和(或)详细规范中规定的碰撞严酷度应优先定为4000土10次
37、，加速度为390m/s(40 g) , 脉冲持续时间为6mso 25.3.3 最后测量光调制器应按照有关分规范和或详细规范的要求经受下列检查，并应符合规范规定的要求ga. 外观检查gb. 光学性能的稳定性pC. 调制机构的检查;d. 插入损耗fe. 调制深度。25.4 冲击25.4. 1 概述光调制器应承受GB2423.5中的试验Ea.优先采用半正弦脉冲波形。25. 4. 2 规定的细节a. 所采用的光缆、光缆支撑和固定件(夹持装置)的细节;b. 在冲击试验过程中试样的光学性能要求和试验步骤gt 与标准试验程序的任何差别。分规范和(或)详细规范中规定的冲击严酷度和波形应优先从下列优先条件中选择
38、=加速度294m/s半正弦波，持续时间18mso 加速度490rn/s半正弦波，持续时间11rnso 加速度735m/s半正弦波，持续时间6rnso 加速度981rn/s半正弦波，持续时间6ms , 25.4.3 最后测量130 G/T 13712-92 光调制器应按照有关分规范和(或)详细规范的要求经受下列检查，并应符合规范规定的要求za. 外观检查;b. 光学性能的稳定性， 调制机构的检查;d. 插入损耗，e. 调制深度。26 气候环境试验和测量步骤26. 1 概述光调制器气候类别与其他器件相同，应按照本规范第7.3条所示的格式表示。为完成在给定的气候类别范围内光调制器性能鉴定所需要的最少
39、的试验步骤应为2低温试验，按GB2423.1试验A进行g高温试验，按GB2423.2试验B进行;但定温热试验，按GB2423试验Ca进行。分规范和(或详细规范应规定气候严酷度的极限范围，见表2。 表2下限类别温度士31;上限类别温度士21;+5 +30 一5十4010 十55-25 +70 40 +85 55 +100 65 +125 +155 十175十200恒定湿热持续时间.dl016 4125 26. 1. 1 步骤被试光调制器应经受环境条件循环及此后的恢复期。应按照制造厂的说明书将具有连接器的光调制器接上适当的光缆，并对光缆的自由端加以处理，防止潮气侵入。安装式光调制器应按照详细规范的
40、规定安装，并根据实用情况对安装式光调制器的面板部分的背面加以防护，以防止潮气侵入。26. 1. 2 最后测量光调制器应按照有关分规范和(或详细规范的要求经受下列检查，并应符合规范规定的要求za. 外观检查，b. 光学性能的稳定性; 调制机构的检查gd. 插入损耗ge. 调制深度。26.2 气候顺序一般程序根据GB2421标准气候顺序。本气候顺序适用于气候类别为/-/4和/-/56的光调制器，同按照有关规范中规定的步骤和严酷度进行试验，包括高温、低温、潮湿、低气压和进一步湿热循环试验。, G/T 13712 92 注:高温指上限类别温度;低温指下限类别温度。本规范阐明的该试验是一顺序的气候程序，
41、其中的器件按固定的次序进行若干气候条件试验。除非在分规范和(或)详细规范中另有规定，试祥应首先置于高温下，然后在55C下进行湿热循环。紧接着进行低温试验。这样，试祥密封件的表面如有裂纹进入水份就会冻结，并将引起进一步的损坏。低气压试验是为了对试样的密封检查。方法2给出更严酷的条件试验，它在每一次湿热循环之间插入一项低温试验。机械性能试验，如端接强度、振动和碰撞后常常接本试验顺序，以证明机械试验没有使试样的密封损坏或开裂。，条件试验程序26. 2. 1 方法1a. 试祥应在上限类别温度或有关规范规定的温度下经受GB2423.2中的试验Ba;注当有关规范有规定时，可在高温下对试样进行测量.b. 对
42、试样进行外观检查gC. 在试验程序的本阶段中，允许有不超过72h的一次间断，在此间断时间里，试样应保持在正常实验室环境条件下，温度为15-35C，d. 对于气候类别为一/一/4和/-/-56的试样应经受GB2423.4中试验Dbo24 h一个循环后，接着是1.5-2h的恢复时间;e. 继本条d项交替湿热试验后，试样应立即在低温或有关规范规定的温度下按GB2423.1中试验A进行2h试验p注z当在有关规范中有规定时，可在低温下对试样进行测量。f. 在试验程序的本阶段中，允许有不超过72h的一次间断。在此间断时间里，试样应保持在正常的实验室环境条件下，温度为15-35.C;g. 然后试样应经受GB
43、2423.21中的试验M，采用有关规范规定的严酷度等级，除非有关规范另有规定，低气压环境条件应在15-35C下保持1h; h. 在试验程序的本阶段中，允许有不超过72h的一次间断。在此间断时间里，试样应保持在正常的实验室环境条件下，温度为1535.C, i 然后试样应经受GB2423.4的试验Db，循环次数如下=类别循环次数/-56 5 -/一/41 当有关规范有规定时，在规定的循环次数完成后，应把试样从试验箱中取出，甩去水漓，并在15 min之内进行规定的光学和机械性能检验，k. 应允许试祥在标准恢复条件下恢复1.5-2h;1. 应对试样进行外观检查，并按有关规范的规定进行光学、电气和机械性
44、能检验;m. 当有规范规定延长恢复时间时，则试祥应在标准恢复大气条件下再保留24扎在延长恢复期结束时，应对试样进行外观检查。并按有关分规范和(或)详细规范规定进行插入损耗测量，结果应符合规范要求。26.2.2 方法2 8. 当有关规范有要求时，本方法适用于气候类别为一/一/56的试样pb. 试样应经受第26.2.1条(方法1a至h项)要求的试验;C. 然后试祥应经受GB2423.4中的试验Dbo24 h一个循环后，接着是1.52h的恢复时间;d. 继本条c项交替湿热循环试验后，试样应立即在下限类别温度或有关规范规定的温度下经受2 h的GB2423.1中的试验Aa，e. 试样应再经受三次本条c和
45、d项试验程序，然后再进行本条c项程序。如因这一系列循环试验132 G/T 1 3712 - 92 用的时间太长而有必要中断此项试验程序时，则在此程序中间允许有不超过72h的4次中断因此种中断必须发生在低温循环和此后交替湿热试验之间pr. 当有关分规范和(或)详细规范有规定时，应把试样从试验箱中取出，甩干水漓，并在15min内进行光学和机械性能检验;g. 应允许试样在标准重复条件下恢复1.52 h; h. 应对试样进行外观检查，并按有关分规范和或)详细规范的规定进行电气、光学和机械性能检验$i. 当有关规范规定延长恢复时间时，则试样应在标准恢复大气条件下再保留24ho 在延长的恢复结束时，应对试
46、样进行外观检查，并按有关分规范和(或详细规范的规定测量插入损耗，结果应符合规范的要求。26.2.3 方法3本方法应按照GB2423.4中的试验Db进行，目的在于提供一种用于逐批验收试验的短期气候顺序。当有关规范有规定时，适用于光调制器。如有需要，本试验顺序能在一星期内完成。本试验程序除下列内容外与方法1相同。8. 在第26.2. 1条a项高温条件试验之后，不要求外观检查;b. 只有当有关规范有规定时才采用第26.2. 1条E项的低气压条件试验M; 当按照GB2423. 4的试验Db第二次做第26.2. 1条1项湿热循环条件试验时，试样应仅经受一个循环的试验。26. 2. 3. 1 规定的细节8
47、. 按照第26.2. 1、26.2. 2或26.2.3条的气候试验程序，b. 所采用的预处理程序， 在气候条件试验之前，要进行机械性能检查ed. 不同于第26.2. 1条a项的上限类别温度的高温温度$e. 不同于第26.2. 2条e项下限类别温度的低温温度，r. 与标准试验程序的任何其他差别。26.2.3.2 最后测量光调制器应按照有关分规范和(或)详细规范的规定经受下列检查，并应符合规范规定的要求za. 外观检查pb. 光学性能的稳定性; 调制机构的检查$d. 插入损耗zt 调制深度。26.3 冷凝(温度/湿度组合循环试验)26.3.1 概述本试验应按照IEC68-2-38中的试验Z/AD的
48、规定进行.本试验的目的在于揭示光调制器因呼吸而不是因吸潮引起的缺陷。试验包括产品纹路和断裂处所吸水份的冰冻效应和冷凝效应，冷凝的程度随光调制器尺寸和热容量的不同而变化。本试验与其他湿热循环试验相比的不同之处是下列因素增加了试验的严酷度=a. 在给定的时间里有更多次的温度变化或抽吸作用，b. 有更大的温度循环范围，c. 有更大的温度变化率;d. 包括达到零下温度若干次。本试验对含有各种不同材料的器件，特别是对含有玻璃连接点的器件显得尤为重要。133 GB/T 1371292 26.3.2 规定的细节当要求进行本试验时，分规范和或)详细规范应规定下列细节38. 所采用的光纤连接器和光缆;b. 与标
49、准试验程序的任何差别。26.3.3 最后测量光调制器应按照有关分规范和(或详细规范的规定经受下列检查，并应符合规范规定的要求-8. 外观检查$b. 光学性能的稳定性sc. 调制机构的检查gd. 插入损耗;e. 调制深度。26.4 温度迅速变化26.4.1 概述本项试验应按照GB2423.22中的试验Na进行。在此项试验过程中，应按照有关分规范和(或详细规范的规定测量光学性能。26.4.2 规定的细节当要求进行本项试验时，在有关分规范和(或详细规范中应规定下列细节s8. 所采用的光纤连接器和光缆;b. 与标准试验程序的任何差别。26.4.3 最后测量光调制器应按照有关分规范和(或)详细规范的规定经受下列检查，结果应符合规范规定的要求z8. 外观检查;b. 光学性能的稳定性; 调制机构的检查gd. 插入损耗ge
