1、GB/T 15882 1995 主口本标准等同采用国际标准IEC1045-2/QC390100: 1991(电子设备用膜固定电阻网络第2部分:按能力批准程序评定质量的膜电阻网络分规范。本标准的上层标准是GB/T15654 1995(电子设备用膜固定电阻网络第1部分:总规范，这个总规范等同于国际标准IEC1045-1/QC390000:1991。通过使我国标准与国际标准等同，以适应国际贸易、经济和技术交流的rm.。本标准的附录A、附录B、附录C、附录D均为标准的附录。表3第1A组，与4.10条差分电阻温度特性对应的性能要求栏中括号内的条款号，原文误为(2.2. 22) ，本标准更正为(2.1.
2、2川。第3.3. 4. 2条表4A中，评定水平E栏下原文遗漏了B1分组的抽样方案，本标准根据惯例按空白规范予以补充，与空白详细规范保持一致，不影响标准的等同。本标准由中华人民共和国电子工业部提出。本标准由电子工业部标准化研究所归口。本标准起草单位:电子工业部标准化研究所。本标准主要起草人:刘宽。GB/T 15882 1995 IEC前1) IEC(国际电工委员会)在技术问题上的正式决议或协议，是由对这些问题特别关切的国家委员会参加的技术委员会制定的，对所涉及的问题尽可能地代表了国际上的一致意见。2)这些决议或协议以推荐标准的形式供国际上使用，并在此意义上为各国家委员会所认可。3)为了促进国际上
3、的统一，IEC希望各国家委员会在本国条件许可的情况下，采用IEC标准文本作为其国家标准。IEC标准与相应国家标准之间的差异，应尽可能在国家标准中指明。序本标准是由IEC第40技术委员会(电子设备用电容器和电阻器)制定的。本标准文本以下列文件为依据:六个月法文件表决报告两个月程序文件40(中办)65440(中办)67640(中办)708从上表所示的有关表决报告中还可以得到更进一步的内容。本标准封面上的QC号是IEC电子元器件质量评定体系。ECQ)的规范号。表决报告40(中办)737中华人民共和国国家标准电子设备用膜固定电阻网络2部分:按能力批准程序评定质量的GB/T 15882 1995 idt
4、 IEC 1045-2:1991 电阻网络分规范QC 390100 Fixed film resistor networks for use in electronic equipment Part 2: Sectional specification for film resistor networks of assessed quality on the basis of the capability approval pr侃edure一总1 总则1. 1 范围本标准适用于膜固定电阻网络。其中电阻元件可以是各自分开的，也可按任一电路图互连起来。1. 2 目的本标准的目的是对这种电阻网络规定
5、优先额定值和特性，从总规范GB/T15654 1995 (lEC 1045-1)中选择适用的能力批准程序、试验和测量方法，并给出性能要求。优先值的概念直接适用于目录产品，但不一定适用于定制产品。详细规范中引用本分规范而规定的试验严酷度和要求应有相同或更高的性能水平，因为不允许低性能水平。1.3 有关文件GB/T 2471 1995 (lEC 63: 1963) 电阻器和电容器优先数系第1号修改单(1967)第2号修改单(1977)GB/T 15654 1995 (1EC 1045-1: 1990) 电子设备用膜固定电阻网络第1部分:总规范GB/T 5729 94 (1EC 115-1: 198
6、2) 电子设备用固定电阻器第1部分:总规范GB 7338 87 (lEC 115-6 :1983) 电子设备用固定电阻器第6部分:分规范:各电阻器可单独测量的固定电阻网络GB 12276 90 (lEC 115-7: 1984) 电子设备用固定电阻器第7部分z分规范z各电阻器不可单独测量的固定电阻网络GB 7017 86 (lEC 440:1973) 电阻器非IEC 68 基本环境试验规程IEC 410 (1 973) 计数检查的抽样方案和程序QC 001001 (1 986) IEC电子元器件质量评定体系。ECQ)基本QC 001002 (1 986) IEC电子元器件质量评定体系。ECQ)
7、程序规则注2上述文件采用现行版本，但IEC68应采用总规范相应试验条款中指定的版本。1. 4 详细规范中应给出的内容国家技术监督局1995-12-22批准1996-08-01 GB/T 15882一1995详细规范应按有关的空白详细规范来制定。如有可能，应对网络的功能做一简短说明。详细规范不应规定低于总规范或分规范的要求。当有更严格的要求时，这些要求应列在详细规范的1.8条中并在试验一览表中标出，例如用星号标出。注:为了方便起见，1.4. 1条和1.4. 2条中规定的内容可用表格形式表示。每个详细规范中应给出下列内容，引用的数值应优先从本分规范相应条款内所给出的值中选取。每个详细规范应给出逐批
8、检验所要求的各项试验和测量，这至少要包括本规范中规定的有关试验以及方法和严酷度。规范中对CQC应规定周期试验的环境试验、测量、严酷度以及结束时的极限值。这些内容应符合总规范和本规范相应部分的规定。1. 4. 1 外形图和尺寸应有一个网络图形作为容易识别并与其他网络进行比较的辅助手段。影响互换性和安装的尺寸及其连带的公差应在详细规范中给出。所有尺寸都应优先以毫米为单位来标注，但原来给出的尺寸是以英寸为单位时，则应增加换算成毫米的公制尺寸。通常应给出主体的长度、宽度、高度以及引出端的间距。对于圆柱型产品，应给出主体的直径和长度以及引出端的直径。必要时，例如详细规范中包括的封装多于一种时，应将尺寸及
9、其连带的公差放在图下面的表中。如果结构与上述不同，详细规范应给出足以说明这种电阻网络的尺寸内容。1.4.2 安装详细规范应规定正常使用时以及振动、碰撞和冲击试验时所采用的安装方法。电阻网络应以正常方式安装。电阻网络的设计在其使用中可能需要特殊的安装夹具，这种情况下，详细规范中对这种安装夹具应作出说明，而且在振动、碰撞或冲击试验中应加以使用。1. 4. 3 品种(GB/T5729 94第2.2. 3条)就本规范而言，品种可由详细规范而且通常根据尺寸因素任意选定的一个字母来表示。因此，除非将详细规范编号也同时给出，否则品种名称没有任何意义。1. 4. 4 额定值和特性定值和特性应按本规范有关条款并
10、有下述规定。1.4.4.1 标称阻见2.3. 1条。优先值为GB/T2471的E系列且。注:如果按照详细规范批准的产品与详细规范的阻值范围不同，应增加下列说明:每个品种可提供的阻值范围在合格产品一览表中给出。1. 4. 5 标志详细规范应规定网络和基本包装上的标志内容。与总规范2.4条不同之处，详细规范应特别加以说明。1. 4. 6 订货资料详细规范应给出订购电阻网络时所要求的下列内1:r: a)电路类型(例如，厚膜电阻网络)。b)详细规范编号和版本号，适用时还要包括品种号和评定水平。c)电路的功能，如果适用。d)基本功能特性及允许偏差，如果适用。1. 4. 7 附加内容(不检验)详细规范可以
11、包括不需要按检验程序.检查的内容，如电路图，曲线，图形以及必要的解释该详细规范的说明等。2 优先额定值、特性2. 1 优先特性-一G/T 15882 1995 优先额定值、特性和详细规范中给出的特性值应优先从下列规定中选取。2. ,. 1 优先气候类别本规范所包括的电阻网络是按照IEC68-1的总则划分气候类别的。度下限和上限类别温度以及稳态湿热试验的持续时间应从下列数值中选取:下限类别温度:一55C，400C和-250C。上限类别温度:85C, 100oC ，125C和155C。稳态湿热试验的持续时间:4d , 10 d, 21 d和56d。寒冷和干热试验的严酷度分别就是其下限和上限类别温度
12、。某些电阻网络由于结构上的原因，这种温度可能会处在IEC68-2给出两个优先温度之间，这种情况下，应在这个电阻网络的实际范围之内靠近优先温度来选这个严酷度。2. 1. 2 电阻温度系数和电阻温度特性表1给出了电阻温度特性测试时的阻值变化优先极限值。表1的每一行给出了优先温度系数和对应的20C70C的温度特性，以及按本分规范第2.1. 1条的类别温度范围测量电阻温度特性时的阻值变化极限值(见GB/T15654一1995第4.10条)。表120C 70C 电阻温度特性(阻变化百分比极限值)温度系数电阻温度特性基准温度/下限类别温度基准温度/上限类别温度10-6/,C % 20/-55 20/-40
13、 一150/o. 75/ 十1.13/ +0.9/ 1 500 一7.5+11. 3 +9 士250士1.25:1: 1. 88 士1.5士100士0.5士0.75士o.6 士50士0.25士0.375士o.3 士25+0.125 士o.188 士o.15 士15士0.075士0.113士0.092. 1. 2a 差分电阻温度特性和差分温度系数优先极限值在表la中给出。20/-25 20/85 20/100 20/125 +0.68 一o.98/ 一1.2/-1.58/ +6.8 9.8 -12 一15.8:1: 1.13 :1: 1.62 士2士2.62士0.45士0.65士0.8士1.05
14、士o.23 士0.325士o.4 士0.525士0.113士0.162士0.2士0.262士0.068士0.098土o.12 :1: o. 158 20/155 2. 03/ 20. 3 士3.38 士1.35+ 0.675 士0.338士0.203G/T , 5882 , 995 表1a20C70C 差分电阻特性.%差分系数差分电阻度特性基准温度/下限类别!基度/上限类别温度106 /C % 20/一5520/-40 20/-25 20/85 20/100 20/125 20/155 士5士0.025士0.038士0.03士0.023士0.033土0.04士0.052土0.068士10土0.
15、05:J: o. 075 士0.06土0.045士0.065士0.08士0.104土O.135 土25士O.13 士O.188 士O.15 士0.113土O.162 士O.2 士O.262 士0.338士50士0.25士0.37士0.3士0.23土0.325士0.4士0.525土0.675士100士0.5士0.75士0.6土0.45士0.65士0.8士1.05 士1.35士200士1士1.5士1.2士O.9 士1.3 士1.6土2.1 士2.7 2. ,. 3 阻值变化极限对于每个稳定度等级来说，任一单个电阻元件在进行表2表头所列的每一项试验时的阻值变化优先极限值如表中所示。注:表2表头中的条
16、款号见GB/T15654 1995。稳定度长期4. 19 气候顺序4.20 稳态湿热4.21. 1 70C耐久性表2% 4. 21. 2 上限类别温度耐久性10 5 2 l O. 5 0.25 O. 1 2. 1. 3a 差分阻值变化差分阻值变化的优士00%+0.5m士(5%+0.l!l)士(2%+0.lm士0%十0.05m士(0.5%十0.05m士(0.25%+0. 05m 士(0.1 % +0. 01m 限值为:士0.1%，:f: O. 25%，士0.5%，+1%。2.2功短期4. 12过4. 13 引出端强度4. 15 耐焊接热4. 16 4. 17 冲击4. 18 振动士(2%+0.l
17、!l)变化士0%+0.05m士(0.5%十0.05m士(0.25%十0.05m士(0.1%+0.0l!l)士(0.05%+0. Ol!l) + (0.。安%0.010)出这类细规范中给出。功能不同而异。有关功能特性的细节如分压比、特性阻抗、衰减等应在有关详2.3 优先额定值15882 1995 GB/T 网络总的允许最大功耗。2.3.1 标称阻值见GB/T15654一1995第2.2. 15条。2.3.2 标称阻值允许偏差:1:10%，士5%，士2%，:1:1%，士0.5%，士0.25%和士0.05%。2.3.2a 阻值比允许偏差优先的标称阻值比允许偏差为:士0.05%，士0.1%，土O.25
18、 % ,:1: O. 5 %和士1%。2. 3. 3 额定功耗700C下额定功耗的优先值为:对于网络为:0.125VV ,0. 25VV ,0. 5VV ,lVV ,1. 5VV , 2VV和4VV。对于电阻元件为:0.05VV，0.10VV，0.25VV，0.5VV和1VVo详细规范应规定网络中每个电阻元件适用的额定功耗值，同时还要度超过70C时的降额功耗值应按下述曲线所示z100 推荐的工作区域额尔陆军剧性都阳明上限类别温度70C 。下限类别温度下，详细规范应给出。这。低绝缘电阻应为1GO。详细规范可以给出更大的工作区域，但要包含上述给定的全部区700C以外各温度下的允许最大功耗。曲线上的
19、所有拐点都应用2.3.4 元件极限电压元件极限电压的优先值为z10V , 15V , 25V , 35V , 50V ，100V和500V直流或交流有效2.3. 5 各电阻元件之间的绝缘电压(适用时)各电阻元件之间的绝缘电压值应在详细规范中规定。2.3.6 各电阻元件之间的绝缘电阻(适用时)除非详细规范中另有规定，各电阻元件之间的2.4 优先试验严酷度详细规范中规定的试斡严酷摩应优先从下列规宦中选取。2.4. 1干应采用GB/T15654 1995第4.3条的程序I。2.4.2 振动GB/T 15654 1995第4.18条并采用下列细则z频率范围:10Hz-500 Hzo 振幅:0.75mm
20、或98m/s2(取严酷度较低者)。扫频持续时间:总持续时间6h。GB/T 15882 1995 详细规范应规定所用的安装方法(见1.4. 2条)。详细规范应规定在振动过程中为检查间断接触、开路或短路所进行的电气测且。2.4.3 低气压GB/T 15654 1995第4.19. 5条并采用下列细则z气压:8.5kPa(85 mbar)。2.4.4 GB/T 15654 1995第4.12条并采用下列细则:详细规范应规定哪些引出端之间应施加过载以及在这些引出端之间施加的2.4.5 700C耐久性GB/T 15654 1995第4.21. 1条并采用下列细则:如有必要，详细规范应规定如何对网络施加负
21、载。2.4.6 邻近电阻元件之间的绝缘电阻(适用时)GB/T 15654 1995第4.8条。2.4. 7 邻近电阻元件之间的耐电压(适用时)GB/T 15654 1995第4.9条并采用下列细则:每个绝缘元件与连接在一起的其他所有元件之间应进行耐电压2.4.8 引出端强度GB/T 15654 1995第4.13条并采用下列细则:应进行试验Ua10-一力批准程序3 程序GB/T 15654一1995第3.7条并采用下列细则:3. 1 能力鉴定电路(CQC)的选择3. 1. 1 批准试验的CQC应从下述来源中选取z。a)为鉴定设计规则、工艺和产品而专门设计的电路。膜式元件和外贴元件的端接点每个都
22、应能用来进行电气测量而不受其他电路元件的影响;和/或b)准备运往用户的电路。这些CQC中的任何一个或全部与工艺试样综合起来应能充分评定整个设计规则、材料和制造工艺，包括分包工艺。3. 1. 2 这种CQC应该用来进行初始能力批准和周期试验所规定的各种试验，并以此向国家监督检查机构(NSl)证明:a)每种类型膜式元件所要求的性能极限都能达到;b)对运输而言预计结构上所要求的环境极限得到了满足;c)能力于册(见附录B)和详细规范中所要求的电气功能特性符合要求。3. 1. 3 按照分规范GB7338 87和GB12276一90已获得鉴定批准的电路，根据有关结构类似要求，经NSI同意可作为能力批准的C
23、QC之用。3. 1. 4 已经获得能力批准的制造厂商，对于他所生产的任何一种电路，只要全部通过了分规范GB 7338 87和GB12276 90中的所有相应试验，还可以另外得到一份鉴定批准。3. ,. 5 在这些选择中，采用定制电路作为CQC的制造厂商，可以按照他的生产计划改变类型进行试验。这种情况下，CQC就不一定需要随时评定其能力的所有要求的边界，但CQC应代表所放行的产品，GB/T 15882 1995 并能评定产品的川时旦E刊IL。制造厂商每三个月应向NSI提供他对CQC所做的选择。3. 1. 6 当生产的材料在某一通用工艺(如包封)之后分成各自独立的程序或工艺时，这种通用工艺应该单独
24、用一个样本进行评定。3. 2 结构类似性a) CQC应由制造厂商的总检查员选取，而在初始批准计划开始之前应得到NSI同品。b)适用于成品网络的用于电气、尺寸和环境包括机械)试验分组的结构类似规则按本规范附录A中的规定。c)这些规则应该用来建立适用于初始批准的选择依据，还应用来确定新品网络是否在现行批准的能力范围之内，或是否需要将能力扩展使其能够放行。d)如果CQC结构类似适用于某一试验序列，则可将其组合起来以形成该试验表中所需的样品数。按照附录A的规定每个试验序列有它自己的结构类似规则和判定标准。3. 3 能力批准程序3. 3. 1 能力批准程序按总规范GB/T15654 1995第3.7条的
25、规定。用CQC进行初始能力批准、网络的放行(逐批试验)和周期试验的试验表从总体上说明了成品网络的最低限度试验方案(计划)。制造厂商可以选择他担要包括的评定水平D、E、F或G，但已具有批准能力的制造厂商只允许按照下列规定放行产品:批准的评定水平D E F 放行的评定水平D、E、F或GE、F或GF或GG G 制造厂商可按总规范GB/T15654一1995给出的下列程序将其批准的评定水平升级，而在现行试验周期届满时还未进行周期试验也可以使其降级。两种情况都应通知NSI。特殊用途所需的附加试验应在详细规范中规定，并由用户和制造厂商协商确定。有关环境试验后的电气极限值应在详细规范中给定。3.3.2 初始
26、能力批准(固定样本大小程序)3. 3. 2. 1 抽样样本大小和合格判定数按表3所示。如果试验一览表中引入附加试验组，则0组所需的样品数应按附加试验组所需的样品数来增加。3. 3. 2. 2 试验表3试验的目的是利用各种CQC和工艺试样进行试验来证实设计规则、材料、工艺、零件和封装范围是否有效。每个试验组，可按附录A给出的结构类似规则将不同的CQC组合起来以达到表3规定的全部一系列试验对于批准能力手册所包括的能力而言是必要的。应按给定的顺序进行。整个样本应先进行0组试验，然后再分到其他各组。0组试验中发现的不合格样品不应再用于其他各组。如果一个CQC在一个组的全部或一部分试验中不合格算作一个不
27、合格品。的样品数。中的试验项目如果不合格品数未超过每个组或每个分组规定的允许不合格品数，而且来越过允许不合格品总数时，则予以批准。GB/T 15882 1995 表3能力批准试验一览表注1试验项目和性能要求的条款号引自总规范GB/T15654 1995;但功能特性、阻值比、差分电阻温度特性的条款号引自本规范，这种情况下的条款号给在括号中。由于性能要求完全取决于网络的结构，所以要由详细规范来给定F但只要适用，这些2本表中:n一一样本大小p应从本规范的表1、表la和表2中选取。c-一一组的合格判定数(每个组或分组的允许不合格品数); D-一假圳、哑lfJ; ND 非破坏性的。3需要总数31只样品。
28、组条款号和试验项目(见注1)4. 4. 1 外观检查4. 4. 2 尺寸(量规检验的)。D或ND ND 条件见注1)本大小和合格判定(见注2)n I c 26 l (见注3)性能要求(见注1)按4.4. 1条标志清楚并符合详细规范规定按详细规范规定4. 5 阻值I I I I I按4.5. 2条4. 7 功能特性(适用时)4. 6 阻值比(适用时)4. 9 耐电压(仅对绝缘型网络)A l组样本的一半4. 13 引出端强度4. 15 耐焊接热4.22 元件耐溶剂性(适用时)D 方法z见本规范2.4.8条外观检查阻值耐焊接热(焊槽法lA)外观检查阻值溶剂=一溶剂温度z方法2恢复提1组(包括lA组和
29、1B组的允许不合格品总数不应超过1个。一士一%按4.9.2条5 1* 按4.13.5(a)条t:.R土(%R+ m 按4.15.3条t:.R三士(%R+ m 见详细规范条款号和试验项目(见注1)4. 10阻值随化差分电阻特性适用时)4. 12 1B组1组样本的另一半4.16 温度快速变化4. 18 振动1组l组的全部样品4.19 气候顺序干燥环湿热，试验Db.D或ND D D GB/T 15882 1995 表3(续)件(见注1)OC 20C/上下限类别温度/20C20.C /上限类别引出端一与引出端一之间加一v外观检查阻值8A=下限类别。B=上限类别外观检查阻值安装方法见详细规范程序，B4范
30、围:10Hz-500 Hz 幅，O.75mm或98m/s2 取严酷度较低者总持续时间，6h 外观检查阻值祷l组(包括1A组和18组)的允许不合格品总数不应超过1个。大小和合格判定(见注2)n I C 5 1* 10 1* 性能要求(见注1).R/R豆%或们10-6/,C .R/R %或们10-6/，C/:;(R. T. C. )士%(见2.1. 2a) /:;(R. T. C. )士%(见2.1.2a)按4.12. 3条.R士(%R+ m 按4.16. 3条.R，土(%R+ m 按4.18. 4条.R士(%R十m一一条款号和试验项目(见注1)环寒冷D或ND G/T 15882 1995 表3(
31、续)试验条件(见注1)本大小和合格判(见注2)n I C 低气压I I 8. 5 kPa (85 mbar) 2组循环湿热，试验Db，其余的循环4.20 稳态湿热3A组3组样本的一半4.21. 1 70C耐久性D D 外观检查阻值电阻元件间的绝缘电阻(适用时)见本规范2.4.6条电阻元件间的耐电压(适用时见本规范2.4.7条外阻差分阻值变化(适用时)外观检查阻电阻元件间的绝缘电阻(适用时)见本规范2.4. 6条电阻元件间的耐电压(适用时)见本规范2.4. 7条见本规范2.4.5条持续时间:1000 h 在48h、500h和1000 h时外观阻 电阻元件间的绝缘电阻(适用时见本规范2.4.6条差
32、分阻值变化(适用时)6 1 5 1 性能要求(见注1)按4.19.8条M豆士(%R+ 0) R?:160 按4.9条按4.19. 8条M二士(%R+ 0) 一一运二% 按4.20.4条M士(%R+ 0) R二注1GO按4.9条按4.21. 1. 7条M士(%R+ 0) R二三1GO主二% 条款号和试验项目(见注1)3组样本的另一半4. 21. 2 上限类别温度耐久性4组4. 14 4.23 标志耐溶剂性适用时)3.3.3 能力批准的维持3.3.3. 1 逐批检验D或ND D D GB/T 15882 1995 表3(完)试验条件(见注1)持续时间:1 000 h 在48h , 500 h和10
33、00h时检查z外观阻差分阻值变化(适用时在1000h时检查g电阻元件间的绝缘电阻(适用时)不老化方法z一溶剂g溶剂方法12. 4. 6条2 拭材料:脱脂棉恢复:本大小和合格判定(见注2)n I C 5 1 5 1 对于拟向用户放行的所有网络按照空白详细规范表2的规定进行逐批检验。要求(见注1)按4.21.2.4条.R士(%R+ m 一一=豆%R二三1GO方法1:按4.14. 2条方法3:按4.14. 3条标志清楚对于A组检验，应在一个星期(或按制造厂商申报的其他时间)至最多为一个月的时间之内生产的产品中收集样品。采用定制电路进行A组检验的结果应按能力批准的维持部分的评定来验收。CQC或代表能力
34、极限的定制电路应该用于所有其他各组。3. 3. 3. 2 周期检验CQC的周期检验按空白详细规范表2的规定。当定制电路用作CQC时，周期检验的样品应从已经通过100%筛选试验(如果适用)和逐批检验的批中抽取。3. 3.3. 3 试验空白详细规范中规定的全部一系列试验对于维持能力批准而言是必要的。每个组的各项试验应按给定的顺序进行。一个电路在一个组的全部或部分试验中不合格算作一个不合格品。不合格品数未超过每个组规定的允许不合格品数而且未超过允许不合格品总数时才算维持了能力GB/T 15882 1995 批准。3. 3. 4 质可一3. 3. 4. 1 试验一览表检验的逐批和周期试验一览表在空白详
35、细规范第二篇表2中给出。用户详细规范中列入的内容只有A组检验是强制性的。其他试验是否列入由用户决定并与制造厂商协商。3. 3. 4. 2 评定水平空白详细规范中给出的评定水平应优先从下述的表4A和表4B中选取:组* A1 A2 81 IL一检查水平FAQL 合格质量水平。检验分组* C1 C2 C3 D1 D2 户周期，月;n 样本大小s C允许不合格品数。表4A和表48的注gD* IL D* n 提评定水平D、F和G在考虑中。AQL % C 表4AE IL AQL % S呻41. 0 S-4 1. 0 S-3 2.5 表4BE n C 1 10 1 3 10 1 3 5 1 12 12 1
36、36 10 l x .各检验分组的内容按有关空白详细规范第二篇的规走。3. 3. 4. 3 (逐批检验)拒收批的F* IL AQL % F* p n C G* IL AQL % G* 咀C 电气试验后被拒收的批应退回生产方进行返工或按发现的缺陷进行筛选。这种批中不应掺入新的产品。然后将该批重新提交并按加严检验条件应记下这种批号并记录重新提交批的详3. 3.4. 4 逐批检验环境试验完成之前的放行。同一批的交不得超过三次。由于从小量的生产批聚集成一定批量需要延长时间，所以在环境试验完成之前，只要同一种电路的GB/T 15882 1995 上一批试验是合格的，制造厂商就可以和用户协商放行产品。此时
37、，应在有关放行文件上明确指出这种网络是按本分规范第3.3. 2条放行的，并在发货起的一个月之内完成这些试验。如果此后的环境试验不合格，可根据不合格的原因将提前放行的全部产品追回或进行隔离检查。3. 3. 4. 5 特殊要求小批量生产在考虑中。3. 4 非IECQ成员国内被批准的制造厂商的工厂制造阶段对于本分规范所包括的网络，只有满足总规范GB/T15654 1995中3.3条的条件时才允许申扩展制造厂商的批准。GB/T 1 5882 1 995 附录A(标准的附录)厚膜电阻网络能力批准11 范围本附录规定了用来判定制造厂商申报的能力是否覆盖了新网络以及用CQC进行试验的规则，它还可以在制造厂商
38、为覆盖某种能力选择CQC时作为指南来使用。在本规则没有涉及到的特殊情况下，总检查员应与国家标准机构(NS)协商补充判据，并通过其国家委员会提出修改本规范的提案。A2 当需要判定结构是否类似时，应考虑下列程序。A2.1 在结构类似规则范围内确定CQCa)表12是针对本规范的表3以及空白详细规范的表2给出的试验序列制定的。按周期检验一览表选出的电路还应能代表现行生产的电路。首先，制造厂商应按总规范GB/T15654 1995的表1将电路进行分类，再按本规范的表5对代表其能力的材料、工艺和基本技术进行分类。b)然后，制造厂商应对照表6表9以及表12给出的类似性组合规则审查其产品的现行和/或预定范围。
39、这样就能从技术上对能力批准所需的各种CQC型号的数目作出决定。c)选择工艺，然后扩展到表10和表11确定质量和尺寸组合范围。为了覆盖这种情况，可能需要对上述b)提到数目追加CQC。d)在从总规范GB/T15654一1995第四篇选出合适的环境试验严酷度之后，可编制一份图表表明每个CQC适用的试验项目和严酷度。e)一个电路与一个(或几个)CQC结构类似，要求它所用的布线设计规则以及电气与环境的额定值和特性不得严于CQC。/1; ./ 0 在下述两种情况中选择CQC:按照尺可能多地覆盖每个型号的能力范围而专门设计的电路;这样能使CQC型号的数目采用较宽范围的标准的定制电路/目录电路作为CQC来覆盖
40、其能力。A2.2 新电路为在本体系内出售或放行而制造的每种新电路，首先要进行检查以确保其能采用有效的设计规则，包括有效的材料，并采用批准的工艺和封装型式进行制造。其次，应联系现有CQC研究它的特性，以得出在材料和工艺(表6表9)、质量和尺寸(表10和表11)、相应的试验项目和严酷度(表12)以及总规范GB/T15654一1995第四篇的要求等方面是否已将其覆盖的结论。新电路的特性应由一个或几个CQC所覆皿。当现有CQC没有覆盖新电路而制造厂商又希望使其放行时，制造厂商首先应按这种特殊需要以及总规范GB/T15654一1995第3.7.5条的要求扩展其能力。在这种情况下，可能要对CQC或这种新电
41、路进行一些额外的试验。A2.3 程序指南下图给出了A2.1和A2.2条所述原则的实施指南。a)用于能力批准的CQC的选择和试验b)用于新电路的程序a)用于能力批准的CQC的选择和CQC的选择(见3.1)并NSI申请批准力批准电路的放行和维持GB/T 15882 1995 制造的电路一一一一一-一一一一一一b)用于新电路的程序鉴定批准程序GB 7339-87 GB 12277-90 合在一起的表2否GB/T 15882 1995 新电路是否在能力极限范围之内?(与一个或几个CQC结构类似表5-表12的扩(对新电路或CQC补充试验GB/T 15883一1995的表2表5结构类似的基本要求在决定结构
42、类似是否适用时应使用每栏的具体说明。表列的项目不一定十分齐全。.,. 项目基本技术基本材料基片氧化铝(见表的璃有涂层的金属有机物膜式元件浆料基本成分g(见表7)a)功能元件有机填料电阻器铜导线钉跨接线金钮-银钳-银铠-金铛-金玻璃-陶瓷是GB/T 15883一1995的表2基本工艺/方法挤压/流涎火焰抛光研和光淀积和烧结项目b)调整方法c)多层布线外贴元件(见表的电阻器封装(见表9)G/T 15882 1995 基本技术厚膜有机介质无机介质封的带式引线线式引线表面安装(片式)正装(向上)倒装插装片式的非罐封的有芯的片基本型式和结构g双列单列扁平封装片式无包封塑料包封的表5(完)基本材料导电体和
43、绝缘体镰-铭陶警E筒基本封装材料g陶瓷金瓷金环氧树有机硅树脂祷对于未经批准的外贴元件，膜式和混合电阻网络的结构类似规则要求制基本工艺/方法掩模光刻电火花机激光机械调整喷砂离子束分层顺序印制并烧结叠层和加压共熔焊粘接焊料预成形铝、金丝热超卢焊热脉冲焊再流焊电阻焊粘接封装方法=有机物封接电阻焊模铸注塑料盒填封浸涂喷涂相同。G/T 1 5882 1 995 表6基片基片特性类似则(佯品的长度L 宽度W) 机械参数(翘)弯曲度粗糙度孔隙率外观基片的主要代表性材料至少有90%体积)应相似(相差不超过2%)基片标称厚度相同工艺/方法相同在下述情况下允许组合z0.5L，长度，2L0.5W，宽度，2W料度艺寸
44、材厚工尺采购和检验规范相表7元件式元件的特性l 导电层(类型，成分)2 多层布线(类型，介质，成分)3 电阻材料=成分方电阻电阻元件的单位面积最大功耗调整王艺阻值和允温度系数差分温度系数和差分允许偏差类似规则相同在CQC的最多层数内任意组合采购的材料系相同，以方电阻数为基础在系数10的范围内可有不同混合在CQC包括的极值范围内任意组合限制在CQC包括的最调整方法相同内任意组合对一个给定允，允许在最小和最大阻值范围内组合限制在CQC保证的最内组合方阻不同不允许组合。方阻相同时g在CQC极值范围内且阻值比不超过CQC的阻值比允许组合电阻元件数互连模式相同表8外贴元件元件特性类似规则兀件的类型有引线
45、的分立元件不允许组合在硅片、玻璃片或蓝宝石片上的!膜丑跨接件(搭接片)片式电阻器G/T 15882 1995 表8(完)元件特性类似规则安装方法和互连焊接、粘接、丝尺寸评定水平D和E评定水平F和G封装工艺1一无包封的2一有包封的引线特1一材料，工艺和涂层性2一与基片连接的材料和方法3 材料的机械特性4 间距标志体系和打标志的方法强度基片固定不允许组合在两倍尺寸范围内允许组合允许任意组合表9封装类似规则在基片范围内且引线固定方法相同时组合(见表们材料和防护涂覆体系不同不允许组合引线材料和绝缘材料相同相同相同或更好相同或更大相同相同或更大材料和工艺相CQC的选择或与质量和尺寸有关的类似规则参数长度
46、宽度厚度表10封装外壳的质量和尺寸Y Y CQC或标准电路X Y s=XY Z Z z 相关网络z y s=xy z Xlx 极限1) ,2 ) aXx.bX aYybY eS二s三fSgZ.z.hZ GB/T 15882 1995 表10(完)CQC或相关极限参数标准电路网络1) 2) 引出端数N n uNnvN 质量M m jMi三mkM每个引出端质量M/N m/n wi二M/Ni王m/n3l1)当有两个极限时应考虑最严格的极限。2)对圆柱形封装采用x=y=直径的规则。3)这个判据仅在机械试验中用引出端固定网络时才适用。宫对直径小于15.41mm的圆柱形封装或尺寸小于17 mmX17 mm
47、的矩形封装不适用。表11质量和尺寸的组合极限评定水平b f h k a e g 1 u v w D和EO. 5 1. 5 0.25 1.5 O. 8 1. 2 O. 2 1.8 0.5 2 1. 2 F 0.3 2 O. 3 2 0.5 1.5 0.3 2 G O. 3 2 0.5 1. 5 表12本表供评定或修改申报能力时作为确定试验计划的基本要求之用。本表应与本规范的表3和空白详细规范的表2一起使用。本表按每个试验组规定了在给定的无包封或有包封的电阻网络和/或CQC之间判定结构是否类似时需要满足的工艺情况和判据。注z要求分为强制性的(X)或不适用(一两种。当没有满足一个试验组的一个或多个判
48、据时，不能采用结构类似原则，而且制造能力必须进行扩展，以覆盖组的具体要求。序号|无包封的|有包封的适用的试验表:18组C1分组判注振动1 2 X X 览表和/或试验条件相同或较不严格封装型式/材料和制造方法(表的相同在表10范围内类似网络封装所用的材料、方法和工艺条件相同(表的外贴元件与基片以及基片与封装外壳的装配、连接或封接的材料规范和工艺方法相同(表7和表的引线在伸出封装外壳处的横截面尺寸相同(表的沿最小密封通路上的引线长度相同或较长(表的外引线直接装配在基片上(适用时)的方法相同(表9)穿到封装外壳内的引线与内部电路连接的基本材料和方法相同(表的1) X 3 X 5 X XXX 4 6
49、XXXX 7 8 9 GB/T 15882 1995 12 XXX 外引表12(续)判、电镀/涂覆工艺以及镀层/涂层的材料和序号!无包封的|有包封的注10 11 X X 同(表9)13 X 基片的基本材料相同(表的基片标称厚度与CQC标称厚度相差不超过10%表的基片上或基片之间内部连线所用的材料范围和方法相同或范围较小(表7)Pj相同或较小，此处s2) X 14 X FbFOntnxvnud 嘈-A咽A唱EA唱EA咽4X X X 关于内连线(或带)悬空部分长度和间隙的试验时采用的封装外壳安装方法相同引线硬度规范相同(表的用型外贴无源元件的范围相同或较小(表的基本膜层材料的范围相同或较小(表7)相X XXX 1) X X 1)仅在
