1、lCS 31120L 47 园园中华人民共和国国家标准GBT 189105-2008IEC 61747-5：1998液晶和固态显示器件第5部分：环境、耐久性和机械试验方法Liquid crystal and solid-state display deVicesPart 5：Environmentai，endurance and mechanical test methods200806-18发布(IEC 617475：1998，IDT)20081 I-01实施丰瞀嬲鬻瓣警瓣瞥鐾发布中国国家标准化管理委员会“1”目 次GBT 189105-2008IEC 617475：1998前言1概述一11
2、 范围l-2规范性引用文件13术语、定义和文字符号14标准大气条件“15 目检和尺寸检验16 电学和光学测试17加电工作条件。2机械试验方法21引出端强度22可焊性23振动(正弦)24冲击-25恒定加速度26粘接强度试验13环境和耐久性试验方法31温度变化。32贮存(在高温下)33贮存(在低温下)34低气压35稳态湿热36循环湿热(12+12 h循环)37温度湿度组合循环试验38光暴露39静电放电(ESD)试验。4其他试验方法41标志的耐久性。42刮擦试验(针对显示表面)43寿命试验5单色矩阵液晶显示模块的目检。51概述。52显示目检6单色液晶显示屏的目检61概：述-。62显示目检63边框胶检
3、验v，0：0004044000，m加nn地地：2曲毖GBT 189105-20081EC 617475：199864 电极引线的目检(见图14)65屏的电极侧边角缺损的目检(见图14、图15)附录A(资料性附录)本部分与IEC 617475：1998中表编号的对照图1粘接强度图例图2温度剖面图3温度剖面图4预处理图5a)相对湿度和温度条件湿热后暴露于低温图5b) 相对湿度和温度条件湿热后未暴露于低温图6可视区内的缺陷图7方形单元的偏离和畸形-图8图形的边缘锯齿图9图形单元及其周边区内的缺陷图10观察区内的缺陷图11尺寸和形状e，“的偏差图12字段中的缺陷图13边框胶内的缺陷图14接触区缺陷图1
4、5边角缺损表1表2表3表4表5表6表7表8表9表10表11表12表13表14表15表16表17表18表19表20仲裁测试和试验的标准大气条件频率范围下限频率范围上限推荐的频率范围推荐振幅一冲击试验条件加速度条件一低温试验温度一高温试验温度低温试验温度高温试验温度一温度和湿度条件器件应检验的外观缺陷器件应检验的特性器件应检验的缺陷器件应检验的缺陷一器件应检验的缺陷一器件应检验的特性器件应检验的缺陷器件应检验的缺陷船船弘，0oM他”加n毖毖拈04o0o0o88oonM”加n舡龃GBT 189105-2008IEC 61747-5：1998表21器件应检验的缺陷22表22器件应检验的缺陷23表23器
5、件应检验的缺陷23表24器件应检验的缺陷23表z5器件应检验的缺陷z3表A1本部分与IEC 61747-5：1998中表编号的对照一览表一24前 言GBT 189105-2008IEC 61747-5：1998GBT 18910液晶和固态显示器件的预计结构如下：第1部分：总规范；第2部分：液晶显示模块分规范；第21部分：无源矩阵单色液晶显示模块空白详细规范；第3部分：液晶显示屏分规范；第3-1部分：液晶显示屏空白详细规范；第4部分：液晶显示模块和屏基本额定值和特性；第5部分：环境、耐久性和机械试验方法；第6部分：液晶显示模块测试方法透射型。本部分是GBT 18910的第5部分，等同采用IEC
6、617475：1998液晶和固态显示器件第5部分：环境、耐久性和机械试验方法(英文版)。为便于使用，本部分做了下列编辑性修改：a)用小数点“”代替作为小数点的逗号“，”；b) 删除国际标准的前言；c)取消了第2章引用文件中的“IEC 607475及其补充件”，并将有对应国家标准的IEC标准改为国家标准；d)所有表均加了编号，对照表见附录A；e)删除14中所有的(860mbar1 060mbar)；f)原附录A是资料性附录，其内容是相关引用文件对照表，表中所列文件在该部分中并未引用，因此删除该附录。本部分的附录A是资料性附录。本部分由中华人民共和国信息产业部提出。本部分由中国电子技术标准化研究所
7、(CESI)归口。本部分起草单位：中国电子技术标准化研究所(CESI)。本部分主要起草人：赵英。V1概述GBT 189105-2008IEC 61747-5：1998液晶和固态显示器件第5部分：环境、耐久性和机械试验方法11范围GBT 18910的本部分列出用于液晶显示器件的试验方法，同时尽可能考虑到IEC 60068中规定的环境试验方法。本部分也包括液晶显示屏和模块的目检方法。注1：本部分是从IEC 60749中抽取出来的，因为液晶显示器件技术完全不同于半导体器件，例如：形状和尺寸；使用的材料和结构；功能；测量方法；工作原理。注2：器件包括液晶显示屏和模块。本部分的目的是为评价液晶显示器件的
8、环境性能，确定统一的优选试验方法及应力等级优选值。本部分若与相关规范不一致时，应以相关规范为准。12规范性引用文件下列文件中的条款通过GBT 18910的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订舨均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。GBT 2421-1999电工电子产品环境试验第1部分：总则(idt IEC 60068一l：1988)GBT 242312001 电工电子产品基本环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温(idt IEC 60
9、06821：1990)GB 242322001 电工电子产品基本环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温(idt IEC 600682-2：1978)GBT 242331993(eqv IEC 6006823：1984)GBT 242341993(eqv IEC 60068230：1980)电工电子产品基本环境试验规程 试验Ca：恒定湿热试验方法电工电子产品基本环境试验规程 试验Db：交变湿热试验方法GBT 242351995 电工电子产品环境试验 第二部分：试验方法 试验Ea和导则：冲击(idt IEC 600682-27：1987)GBT 2423151995电工电子产品环境试验第二部分
10、：试验方法试验Ga和导则：稳态加速度(idt IEC 60068-27：1983)GBT 242322-2002 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化(idt IEC 600682-14：1984)GBT 2423241995电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验sa：模拟地面上的太阳辐射(idt IEC 60068-25：1975)GBT 2423281982 电工电子产品基本环境试验规程试验T：锡焊试验方法(eqv IEC 60068220：1979)】GBT 189105-2008IEC 617475：1998GBT 242330-1999电工电子产品环境试验第
11、2部分：试验方法试验XA和导则：在清洗剂中浸渍(idt IEC 60068245：1980)GBT 242334-1986 电工电子产品基本环境试验规程试验ZAD：温度湿度组合循环试验方法(idt IEC 600682-38：1974)GBT 242419-1984 电工电子产品基本环境试验规程 模拟贮存影响和环境试验导则(eqv IEC 60068248：1982)GBT 16464 1996半导体器件集成电路第1部分总则(idt IEC 607481：1984)GBT 1891012002液晶和固态显示器件第1部分：总规范(IEC 617471：1998，IDT)IEC 60068环境试验
12、IEC 6006826：1995环境试验第2部分：试验方法试验Fc：正弦振动IEC 60068213：1983环境试验第2部分：试验方法试验M：低气压IEC 60068221：1983电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验u引出端及整体安装件强度IEC 60747半导体器件IEC 607471：1983半导体器件分立器件第1部分概述补充1(1991)补充2(1993)补充3(1996)IEC 60749：1996半导体器件机械和气候试验方法13术语、定义和文字符号GBT 18910、GBT 2423、GBT 16464、IEC 60068、IEC 60747的定义和文字符号适用于本部分。1
13、4标准大气条件在GBT 2423、IEC 60068中规定的大气条件适用于本部分。141基准大气条件温度：25；气压：86 kPa-106 kPa。142仲裁测试和试验的标准大气条件如果液晶显示器件的被测参数随温度、气压和湿度变化规律是未知，应从表1中选取规定的大气条件。表1 仲裁测试和试验的标准大气条件温度C 相对湿度 大气压kPa20土1 4575 8610625土1 4575 8610630土1 4575 8610635土1 4575 86106注：初始和最终测试的大气条件应该相同。143测试和试验的标准大气条件除非另有规定，所有试验和测试应在以下标准大气条件下进行温度：1535；相对湿
14、度：2585，适用时；气压：86 kPa106 kPa。大气的绝对湿度不应超过22 gm3。2GBT 189105-2008IEC 61747-5：1998144恢复条件在最终测试之前，应使样品放置在即将进行测试的环境温度下达到热平衡，测试温度应规定。若待测电参数受吸收的湿气或试验样品表面条件的影响变化很大，例如：试验样品从潮湿箱中取出以后，在大约2 h之内绝缘电阻明显上升，则应采用“控制的恢复条件”(见1441)。若试验样品的电参数受绝对湿度或表面条件影响不大，样品可在143中规定的条件下恢复。1441控制的恢复条件除非另有规定，所有恢复应在控制大气条件下进行：温度：实际试验温度士1，但要符
15、合143的范围，即在1535之间；相对湿度：7377，适用时；气压：86 kPa106 kPa。在测试前，器件应放置直至达到温度稳定。测试期间的环境温度应在试验报告中给出。在测试期间，器件不应受到能引起误差的气流、照明或其他因素影响。若恢复和测试在不同的房间进行，应保证试验样品放入测试房间后，器件表面不应受温度和湿度的影响出现凝露。1442恢复程序在规定条件试验结束后10 min内，应将试验样品放入恢复处。当相关规范要求在恢复后立即进行测试时，这些测试应在样品从恢复处取出后30min内完成，首先要测试的是那些预计变化最快的参数。145辅助干燥的标准大气条件若在开始进行系列测试之前，要求进行辅助
16、干燥，除非另有规定，样品应按下列条件干燥处理5 h：温度：55士2；相对湿度：20；气压：86 kPa-106 kPa。当干热试验的规定温度低于55时，辅助干燥应在相应的较低温度下进行。15目检和尺寸检验见第5章和第6章。151目检应包括a)标志的符合性和耐久性；b)包括引出端在内的密封损伤；c)包括引出端在内的密封质量。152应检验相关规范给出的尺寸。153除非另有规定，目检应在制造商的标准光照和标准目检条件下完成。16电学和光学测试161对于环境试验，被测参数应从GBT 18910、IEC 61747的有关部分中选取。162测试条件应按照GBT 18910、IEC 61747有关部分的“耐
17、久性试验条件”表。16。3初始检测若仅要求规范的上限值和或规范的下限值为判据时，初始检测是否进行由制造商决定，如果以每个器件的各个值作为判据时应做初始检测。164环境试验期间的监测适用时。165最终检测当相关规范把测试作为分组的一部分时，只要求在该分组试验全部完成后进行测试，对于某些试验，如可焊性、引出端强度，可采用电学或光学参数不合格的器件。3GBT 189105-2008IEC 61747-5：199817加电工作条件应在相关规范中确定加电工作条件。2机械试验方法根据器件类型选择适当的试验。相关规范将给出哪些试验是适用的。21引出端强度211 引线，管脚或带插针的连接器按IEC 60068
18、221：1983中规定的试验方法U。2111拉力试验本试验应按试验方法Ual的规定，其特殊要求如下：试验后，在310倍放大镜下进行检查。如果出现断裂、松动或引出端与器件本体之间相对移动时，应拒收。2112弯曲试验本试验应按试验方法Ub的规定。2113扭力试验本试验应按IEC 60749：1996中213的规定。本试验仅适用带管脚的液晶屏。2114转矩试验本试验应按IEC 60749：1996中2142的规定。本试验仅适用于带管脚的液晶屏。212易弯曲引出端在考虑中。22可焊性GBT 2423281982中规定的试验方法T是适用的。本试验应按试验Ta(方法1、2和3)的规定。23振动(正弦)本试
19、验应按IEC 6006826：1995试验Fc的规定，其特殊规定如下。231横向运动垂直于规定轴线任何轴线上检测点的最大振幅应不大于规定振幅值的25。232失真失真应不大于25。233振幅容差基准点：士15。检测点：士25。234严酷度在相关规范中应从表2中选取一个下限频率和从表3中选取一个上限频率。表4给出了推荐的频率范围。4GBT 189105-2008IEC 61747-5：1998表4推荐的频率范围推荐的频率范围f、hHz155lO55103001050055500235振幅表5给出有关交越频率的推荐振幅。表5推荐振幅高于交越频率时的加速度振幅低于交越频率时的位移振幅mmms2 gn0
20、035 49 050075 98 10015 196 20035 490 50075 980 100注：表5中所列的值适用于57 Hz62 Hz的交越频率。236耐久试验的持续时间2361扫频耐久试验每一轴向的耐久试验持续时间以扫频循环次数给出，相关规范从下列值中选取扫频循环次数：l，2，5，10，20。2362在危险频率上耐久试验在振动响应试验中发现的适合于每一轴线的每一危险频率点上耐久持续时间，相关规范应从下列值中选取：10 rain-t-05 min30 rain士1 rain90 rain士1 rain10 h士5rain237器件本体在试验时应牢固固定。若器件有特殊固定方法，则应采用
21、。24冲击本试验按GBT 242351995试验Ea的规定，其特殊要求如下。GBT 189105-2008IEC 617475：1998根据器件质量和其内部结构，从表6中选取试验条件。表6冲击试验条件相应的速度变化v(ms)峰值加速度Almls2(g。) 标称脉冲持续时间Dms半正弦波 后峰锯齿波50(5) 30 10 150(15) 11 10 08150(15) 6 06 04300(30) 18 34 26 300(30) 11 21 16300(30) 6 11 09500(50) 20 62 49500(50) 11 34 27 _ _500(50) 3 09 07700(70) 1
22、1 48 381 000(100) 11 69 541 000(100) 6 37 29 _ _2 000(200) 6 75 592 000(200) 3 37 29注：有下横线的是优选值。相关规范应给出采用的波形。应对器件最易暴露缺陷的三个相互垂直轴的两个方向上各施加三次连续的冲击，即总数为18次的冲击(见GBT 242351995的A7)，优选值有下横线。器件管体在试验时应牢固固定。若器件有特殊固定方法，则应采用。25恒定加速度本试验按GBT 2423151995试验Ga的规定，其特殊要求如下。应从表7中选取加速度条件。表7加速度条件程序：除另有规定外，应在三个主轴的二个方向上各施加加速
23、度至少l rain。器件管体在试验时应牢固固定，若器件有特殊固定方法，则应采用。26粘接强度试验本试验的目的是测定粘接强度或确定是否符合规定的粘接强度要求。本试验适用于带柔性扁平电缆的器件。261试验概述如图1所示，拉伸柔性扁平电缆，衬底牢固固定。6GBT 189105-2008IEC 61747-5：1998262预处理在相关规范中应给出预处理方法。263初始检测若楣关规范有要求，应进行外观检验、电学和机械检验。264试验方法(见图1)2641适用范围本试验用于测量柔性扁平电缆的粘接强度。2642程序粘接器件的衬底应牢固固定。如图l所示应拉拔柔性扁平电缆直至它与器件完全分离。粘接强度等于拉力
24、计指示的最小值。应注意到拉拔速度应足够低。失效模式也许取决于拉拔速度。265在相关规范中应给出的信息适用时，应给出下列细节：a)有关夹具固定的说明及柔性扁平电缆的制备；b)预处理；c)试验条件：拉拔速度；拉力的最大值；数据记录方法。d)试验结果拉力的最小值；分离种类。图1粘接强度图例3环境和耐久性试验方法根据器件类型选择适当的试验。相关规范应给出哪些试验是适用。31温度变化GBT 242322 2002规定的试验N是适用的。311快速温度变化本试验应按试验Na的规定，其特殊要求如下：大气绝对湿度不应超过20 g甜；低温TA应在相关规范中规定，从表8试验温度中选择；一高温TB应在相关规范中规定，
25、从表9试验温度中选择；GBT 189105-2008IEC 61747-5：1998表8低温试验温度低温1、一50士3 30士3 一lO士345土3 25土3 5土340土3 20土3 o土335土3 15士3表9高温试验温度高温TB+100土2 +75士2 +50士2+95士2 +70士Z +45土2-i 90士2 +65土2 +40土2+85土2 +60士2 +35士2+80土2 +55土2 +30士28两个温度下每个温度的暴露时间t，取决于器件的热容量。按相关规范的规定，它应为3 h、2 h、1 h、30 min或10 min。若相关规范没有规定暴露时间，则为3 h；选择转换时间tz取决
26、于试验样品的热时间常数，转换时间应是：2 min3 mi“；20 s30 s；小于10 s；第一个循环由两个暴露时间t，和两个转换时间tz组成(见图2)；除非相关规范另有规定，循环数应为5或10；初始检测：外观检查；机械、电气和光学测试：按相关规范的规定；最终检测：外观检查；机械、电气和光学测试：按初始检测和相关规范。箱内温度A：第一个循环的起始iB：第一个循环的结束和第二个循环的起始。注：虚线的解释见GBT 2423222002的1315。图2温度剖面GBT 189105-2008IEC 61747-5：1998312规定温度变化速率：一箱法本试验应按试验Nb的规定，其特殊要求如下：大气的绝
27、对湿度不超过20 gm3。低温丁应在有关的详细规范中规定，从表10的试验温度中选取。高温TB应在有关的详细规范中规定，从表11的试验温度中选取。表10低温试验温度低温T一50土3 30土3lO土345土3 25士35土340土3 20士3一o3353 15土3表11高温试验温度高温TB+100土2 +75土2 +50土2+9s土2 +70士2 +45士2+90土2 +65士2 +40士2+85土2 +60土2 +35士2+80士2 +55土2 +302两个温度下每个温度的暴露时间，取决于器件的热容量。按相关规范的规定，它应为3 h、2 h、1 h、30 min或10 min。若相关规范没有规定
28、暴露时间，则为3 h。下述程序组成一个循环(见图3)，试验箱内温度的升降速率在5 min内的平均值应为(102)rain，(3土06)rain或(51)rain，除相关规范另有规定外。除相关规范另有规定外，循环数应为2。初始检测：外观检查；机械、电气和光学测试：按相关规范的规定。最终检测：外观检查；机械，电气和光学测试：按初始检测和相关规范。箱内温度A：第一循环的开始。图3温度剖面GBT 189105-2008IEC 617475：199832贮存(在高温下)GBT 2424191984和GBT 24232 2001的试验B是适用的。本试验应按试验B的规定，其特殊要求如下：贮存温度应在相关规范
29、中规定，其值应从下述值中选取：+1002+95士2+902+852+802+752+702+65士2+602+552+452+402+35土2+30土2贮存时间应在相关规范中规定，其值应从下述值中选取：2 h16 h24 h48 h72 h96 h120 h192 h240 h300 h500 h1 000 h大气的绝对湿度不应超过20 gm3(相当于35时50的相对湿度)。当试验温度低于35时，相对湿度不应超过50。33贮存(在低温下)GBT 2424191984和GBT 24231 2001的试验A是适用的。本试验应按试验Abl的规定，其特殊要求如下：贮存温度应在相关规范中规定，其值应从下
30、述值中选取：一50士3一453一40土3一353】0GBT 189105-2008IEC 61747-5：199830士3一253一203一15土3一10土3一5303贮存时间应在相关规范中规定，其值应从下述值中选取2 h16 h24 h48 h72 h96 h120 h192 h240 h300 h500 h1 000 h34低气压IEC 60068213：1983试验M是适用的。35稳态湿热GBT Z4233 1993试验Ca是适用的，其特殊要求如下：温度和湿度应在相关规范中规定，其值应从表12中选取表12温度和湿度条件温度 相对湿度+402 931：+50士2 931j+60土2 93+
31、l+70土2 93+j+802 93+i+85土2 +85士5贮存时间应在相关规范中规定，其值应从下述值中选取2 h16 h24 h48 h72 h96 hGBT 189105-20081EC 61747-5：1998120 h192 h240 h300 h500 h1 000 h36循环湿热(12+12 h循环)GBT 24234 1993试验Db是适用的。37温度湿度组合循环试验GBT 2423341986试验zAD是适用的，其特殊要求如下：在每一条件下的持续时间与规定值的差不应大于i0 rain；当在一个箱内暴露于湿气随后冷却时，温度从25士2降到一10土2的时间不应大于l_5 h。样品
32、在低温保持3 h；预处理的相对湿度和温度条件应按图4控制#暴露时的相对湿度和温度条件应按图5a)(含暴露于低温)或按图5b)(不含暴露于低温)控制；温度湿度子循环的说明。高温条件按相关规范的规定，从32中选取。a)试验箱的温度在15 h25 h内，应连续升至规定的高温。在此期间相对湿度应保持在(93士3)范围内。b)从循环开始后的55 h内，箱内温度和相对湿度应分别保持在规定的高温和(933)。c)试验箱的温度在15 h25 h内应降到25土2。在此期间相对湿度应保持在8096范围内。d) 自循环开始后的8 h起，试验箱温度在15 h25 h内应再连续升至规定的高温。在此期间相对湿度应保持在(
33、93士3)范围内。e)从循环开始后直至135 h，箱内的温度和相对湿度应分别保持在规定的高温和(93土3)。f)试验箱的温度在15 h25 h的内应降到25土2，在此期间相对湿度应保持在8096范围内。g)试验箱内温度应继续稳定在25土2，相对湿度(933)，直至按规定低温分循环开始或24 h循环结束。】2p、憾娟GBT 189105-2008IEC 617475：1998黝 缓 霾黝) 12 2 时间h不规定降温速率钐形钐形钐钐黝镊 物霾 霾预处 l时间 初始检测图4预处理13冀避喇智罂GBT 189105-2008IEC 61747-5：1998p埘赠14钐形绣钐钐彩钐钐钐钐钐钐形钐勿：黝
34、 黝 隧无控制的相对湿度；=专是乒 =二；专毒 髟二= 2每专= ；幸12 4 6 8 10 12 14 1 6 l 8 20 24 时同h6 c e ， g彩钐彩筋 钐A多 萝 穸丝 雾 丝丝一优选范围1 5L5 容许范围(见GBT 3纾 容许菰胃刁 (见GBT 22 4 6 8 10 12 14 16 L8 20 ，如时间h7彩缴。此点的时间容许误差为士5 rain。a)相对湿度和温度条件湿热后暴露于低温图5相对湿度和温度条件341986的631 2)34一1986的6 31 2)x馘删茛罂p型赠GBT 189105-2008IEC 61747-5：19988 lO 12 i4 16 18
35、 20 22 24 时间hb)相对湿度和温度条件湿热后未暴露于低温图5(续)38光暴露381 模拟地表水平的太阳辐射GBT 2423241995试验Sa是适用的。382其他辐射在考虑中。39静电放电(ESD)试验IEC 60747-1：1983和其补充1(1991)，补充2(1993)及补充3(1996)是适用的。本试验应按照IEC 60747-1：1983和其补充2(1993)，第篇第3条的规定。15冀趟唰智晕GBT 189105-2008EC 61747-5：19984其他试验方法41标志的耐久性GBT 2423301999试验Xa是适用的。本试验的目的是验证器件经处理和典型清洗工艺后标志
36、的耐久性。411条件仅规定应采用的溶剂(包括水)。412初始检测样品应目检。413擦拭条件器件标志应在下述条件下擦拭(干或湿)：擦拭压力：(5土05)Ncm2；擦拭速度：2次s；5次。414擦拭材料应采用软材料(例如：棉花或抛光薄棉纸)。415最终检测样品应目检。416相关规范中应规定的内容当相关规范包含本试验时，应给出下列细节：a)擦拭材料；b)初始检测；c)最终检测。42刮擦试验(针对显示表面)在考虑中。43寿命试验在考虑中。5单色矩阵液晶显示模块的目检(不包括有源矩阵液晶显示模块)51概述样品目检的接收判据取决于：显示的尺寸和工作模式；图形单元的尺寸、质量和位置；应用；温度范围；检验要求
37、。因为总规范中不规定这些判据，因此，在详细规范中应规定这些判据，并有参照样品。注：应用肉眼或自动测试仪在无保护膜时进行检验。52显示目检521不通电状态5211试验条件在详细规范中应规定：视角范围；】6光源的位置及强度(取决于应用)持续时间；目测距离；环境温度。5212程序器件应检验下列外观缺陷，见表13。GBT 189105-20081EC 617475：1998表13器件应检验的外观缺陷缺 陷 拒收判据疵点(见图6)、气泡、异物 在详细规范中规定亮态下的亮暗缺陷、暗态下的亮暗缺陷在规定的视角方向范围内，液晶屏和偏振片上的划伤 在详细规范中规定可视区外的机械缺陷 在详细规范中规定上述缺陷的累
38、计 比照样品在可视区内电极显露 比照样品在可视区内或规定的视角方向范围内颜色和亮度的不均匀性 比照样品表面沾污，例如指纹印、粘接剂的残留物 比照样品A边框；B可视区C 缺陷；w一宽度522通电状态5221全显的检验(见图7和图8)图6可视区内的缺陷图7方形单元的偏离和畸形17固囱。GBT 189105-200811EC 61747-5：1998图8图形的边缘锯齿52211试验条件在详细规范中规定：驱动条件；光照条件；环境条件。52212程序应检验器件是否与详细规范一致(见表14和表15)。表14器件应检验的特性特 性 拒收判据单元图形尺寸 与详细规范不一致单元图形形状 与详细规范不一致表15器
39、件应检验的缺陷缺 陷 拒收判据单元图形缺失 与详细规范不一致单元图形多余 与详细规范不一致单元图形的工作 与详细规范不一致可视区内的密封胶 与详细规范不一致5222可视区的显示缺陷52221试验条件在详细规范中规定：驱动条件；视角方向范围；光源的位置及强度(取决于应用)持续时间；目测距离；环境温度。52222程序器件应检验下列缺陷(见表16)。】8GBT 189105-2008IEC 617475：1998表16器件应检验的缺陷缺 陷 拒收判据在单元图形内的针孔 在详细规范中规定(见图9)尺寸小于以上规定的针孔数量的累计 比照样品单元图形周边非图形区的针孔 在详细规范中规定不同单元图形之间对比
40、度的不同 在详细规范中规定在可视区内亮度的非均匀性 在详细规范中规定在可视区内对比度的非均匀性 在详细规范中规定在可视区内和规定的视角方向范围内亮度和颜色的非均匀性 比照样品高；一宽。图9图形单元及其周边区内的缺陷6单色液晶显示屏的目检(不包括有源矩阵液晶显示屏)61概述样品目检接收判据取决于：尺寸和显示工作模式；单元图形的尺寸、质量和位置；应用；温度范围；检验要求。因为总规范中不规定这些判据，因此，在详细规范中应规定这些判据，并有参照样品。注：应用肉眼或自动测试仪在无保护膜时进行检验。62显示目检621不通电状态6211在详细规范中规定的试验条件：视角方向范围；光源的位置和强度(取决于应用)；持续时间；目测距离；环境温度。GBT 189105-20081EC 61747-5：1
