1、NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 60512-4-3 Premire dition First edition 2002-02 Connecteurs pour quipements lectroniques Essais et mesures Partie 4-3: Essais de contrainte dilectrique Essai 4c: Tension de tenue pour fts prisols de sertissage Connectors for electronic equipment Tes
2、ts and measurements Part 4-3: Voltage stress tests Test 4c: Voltage proof of pre-insulated crimp barrels Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 60512-4-3:2002Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devie
3、nt la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros dditi on 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la p
4、ublication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa
5、validit, sont dispo- nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des pu
6、blications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recher
7、ches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications rempla- ces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.ch/JP.htm) est aus
8、si disponible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email:
9、custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated version
10、s of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publicatio
11、ns is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information
12、 on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the
13、IEC web site (www.iec.ch/catlg-e.htm) enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On- line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Pub
14、lished This summary of recently issued publications (www.iec.ch/JP.htm) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact
15、the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 .NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 60512-4-3 Premire dition First edition 2002-02 Connecteurs pour quipements lectroniques Essais et mesures Partie 4-3: Essais de contrainte dilectrique E
16、ssai 4c: Tension de tenue pour fts prisols de sertissage Connectors for electronic equipment Tests and measurements Part 4-3: Voltage stress tests Test 4c: Voltage proof of pre-insulated crimp barrels Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2002 Droits de reproducti
17、on rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be repro
18、duced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerland Telephone: +41 22 919 02 11 Telefax
19、: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE D Commission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission 2 60512-4-3 CEI:2002 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ CONNECTEURS POUR QUIPEMENTS LECTRONIQUES ESSAIS ET MESURES Partie 4-3:
20、Essais de contrainte dilectrique Essai 4c: Tension de tenue pour fts prisols de sertissage AVANT-PROPOS 1) La CEI (Commission lectrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI
21、 a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normes internationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tou
22、t Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditio
23、ns fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtu
24、des. 3) Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publis comme normes, spcifications techniques, rapports techniques ou guides et agrs comme tels par les Comits nationaux. 4) Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationau
25、x de la CEI sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes nationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette
26、 dernire. 5) La CEI na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilit nest pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ses normes. 6) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Norme internationale peuvent faire lo
27、bjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence La Norme internationale CEI 60512-4-3 a t tablie par le sous-comit 48B: Connecteurs, du comit dtud
28、es 48 de la CEI: Composants lectromcaniques et structures mcaniques pour quipements lectroniques. Cette norme annule et remplace lessai 4c de la CEI 60512-2, parue en 1985, dont elle constitue une rvision technique. Le texte de cette norme est issu des documents suivants: FDIS Rapport de vote 48B/11
29、35/FDIS 48B/1186/RVD Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. Cette publication a t rdige selon les Directives ISO/CEI, Partie 3. Le comit a dcid que le contenu de cette publication ne sera pas modifi avant 2007
30、. A cette date, la publication sera reconduite; supprime; remplace par une dition rvise, ou amende.60512-4-3 IEC:2002 3 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ CONNECTORS FOR ELECTRONIC EQUIPMENT TESTS AND MEASUREMENTS Part 4-3: Voltage stress tests Test 4c: Voltage proof of pre-insulated crimp
31、barrels FOREWORD 1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote international co-operation on all questions concerning standardiz
32、ation in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work.
33、 International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations.
34、2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all interested National Committees. 3) The documents produced have the form of r
35、ecommendations for international use and are published in the form of standards, technical specifications, technical reports or guides and they are accepted by the National Committees in that sense. 4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC Inte
36、rnational Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly indicated in the latter. 5) The IEC provides no marking procedure to indicate its ap
37、proval and cannot be rendered responsible for any equipment declared to be in conformity with one of its standards. 6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identif
38、ying any or all such patent rights. International Standard IEC 60512-4-3 has been prepared by subcommittee 48B: Connectors, of IEC technical committee 48: Electromechanical components and mechanical structures for electronic equipment. This standard cancels and replaces test 4c of IEC 60512-2, issue
39、d in 1985, and constitutes a technical revision. The text of this standard is based on the following documents: FDIS Report on voting 48B/1135/FDIS 48B/1186/RVD Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on voting indicated in the above table. This pu
40、blication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives, Part 3. The committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged until 2007. At this date, the publication will be reconfirmed; withdrawn; replaced by a revised edition, or amended. 4 60512-4-3 CEI:200
41、2 CONNECTEURS POUR QUIPEMENTS LECTRONIQUES ESSAIS ET MESURES Partie 4-3: Essais de contrainte dilectrique Essai 4c: Tension de tenue pour fts prisols de sertissage 1 Domaine dapplication et objet La prsente partie de la CEI 60512 est utilise, lorsque la spcification particulire le prescrit, pour ess
42、ayer des composants lectromcaniques du domaine dapplication du comit dtudes 48 de la CEI. Cet essai peut aussi tre effectu sur des dispositifs similaires, lorsquune spcification particulire le prescrit. Lobjet de cet essai est de dfinir une mthode normalise pour dterminer laptitude des fts prisols s
43、upporter lopration de sertissage sans dommage pour lisolant. 2 Prparation du spcimen Le spcimen se compose dun contact sertir ou dune cosse, dont lextrmit est un ft prisol sertir et du cble ou du fil appropri, prpar en accord avec la spcification particulire. Le cble ou le fil, dnud comme il est spc
44、ifi, doit tre introduit dans le ft sertir, puis serti de manire normale. La partie conductrice du contact ou de la cosse ainsi que lextrmit du conducteur auquel ces pices sont raccordes doivent tre scelles, par exemple avec de la cire dabeilles ou une autre matire tanche, en sassurant que ce revteme
45、nt ne recouvre pas la zone de contact dforme par loutil de sertissage. 3 Mthode dessai Lextrmit du spcimen, lextrmit du contact ou de la cosse, est immerge dans une solution aqueuse de chlorure de sodium 5 % une profondeur qui permet de recouvrir les marques de sertissage, mais sans immerger lextrmi
46、t libre. Une tension doit tre applique entre le spcimen et une lectrode immerge, situe 50 mm au maximum du spcimen. Cette tension doit tre augmente de faon rgulire sans dpasser 500 V/s jusqu la tension de tenue prescrite dans la spcification particulire. Elle doit tre ensuite maintenue cette valeur
47、pendant 60 s 5 s. 4 Exigence Il ne doit pas se produire de claquage.60512-4-3 IEC:2002 5 CONNECTORS FOR ELECTRONIC EQUIPMENT TESTS AND MEASUREMENTS Part 4-3: Voltage stress tests Test 4c: Voltage proof of pre-insulated crimp barrels 1 Scope and object This part of IEC 60512, when required by the det
48、ail specification, is used for testing electromechanical components within the scope of IEC technical committee 48. This test may also be used for similar devices when specified in a detail specification. The object of this test is to detail a standard method to determine the ability of pre-insulated crimp barrels to withstand the crimp operation without damage to the insulation. 2 Preparati
