1、CECC CECCt32xLOL- 007tEDtZ 90 Z974499 0031515 832 = UTE cdex 64, 92052 paris la dfense Tlphone t (1) 47 68 50 20 Tlex r CEFUTE 620816 F COMPOSANTS ELECTRONIQUES sous ASSURANCE DE GUALITE Conformment aux : Page 1/16 CECC 30 O00 Edition 3 (NF C 83-100 Edition 2) CECC 32 100 et 32 101 Edition 1 CECC 32
2、 101-007 Edition 1 Fvrier 1990 UTE C 83-133 CE Al (taille 0505) CE A2 (taille 11 11) SPECIFICATION PARTICULIERE POUR : Condensateurs fixes chipses dilectrique en cramique multicouche - Boitier parall16pipdique nu EXECUTION : - Isol - Sorties mtallises Dessin dencombrement CARACTERISTIQUES SOMMAIRES
3、: CR : 0,1 pF 1000 pF Tolrances : f 0,l pF, f 0,25 pF, f 0,5 pF, f 1 X f 2 x, f 5 x, f 10 x, f 20 x UR : 50 V B 500 V Catgorie climatique : 55/125/5 6 Classe 1 Sous-classe 1 BAG Coefficient de temprature dfini Applications hyperfrquence NIVEAU DASSURANCE : E Se reporter la Liste des Produits Homolog
4、us CECC O0 200*en vigueur pour connaitre les fabricants dont des composants conformes cette spcification particulire sont homologus (*) Se reporter galement au RCQ FRANCAIS (UTE C 00-191) Copyright CENELEC Electronic Components Committee Provided by IHS under license with CECCNot for ResaleNo reprod
5、uction or networking permitted without license from IHS-,-,-CECC CECC*32*LOL- 007*ED*L 90 W L97qq99 003L5Lb 779 CECC 32 101-007 -2- Edition 1 1. CARACTERISTIQUES GENERALES 1.1 METHODE DE MONTAGE RECOMMANDEE Voir 1.3.2 de la CECC 32 100 Edition 1. 1.2 DIMENSIONS TABLEAU 1 Rfrence du botier 0505 1111
6、Dimensions (en mm) *I * 41w (i 0,25) (i 025) I4 I I4 2,8 I 2,8 (i 0,40) (i 0,40) I * Pour les modles tams au tremp, augmenter H ainsi que la tolrance positive de L, et de W de 0,5 mm. 1.3 CARACTERISTIQUES Gamme de capacit Tolrances sur ia capacit Tension nominale Catgorie climatique Temprature nomin
7、ale Tangente de langle de perte Rsistance de lisolement (Voir tableau 2A) (Voir tableau 2B) (Voir tableau 2A) 5 5/125/5 6 t 125 OC (Voir 4.6.2 de la CECC 32 100) 3 lo3 GQ pour Cn s 470 pF 5 lo2 GQ pour Cn 470 pF Coefficient de temprature .(lo0 * 30)10-6/0C Finition des sorties (Voir tableau ZC) Copy
8、right CENELEC Electronic Components Committee Provided by IHS under license with CECCNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-CECC CECC*32*LOL- 007*ED*L 90 = 1974499 0031517 605 Tension Rfrence du bonier 0505 1111 -3- 50 V 0,l PF a 100 pF 680 pF a 1000 pF CE
9、CC 32 101-007 Edition 1 100 v / 510pF TABLFAU 2A VALEURS DES CAPACITES, DES TENSIONS ET DES BOITIERS CORRESPONDANTS 200 v / 220pF 300 V 500 V a 110 pF a 200pF 1 PF a 1OOpF I TABLEAU 2B TOLERANCE SUR LA CAPACITE (avec lettre code selon IEC 62) Q 0,2 pF d 0,4 pF I I I d 6,2 pF i 0,l pF (6) T 0,25 pF (
10、C) 5: 0,5 pF (D) Q 10pF i 0,l pF (6) 0,25 pF (C) T 0,5 pF (D) T 5 % (J) 310pF I i 1 % (F) T 2 % (G) T 5 % (J) T 10 % (K) T 20 % (M) Copyright CENELEC Electronic Components Committee Provided by IHS under license with CECCNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-
11、,-,-CECC CECC*32*1OL- 007*ED*L 90 m 1974499 0033538 541 m Sorties CECC 32 101-007 Edition 1 Code -Ir- Or * TABLEAU 2C G Etamage lectrolytique * Etamage au tremp * J H * Sur barrire de nickel 1.4 DOCUMENTS DE REFERENCE Spcification gnrique : CECC 30 100 (Edition 3) Spcification intermdiaire : CECC 32
12、 100 (Edition 1) 1.5 MARQUAGE Le marquage du condensateur et de son emballage doit tre conforme aux exigences du 1.5 de la CECC 32 100, Edition 1. Les informations suivantes doivent tre marques sur lemballage. Capacit nominale et tolrance (si utilisation dun code : voir IEC 62). Tension nominale. Co
13、de du coefficient de temprature et sa tolrance. Anne et mois de fabrication. Catgorie climatique. Nom et marque du fabricant. Taille et code de la finition des sorties. Rfrence de la spcification particulire. Note : Si les condensateurs sont marqus sur le corps (entre les mtallisations) ajouter la l
14、ettre L aprs le code finition des sorties. Copyright CENELEC Electronic Components Committee Provided by IHS under license with CECCNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-CECC CECC*32*101- 007*ED*l1 90 1974499 0031519 488 I -5- CECC 32 101-007 Edition 1 Ex
15、emple : 47 pF, T 5 X, 50 V, 1 B A G, Tekelec, 55/125/56, 0505 HL, CECC 32 101-007 Edition 1. 1.6 RENSEIGNEMENTS POUR LES COMMANDES Les commandes de condensateurs couverts par cette spcification doivent contenir au minimum, en clair ou en code, les renseignements suivants : - Capacit nominale et tolr
16、ance. - Tension nominale. - Code du coefficient de temprature. - Taille du modle et code des sorties. - Marquage du corps (ou non). - Numro de la spcification et numro ddition - Type demballage, par exemple : vrac ou bande. Exemple : 47 pF, 5 10 X, 50 V, 1 B A G, 0505 HL, CECC 32 101-007 Edition 1,
17、bande. 1.7 RAPPORTS CERTIFIES DESSAIS Non requis. 1.8 INFORMATIONS COMPLEMENTAIRES (Non applicable aux exigences de contrle) Facteur de surtension typique. f = 1 MHz Q 8 10.000 f = 100 MHz QXC (pf) B 20.000 Copyright CENELEC Electronic Components Committee Provided by IHS under license with CECCNot
18、for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-CECC CECC*32*303- 007*ED*l1 90 m 3974499 0033520 LTT m 4 I CECC 32 101-007 Edition 1 -6- 1.9 EXIGENCES OU SEVERITES. COMPLEMENTAIRES DE, OU PLUS SEVERES QUE, CELLES SPECIFIEES DANS LA SPECIFICATION GENERIQUE OU INTERMEDIA
19、IRE TABLEAU 3 Groupe AO Groupe Al Groupe Al Groupe A2 Groupe A3 Groupe B1 Groupe C1 Groupe C3-2 Groupe C3-3 Groupe B3 Capacit et tangente Examen visuel Dimension Tension de tenue Analyse structure interne Soudabilit Rsistance chaleur de soudage Essai continu Chaleur humide Endurance Vieillissement a
20、cclr Tri 100 % suivi d?un prlvement de 125 pices par lot avec zro dfaut tolr Niveau de prlvement : S4 NQA : 1 Niveau de prlvement : S3 NQA : 1 Niveau de prlvement : I NQA : 0?25 8 chantillons par lot O dfaut : accept 1 dfaut : refus Niveau de prlvement : 8 pices O dfaut : accept 1 dfaut : refus Temp
21、s d?immersion = 120 s 45 pices prleves (au lieu de 15) rparties en 3 lots : - 15 pices sans tension - 15 pices avec Un appliqu - 15 pices avec 5 V appliqu travers une rsistance individuelle de 1000 km 7 10 % 1 dfaut : tolr 50 pices prleves (au lieu de 15) 2 dfauts : tolrs Dure : 2000 h au lieu de 10
22、00 h 48 h sous 1,5 Un la temprature maximale de catgorie. Mesures initiales. Capacit, tangente, rsistance d?isolement. Niveau de prlvement : 10 pices O dfaut : accept 1 dfaut : refus e e e Copyright CENELEC Electronic Components Committee Provided by IHS under license with CECCNot for ResaleNo repro
23、duction or networking permitted without license from IHS-,-,-CECC CECC*32*101- 007*ED*1 90 1974499 003152L 03b -7- CECC 32 101-007 Edition 1 2. EXIGENCES DE CONTROLE 2.1 PROCEDURES 2.1.1 Pour lhomologation, la procdure doit tre conforme au 3.4 de la CECC 32 100 Edition 1. 2.1.2 Pour le contrle de la
24、 conformit de la qualit, le programme dessais, comprenant lchantillonnage, la priodicit, les svrits et les exigences, est donn au tableau 4. La formation des lots de contrle est rgie par le 3.5.1 de la CECC 32 100 Edition 1. Notes des tableaux 4A et 4B NOTE 1. : Les numros de paragraphes indiqus pou
25、r les essais et les exigences renvoient la CECC 32 100 Edition 1. NOTE 2 : Les niveaux de contrle (NC) et les niveaux de qualit acceptables (NQA) sont extraits de la CE1 410 : NOTE 3 : Dans les tableaux 4A et 4B : p = priodicit (en mois) n = effectif de lchantillon c = critre dacceptation D = destru
26、ctif ND = non destructif NOTE 4 : Ce sous-groupe peut tre supprim avec laccord de 1ONS si un essai correspondant est effectu sur chaque lot de fabrication du matriau dilectrique. NOTE 5 : Aprs contrle 100 X, effectuer un prlvement de 125 pices. Zro dfaut : tolr. NOTE 6 : Non applicable aux condensat
27、eurs chipses qui, selon leur spcification particulire, doivent tre monts sur des substrats en alumine. NOTE 7 : Les pices trouves dfectueuses aprs report ne doivent pas tre prises en compte dans le dcompte des dfectueux autoriss pour les essais suivants. Elles doivent tre remplaces par des condensat
28、eurs de rechange. NOTE 8 : Effectuer lessai sur 8 pices/lot. Zro dfaut : accept ; 1 dfaut : refus. NOTE 9 : Prchauffer les pices, jusqu ce que lquilibre thermique soit atteint une temprature infrieure de 80 looo C la temprature dessai. NOTE 10: Effectuer le vieillissement sur 10 pices/lot. O dfaut :
29、 accept ; 1 dfaut : refus. Copyright CENELEC Electronic Components Committee Provided by IHS under license with CECCNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-CECC CECC*32*303- 007*ED*3 90 D 3974499 0033522 T72 D CECC 32 101-007 Edition 1 -8- TABLEAU 4A.1 Cont
30、rle lot par lot (Groupe A) - D ND ou - ND - ND - ND - ND - D - - NC NQA % 100 % (5) GROUPE AO 4.6.1 Capacit * 3quence et tension le mesure selon 4.6.1 )ans les tolrances spcifies Selon 4.5.2 4.6.2 Tangente de langle de pertes GROUPEAl (al * 4.5 Examen visuel Selon 4.5.2 Marquage lisible et selon 1.5
31、 Je la prsente spcification 3-3 - I - GROUPEAl (bl Y 4.5 Dimensions (par mesure) Voir le tableau 1 de la Drsente spcification 0,25 GROUPE A2 4.6.4 Tension de tenue (point dessai la) i Pas de claquage ni de zontournement 4.6.3 Rsistance disolement (point dessai la) Selon 4.6.3 (3) GROUPE A3 Analyse s
32、tructure interne * Voir Annexe A /oir Annexe A *) Svrits ou exigences additionnelles ou accrues - voir paragraphe 1.9. Copyright CENELEC Electronic Components Committee Provided by IHS under license with CECCNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-CECC CECC
33、*32*101- 007*ED*1 90 m 1974499 0031523 909 m GROUPE B1 * 4.1 1 Soudabilit 4.1 1.2 Mesures finales GROUPE B2 (4) * 4.7.1 Coefficient de temprature et drive de capacit aprs cycle thermique GROUPE 83 *. Vieillissement acclr Mesure intiale Reprise Mesures finales -9- TABLEAU 4A.2 Contrle lot par lot (Gr
34、oupe B) Vieillissement 4 h 155“ C Examen visuel Schage prliminaire 16h24h Capacit Drive capacit Dure : 48 h Tension : 1,5 Ur Temprature maximale de catgorie (24 T 2) h Capacit Tangente de langle de pertes Rsistance disolement CECC 32 101-007 Edition 1 Selon 4.1 1.2 C/C selon 2.2.5 (2) AC/C selon 4.1
35、5.5 Tangente de langle de pertes selon 4.15.5 Rsistance disolement selon 4.15.5 *) Svrits ou exigences additionnelles ou accrues - voir paragraphe 1.9. Copyright CENELEC Electronic Components Committee Provided by IHS under license with CECCNot for ResaleNo reproduction or networking permitted witho
36、ut license from IHS-,-,-CECC CECC*32*303- 007*ED*l 90 W 1974499 0033524 845 CECC 32 101-007 Edition 1 Numro du paragraphe etessd (1 1 GROUPE C1 * 4.1 O Rsistance la chaleur de soudage 4.10.2 Mesure initiale 4.10.4 Mesures finales GROUPE C2 4.9 Robustesse des extrmits mtallises (6) GROUPE C3 4.4 Mont
37、age (voir note 7) - 10 - TABLEAU 4B Essais priodiques Prchauffage (voir note 9) Mthode 1A Dure : 120 s Reprise : (24 * 2) h Capacit Examen visuel Capacit Capacit (avec le circuit imprim en position plie) Examen visuel Examen visuel Capacit Tangente de langle de perte Tension de tenue Rsistance disol
38、ement (3) - 12 - 12 - 1 - 1 Selon 4.10.4 Selon 4.10.4 IAC/C1 4 10% Pas de dommage visible Selon 4.5.2 A lintrieur des tolrances spcifies Selon 4.6.2 Pas de claquage ni de contournement Selon 4.6.3 (3) *) Svrits ou exigences additionnelles ou accrues - voir paragraphe 1.9. e e e e Copyright CENELEC E
39、lectronic Components Committee Provided by IHS under license with CECCNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-a e e CECC CECC*32*303- 007*ED*L 90 m 3974499 0033525 783 m ROUPE C3.1 * 4.8 Adhrence 4.12 Changement rapide de temprature 4.12.2 Mesure initiale 4
40、.12.3 4.12.4 4.12.5 Mesures finales 4.13 Squence climatique 4.13.2 Mesure initiale 4.13.3 Chaleur sche 4.13.4 Essai cyclique de chaleur humide, Essai Db, ler cycle 4.13.5 Froid 4.13.6 Essai cyclique de chaleur humide Essai Db, Cycles restants - - - - - - - - - - - - - - - D ou ND - 0 - 11 - TABLEAU
41、4B (suite) CECC 32 101-007 Edition 1 Examen visuel Ta = Temprature basse Tb = Temprature haute Capacit 5 cycles Dure t = 30 min Reprise = 24 f 2 h Examen visuel Capacit de la catgorie de la catgorie Capacit Temprature haute de la catgorie Dure = 16 h Temprature basse de la catgorie Dure = 2 h Examen
42、 visuel as de dommage visible as de dommage visible I AWC I selon 4.12.5 as de dommage visible _-_-_-_- *) Svrits ou exigences additionnelles ou accrues - voir paragraphe 1.9. Copyright CENELEC Electronic Components Committee Provided by IHS under license with CECCNot for ResaleNo reproduction or ne
43、tworking permitted without license from IHS-,-,-CECC CECC*32*101- 007*ED*1 90 m 1974499 003152b b18 m CECC 32 101-007 Edition 1 4.13.6 (2) Conditions dessai 4.13.6 (3) Reprise 4.13.7 Mesures finalgs - - - - - - - - - - - - - - GROUPE C3.2 * 4.14 Essai continu de chaleur humide 4.14.2 Mesure initiale
44、 4.14.4 Reprise 4.14.5 Mesures finales 3.15.2 Mesure initiale 3.15.4 Reprise - - 12 - TABLEAU 4B (suite) Pas de tension applique 1 A2h Examen visuel Capacit Tangente de langle de perte Rsistance disolement - 15 pices sans tension 15 pices sous Un 15 pices sous 5v (avec R = KQ ) Capaci Classe 1 = 1 A
45、 2 h Classe 2 = 24 f 2 h Examen visuel Capacit Tangente de langle de perte Rsistance disolement - Dure = 2000h Tension : 1,5 Ur Temprature haute de la catgorie Capacit (24 I 2) h - Pas de dommage visible Marquage lisible I AC/C I selon 4.14.5 Selon 4.14.5 Selon 4.14.5 - Pas de dommage visible Marqua
46、ge lisible I AC/C I selon 4.14.5 Selon 4.14.5 *) Svrits ou exigences additionnelles ou accrues - voir paragraphe 1.9. Copyright CENELEC Electronic Components Committee Provided by IHS under license with CECCNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-CECC CECC*
47、32*303- Numro du paragraphe etrwIial (1) JROUPE C3.3 (suite) 1.15.5 Mesures finales JROUPE C4 1.7.1 Coefficient de temprature et drive cyclique de temprature 007*ED*3 90 = 3974499 0033527 554 - 13 - TABLEAU 4B (suite) Examen visuel Capacit Tangente de langle de pertes Rsistance disolement Schage prliminaire : 16824h Capacit Drive de capacit CECC 32 101-007 Edition 1 Pas de dommage visible Marquage lisible I Ac/c I selon 4.15.5 Selon 4.15.5 selon 4.15.5 Pas de dommage visible I AC ce qui sous-ent
