GB T 19768-2005 过程分析器试样处理系统性能表示.pdf

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资源描述

1、ICS 19.020 N 53 2 中华人民共和国国家标准G/T 19768-2005/IEC 61115: 1992 过程分析器试样处理系统性能表示Expression of performance sample handling systems for process analyzers (IEC 61115 :1 992 ,IDT) 2005-05-18发布2005-12-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员A060609000515 GB/T 19768-2005/IEC 61115: 1992 前言本标准等同采用IEC61115:1992(过程分析器试

2、样处理系统性能表示)(英文版)。本标准等同翻译IEC61115: 1992。本标准3.3.5.9将变相器效率定义与其公式表达一致。为了便于使用,本标准做了下列编辑性修改:一一本国际标准一词改为本标准气一一用乘号X代替作为乘号的 ; 一一删除国际标准的前言;一一按GB/T1. 1-2000的要求,将附录D改为定义索引和附录E改为参考文献。将国际标准附录B表.B.1中注的内容改为本标准附录B表B.1中的正文内容。本标准引用的GB4793.1-1995等同采用IEC61010-l,IEC 60348已撤消,现由IEC61010代替。本标准的附录A、附录B、附录C均为资料性附录。本标准由中国机械工业联

3、合会提出。本标准由北京分析仪器研究所归口。本标准起草单位:北京分析仪器研究所、上海精密科学仪器有限公司雷磁仪器厂、北京市北分麦哈克分析仪器有限公司、南京南分分析仪器有限责任公司、重庆川仪九厂。本标准主要起草人z马雅娟、张心怡、余瑞宝、郭肇新、陈晓白、胡体宝。本标准所代替标准的历次版本发布情况为z一一-JBjT 6854-1993。I GBjT 19768-2005jIEC 61115: 1992 tJ l 大多数过程和环境分析器在流体试样的出入口都设计规走了试样的工作特性极限(例如:压力、露点等),而且,为了保证其功能,可能还需要一些辅助流体或其他公用设施。试样处理系统的作用是将一个或多个过程

4、分析器与一个或多个源流体连接在-起,以满足分析器的要求,并使分析器在经济合理适量的维护工作周期内正常工作(参见附录A.关于试样处理系统的作用、功能和特性的说明)。试样处理系统可以实现下述功能:一试样提取;一一试样传输;一二试样调理;一一废流排放;一一公用设施的提供;一一一试样流切换;一一性能监测和控制。通过分析器内部或外部试样处理系统组件也可能部分或全部实现七述某些功能,但本标准不考虑这部分同样处理系统。试样处理系统的设计取决于源流体、过程分析器及排放点的特性,甚至还取决于对整个测量装置所要求的特性。对试样处理系统的测试是非常重要的。由于系统结构的多样性和对系统的不同要求,在实际工作中采用了多

5、种不同的试验程序,用户和制造厂可以商定一些补充的试验程序,这些试验程序不包括在本标准内。H GB/T 19768-2005/IEC 61115: 1992 1 范围和目的1. 1 范围过程分析器试样处理系统性能表示本标准规定了确定试样处理系统功能特另外,还规定了该系统制造厂和用户应提供的资料。注1:本标准按照B注2:有关量、单;1. 1. 1 超出范围音本标准不包括1. 2 日的本标准旨在:一一-规定和统一与过程分析器试样处理系统功能特性有关的通用术语和定义;一一规定在大多数情况下为确定试样处理系统功能特性所应进行的试验;仪表装置,只要它们规定试样处理系统制造厂应获得的数据,这些数据应由用户或

6、过程分析器制造厂,或由试样处理系统部件制造厂提供;规定试样处理系统用户应获得的数据。2 规范性引用文件下列标准中的条款,通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究G/T 19768-2005/IEC 61115: 1992 是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。GB/T 6592一1996电工和电子测量设备性能表示(idtIEC 60359: 1987) GB 3100 国际单位制及其应用(eqvISO 1000: 1992) GB 31

7、01 有关量、单位和符号的一般原则(eqvISO 31-0: 1992 ) 注:IEC和ISO标准参考资料见附录E。3 定义3. 1 一般定义(见附录A和图A.1、图A.2对试样处理系统的说明。)3. 1. 1 过程分析器process analyzer 和掠流体相连自动给出输出信号的分析器,其输出信号包括?昆合流体中一种或多种组分的含量,或流体中由组分所决定的物理和化学性质。注z对取样式过程分析器,试样流从源流体中提取并输送到分析器测量;对插入式过程分析器直接在源流体中测量。3. 1.2 试样处理系统sample l-andling system 将一台或多台过程分析器与源流体、排放点以及公

8、用设施连接起来的系统。注1:试样处理系统从一处或几处源流体提取所需试样并进行调理,以满足过程分析器所有输入条件,只有这样才有可能对所研究的特性进行准确测量。该系统也可以保证适当的废流排放和提供所需公用设施。为确保试样处理系统部件预定功能的仪器,或者是为方便维修工作的仪表装置,只要它们是试样处理系统的功能部件,都被认为是试样处理系统的组成部分。注2:参见附录A和图A.l、图A.2对试样处理系统的说明。注3:图l给出了说明试样传输和废流排放功能的术语应用图解示例。候补取样点取样点试样管路试样流废流废流过程分析器旁通流,废流固1说明试样传输和废流排放功能的术语应用图解示例排放点3. 1.3 试样提取

9、sample extraction 试样处理系统从源流体中提取所需试样流的功能。注:提取的试样流应能真实地体现源流体的性质。3. 1. 3. 1 源流体source f1uid 从中提取试样流并测定其组分或性质的流体(气体或液体)。2 G/T 19768-2005/IEC 61115: 1992 注1:源流体可以流经过程管路或盛在容器中,周围空气也可以是源流体。注2:源流体和试样管路中的试样流可能是下列组分的混合物:3.1.3.2 一一被测组分p一一不相干组分;一障碍组分p干扰组分。被测组分component to be measured 过程分析器将要对其含量进行测量的一种组分或多种组分。3

10、.1.3.3 被测特性property to be measured 过程分析器测定的取决于源流体成分的物理或化学特性。3.1.3.4 不相干组分irrelevant components 对过程分析器或试样处理系统性能没有影响的非测量组分。3.1.3.5 障碍组分obstructive components 对过程分析器或试样处理系统部件性能有不利影响的组分。这些影响可能是:物理的(如光学分析器窗口污染); 一一一化学的(如腐蚀); 一一导致不允许的误差(如光度计液体试样流中的气泡)。障碍组分可能是固态、液态或气态。3. 1. 3. 6 干扰组分interfering components

11、引起过程分析器产生干扰误差的组分。3. 1.3.7 取样点sampling point 从摞流体中提取试样流的地方。注:需要时,在试样处理系统人口端设置一个各取样点的结合点,使来自不同取样点的试样流可以混合或能分别地测量。3. 1. 4 试样传输sample transport 试样处理系统将试样流从取样点输送到过程分析器人口端的功能。3. 1. 4. 1 试样管路sample line 从取样点到过程分析器入口端的连接部分,试样流在其中流动。注:过滤器、冷却器、泵、流量计等,可以是试样管路的组成部分(参见附录A中图A.2)。3. 1.4.2 . 试样流sample stream 在试样管路中

12、的流体。注1:其他流体可以从试样流中分出(如旁通流)或引人(如稀释流)。注2:在试样管路中流体的组分和物理状态只允许在可预知的方式下变化。注3:在分析器人口端调理试样流,使其特性满足过程分析器的要求。3 GB/T 19768-2005/IEC 61115: 1992 3. 1. 4. 3 旁通流bypass stream 从试样流中分出的流体。注1:旁通流的作用通常是为了减少试样处理系统的滞后时间。注2:术语旁通流也适用于过程流,因此,试样流可以从过程流的旁通流中提取。3. 1. 5 试样调理sample conditioning 试样处理系统改变试样流的物理和/C或)化学性质,而不改变其组分

13、(除非这种改变是按预知的方式进行),使之符合过程分析器要求的功能。注1:在试样调理中,试样流按预定的方式进行业理,L-ll金玉皇戈改变那些障碍组分和干扰组分。注2:要求试样调理所需达到的?#芹源流体的物理和化?峙,以及过程分析器输入端的条件。3. 1. 5.1 3. 1. 6 废流排放exh 试样处理系统模过3.1 . 6.1 排放点d 废流离开3. 1. 7 公用设施的d平邮试验流)c法a已知其含量或特性的流干。试样处理系统能自动或手动地将过程分析器顺序地连接到不同取样点的功能。处理系统可以产生不注:用于试样流切换的控制阀的电动或气动装置,只要它们是试样处理系统的功能部件,都可视为试样流切换

14、的组成部分。3. 1. 9 性能监测和控制performance monitoring and control 试样处理系统能自动或手动地对试样处理系统或过程分析器性能进行检查、维护或重新设置的功能。4 G/T 19768一2005/IEC61115: 1992 注1:试样处理系统和过程分析器可能包括实现性能监测和控制的单元。注2:用于维护试样处理系统和过程分析器的装置(如排放冷凝物的阀或重新校准用的装置).都可以视为性能监测和控制的组成部分(见附录A中图A.2示例)。注3:由于维护或可靠性的原因,处理来自测量仪表、敏感元件或试样处理系统部件的信号并为试样处理系统整体部分的装置,可视为性能监测

15、和控制的一部分。3. 1. 10 试样处理系统部件sample handling system component 用于实现试样处理系统功能的任一装置。3. 1. 10. 1 过滤器fiter 从流体中除去固体颗粒和液2注:过滤可以用机械凝聚或3. 1. 10.2 3. 1. 10.4 转换器c 改变流体3. 1. 10.5 洗涤器使气流通、3. 1. 10. 6 冷却器(加,.使一种或多3. 1. 10. 7 泵pump3. 1. 10. 8 变相器3. 1. 10. 9 气化器vaporizer 将液体全部转变为气体的装置。3. 1. 10. 10 取样探头sampling probe 插

16、入过程流或容器中提取试样流的装置。注:取样探头可以包括进行试样调理的部件(如过滤器)。5 GB/T 19768-2005/IEC 61115: 1992 3. 1. 11 性能performance 试样处理系统或试样处理系统部件达到预定功能的程度。3. 1. 11.1 性能特性performance characteristic 为了确定试样处理系统或其部件的性能,以数值、允差、范围等形式对试样处理系统或其部件所定的量。3. 1. 12 影晌量influence quantity 一般地指试样处理系统或其部件外部的、可能影响系统或其部件性能的量(如环境温度、环境压力、腐蚀性大气)。3. 1.

17、 13 规定范围、规定值specified range, specified value 被测量、被监测量、被提供量或被设置量的范围(值)。在该范围(值)内,试样处理系统或其部件在制造厂规定的性能特性极限内工作。3.2 有关使用、运输、贮存条件术语3.2. 1 规定工作条件specified operating conditions 包括:性能特性的有效范围和有效值;一一规定使用范围;一一取样点处源流体条件的规定范围和规定值(见4.1.1); 一一排放点处废流条件的规定范围和规定值(见4.1. 2) ; 一一公用设施的规定范围和规定值(见4.1. 3)。应在试样处理系统的规定土作条件内做出规定

18、。3.2. 1. 1 规定使用范围specified range of use 试样处理系统或其部件工作在制造厂规定的性能特性极限内时,影响量的数值范围。参见附录B。3.2.2 参比条件reference conditions 为了进行比较试验,所规定的一组带有允差或限定范围的影响量的值。参见附录Bo3.2.3 极限工作条件Iimit conditions of operation 指影响量和性能特性的整个数值范围(分别超出规定使用范围和有效范围),之后,当设备又在额定工作条件下运行时,能够正常工作而不引起损坏或性能下降。参见附录B。3.2.4 贮存、运输极限条件Iimit condition

19、s of storage and transport 在非工作状态时仪器贮存或运输所经受的温度、湿度、气压、振动和冲击等的全部条件。之后,当设备在规定工作条件下运行时,不引起损坏或性能下降。参见附录B。6 G/T 19768-2005/IEC 61115: 1992 3.3 有关试样处理系统及其部件性能指标术语试样处理系统及其部件作好使用准备,经过启动时间(如有必要),并按制造厂使用说明调整后,方可进行试验。3.3.1 时间常数(见圈2)试验程序见4.5.1。3.3. 1. 1 滞后时闰delay time T10 试样保持在规定值下流动,从被测浓度或特性在系统入口端产生一阶跃变化时刻起,到分

20、析器入口端的变化,通过并保持超出其稳态差的10%时的时间间隔。注g试样处理系统的滞后时间,通常取决于从取样点到过程分析器人口端传输试样所需要的时间。这一试样传输时间可用一台时间常数小的分析器和与其适应的试样流进行确定。3.3. 1.2 上升(下降)时间rise (fall) time Tr(T1) 试样保持在规定值下流动,从被测浓度或特性在系统人口端产生一个阶跃增加(减少)后,在分析器人口端从其稳态差的10%到(保持超出)90%的时间间隔。3.3. 1.3 90%时间90% time T90 滞后时间与上升或下降时间之和,取较大者。100% 90% 阶跃变化10% T.o TlO TlO 90

21、% 100% 10% 阶跃变化T帕圄2.时间常散和T10、Tr(Tr)和T90之间关系3.3. 1.4 周期cycle time 对于带有试样流自动切换装置的试样处理系统,周期是指连续两次对同一取样点处的试样流开始7 GB/T 19768-2005/IEC 61115: 1992 取样的时间间隔。注1:对所有取样点,周期不一定相同。注2:若连续两次取样的时间间隔小于试样流经切换阀和过程分析器所需时间的90%,且要求对分析器输出信号进行处理时,必须另行说明。对于非连续试样提取、试样传输或试样调理的试样处理系统,周期是指连续开始上述操作的时间间隔。3.3. 1. 5 带有试样流自动切换的试样处理系

22、统automatic sample stream switching 此外,该时间常数还参见4.5.2。3.3.1.6 启动时间从接通电源和时间间隔。3.3.2 漳透率参见4.5.4。3.3.3 维护要求3.3.4 状态信号status 3.3.5 特殊性能特性special 注:在试样调理过程中,试样流3.3.5.1 体积效应(富集效应)volume effect ( of sample handling systems with 量。该影响可以通过计算、补偿或对误差。从试样流中除去一些组分,导致调理试样流中被测组分浓度升高的效应。8 注1:被测组分浓度升高的典型实例是干式分析的水气排除。注

23、2:体积效应取决于源流体和调理试样流中待除去组分的浓度(如果没有完全除去)。如果这些浓度己知,则体积效应可用下式计算。Cm = (仨去)Cm 式中:Cm-源流体中被测组分的浓度;Cm一一-调理试样流中被狈组分的浓度(由过程分析器测得hC, -源流体中待除去组分的浓度; ( 1 ) C,一一调理试样流中待除去组分的残余浓度。其中,浓度为体积分数。如果必要,可通过估算C,和C,的平均浓度来修正体积效应。3.3.5.2 体积误差(富集误差)volume error (enrichment error) GB/T 19768-2005/IEC 61115: 1992 由于除去非被测组分,过程分析器在调

24、理试样流中测得的浓度可能已由公式(1)修正过与在取样点处被测组分浓度之差。注:若调理试样流中被测组分浓度是用C,和C,的平均浓度来修正的,则体积误差取决于C,和C,的变化。3.3.5.3 稀释效应dilution effect 式中:Qi注其中,浓度稀释效应可串通由于试样、补偿的浓度或注:若试样43.3.5.5 综合误差调理试样流3. 3.5. 6 注:转换器效率可用下式中转换系数来表示:式中:. ( 2 ) (2)计算,或通过Cm =k cm . ( 3 ) Cm 通过转换在转换器出口端所产生的组分的浓度,如果转换器人口端并不存在这种组分;Cm 在转换器人口端被转换组分的浓度;一一转换系数(

25、如完全转换,=1); 走一一由转换反应而得出的理想配比系数。其中,浓度为体积分数。9 GB/T 19768一2005/IEC61115: 1992 参见4.5. 5。3.3.5.7 转换器睿量converter capacity 转换器所能转换的被转换组分的量。常用的量纲z浓度时间。参见4.5.5。3.3.5.8 转换误差conversion error 如果由转换器产生的组分在转换器人口端不存在,则转换误差就是在转换器出口端产生并已修正按公式(3)计算,或通过补偿的组分浓度与转换器人口端被转换组分之差。3.3.5.9 变相器效率phase exchanger efficiency 变相器输出

26、流体中被测组分浓度与输入流体中同种组分浓度之比。注1:变相器效率可用下式中的变换系数来表示2式中:Cm一流体中该组分转化后被测组分的浓度,Cm-流体中该组分转化前被测组分的浓度;p一一变换系数。其中,浓度为体积分数。c m = Cm 注2:变换系数p取决于源流体中被变换组分的溶解度、温度、流量及变相器的构造。参见4.5.6。3.3.5. 10 变相器误差phase exchanger error ( 4 ) 变相器出口端已修正按公式(4)计算,或通过补偿的试样流浓度与变相器入口端试样流中被测组分浓度之差。4 说明程序下面列出了一些说明,对试样处理系统制造厂或用户可能是重要的。处于对试样处理系统

27、构造的考虑(见附录A图A.l),试样处理系统制造厂需要由用户(4.1)、过程分析器制造厂(4.2)以及试样处理系统部件制造厂(4.3)提供一些说明。用户也需要由试样处理系统制造厂(4.的提供其规定性能的说明。选择所需要的说明取决于具体情况。下面是从有用的说明中挑选出来的可作为一份使用的说明。在多数场合下重要的和必要的说明用星号(祷)标出。如果用最小值、中间值和最大值代替范围来描述,则更为实用。这里也考虑了异常情况。注:规定使用范围、参比条件、极限工作条件和运输贮存,就影响量而言,应加以规定,并从附录B所列组别中选择一个组别。4. 1 有关试样处理系统要求的说明(用户提出)4. 1. 1 有关取

28、样点处源流体的说明(用户提出)用户对各取样点处应尽可能提供下列说明:10 一-温度范围;一-一压力范围;一一物理状态p一-所有组分的浓度范围;GB/T 19768-2005/IEC 61115: 1992 一一取样点处过程管路的详细说明;一一颗粒和液滴的浓度和大小;一一一液源的密度和粘度,如有必要,气源在某一温度或多个温度下的密度和粘度;一一液源的pH值;一一源流体的速度范围、流量和方向;一一露点、沸点、闪点和熔点;一一-高浓度溶质的饱和温度;一一源流体的临界特性。如腐蚀性、可能发生的聚合反应和其他可导致组分变化的化学反应等。4. 1.2 有关排放点条件的说明(用户和试样处理系统制造厂提出)对

29、各排放点,制造厂和用户双方应商定下列说明:一一一压力范围(回路压力h温度范围;一一所允许的有害组分的最大浓度;一一废流的最大流量。4. 1.3 有关安装场所的说明(用户提出)为了说明试样处理系统是在怎样的环境条件下工作,用户应提供下列说明。如有必要,还要给出安装在不同位置上的试样处理系统部件所处环境条件的具体说明。一一环境温度范围;一一可得到的公用设施(电源条件、辅助流体的压力、温度和质量); 一一取样点和过程分析器之间的距离;一一过程分析器和各排放点之间的距离;一一环境压力范围:一一取样点和过程分析器之间的高度差(对液体试样流); 一一一区域场所级别;一一大气的腐蚀性。4.2 关于试样处理系

30、统要求的说明(过程分析器制造厂提出)为了使试样处理系统满足过程分析器的要求,过程分析器制造厂应提供下列说明。4.2. 1 过程分析器试样流入口端试样流温度范围;一一试样流流量范围;一一摞流体中干扰组分产生的干扰误差;一一源流体中障碍组分所允许的最大浓度;一一允许的露点;一一一压力范围;允许的密度范围;一一允许的粘度范围。4.2.2 过程分析器废流出口端压力施围:一一流量范围;一一一温度范围。4.2.3 过程分析器公用设施入口端一一辅助流体压力范围;11 G/T 19768-2005/IEC 61115: 1992 一一辅助流体流量范围;一一一有关辅助流体的质量要求;一一辅助流体温度范围;一一电

31、源和电能消耗的详细说明。4. 3 有关试样处理系统部件的说明(试样处理系统部件制造厂提出)为了说明试样处理系统部件的特性,从而对它们的可应用性做出判断,试样处理系统部件制造厂应提供下列说明。这些内容对试样处理系统制造厂是必要的,但对整个系统的用户来说不是必须的。如果用户提出要求,这些说明还是应该提供。一一与试样流接触的全部材料的清单;一一一有效的内部容积;试样流压力范围;试样流温度范围;性能特性(对一一环境条件安装说明;一一操作说明。4.5 特殊性能特性的说明4.5. 1 过程分析器测量系统时间常数的验证(见3.3.1和附录。含试样处理系统和过程分析器的整个过程分析测量系统的时间常数,应进行验

32、证。附录C给出了一种推荐的试验方法。4.5.2 带有试样流自动切换的测量系统的时间常数(见3.3.1. 5) 带有试样流自动切换的测量系统,应分别给出在最好和最坏的情况下的90%时间。12 GB/T 19768-2005/IEC 61115 : 1992 4. 5.3 渗透率(见3.3.2)应确定系统或部件的渗透率。注:由于可取样的材料种类多,因此不给出具体办法。4. 5. 4 维护要求通常维护工作在很大程度上取决于试样处理系统或其部件的工作环境。制造厂应向用户提供维护工作所需要的资料,这些资料应包括(但不仅限于这些): 为维护试样处理系统或其部件的工作状态所必须预先进行的工作说明;一一这些工

33、作所耗用的材料(备,、一一推荐的备件清单。4.5. 5 转换器效率和容量(田制造厂应根据规定使要,还应包括被转换组分注:在转换器注入口号膨久器测量结果中,4. 5.6 变相器效率(在校准过程中,范围(尤其是温度和注:在变相器注影响可以得A 以及规定使用,变相器效率的13 GB/T 19768-2005/IEC 61115: 1992 附录A(资料性附录)关于试样处理系统的作用、功能和特性的说明完整的过程分析测量系统至少包括一台过程分析器和一个试样处理系统,过程分析器就嵌入在该系统中。图A.l中,Z,表示过程分析器人口端对试样流特性要求的一系列量值和范围,但。表示在出口端对试样流特性的要求,Z.

34、表示在人口端对辅助流体特性的要求。试样处理系统取样点数据显示信号处理、/、/, /i、11 试样流切换性能监测和控制公用设施团A.1由过程分析器和试样处理系统组成完整的过程分析测量系统框圄(可能的基本功能:一一试样提取;一一试样传输;一一试样调理;一一试样流切换;一一公用设施的提供;一一废流排放。附加功能:一一性能监测和控制。特性:一一响应时间;一一-误差;一一可靠性;14 GB/T 19768-2005/IEC 61115: 1992 一一-投资和维护费用。)有规定要求的过程分析器,必须借助试样处理系统与取样点和环境相连。取样点处源流体特性用Z,J定量表示,提供给系统的辅助流体和电源特性用Z

35、A表示,排放点处可能的条件用Zd表示。试样处理系统的作用如下:一改变取样点处试样流特性Z,使过程分析器入口端的要求Z,得到满足;一一一改变所提供的公用设施的特性ZA,使过程分析器的要求Z.得到满足,必要时,试样处理系统部件的要求也得到满足;一将过程分析器出口端与排放点连接,使各自的要求Zo和Zd得到满足;试样处理系统可以实现下述基本功能:试样提取;一一试样传输;一一试样调理;一一废流排放;公用设施的提供;一一试样流切换。为了获得较高的可靠性和使维护费用保持在一个经济合理的水平上,通常有必要实现其附加功能z一一性能监测和控制。这种功能仪器化的可能性是多种多样的。其范围从为系统安装简单的测量仪表(

36、如流量计、压力计)和用试验流冲洗阅门,到通过用状态敏感元件和复杂电子系统组成的自动性能监测和控制,同时也能实现日常的自动维护工作(如校准),以及为了改善可靠性给出外部可获得的故障报告。并非所有的基本功能在一切场合下都必须实现。试样流切换相对来说就很少有此必要,对于某些电池供电的便携式分析器(如工作场所的健康测量),试样处理系统则完全没有必要。完整测量系统的一个简单例子如图A.2所示。如果取样点处压力足够高,以使试样流可通过试样处理系统和过程分析器经排放点进入大气,在这个例子中就没有使用试样流切换和公用设施的提供的功能。工厂| 控制窒分析仪器量室 过程分析器 零气1I零标气1I标11 吁11 1

37、1 11 圄A.2过程分析完整测量系统的简单例子15 GB/T 19768-2005/IEC 61115: 1992 表A.l包括了这个例子中的试样处理系统部件以及它们相应的功能。部件提取带有在线过滤器的取样探头阀被加热的试样管路过滤器(聚合剂)冷却器吸附器标准气用阀针阀流量计排放管一个完整带信息,到过析器中产生,试样提取、其他重要性能(如试样处理系统的结构。 试样处理系统的结构应性和可用性。16 表A.1试样处理系统部件的功能试样传输 调理 废流排放性能监测和控制 流从取样点处携差不仅在过程分于过程分析器,也取决于。在许多过程分析测量系统中,出的目的应是连续而可靠地获得准确GB/T 1976

38、8- 2005/IEC 61115 : 1992 附录B(资料性附录)工作、贮存和运输的工作组别和极限范围根据环境条件的严酷程度,影响量的工作范围可划分成五个组别,如表B.l所示。对于大多数试样处理系统和过程分析器所处的环境来说,在许多可能的影响量中,只有几个是重要的。这些影响量称作主要影响量。主要影响量的极限值或工作范围,根据其工作组别给出或按表B.2、表B.3规定。工作组别A 主要影响量其他国家标准给出的影响工作组别E特殊工作环境环境温度230C:1:10C或|忡飞由+二世-r、峪.-.l.他画,町100C $C I -250C 700C 27C土lOC二l_J:民可口2相对湿度40%60

39、% 30%70% 10%90% 电源电压额定值土1%I厂与用户共同|士5%士10%工作位置任意方向任意方向任意方向倾斜:1:l 倾斜:1:5。倾斜:1:50 注1:与特定设备有关的参比温度范围,应至少包含上述参比温度中的一个。注2.允差如上表所列,除非在有关国家标准中规定了更小的允差。5%95% 由制造厂与用户共同商定士15%任意方向倾斜土30。17 GB/T 19768一2005/IEC61115: 1992 襄B.3工作、贮存和运输的极限范围工作组别工作极限范围贮存和运输极限条件A 同工作范围,除非有关的国家标准中另有由制造厂与用户共同商定,除非有关的国家l规定标准另有规定B、C、D同工作

40、范围主要影响量2温度:-40C -70C 相对湿度:5%-95%其他影响量z由制造厂与用户共同商定E 由制造厂与用户共同商定由制造厂与用户共同商定注1:工作极限范围适用于所有的影响量。注2:贮存与运输极限范围只适用于仪器不工作时影响仪器的那些影响量,例如电压等不适用。18 GB/T 19768-2005/IEC 61115: 1992 附录C(资料性附录)过程分析测量系统时间常数的验证确定由试样处理系统和过程分析器组成的整个测量系统的时间常数,可遵循下述程序z在取样点处注入试样流,同时记录过程分析器的输出,直至得到分析器的一个恒定读数。然后,在取样点处注入一混合物试验流,使得在分析器上产生满刻

41、度的65%-95%之间的信号变化。时间常数值由引人后一试验流起所经历的时间确定。如无合适的试验流,或不能从取样点处注人试验流,则可采用下述程序(参考文献3J),将系统和一个具有稳定成分的源流体相连,该源流体在仪器上能产生满刻度的50%-95%之间的信号。用一种和源流体相似的流体,完全反冲整个试样处理系统和过程分析器,使该流体不会在仪器上产生大于满刻度10%的信号。然后停止反冲,同时在过程分析器和试样处理系统工作在规定工作条件期间,记录过程分析器的信号。滞后时间和上升时间通过测定所记录的仪器的信号来确定。其他试验方法由制造厂和用户共同商定。19 GB/ T 19768-2005/IEC 6 11

42、15 : 1992 定义索引术语条款术语条款过程分析器3. 1. 1 取样探头3. 1. 10. 10 试样处理系统3. 1. 2 性能3. 1. 11 试样提取3. 1. 3 性能特性3. 1. 11. 1 源流体3. 1. 12 被测组分3. 1. 13 被测特性3. 2. 1 不相干组分3. 2. 1. 1 障碍组分3. 2. 2 干扰组分3. 2. 3 取样点3. 2. 4 试样传输3. 3. 1 试样管路3. 3. 1. 1 试样流3. 3. 1. 2 旁通流3. 3. 1. 3 试样调理3. 3. 1. 4 调理试样流3. 3. 1. 5 废流排放排放点3. 3. 1. 6 废流3

43、. 3.2 公用设施的提供3. 3. 3 校准流(试验流)3. 3. 4 出样流切换3. 3.5 性能监测和控制3. 3. 5. 1 试样处理系统部件3. 3. 5.2 过滤器3. 3. 5.3 分离器3. 3. 5. 4 吸收器3. 3.5.5 转换器3. 3. 5.6 洗涤器3. 3. 5.7 冷却器(加热器)3. 3. 5.8 泵3. 1. 10. 7 3.3. 5. 9 变相器3. 1. 10.8 变相器误差3. 3. 5. 10 气化器3. 1. 10. 9 20 G/T 19768-2005/IEC 61115: 1992 参考文献E.1 文件 l J E. A. Houser.用

44、于过程分析器的试样处理和取样系统的设计原理.Instrument Society of America , Pittsburgh ,Pa. , 1972 2J 3J 4J VD/ VDE- Richtlini 5J VD/ VDE - Ri ch 6J E.2 国家标准GB/ T 3370-GB 3836爆GB 4793. 1 E. 3 IEC标准IEC 60746-1 :1 1EC 60746-2 : 1 E. 4 ISO标准1SO 67 12 : 1982 . Chemi e- Ingenieur-21 中华人民共和国国家标准过程分析器试样处理系统性能表示GB/T 19768一2005/IEC61115 :1 992 铃中国标准出版社出版发行北京复兴门外三里河北街16号邮政编码:100045网址电话:6852394668517548 中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷各地新华书店经销当&开本880X12301/16 印张1.75 字数44千字2005年9月第一版2005年9月第一次印刷 书号:155066 1-26039 定价15.00元如有印装差错由本社发行中心调换版权专有侵权必究举报电话:(010)68533533GB/T 19768-2005 NmmF LO FFFUU国的CON-h-H阁。

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