1、September 2005DEUTSCHE NORM DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDEPreisgruppe 33DIN Deutsches Institut f r Normung e.V. Jede Art der Vervielf ltigung, auch auszugsweise, nur mit Genehmigung des DIN Deutsches Institut f r Normung e. V., Berlin, gestattet.
2、ICS 35.220.30G M 9650771www.din.deXDIN EN 62345IDFormat f r das magnetooptische System mit 50mmPlatte (IEC 62345:2005);Deutsche Fassung EN 62345:2005, Text EnglischID format for 50 mm magnetooptical disc system (IEC 62345:2005);German version EN 62345:2005, text in EnglishFormat de l identifiant pou
3、r un systme disque magntooptique de 50 mm(CEI 62345:2005);Version allemande EN 62345:2005, texte en anglaisAlleinverkauf der Normen durch Beuth Verlag GmbH, 10772 Berlin www.beuth.deGesamtumfang 111 SeitenDIN EN 62345:2005-092Beginn der GltigkeitDie von CENELEC am 2005-02-01 angenommene EN 62345 gil
4、t als DIN-Norm ab 2005-09-01.Nationales VorwortVorausgegangener Norm-Entwurf: E DIN IEC 62345:2003-01.Fr die vorliegende Norm ist das nationale Arbeitsgremium K 742 Audio-, Video- und Multimediasysteme,-gerte und -komponenten der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik
5、imDIN und VDE zustndig.Die enthaltene IEC-Publikation wurde vom TC 100 Audio, video and multimedia systems and equipmenterarbeitet.Das IEC-Komitee hat entschieden, dass der Inhalt dieser Publikation bis zu dem auf der IEC-Website unterhttp:/webstore.iec.ch mit den Daten zu dieser Publikation angegeb
6、enen Datum (maintenance result date)unverndert bleiben soll. Zu diesem Zeitpunkt wird entsprechend der Entscheidung des Komitees diePublikation besttigt, zurckgezogen, durch eine Folgeausgabe ersetzt oder gendert.Da sich die Benutzer der vorliegenden Norm der englischen Sprache als Fachsprache bedie
7、nen, wird dieEnglische Fassung der IEC 62345 verffentlicht. Fr die meisten der verwendeten Begriffe existieren keinegebruchlichen deutschen Benennungen, da sich die deutschen Anwender in der Regel ebenfalls derenglischen Benennungen bedienen. Diese Norm steht nicht in unmittelbarem Zusammenhang mitR
8、echtsvorschriften und ist nicht als Sicherheitsnorm anzusehen.Das Prsidium des DIN hat mit Prsidialbeschluss 1/2004 festgelegt, dass DIN-Normen, deren Inhalt sich aufinternationale Arbeitsergebnisse der Informationsverarbeitung grndet, unter bestimmten Bedingungen alleinin englischer Sprache verffen
9、tlicht werden drfen. Diese Bedingungen sind fr die vorliegende Norm erfllt.Fr den Fall einer undatierten Verweisung im normativen Text (Verweisung auf eine Norm ohne Angabe desAusgabedatums und ohne Hinweis auf eine Abschnittsnummer, eine Tabelle, ein Bild usw.) bezieht sich dieVerweisung auf die je
10、weils neueste gltige Ausgabe der in Bezug genommenen Norm.Fr den Fall einer datierten Verweisung im normativen Text bezieht sich die Verweisung immer auf die inBezug genommene Ausgabe der Norm.Der Zusammenhang der zitierten Normen mit den entsprechenden Deutschen Normen ergibt sich, soweit einZusamm
11、enhang besteht, grundstzlich ber die Nummer der entsprechenden IEC-Publikation. Beispiel:IEC 60068 ist als EN 60068 als Europische Norm durch CENELEC bernommen und als DIN EN 60068 insDeutsche Normenwerk aufgenommen.EUROPISCHE NORMEUROPEAN STANDARDNORME EUROPENNEEN 62345April 2005ICS 33.160.40Deutsc
12、he FassungID-Format fr das magneto-optische System mit 50-mm-Platte(IEC 62345:2005)ID format for 50 mm magneto-optical discsystem(IEC 62345:2005)Format de lidentifiant pour un systme disque magnto-optique de 50 mm(CEI 62345:2005)Diese Europische Norm wurde von CENELEC am 2005-02-01 angenommen. Die C
13、ENELEC-Mitgliedersind gehalten, die CEN/CENELEC-Geschftsordnung zu erfllen, in der die Bedingungen festgelegt sind,unter denen dieser Europischen Norm ohne jede nderung der Status einer nationalen Norm zu gebenist.Auf dem letzten Stand befindliche Listen dieser nationalen Normen mit ihren bibliograp
14、hischen Angabensind beim Zentralsekretariat oder bei jedem CENELEC-Mitglied auf Anfrage erhltlich.Diese Europische Norm besteht in drei offiziellen Fassungen (Deutsch, Englisch, Franzsisch). EineFassung in einer anderen Sprache, die von einem CENELEC-Mitglied in eigener Verantwortung durchbersetzung
15、 in seine Landessprache gemacht und dem Zentralsekretariat mitgeteilt worden ist, hat dengleichen Status wie die offiziellen Fassungen.CENELEC-Mitglieder sind die nationalen elektrotechnischen Komitees von Belgien, Dnemark,Deutschland, Estland, Finnland, Frankreich, Griechenland, Irland, Island, Ita
16、lien, Lettland, Litauen,Luxemburg, Malta, den Niederlanden, Norwegen, sterreich, Polen, Portugal, Schweden, der Schweiz,der Slowakei, Slowenien, Spanien, der Tschechischen Republik, Ungarn, dem Vereinigten Knigreichund Zypern.CENELECEuropisches Komitee fr Elektrotechnische NormungEuropean Committee
17、for Electrotechnical StandardizationComit Europen de Normalisation ElectrotechniqueZentralsekretariat: rue de Stassart 35, B-1050 Brssel 2005 CENELEC Alle Rechte der Verwertung, gleich in welcher Form und in welchem Verfahren,sind weltweit den Mitgliedern von CENELEC vorbehalten.Ref. Nr. EN 62345:20
18、05 DEN 62345:20052VorwortDer Text des Schriftstcks 100/870/FDIS, zuknftige 1. Ausgabe von IEC 62345, ausgearbeitet von demIEC TC 100 Audio, video and multimedia systems and equipment, wurde der IEC-CENELEC ParallelenAbstimmung unterworfen und von CENELEC am 2005-02-01 als EN 62345 angenommen.Nachste
19、hende Daten wurden festgelegt: sptestes Datum, zu dem die EN auf nationaler Ebenedurch Verffentlichung einer identischen nationalenNorm oder durch Anerkennung bernommen werdenmuss (dop): 2005-12-01 sptestes Datum, zu dem nationale Normen, dieder EN entgegenstehen, zurckgezogen werdenmssen (dow): 200
20、8-02-01Die Internationale Elektrotechnische Kommission (IEC) und CENELEC weisen darauf hin, dass die berein-stimmung mit dieser Norm die Verwendung von Patenten bedeuten kann.Die IEC und CENELEC nehmen keine Stellung zur Rechtmigkeit, zur Gltigkeit und zum Anwendungs-bereich dieser Patentrechte.Der
21、Halter dieser Patentrechte hat IEC zugesichert, dass er/sie bereit ist, ber Lizenzen zu vernnftigen undnicht diskriminierenden Geschftsbedingungen mit Antragstellern in der ganzen Welt zu verhandeln. Indiesem Zusammenhang ist die Erklrung des Halters dieser Patentrechte bei IEC registriert.Informati
22、onen sind erhltlich bei:Sanyo Electric Co., Ltd.5-5, Keihan-hondori 2-chome,Moriguchi City, Osaka, 570-8677, JapanEs wird auf die Mglichkeit hingewiesen, dass einige Texte dieser Norm Patentrechte berhren knnen, ohnedass diese vorstehend identifiziert wurden. IEC und CENELEC sind nicht dafr verantwo
23、rtlich, einige oderalle diesbezglichen Patentrechte zu identifizieren.Der Anhang ZA wurde von CENELEC hinzugefgt.AnerkennungsnotizDer Text der Internationalen Norm IEC 62345:2005 wurde von CENELEC ohne irgendeine Abnderung alsEuropische Norm angenommen.EN 62345:20053CONTENTSFOREWORD81 Scope102 Norma
24、tive references. 103 Terms and definitions. 104 Conventions and notations. 134.1 Representation of numbers . 134.2 Names 135 List of acronyms 146 General description of the optical disc cartridge 147 General requirements 157.1 Environments 157.2 Temperature shock . 157.3 Safety requirements 168 Refe
25、rence drive . 168.1 Optical system 168.2 Optical beam 178.3 Read channels 178.4 Tracking . 188.5 Rotation of the disc. 189 Mechanical and physical characteristics . 189.1 Dimensional and physical characteristics of the cartridge. 189.2 Dimensional, mechanical and physical characteristics of the disc
26、. 289.3 Interface between cartridge and drive 3310 Format of information. 3410.1 Track geometry. 3410.2 Track format . 3510.3 Frame format 3610.4 ECC Block format . 4310.5 Recording code. 4410.6 Format of the Information Zone . 4610.7 Format of the Data Zone . 4710.8 Defect Management 5211 Character
27、istics of embossed information 5611.1 Method of testing 5611.2 Signals from grooves (see Figure 26) 5711.3 Signals from wobble groove (see Figure 27) 5811.4 Signal from fine clock marks (see Figure 28) . 5912 Characteristics of the recording layer . 6012.1 Method of testing 6012.2 Magneto-optical ch
28、aracteristics . 6113 File system 6413.1 Volume . 6413.2 File. 74EN 62345:2005414 File format of Sound and Images 7914.1 General 7914.2 Directory Structure 7914.3 File Format . 80Annex A (normative) Air cleanliness class 100000 . 83Annex B (normative) Measurement method of reference plane flatness 84
29、Annex C (normative) Measurement method of cartridge flatness 85Annex D (normative) Measurement method of cartridge curvature 86Annex E (normative) Test method for measuring the friction force 87Annex F (normative) Format of the Data Field 89Annex G (normative) Contents of Control Tracks . 96Annex H
30、(normative) Relaxation by zones of the requirement for signals 100Annex I (informative) Transportation 101Annex J (informative) Track deviation measurement 102Annex K (informative) Digital still camera image file format standard Exif 106Annex L (informative) Design Rule for Camera File System DCF. 1
31、07Annex M (informative) Movie file format QuickTime. 108Annex ZA (normative) Normative references to international publications with theircorresponding European publications . 109Figure 1 Optical system of the reference drive . 16Figure 2 Outline of cartridge 19Figure 3 Cartridge reference line and
32、reference plane 20Figure 4 Cartridge Top and Side View . 24Figure 5 Cartridge Bottom View . 25Figure 6 Shutter 26Figure 7 Shutter lock . 26Figure 8 Holding area 27Figure 9 Screw location. 27Figure 10 Disc dimensions 29Figure 11 Thickness of the protective coating 33Figure 12 Gap between the disc and
33、 the internal wall of the cartridge. 34Figure 13 Track layout. 35Figure 14 Layout of the Address Segment 36Figure 15 Wolbble Pattern of the Address Segment 35Figure 16 Layout of the Data Segment. 40Figure 17 The patterns of the Pre-write field and the Post-write field 41Figure 18 ECC Block layout. 4
34、3Figure 19 Header 44Figure 20 NRZI Plus convolution method . 45Figure 21 NRZI Plus convolution method . 45Figure 22 Layout of the Data Zone and Test Zones 48Figure 23 Structure of Logical Zone . 52EN 62345:20055Figure 24 Structure of PDL entry . 55Figure 25 Structure of SDL entry . 56Figure 26 Signa
35、ls from grooves . 58Figure 27 Signals from wobbled groove . 58Figure 28 Signals from fine clock marks. 59Figure 29 Radial push-pull signal and envelope of fine clock mark 59Figure 30 Recording magnetic field shape and Write pulse. 61Figure 31 Resolution . 62Figure 32 Spectrum analyser display . 62Fi
36、gure 33 Crosstalk test pattern. 63Figure 34 Directory structure including motion picture 80Figure A.1 Particle size distribution curve 83Figure B.1 Measurement method of reference plane flatness 84Figure C.1 Measurement method of cartridge flatness 85Figure D.1 Measurement method of cartridge curvat
37、ure . 86Figure E.1 Arrangement of testing chip and disc for the measurement of friction force 87Figure E.2 Shape of testing chip 88Figure E.3 Test cycle 88Figure F.1 Processing flow to generate Data unit 1 89Figure F.2 Processing flow to generate Data unit 2 and Data unit 3 89Figure F.3 Data unit 1
38、configuration. 90Figure F.4 Data ID information. 90Figure F.5 Feedback shift register for generation scramble data. 93Figure F.6 ECC block configuration . 94Figure F.7 ECC block after row interleave 95Figure G.1 Track layout of the Control Zone. 97Figure G.2 Layout of the Control Segment . 97Figure
39、G.3 Unit of the Control Segment . 98Figure J.1 Maximum allowed amplitude of a sinusoidal track deviation . 102Figure J.2 Implementation of a Reference Servo by filtering the track position signalwith the reduction characteristics of the Reference Servo 104Figure J.3 Implementation of a Reference Ser
40、vo by changing the transfer function ofthe actual servo . 104Figure J.4 Implementation of a Reference Servo by changing the tracking error ofthe actual servo . 105Table 1 Write protection 22Table 2 User hole 23Table 3 Index hole 23Table 4 Nominal Address Data clock frequencies when the disc rotates
41、at 50 Hz 42Table 5 Layout of the Information Zone 46Table 6 Locations of the DMAs 48Table 7 Byte assignment of the Disc Definition Structure (DDS) . 49Table 8 Assign of Logical Zone 49EN 62345:20056Table 9 Content of the PDL . 54Table 10 Content of the SDL . 55Table 11 OSTA CS0 Charspec 64Table 12 T
42、ime stamp. 65Table 13 Domain Entity Identifier. 65Table 14 Domain Identifier Suffix. 65Table 15 UDF Entity Identifier 66Table 16 UDF Identifier Suffix 66Table 17 Implementation Entity Identifier . 66Table 18 Implementation Identifier Suffix . 66Table 19 Beginning Extended Area Descriptor . 67Table 2
43、0 NSR Descriptor. 67Table 21 Terminating Extended Area Descriptor 67Table 22 Descriptor Tag 68Table 23 Anchor Volume Descriptor Pointer. 68Table 24 Primary Volume Descriptor 68Table 25 Implementation Use Volume Descriptor . 69Table 26 Implementation Use of Implementation Use Volume Descriptor 69Tabl
44、e 27 Partition Descriptor . 70Table 28 Partition Contents . 70Table 29 Partition Header Descriptor . 70Table 30 Logical Volume Descriptor. 71Table 31 File Set Descriptor Extent Information . 71Table 32 Integrity Sequence Extent Information . 72Table 33 Partition Maps. 72Table 34 Unallocated Space De
45、scriptor . 72Table 35 Terminating Descriptor 72Table 36 Logical Volume Integrity Descriptor . 73Table 37 Logical Volume Contents Use 73Table 38 Implementation . 73Table 39 lb_addr (Logical Block Address) 74Table 40 short_ad (Short Allocation Descriptor) . 74Table 41 long_ad (Long Allocation Descript
46、or) . 74Table 42 File Set Descriptor 74Table 43 File Identifier Descriptor 75Table 44 d-characters . 75Table 45 File Entry 76Table 46 ICB Tag 77Table 47 Extended Attributes. 77Table 48 Extended Attributes Header Descriptor 77Table 49 File Times Extended Attribute 78Table 50 Flags in ICB Tag . 78Tabl
47、e 51 Space Bitmap Descriptor. 78EN 62345:20057Table 52 Allocation Extent Descriptor 79Table F.1 Initial value of shift register 92Table G.1 Layout of the Control Zones 96Table H.1 Requirements for signals in each zone. 100EN 62345:20058INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION_ID FORMAT FOR 50 mm MA
48、GNETO-OPTICALDISC SYSTEMFOREWORD1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprisingall national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promoteinternational co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. Tothis end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications,Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter ref
