1、November 2005DEUTSCHE NORM Normenausschuss Materialpr fung (NMP) im DINPreisgruppe 14DIN Deutsches Institut f r Normung e.V. Jede Art der Vervielf ltigung, auch auszugsweise, nur mit Genehmigung des DIN Deutsches Institut f r Normung e. V., Berlin, gestattet.ICS 19.100DF 9626403www.din.deXDIN EN 147
2、84-1Zerst rungsfreie Pr fung Industrielle ComputerRadiographie mit PhosphorSpeicherfolien Teil 1: Klassifizierung der Systeme;Deutsche Fassung EN 147841:2005Nondestructive testing Industrial computed radiography with storage phosphor imaging plates Part 1: Classification of systems;German version EN
3、 147841:2005Essais non destructifs Radiographie industrielle numrise avec des plaquesimages au phosphore Partie 1: Classification des systmes;Version allemande EN 147841:2005Alleinverkauf der Normen durch Beuth Verlag GmbH, 10772 Berlin www.beuth.deGesamtumfang 32 SeitenDIN EN 14784-1:2005-11 2 Nati
4、onales Vorwort Dieses Dokument wurde vom Technischen Komitee CEN/TC 138 Zerstrungsfreie Prfung erarbeitet, dessen Sekretariat von AFNOR (Frankreich) gehalten wird. Das zustndige deutsche Gremium ist der Arbeitsausschuss NMP 822 Durchstrahlungsprfung und Strahlenschutz im Normenausschuss Material-prf
5、ung (NMP). EUROPISCHE NORM EUROPEAN STANDARD NORME EUROPENNE EN 14784-1 August 2005 ICS 19.100 Deutsche Fassung Zerstrungsfreie Prfung Industrielle Computer-Radiographie mit Phosphor-Speicherfolien Teil 1: Klassifizierung der Systeme Non-destructive testing Industrial computed radiography with stora
6、ge phosphor imaging plates Part 1: Classification of systems Essais non destructifs Radiographie industrielle numrisavec des plaques-images au phosphore Partie 1: Classification des systmes Diese Europische Norm wurde vom CEN am 1. Juli 2005 angenommen. Die CEN-Mitglieder sind gehalten, die CEN/CENE
7、LEC-Geschftsordnung zu erfllen, in der die Bedingungen festgelegt sind, unter denen dieser Europischen Norm ohne jede nderung der Status einer nationalen Norm zu geben ist. Auf dem letzten Stand befindliche Listen dieser nationalen Normen mit ihren bibliographischen Angaben sind beim Management-Zent
8、rum oder bei jedem CEN-Mitglied auf Anfrage erhltlich. Diese Europische Norm besteht in drei offiziellen Fassungen (Deutsch, Englisch, Franzsisch). Eine Fassung in einer anderen Sprache, die von einem CEN-Mitglied in eigener Verantwortung durch bersetzung in seine Landessprache gemacht und dem Manag
9、ement-Zentrum mitgeteilt worden ist, hat den gleichen Status wie die offiziellen Fassungen. CEN-Mitglieder sind die nationalen Normungsinstitute von Belgien, Dnemark, Deutschland, Estland, Finnland, Frankreich, Griechenland, rland, Island, Italien, Lettland, Litauen, Luxemburg, Malta, den Niederland
10、en, Norwegen, sterreich, Polen, Portugal, Schweden, der Schweiz, der Slowakei, Slowenien, Spanien, der Tschechischen Republik, Ungarn, dem Vereinigten Knigreich und Zypern. EUROPISCHES KOMITEE FR NORMUNG EUROPEAN COMMITTEE FOR STANDARDIZATION COMIT EUROPEN DE NORMALISATIONManagement-Zentrum: rue de
11、Stassart, 36 B-1050 Brssel 2005 CEN Alle Rechte der Verwertung, gleich in welcher Form und in welchem Verfahren, sind weltweit den nationalen Mitgliedern von CEN vorbehalten.Ref. Nr. EN 14784-1:2005 DEN 14784-1:2005 (D) 2 Inhalt Seite Vorwort 3 1 Anwendungsbereich .4 2 Normative Verweisungen4 3 Begr
12、iffe .5 4 Qualifikation des Personals6 5 CR-Bildgteprfkrper6 6 Verfahren zur quantitativen Messung von Bildgteparametern.9 7 Klassifizierung von CR-Systemen und Auswertung der Ergebnisse 17 Anhang A (informativ) Beispiel fr die IIPx-Messung. 21 Anhang B (informativ) Beispiel fr ein CR-Prfphantom. 25
13、 Anhang C (informativ) Leitfaden zur Anwendung der verschiedenen Tests und Testverfahren. 28 Literaturhinweise . 30 EN 14784-1:2005 (D) 3 Vorwort Dieses Dokument (EN 14784-1:2005) wurde vom Technischen Komitee CEN/TC 138 Zerstrungsfreie Prfung“ erarbeitet, dessen Sekretariat vom AFNOR gehalten wird.
14、 Diese Europische Norm muss den Status einer nationalen Norm erhalten, entweder durch Verffentlichung eines identischen Textes oder durch Anerkennung bis Februar 2006, und etwaige entgegenstehende nationale Normen mssen bis Februar 2006 zurckgezogen werden. EN 14784 umfasst eine Reihe Europischer No
15、rmen fr die industrielle Computer-Radiographie mit Phosphor-Speicherfolien, die sich aus den Nachfolgenden zusammensetzen: EN 14784-1 Zerstrungsfreie Prfung Industrielle Computer-Radiographie mit Phosphor-Speicherfolien Teil 1: Klassifizierung der Systeme EN 14784-2 Zerstrungsfreie Prfung Industriel
16、le Computer-Radiographie mit Phosphor-Speicherfolien Teil 2: Grundlagen fr die Prfung von metallischen Werkstoffen mit Rntgen- und Gammastrahlen Entsprechend der CEN/CENELEC-Geschftsordnung sind die nationalen Normungsinstitute der folgenden Lnder gehalten, diese Europische Norm zu bernehmen: Belgie
17、n, Dnemark, Deutschland, Estland, Finnland, Frankreich, Griechenland, Irland, Island, Italien, Lettland, Litauen, Luxemburg, Malta, Niederlande, Norwegen, sterreich, Polen, Portugal, Schweden, Schweiz, Slowakei, Slowenien, Spanien, Tschechische Republik, Ungarn, Vereinigtes Knigreich und Zypern. EN
18、14784-1:2005 (D) 4 1 Anwendungsbereich In diesem Dokument werden fr Systeme der Computer-Radiographie die grundlegenden Parameter mit dem Ziel festgelegt, auf wirtschaftliche Art und Weise zufrieden stellende und wiederholbare Ergebnisse zu erreichen. Die Techniken basieren sowohl auf den grundlegen
19、den Theorien als auch auf Testmessungen. Es werden die Leistungsfhigkeit von Systemen der Computer-Radiographie (CR-Systeme) sowie die Messung der entsprechenden Parameter des zugehrigen Abtastsystems und der Phosphor-Speicherfolie (IP) spezifiziert. Fr diese Systeme wird eine Klassifizierung in Kom
20、bination mit festgelegten Metallfolien fr die industrielle Durchstrahlungsprfung beschrieben. Durch dieses Dokument soll sichergestellt werden, dass die Bildgte, so weit sie von der Kombination aus Speicherfolie und Abtastsystem beeinflusst wird, den Anforderungen von Teil 2 dieses Dokuments entspri
21、cht. Das Dokument bezieht sich auf die Anforderungen an Filmsysteme fr Durchstrahlungsprfungen, die in EN 584-1 und ISO 11699-1 definiert werden. In diesem Dokument werden Systemtests unterschiedlichen Aufwands festgelegt. Es werden komplizierte Tests beschrieben, mit denen die Bestimmung exakter Sy
22、stemparameter mglich ist. Sie knnen zur Klassifizierung der Systeme von unterschiedlichen Lieferanten angewendet werden, um die Vergleichbarkeit der Systeme fr die Anwender zu erleichtern. Diese Tests werden als Herstellertests bezeichnet. Fr einige dieser Herstellertests sind spezielle Gerte erford
23、erlich, mit denen das Prflaboratorium des Anwenders im Allgemeinen nicht ausgestattet ist. Aus diesem Grund werden auch einfachere Tests beschrieben, die fr den Anwender als Schnelltest zur Ermittlung der Qualitt von CR-Systemen und ihrer Langzeitstabilitt vorgesehen sind. Es gibt verschiedene Fakto
24、ren, die auf die Qualitt eines CR-Bildes Einfluss nehmen, wie geometrische Unschrfe, Signal-Rausch-Verhltnis, Streustrahlung und Kontrastempfindlichkeit. Im optischen Abtastsystem beeinflussen verschiedene zustzliche Faktoren (z. B. die Abtastparameter) die exakte Auslesung der Bilder aus den Speich
25、erfolien (IPs). Die Qualittsfaktoren knnen am genauesten durch die in diesem Dokument beschriebenen Herstellertests bestimmt werden. Zur Qualittssicherung werden einzelne Bildgteprfkrper beschrieben, die fr praktische, vom Anwender durchzufhrende Tests empfohlen werden. Die Tests knnen entweder einz
26、eln am jeweiligen Prfkrper oder an einem CR-Phantom (Anhang B) ausgefhrt werden. Dieses CR-Phantom umfasst viele der grundlegenden Verfahren zur Beurteilung der Qualitt sowie Verfahren zur berprfung der vorschriftsmigen Funktionsweise des CR-Systems, einschlielich des zum Auslesen der bestrahlten Sp
27、eicherfolien angewendeten Abtastsystems und des ordnungsgemen Lschens der Speicherfolie vor der erneuten Verwendung. Die im vorliegenden Dokument beschriebenen CR-Systemklassen beziehen sich nicht auf bestimmte Speicherfolien bestimmter Hersteller. Eine CR-Systemklasse ergibt sich aus der Anwendung
28、einer bestimmten Speicherfolie unter Bercksichtigung der Belichtungsbedingungen, insbesondere der Gesamtbelichtung, der Art des Abtastsystems und der Abtastparameter. 2 Normative Verweisungen Die folgenden zitierten Dokumente sind fr die Anwendung dieses Dokuments erforderlich. Bei datierten Verweis
29、ungen gilt nur die in Bezug genommene Ausgabe. Bei undatierten Verweisungen gilt die letzte Ausgabe des in Bezug genommenen Dokuments (einschlielich aller nderungen). EN 462-5, Zerstrungsfreie Prfung Bildgte von Durchstrahlungsaufnahmen Teil 5: Bildgteprfkrper (Doppel-Drahtsteg), Ermittlung der Bild
30、unschrfe EN 584-1, Zerstrungsfreie Prfung Industrielle Filme fr die Durchstrahlungsprfung Teil 1: Klassifi-zierung von Filmsystemen fr die industrielle Durchstrahlungsprfung EN 14784-1:2005 (D) 5 3 Begriffe Fr die Anwendung dieses Dokuments gelten die folgenden Begriffe. 3.1 Computer-Radiographiesys
31、tem (CR-System) vollstndiges System, das aus einer Phosphor-Speicherfolie (IP) und der zugehrigen Ausleseeinheit (Abtastsystem oder Scanner) und System-Software besteht, mit der die Informationen aus der Speicherfolie in ein digitales Bild umgewandelt werden 3.2 CR-Systemklasse spezielle Gruppe von
32、Phosphor-Speicherfoliensystemen, die durch den in Tabelle 1 festgelegten Bereich des SNRs (des Signal-Rausch-Verhltnisses) und durch einen bestimmten Wert der Basis-Ortsauflsung (z. B. mit dem Doppel-Drahtsteg bestimmt) in einem bestimmten Belichtungsbereich gekennzeichnet wird 3.3 CEN-Empfindlichke
33、it, SCENdefiniert die Empfindlichkeit eines CR-Systems, die aus dem reziproken Wert der in Gray gemessenen Strahlungsdosis errechnet wird, die notwendig ist, um das festgelegte Mindest-SNR fr ein CR-System zu erreichen 3.4 Signal-Rausch-Verhltnis (SNR) Quotient aus dem Mittelwert der linearisierten
34、Signalintensitt und der Standardabweichung des Rauschens bei dieser Signalintensitt. Das SNR hngt von der Strahlungsdosis und den Eigenschaften des CR-Systems ab 3.5 Modulations-bertragungsfunktion (MTF) normierter Betrag der Fouriertransformierten (FT) einer differenzierten Kantenspreizfunktion (ES
35、F) der linearisierten photo-stimulierten Lumineszenzintensitt (PSL-Intensitt), die rechtwinklig zur Abbildung einer scharfen Kante gemessen wird. Die MTF beschreibt die Kontrastbertragung in Abhngigkeit von der Objektgre. Sie kennzeichnet die Unschrfe des CR-Systems in Abhngigkeit vom Abtastsystem u
36、nd Speicherfolientyp 3.6 CR-Phantom Vorrichtung, die eine Anordnung von Bildgteprfkrpern zur Bewertung und berwachung der Qualitt des CR-Systems enthlt 3.7 Instabilitt der Laserstrahl-Abtastung (Laserstrahl-Jitter) unzureichend gleichmige Bewegung des zur Abtastung der Speicherfolie angewendeten Las
37、erscanners, wodurch Linien im Bild als eine Reihe von Stufen erscheinen 3.8 Schlupf des Abtastsystems Rutschen einer IP im Transportsystem des Abtasters, das zu einer Intensittsschwankung der horizontalen Bildzeilen fhrt 3.9 Aliasing; Alias-Effekt Signale hoher Ortsfrequenzen oberhalb der Abtast-Fre
38、quenz (gegeben durch den Pixelabstand), die bei niedrigeren Ortsfrequenzen in das Bild zurck gefaltet werden EN 14784-1:2005 (D) 6 3.10 Verstrkung Einstellung der opto-elektrischen Verstrkung des Abtastsystems 3.11 linearisierte Signalintensitt numerischer Wert des Signals fr ein Bildelement (Pixel)
39、 im Digitalbild, der proportional zur Strahlungsdosis ist. Bei einer Strahlungsdosis null ist die linearisierte Signalintensitt null 3.12 Basis-Ortsauflsung der Auslesewert der Unschrfe, gemessen mit dem Doppel-Drahtsteg nach EN 462-5, geteilt durch zwei als effektive Pixelgre der CR-System-Qualifik
40、ation des Personals 4 Qualifikation des Personals Es wird davon ausgegangen, dass die industrielle Computer-Radiographie von qualifiziertem und befhigtem Personal durchgefhrt wird. Zur berprfung der Qualifikation wird eine Zertifizierung des Personals nach EN 473 oder ISO 9712 empfohlen. 5 CR-Bildgt
41、eprfkrper 5.1 Beschreibung von CR-Bildgteprfkrpern fr Anwender- und Herstellertests 5.1.1 Allgemeines Nachfolgend werden CR-Bildgteprfkrper beschrieben, die unter Verweis auf dieses Dokument identifiziert werden. 5.1.2 Bildgteprfkrper (BPK) zur Anzeige der Kontrastempfindlichkeit Die Beschreibung de
42、r fr die Anzeige der Kontrastempfindlichkeit ausgewhlten Prfkrper entspricht ASTM E 1647-98a (Einzelheiten siehe Anhang B.4). 5.1.3 Doppel-Drahtsteg-Bildgteprfkrper Die Beschreibung der Doppel-Drahtsteg-Bildgteprfkrper entspricht EN 462-5. Der BPK muss unter einem Winkel von 5 zur Richtung der Abtas
43、tzeilen oder rechtwinklig zu den Abtastzeilen (in Richtung der Folienbewegung) angeordnet werden. 5.1.4 Bildgteprfkrper (BPK) mit konvergierenden Linienpaaren Dieser Prfkrper besteht aus fnf konvergierenden (0,03 mm dicken) Bleistreifen, die fr die Bestimmung der Ortsauflsung verwendet werden knnen,
44、 indem die Grenze der gerade noch getrennt wahrnehmbaren Linienpaare bestimmt wird. Sie mssen einen Bereich von 1,5 bis 20 Linienpaaren pro Millimeter (lp/mm) umfassen. Es sind zwei Bildgteprfkrper zu verwenden, einer in Richtung der Abtastzeilen und der andere rechtwinklig dazu. 5.1.5 Bildgteprfkrp
45、er (BPK) zur Anzeige der Linearitt Lineale aus hoch absorbierendem Material befinden sich am Rand des abgetasteten Bereichs. Es mssen zwei Prfkrper verwendet werden, einer in Richtung der Abtastzeilen und der andere rechtwinklig dazu. Die Skale muss mindestens in Millimeter unterteilt sein. EN 14784
46、-1:2005 (D) 7 5.1.6 T-Target Dieser CR-Bildgteprfkrper besteht aus einem scharfkantigen, dnnen Messing- oder Kupferblech (Dicke 0,5 mm). Dieses Blech wird in Form eines T“ mit 5 mm breiten Segmenten hergestellt. Das T“ sollte eine Gre von mindestens 50 mm 70 mm haben. Es ist rechtwinklig bzw. parall
47、el zur Richtung der Abtastzeilen auszurichten (siehe Bild B.1). 5.1.7 Bildgteprfkrper (BPK) zur Anzeige des Abtastschlupfs Dieser Bildgteprfkrper besteht aus einem homogenen, 0,5 mm dicken Aluminiumstreifen. Er hat eine rechteckige Form (siehe Bild B.1) und muss rechtwinklig bzw. parallel zur Richtu
48、ng der Abtastzeilen ausgerichtet werden. 5.1.8 Bildgteprfkrper (BPK) zur Anzeige der Bildinhomogenitt (Shading) Zur Messung der Bildinhomogenitt drfen unterschiedliche Indikatoren angewendet werden. Eine Ausfhrung basiert auf der gleichmigen Belichtung einer Speicherfolie (IP), auf der ein dnnes Al-
49、Blech (0,5 mm bis 1,0 mm) angeordnet ist. Die Belichtung muss durch energiearme Strahlung erfolgen (50 keV bis 100 keV). Eine weitere Ausfhrung ist der Bildinhomogenitts-BPK des CR-Prfphantoms (siehe Anhang B). 5.1.9 Bildgteprfkrper (BPK) zur Anzeige der Ausrichtung des Zentralstrahls Der Ausrichtungs-Prf
