GOST 16218 5-1993 Smallwares Method for determination of the breaking strength and breaking elongation《服饰纺织品 断裂负荷和拉伸时的断裂延伸率测定法》.pdf

上传人:eastlab115 文档编号:761613 上传时间:2019-01-19 格式:PDF 页数:11 大小:368.54KB
下载 相关 举报
GOST 16218 5-1993 Smallwares Method for determination of the breaking strength and breaking elongation《服饰纺织品 断裂负荷和拉伸时的断裂延伸率测定法》.pdf_第1页
第1页 / 共11页
GOST 16218 5-1993 Smallwares Method for determination of the breaking strength and breaking elongation《服饰纺织品 断裂负荷和拉伸时的断裂延伸率测定法》.pdf_第2页
第2页 / 共11页
GOST 16218 5-1993 Smallwares Method for determination of the breaking strength and breaking elongation《服饰纺织品 断裂负荷和拉伸时的断裂延伸率测定法》.pdf_第3页
第3页 / 共11页
GOST 16218 5-1993 Smallwares Method for determination of the breaking strength and breaking elongation《服饰纺织品 断裂负荷和拉伸时的断裂延伸率测定法》.pdf_第4页
第4页 / 共11页
GOST 16218 5-1993 Smallwares Method for determination of the breaking strength and breaking elongation《服饰纺织品 断裂负荷和拉伸时的断裂延伸率测定法》.pdf_第5页
第5页 / 共11页
点击查看更多>>
资源描述
展开阅读全文
相关资源
猜你喜欢
  • BS EN 62047-3-2006 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Thin film standard test piece for tensile testing《半导体器件 微机电设备 拉伸测试的薄膜标准试样》.pdf BS EN 62047-3-2006 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Thin film standard test piece for tensile testing《半导体器件 微机电设备 拉伸测试的薄膜标准试样》.pdf
  • BS EN 62047-4-2010 Semiconductor devices Micro-electromechanical devices Generic specification for MEMS《半导体装置 微电机装置 微电子机械系统(MEMS)一般规格》.pdf BS EN 62047-4-2010 Semiconductor devices Micro-electromechanical devices Generic specification for MEMS《半导体装置 微电机装置 微电子机械系统(MEMS)一般规格》.pdf
  • BS EN 62047-5-2011 Semiconductor devices Micro-electromechanical devices RF MEMS switches《半导体装置 微电子机械装置 射频微机电转换器》.pdf BS EN 62047-5-2011 Semiconductor devices Micro-electromechanical devices RF MEMS switches《半导体装置 微电子机械装置 射频微机电转换器》.pdf
  • BS EN 62047-6-2010 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Axial fatigue testing methods of thin film materials《半导体装置 微机电装置 薄膜材料的轴向疲劳试验方法》.pdf BS EN 62047-6-2010 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Axial fatigue testing methods of thin film materials《半导体装置 微机电装置 薄膜材料的轴向疲劳试验方法》.pdf
  • BS EN 62047-7-2011 Semiconductor devices Micro-electromechanical devices MEMS BAW filter and duplexer for radio frequency control and selection《半导体装置 微电子机械装置 射频控制和选择所用的微电子机械系统(MEMS.pdf BS EN 62047-7-2011 Semiconductor devices Micro-electromechanical devices MEMS BAW filter and duplexer for radio frequency control and selection《半导体装置 微电子机械装置 射频控制和选择所用的微电子机械系统(MEMS.pdf
  • BS EN 62047-8-2011 Semiconductor devices Micro-electromechanical devices Strip bending test method for tensile property measurement of thin films《半导体装置 微电机装置 薄膜拉伸性能测量用带材弯曲试验方法》.pdf BS EN 62047-8-2011 Semiconductor devices Micro-electromechanical devices Strip bending test method for tensile property measurement of thin films《半导体装置 微电机装置 薄膜拉伸性能测量用带材弯曲试验方法》.pdf
  • BS EN 62047-9-2011 Semiconductor devices Micro-electromechanical devices Wafer to wafer bonding strength measurement for MEMS《半导体装置 微电子机械装置 MEMS的晶圆与晶圆结合强度测量》.pdf BS EN 62047-9-2011 Semiconductor devices Micro-electromechanical devices Wafer to wafer bonding strength measurement for MEMS《半导体装置 微电子机械装置 MEMS的晶圆与晶圆结合强度测量》.pdf
  • BS EN 62052-11-2003 Electricity metering equipment (AC) - General requirements tests and test conditions - Metering equipment《电量计量设备(AC) 一般要求、试验和试验条件 计量设备》.pdf BS EN 62052-11-2003 Electricity metering equipment (AC) - General requirements tests and test conditions - Metering equipment《电量计量设备(AC) 一般要求、试验和试验条件 计量设备》.pdf
  • BS EN 62052-31-2016 Electricity metering equipment (AC) General requirements tests and test conditions Product safety requirements and tests《交流电测量设备 通用要求 试验和试验条件 产品安全要求和试验》.pdf BS EN 62052-31-2016 Electricity metering equipment (AC) General requirements tests and test conditions Product safety requirements and tests《交流电测量设备 通用要求 试验和试验条件 产品安全要求和试验》.pdf
  • 相关搜索

    当前位置:首页 > 标准规范 > 国际标准 > GOST

    copyright@ 2008-2019 麦多课文库(www.mydoc123.com)网站版权所有
    备案/许可证编号:苏ICP备17064731号-1