1、Juni 2009DEUTSCHE NORM Normenausschuss Luft- und Raumfahrt (NL) im DINPreisgruppe 9DIN Deutsches Institut fr Normung e.V. Jede Art der Vervielfltigung, auch auszugsweise, nur mit Genehmigung des DIN Deutsches Institut fr Normung e.V., Berlin, gestattet.ICS 49.060!$UV“1505751www.din.deDDIN EN 3475-50
2、8Luft- und Raumfahrt Elektrische Leitungen fr Luftfahrtverwendung - Prfverfahren Teil 508: Schichtdicke des berzugs;Deutsche und Englische Fassung EN 3475-508:2007Aerospace series Cables, electrical, aircraft use - Test methods Part 508: Plating thickness;German and English version EN 3475-508:2007S
3、rie arospatiale Cbles lectriques usage aronautique - Mthodes dessais Partie 508: Epaisseur du revtement;Version allemande et anglaise EN 3475-508:2007Alleinverkauf der Normen durch Beuth Verlag GmbH, 10772 BerlinErsatz frDIN EN 3475-508:2002-12www.beuth.deGesamtumfang 21 Seiten2 Nationales Vorwort D
4、er Verband der Europischen Luft-, Raumfahrt- und Verteidigungsindustrie Normung (ASD-STAN) ist vom Europischen Komitee fr Normung (CEN) fr zustndig erklrt worden, Europische Normen (EN) fr das Gebiet der Luft- und Raumfahrt auszuarbeiten. Durch die Vereinbarung vom 3. Oktober 1986 wurde ASD Assoziie
5、rte Organisation (ASB) des CEN. Die vorliegende Norm EN 3475-508:2007 wurde von ASD-STAN, Fachbereich Elektrotechnik, unter Mitwirkung deutscher Experten des Normenausschusses Luft- und Raumfahrt erarbeitet. Das zustndige deutsche Normungsgremium ist der Arbeitssauschuss NA 131-04-02 AA Elektrische
6、Leitungen“ im DIN Normenausschuss Luft- und Raumfahrt. Entsprechend Beschluss 57/9 des Technischen Ausschusses des Beirats des Normenausschusses Luft- und Raumfahrt (NL) im DIN Deutsches Institut fr Normung e. V. sind die europischen Luft- und Raumfahrt-Normungsergebnisse zweisprachig, in Deutsch un
7、d Englisch, in das Deutsche Normenwerk zu berfhren. Aus diesem Grund wurde der Deutschen Fassung dieser EN-Norm die Englische Fassung hinzugefgt. nderungen Gegenber DIN EN 3475-508:2002-12 wurden folgende nderungen vorgenommen: a) es wurde ein fnftes Prfverfahren aufgenommen. Dieses bestimmt die Sch
8、ichtdicke durch chemisches Entfernen der Schicht und ist besonders zur Ermittlung der mittleren Dicke bei unregelmigen Schichten geeignet. Frhere Ausgaben DIN EN 3475-508: 2002-12 DIN EN 3475-508:2009-06 EUROPISCHE NORM EUROPEAN STANDARD NORME EUROPENNE EN 3475-508 August 2007 ICS 49.060 Ersatz fr E
9、N 3475-508:2002 Deutsche Fassung Luft- und Raumfahrt Elektrische Leitungen fr Luftfahrtverwendung Prfverfahren Teil 508: Schichtdicke des berzugs Aerospace series Cables, electrical, aircraft use Test methods Part 508: Plating thickness Srie arospatiale Cbles lectriques usage aronautique Mthodes des
10、sais Partie 508: Epaisseur du revtement Diese Europische Norm wurde vom CEN am 21. Juni 2007 angenommen. Die CEN-Mitglieder sind gehalten, die CEN/CENELEC-Geschftsordnung zu erfllen, in der die Bedingungen festgelegt sind, unter denendieser Europischen Norm ohne jede nderung der Status einer nationa
11、len Norm zu geben ist. Auf dem letzten Stand befindliche Listen dieser nationalen Normen mit ihren bibliographischen Angaben sind beim Management-Zentrum des CEN oder bei jedem CEN-Mitglied auf Anfrage erhltlich. Diese Europische Norm besteht in drei offiziellen Fassungen (Deutsch, Englisch, Franzsi
12、sch). Eine Fassung in einer anderen Sprache,die von einem CEN-Mitglied in eigener Verantwortung durch bersetzung in seine Landessprache gemacht und dem Manegement-Zentrummitgeteilt worden ist, hat den gleichen Status wie die offiziellen Fassungen. CEN-Mitglieder sind die nationalen Normungsinstitute
13、 von Belgien, Bulgarien, Dnemark, Deutschland, Estland, Finnland, Frankreich,Griechenland, Irland, Island, Italien, Lettland, Litauen, Luxemburg, Malta, den Niederlanden, Norwegen, sterreich, Polen, Portugal, Rumnien, Schweden, der Schweiz, der Slowakei, Slowenien, Spanien, der Tschechischen Republi
14、k, Ungarn, dem Vereinigten Knigreichund Zypern. EUROPISCHES KOMITEE FR NORMUNG EUROPEAN COMMITTEE FOR STANDARDIZATION COMIT EUROPEN DE NORMALISATIONManagement-Zentrum: rue de Stassart, 36 B-1050 Brssel 2007 CEN Alle Rechte der Verwertung, gleich in welcher Form und in welchem Verfahren, sind weltwei
15、t den nationalen Mitgliedern von CEN vorbehalten.Ref. Nr. EN 3475-508:2007 DEN 3475-508:2007 (D) 2 Inhalt Seite Vorwort 3 1 Anwendungsbereich .4 2 Normative Verweisungen4 3 Prfverfahren .4 4 Anforderungen.9 DIN EN 3475-508:2009-06 EN 3475-508:2007 (D) 3 Vorwort Dieses Dokument (EN 3475-508:2007) wur
16、de vom Verband der Europischen Luft-, Raumfahrt- und Verteidigungsindustrie Normung (ASD-STAN) erstellt. Nachdem Umfragen und Abstimmungen entsprechend den Regeln dieses Verbandes durchgefhrt wurden, hat diese Norm die Zustimmung der nationalen Verbnde und offiziellen Behrden der Mitgliedslnder der
17、ASD erhalten, bevor sie CEN vorgelegt wurde. Diese Europische Norm muss den Status einer nationalen Norm erhalten, entweder durch Verffentlichung eines identischen Textes oder durch Anerkennung bis Februar 2008, und etwaige entgegenstehende nationale Normen mssen bis Februar 2008 zurckgezogen werden
18、. Es wird auf die Mglichkeit hingewiesen, dass einige Texte dieses Dokuments Patentrechte berhren knnen. CEN und/oder CENELEC sind nicht dafr verantwortlich, einige oder alle diesbezglichen Patentrechte zu identifizieren. Diese Norm ersetzt EN 3475-508:2002. Entsprechend der CEN/CENELEC-Geschftsordn
19、ung sind die nationalen Normungsinstitute der folgenden Lnder gehalten, diese Europische Norm zu bernehmen: Belgien, Bulgarien, Dnemark, Deutschland, Estland, Finnland, Frankreich, Griechenland, Irland, Island, Italien, Lettland, Litauen, Luxemburg, Malta, Niederlande, Norwegen, sterreich, Polen, Po
20、rtugal, Rumnien, Schweden, Schweiz, Slowakei, Slowenien, Spanien, Tschechische Republik, Ungarn, Vereinigtes Knigreich und Zypern. DIN EN 3475-508:2009-06 EN 3475-508:2007 (D) 4 1 Anwendungsbereich Diese Norm legt die Verfahren zum Messen der Schichtdicke und Zentrizitt von metallischen berzgen auf
21、Einzeldrhten fest. Sie ist in Verbindung mit EN 3475-100 anzuwenden. 2 Normative Verweisungen Die folgenden zitierten Dokumente sind fr die Anwendung dieses Dokuments erforderlich. Bei datierten Verweisungen gilt nur die in Bezug genommene Ausgabe. Bei undatierten Verweisungen gilt die letzte Ausgab
22、e des in Bezug genommenen Dokuments (einschlielich aller nderungen). ISO 6955, Analytical spectroscopic methods Flame emission, atomic absorption, and atomic fluorescence Vocabulary EN 3475-100, Luft- und Raumfahrt Elektrische Leitungen fr Luftfahrt, Verwendung Prfverfahren Teil 100: Allgemeines 3 P
23、rfverfahren 3.1 Allgemeines Fnf Verfahren knnen angewendet werden. Im Schiedsfall ist Verfahren 4 das Bezugsverfahren zum Messen der Schichtdicke. 3.2 Prfverfahren 1 3.2.1 Kurzbeschreibung Bei diesem Verfahren wird ein Analyseverfahren zum Nachweis von Elementen und zur Bestimmung der Konzentration
24、durch Messen der atomaren Absorption optischer Strahlung angewendet. Die mittlere Schicht-dicke wird durch Umrechnung der gemessenen Konzentration der Elemente bestimmt. Die Bestimmung der Zentrizitt (Verteilung des Metallberzugs) ist mit diesem Verfahren nicht mglich. 3.2.2 Verfahren Zur Bestimmung
25、 der Metallkonzentration nach ISO 6955 ist eine Flammen-AAS (Atomabsorptions-Spektro-metrie) ausreichend. Andere Verfahren, z. B. Graphitrohr-, Kaltdampf- oder Hybridtechnik, ermglichen hhere Auflsungen. Allgemeine Hinweise zu den erforderlichen Betriebsmitteln, wie Brenngasen, Oxidanzien, Lichtquel
26、len usw., und die eigentliche Gertebedienung sind der zum jeweiligen AAS-Gert gehrenden Bedienungsanleitung zu entnehmen. Typische Nachweisgrenzen der Flammen-AAS, siehe Tabelle 1. DIN EN 3475-508:2009-06 EN 3475-508:2007 (D) 5 Tabelle 1 Element mg/l Ag 0,002 Ni 0,01 Sn 0,001 3.2.3 Kalibrieren Das K
27、alibrieren erfolgt bei der Atomabsorptions-Spektrometrie durch Verwenden von Bezugslsungen (Standardlsungen). Standardlsungen sind Lsungen, die das zu bestimmende Element (z. B. Ag, Ni, Sn) in bekannter Konzen-tration und gegebenenfalls die bei der Herstellung der Probenlsung verwendeten Chemikalien
28、 sowie die die Messung beeinflussenden Bestandteile in gleicher oder hnlicher Konzentration wie die zu analysierenden Prflinge enthalten. Das Standard-Kalibrierverfahren umfasst das Erstellen der Bezugsfunktion mit mehreren Bezugslsungen, ausgehend von der Extinktion A = 0 bis zu Extinktion der hchs
29、ten zu erwartenden Konzentration der Mess-lsung. 3.2.4 Vorbereitung der Messung Drei Prflinge eines Einzeldrahtes werden in Sure (z. B. Salpetersure) gelst, mit H2O verdnnt und in das (AAS-) Messgert eingebracht. 3.2.5 Bestimmung der Schichtdicke Die mittlere Schichtdicke wird durch Umrechnung der g
30、emessenen Konzentration sowie Lnge und Durch-messer des Prflings ermittelt, die vor dem Messen bestimmt wurden. 3.3 Prfverfahren 2 3.3.1 Kurzbeschreibung Bei diesem Verfahren wird die Schichtdicke und Zentrizitt von metallischen berzgen auf Einzeldrhten mit einem Raster-Elektronen-Mikroskop (REM) be
31、stimmt. 3.3.2 Verfahren Das zu untersuchende Objekt wird mit Elektronenstrahlen abgetastet. Hierdurch wird aufgrund der kurzen Wellenlnge eine hohe Auflsung und Vergrerung (bis 3 105) ermglicht. Ein weiterer Vorteil ist die groe Tiefenschrfe (dreidimensionale Abbildung). Die Geometrien der Prflinge
32、knnen direkt gemessen und doku-mentiert werden. In Kombination mit einer Einrichtung zur Rntgenanalyse ist eine schnelle Bestimmung der Elemente des Prflings mglich. 3.3.3 Vorbereitung der Messung a) Ein Prfling des zu analysierenden Einzeldrahtes (d 0,5 mm sind senkrecht stehend in Epoxidharz einzu
33、gieen; b) die eingegossenen Prflinge mssen etwa 12 h (oder nach den Anweisungen des Herstellers) aushrten; DIN EN 3475-508:2009-06 EN 3475-508:2007 (D) 6 c) der Prfling ist quer zur Lngsachse des Einzeldrahtes mit einer entsprechenden Trennvorrichtung zu teilen und mit SiC-Papier (Siliziumcarbid) in
34、 Abstufungen bis Krnung 4 000 zu schleifen; d) der Prfling ist mit Diamantpaste oder Al2O3mit 1-m-Krnung zu polieren; e) der Prfling ist zur besseren Unterscheidung der Metalle anzutzen (z. B. mit Ammonium-Chloro-Cuprat); f) der Prfling ist zu vergolden; g) der Prfling ist in das Gert einzubringen.
35、Die weitere Vorgehensweise kann den Anweisungen des Gerteherstellers entnommen werden. 3.3.4 Bestimmung der Schichtdicke und Zentrizitt des berzugs Die Dicke des metallischen berzugs ist an den Stellen zu messen, an denen sie am kleinsten und am gr-ten erscheint. Aus der Division des kleinsten durch
36、 den grten gemessenen Wert ergibt sich die Zentrizitt ( 2 m angewandt werden. 3.4.3 Vorbereitung der Messung a) Ein Prfling des zu analysierenden Einzeldrahtes (d 0,5 mm sind senkrecht stehend in Epoxidharz einzugieen; b) die eingegossenen Prflinge mssen etwa 12 h (oder nach den Anweisungen des Hers
37、tellers) aushrten; c) der Prfling ist quer zur Lngsachse des Einzeldrahtes mit einer entsprechenden Trennvorrichtung zu teilen und mit SiC-Papier (Siliziumcarbid) in Abstufungen bis Krnung 4 000 zu schleifen; d) der Prfling ist mit Diamantpaste oder Al2O3mit 1-m-Krnung zu polieren; e) der Prfling is
38、t zur besseren Unterscheidung der Metalle anzutzen (z. B. mit Ammonium-Chloro-Cuprat). 3.4.4 Bestimmung der Schichtdicke und der Zentrizitt des berzugs Die Dicke des metallischen berzugs ist an den Stellen zu messen, an denen sie am kleinsten und am gr-ten erscheint. Aus der Division des kleinsten d
39、urch den grten gemessenen Wert ergibt sich die Zentrizitt ( 0,5 mm shall be cast standing upright in epoxy resin. b) The cast samples shall be left to harden for approximately 12 h (or in accordance with the manufacturers instructions). DIN EN 3475-508:2009-06 EN 3475-508:2007 (E) 6 c) The sample sh
40、all be cut at right angles to the longitudinal axis of the strand with a suitable cutting device and rubbed down with SiC (silicon carbide) paper in gradations of up to 4 000 granulations. d) The sample shall be polished with diamond paste or Al2O3with 1 m granulation. e) The sample shall be etched
41、(e.g. with ammonium chlorocuprate) for better differentiation of the metals. f) The sample shall be gold-plated. g) The sample shall be inserted in the apparatus. The subsequent procedure may be gathered from the instructions of the equipment manufacturer. 3.3.4 Determining the plating thickness and
42、 the centricity of the coating The thickness of the metallic coating shall be measured in the places where it appears to be at its smallest and largest. The centricity ( 2 m. 3.4.3 Preparation for measurement a) A sample of the strand for analysis (d 0,5 mm shall be cast standing upright in epoxy re
43、sin. b) The cast samples shall be left to harden for approximately 12 h (or in accordance with the manufacturers instructions). c) The sample shall be cut at right angles to the longitudinal axis of the strand with a suitable cutting device and rubbed down with SiC (silicon carbide) paper in gradati
44、ons of up to 4 000 granulations. d) The sample shall be polished with diamond paste or Al2O3with 1 m granulation. e) The sample shall be etched (e.g. with ammonium chlorocuprate) for better differentiation of the metals. 3.4.4 Determining the plating thickness and the centricity of the coating The t
45、hickness of the metallic coating shall be measured in the places where it appears to be at its smallest and largest. The centricity ( 1) of the coating is achieved by dividing the smallest value measured by the largest. DIN EN 3475-508:2009-06 EN 3475-508:2007 (E) 7 3.5 Test method 4 3.5.1 Principle
46、 This method uses a procedure for determining the plating thickness of metallic coatings on single strand by galvanic removal (coulometric method). Assessment of centricity is not possible. 3.5.2 Method The use of the method assumes that the coating and base material1) of the sample are known (nicke
47、l, silver, pure tin). In conventional measuring apparatus the reading for the amount of coating is reduced to a time reading by metering with direct current. The voltage in the element changes significantly if the coating to be measured is completely removed. This voltage impulse is amplified and ac
48、ts to terminate the measurement procedure. With due regard to all physical factors, the time for the removal of the metallic coating is a direct measurement for average plating thickness. 3.5.3 Preparation for measurement a) The surfaces of the samples (3) shall be free of grease or oxide which can
49、prevent the flow of current and falsify the measurement. b) The test solution recommended by the equipment manufacturer shall be chosen depending on the known plating and base materials. c) The measurement procedure (galvanic removal of the plating) is completed when the metallic coating has been completely removed and the equipment has switche
