反射密度测量

1、11月02日批准，并自2005年但月01日起施妇E单位：交通行业计量专业技术委员会主要是革单位：交通部公路科学研究所参摇起草单位：交通部交通工程监理捡翻中心本提程由交通行业计量专业技术委员会负责解释。
JJG （交遮岱去沁4本规程主要起草人：韩文元交通部公路科学研究所参加起草人：张璇交通部交通工程监理撞测中心周志伟交通部公路科学研究所李洪琴交通部交通工程监理撞测中心1范围2引用文献.3概述.4计量性能要求5通用技术要求6计量器具控制目次附录A标准试样证书格式.，.,. . 4 附录B捡定证书背面格式. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10 附录C检定记录表格式. . . . . . . 。

2、草单位:交通运输部公路科学研究皖、国家交通安全设施质量监督检验中心。
本标准主要起草人:韩文元、杨勇、高捍忠、白搓搓、王蓝、杨丰艳、张璇。
I GB/T 26377-2010 逆反射测量仪1 范围本标准规定了逆反射测量仪的术语和定义、结构与分类、技术要求、计量学特性、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输与贮存。
本标准适用于交通安全设施逆反射性能便携式测量仪器，不适用于实验室内15m和30m标准几何条件下的绝对逆反射测量系统。
2 规范性引用文件下列文件中的条款通过在本标准中引用而成为本标准的条款。
凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。
凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。
GB/T 191 包装储运图示标志(GB/T191-2008 , ISO 780:1997 , MOD) GB/T 1408. 1 绝缘材料电气强度试验方法第1部分;工频下试验(GB/T1408.1-2006 , IEC 60243-1:1998 ,IDT) GB/T 2423. 1 电工电子产品。

3、eflection density Photographie et technologie graphique Mesurages de la densit Partie 4: Conditions gomtriques pour la densit de rflexion ISO 5-4:2009(E) PDF disclaimer This PDF file may contain embedded typefaces. In accordance with Adobes licensing policy, this file may be printed or viewed but shall not be edited unless the typefaces which are embedded are licensed to and installed on the computer performing the editing. In downloading this file, parties。

4、 ( ) ( ) ( ) : (http:/www.standard.go.kr) ： ：2005 12 14 ：2011 12 26 2011-0624 ： ： 。

5、2007-03B55EB1B3E14C22109E918E8EA43EDB30F09CC9B7EF8DD9NormCD - Stand 2007-03。

6、 5-4：1995，IDT)2009-0501实施丰瞀徽紫瓣警辫瞥鐾发布中国国家标准化管理委员会仅1”刖 舌GBT 128234-2008IS0 5-4：1995GBT 12823摄影密度测量分为4个部分：第1部分：术语、符号和表示法；第2部分：透射密度的几何条件；第3部分：光谱条件；第4部分：反射密度的几何条件。
本部分为GBT 12823的第4部分。
本部分等同采用ISO 5-4：1995摄影 密度测量 第4部分：反射密度的几何条件(英文版)。
本部分等同翻译IsO 5-4：199为便于使用，本部分做了以下编辑性修改：a) “ISO的本部分”一词改为“GBT 12823的本部分”；b) 用小数点“”代替作为小数点的逗号“，”；c) 删除ISO 5-4：1995的前言，将ISO 5-4：1 995的引言直接翻译作为本部分的引言；d)规范性引用文件的引导语改为GBT 112000规定的引导语。
本部分修订并代替GBT 12822 1991摄影反射密度测量的几何条件。
本部分与GBT 12822 1991相比，主要变化如下：将标准名称按国际标。

7、由公式(2)表示:DR=lztz地.( 2 ) 4 标准反射密度4.1 入射和出射几何条件环状反射测量模式可用一个环状照明和一个垂亘取向探测器或者与此倒置的照明一探测系统完成。
这种光路布置分别称为环状入射模式或环状出射模式。
环状入射模式已在下图中说明。
若将指示通量方向的箭头反向时，则该图表示环状出射模式。
其几何条件可分别用环状角分布和垂直角分布描述这两种模式，视模式不同，角分布又可分为辐亮度分布和响应度分布两种。
而响应度分布应包括探测系统中所有光学元件的影响。
国家技术监督局1991-04-30批准1992-03-01实施-4.2 采样孔GB/T 12822-91 / 略T、环状入射模式几何条件Y Z X 世样仪器的光学系统的几何状态确定了试样的测量区域，这一确定的区域称为采样孔.采样孔应由探测器所探测的角度范围来确定。
如果在试样平面上放置一个机械孔，则其面积应大于采样孔，它的边界至少应位于采样孔边界2mm之外的位置。
探测器对采样孔内每点的响应度应该相同，而且对采样孔之外点。