1、November 2013DEUTSCHE NORM DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDEPreisgruppe 27DIN Deutsches Institut fr Normung e. V. Jede Art der Vervielfltigung, auch auszugsweise, nur mit Genehmigung des DIN Deutsches Institut fr Normung e. V., Berlin, gestattet.ICS
2、 31.180!%)=“2062661www.din.deDDIN EN 61193-3Qualittsbewertungssysteme Teil 3: Auswahl und Anwendung von Stichprobenanweisungen frEndprodukte von Leiterplatten und Laminaten undfertigungsbegleitende Auditierung (IEC 61193-3:2013);Deutsche Fassung EN 61193-3:2013Quality assessment systems Part 3: Sele
3、ction and use of sampling plans for printed board and laminate end-productand in-process auditing (IEC 61193-3:2013);German version EN 61193-3:2013Systme dassurance de la qualit Partie 3: Choix et utilisation de plans dchantillonnage pour cartes imprimes et produitsfinis stratifis et audits en cours
4、 de fabrication (CEI 61193-3:2013);Version allemande EN 61193-3:2013Alleinverkauf der Normen durch Beuth Verlag GmbH, 10772 Berlin www.beuth.deGesamtumfang 67 SeitenDIN EN 61193-3:2013-11 2 Anwendungsbeginn Anwendungsbeginn fr die von CENELEC am 2013-02-28 angenommene Europische Norm als DIN-Norm is
5、t 2013-11-01. Nationales Vorwort Vorausgegangener Norm-Entwurf: E DIN IEC 61193-3:2008-04. Fr dieses Dokument ist das nationale Arbeitsgremium K 682 Montageverfahren fr elektronische Baugruppen“ der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE (www.dke.de) zus
6、tndig. Die enthaltene IEC-Publikation wurde vom TC 91 Electronics assembly technology“ erarbeitet. Das IEC-Komitee hat entschieden, dass der Inhalt dieser Publikation bis zu dem Datum (stability date) unverndert bleiben soll, das auf der IEC-Website unter http:/webstore.iec.ch“ zu dieser Publikation
7、 angegeben ist. Zu diesem Zeitpunkt wird entsprechend der Entscheidung des Komitees die Publikation besttigt, zurckgezogen, durch eine Folgeausgabe ersetzt oder gendert. Fr den Fall einer undatierten Verweisung im normativen Text (Verweisung auf eine Norm ohne Angabe des Ausgabedatums und ohne Hinwe
8、is auf eine Abschnittsnummer, eine Tabelle, ein Bild usw.) bezieht sich die Verweisung auf die jeweils neueste gltige Ausgabe der in Bezug genommenen Norm. Fr den Fall einer datierten Verweisung im normativen Text bezieht sich die Verweisung immer auf die in Bezug genommene Ausgabe der Norm. Der Zus
9、ammenhang der zitierten Normen mit den entsprechenden Deutschen Normen ergibt sich, soweit ein Zusammenhang besteht, grundstzlich ber die Nummer der entsprechenden IEC-Publikation. Beispiel: IEC 60068 ist als EN 60068 als Europische Norm durch CENELEC bernommen und als DIN EN 60068 ins Deutsche Norm
10、enwerk aufgenommen. EN 61193-3 April 2013 EUROPISCHE NORM EUROPEAN STANDARD NORME EUROPENNE ICS 31.190 Deutsche Fassung Qualittsbewertungssysteme Teil 3: Auswahl und Anwendung von Stichprobenanweisungen fr Endprodukte von Leiterplatten und Laminaten und fertigungsbegleitende Auditierung (IEC 61193-3
11、:2013) Quality assessment systems Part 3: Selection and use of sampling plans for printed board and laminate end-product and in-process auditing (IEC 61193-3:2013) Systme dassurance de la qualit Partie 3: Choix et utilisation de plans dchantillonnage pour cartes imprimes et produits finis stratifis
12、et audits en cours de fabrication (CEI 61193-3:2013) Diese Europische Norm wurde von CENELEC am 2013-02-28 angenommen. Die CENELEC-Mitglieder sind gehalten, die CEN/CENELEC-Geschftsordnung zu erfllen, in der die Bedingungen festgelegt sind, unter denen dieser Europischen Norm ohne jede nderung der S
13、tatus einer nationalen Norm zu geben ist. Auf dem letzten Stand befindliche Listen dieser nationalen Normen mit ihren bibliographischen Angaben sind beim CEN-CENELEC Management Centre oder bei jedem CENELEC-Mitglied auf Anfrage erhltlich. Diese Europische Norm besteht in drei offiziellen Fassungen (
14、Deutsch, Englisch, Franzsisch). Eine Fassung in einer anderen Sprache, die von einem CENELEC-Mitglied in eigener Verantwortung durch bersetzung in seine Landessprache gemacht und dem CEN-CENELEC Management Centre mitgeteilt worden ist, hat den gleichen Status wie die offiziellen Fassungen. CENELEC-M
15、itglieder sind die nationalen elektrotechnischen Komitees von Belgien, Bulgarien, Dnemark, Deutschland, der ehemaligen jugoslawischen Republik Mazedonien, Estland, Finnland, Frankreich, Griechenland, Irland, Island, Italien, Kroatien, Lettland, Litauen, Luxemburg, Malta, den Niederlanden, Norwegen,
16、sterreich, Polen, Portugal, Rumnien, Schweden, der Schweiz, der Slowakei, Slowenien, Spanien, der Tschechischen Republik, der Trkei, Ungarn, dem Vereinigten Knigreich und Zypern. CENELEC Europisches Komitee fr Elektrotechnische Normung European Committee for Electrotechnical Standardization Comit Eu
17、ropen de Normalisation Electrotechnique Management Centre: Avenue Marnix 17, B-1000 Brssel 2013 CENELEC Alle Rechte der Verwertung, gleich in welcher Form und in welchem Verfahren, sind weltweit den Mitgliedern von CENELEC vorbehalten. Ref. Nr. EN 61193-3:2013 DDIN EN 61193-3:2013-11 EN 61193-3:2013
18、 Vorwort Der Text des Dokuments 91/1061/FDIS, zuknftige Ausgabe 1 der IEC 61193-3, erarbeitet durch IEC/TC 91 Electronics assembly technology“, wurde zur parallelen IEC-CENELEC-Abstimmung vorgelegt und von CENELEC als EN 61193-3:2013 angenommen. Nachstehende Daten wurden festgelegt: sptestes Datum,
19、zu dem dieses Dokument auf nationaler Ebene durch Verffentlichung einer identischen nationalen Norm oder durch Anerkennung bernommen werden muss (dop): 2013-11-28 sptestes Datum, zu dem nationale Normen, die diesem Dokument entgegenstehen, zurckgezogen werden mssen (dow): 2016-02-28 Es wird auf die
20、Mglichkeit hingewiesen, dass einige Texte dieses Dokuments Patentrechte berhren knnen. CENELEC und/oder CEN sind nicht dafr verantwortlich, einige oder alle diesbezglichen Patentrechte zu identifizieren. Anerkennungsnotiz Der Text der Internationalen Norm IEC 61193-3:2013 wurde vom CENELEC ohne irge
21、ndeine Abnderung als eine Europische Norm angenommen. In der offiziellen Fassung sind unter Literaturhinweise“ zu den aufgelisteten Normen die nachstehenden Anmerkungen einzutragen: IEC 60068-2-20 ANMERKUNG Harmonisiert als EN 60068-2-20. IEC 60068-2-38 ANMERKUNG Harmonisiert als EN 60068-2-38. IEC
22、61189-2 ANMERKUNG Harmonisiert als EN 61189-2. IEC 61189-3 ANMERKUNG Harmonisiert als EN 61189-3. IEC 61193-1 ANMERKUNG Harmonisiert als EN 61193-1. IEC 61193-2 ANMERKUNG Harmonisiert als EN 61193-2. IEC 62326-1 ANMERKUNG Harmonisiert als EN 62326-1. IEC 62326-4-1 ANMERKUNG Harmonisiert als EN 62326
23、-4-1. ISO 14001 ANMERKUNG Harmonisiert als EN ISO 14001. 2 DIN EN 61193-3:2013-11 EN 61193-3:2013 Inhalt SeiteVorwort .2 Einleitung5 1 Anwendungsbereich.6 2 Normative Verweisungen.6 3 Begriffe.6 4 Stichprobenverfahren.8 4.1 Allgemeines8 4.2 Stichprobenplne fr die Attributprfung .9 4.3 Nicht statisti
24、sche Stichprobenplne .10 4.4 Einordnung von Plnen mit c = 0 .10 5 Klassifizierung von Attributen.15 5.1 Allgemeines15 5.2 Zuordnung der Klassifizierung .16 5.3 Klassifizierung und Anpassung der Kriterien der Stichprobenplne17 5.4 Prozesssteuerung 17 6 Bewertung von Fehlern und Indikatoren fr Prozess
25、abweichungen .18 6.1 Allgemeines18 6.2 Anforderungen an die Prozesssteuerung und -verbesserung .18 7 Prfplne18 7.1 Allgemeines18 7.2 Stichprobenplne auf der Basis der Annahmezahl Null 19 7.3 Verantwortliche Stellen 19 7.4 Anwendung 19 7.5 Spezifikation von Prfplnen19 7.6 Einreichen eines Produkts .2
26、0 8 Klassifizierung von Fehlern22 8.1 Allgemeines22 8.2 Daten in der Kunden-Bauartspezifikation 22 9 Prozentualer Anteil von Fehlern je eine Million Mglichkeiten.22 9.1 Allgemeines22 9.2 Klassen der DPMO 23 9.3 Abschtzung der DPMO 23 9.4 Berechnung der DPMO24 10 Anwendung von Stichprobenplnen 24 10.
27、1 Allgemeines24 10.2 Einteilung von Prfungen.24 10.3 Einstufung 25 10.4 Fertigungsbegleitende Prfung und Qualittslenkung.25 10.5 Indirekte Messverfahren.26 3 DIN EN 61193-3:2013-11 EN 61193-3:2013 SeiteAnhang A (informativ) Beispiel fr einen allgemeinen Stichprobenplan fr die drei Stufen der bereins
28、timmung mit den Anforderungen von IEC 62326-4 fr Mehrlagenleiterplatten 27 Anhang B (informativ) Beispiel eines allgemeinen Stichprobenplans 51 Anhang C (informativ) Annahmekennlinien und -werte 54 Literaturhinweise 62 Anhang ZA (normativ) Normative Verweisungen auf internationale Publikationen mit
29、ihren entsprechenden europischen Publikationen . 65 Bilder Bild 1 Typische OC-Kennlinie fr einen Plan mit c 0. 12 Bild 2 Vergleich der OC-Kennlinien eines Plans mit c 0 und eines Plans mit c = 0 13 Bild 3 Systematischer Weg der Umsetzung der Prozesssteuerung. 18 Bild 4 Nichtbereinstimmende Attribute
30、 mit Spezifikationsanforderungen. 21 Bild C.1 Losgre 2 bis 8 . 55 Bild C.2 Losgre 9 bis 15 . 55 Bild C.3 Losgre 16 bis 25 . 56 Bild C.4 Losgre 26 bis 50 . 56 Bild C.5 Losgre 51 bis 90 . 57 Bild C.6 Losgre 91 bis 150 . 57 Bild C.7 Losgre 151 bis 280 . 58 Bild C.8 Losgre 281 bis 500 . 58 Bild C.9 Losg
31、re 501 bis 1 200 59 Bild C.10 Losgre 1 201 bis 3 200 . 59 Bild C.11 Losgre 3 201 bis 10 000 . 60 Bild C.12 Losgre 10 001 bis 35 000 . 60 Bild C.13 Losgre 35 001 bis 150 000 . 61 Bild C.14 Losgre 150 001 bis 500 000 . 61 Tabellen Tabelle 1 Vergleich von Prfplnen 13 Tabelle 2 Risikomanagementfaktoren/
32、Indexwerte (verknpfte AQL). 14 Tabelle 3 Richtlinien fr die Auswahl der Stichprobengre 15 Tabelle 4 Ungnstigste Einsatzumgebungen. 16 Tabelle 5 Allgemeine Kriterien eines Stichprobenplans nach Markt-/Technologiesektoren 20 Tabelle 6 Prozesssteuerung. 26 Tabelle A.1 Anforderungen an die Leistungsfhig
33、keit 27 Tabelle B.1 Richtlinien fr die Eignungs- und Konformittsprfung.52 Tabelle C.1 Losgren . 54 Tabelle C.2 Kennwerte kleiner Lose. 54 4 DIN EN 61193-3:2013-11 EN 61193-3:2013 Einleitung Im Hinblick auf die Einhaltung der Kundenanforderungen ist eine eindeutige Beschreibung von Stichprobenanweisu
34、ngen in IEC-Normen und in Spezifikationen unerlsslich. Alle Einzelheiten sollten im Hinblick auf ihre Realisierung und Anpassung zur Beurteilung des auszuliefernden Produkts, auf die Verwendung in der Prozesssteuerung und der statistischen Prozesssteuerung (statistical process control, SPC) oder die
35、 Anwendbarkeit dieser Prinzipien beim kontrollierten Experimentieren eindeutig sein. Die allgemeinen Merkmale dieser Prinzipien beziehen sich auf eine allmhliche Minderung, die bei der Prfung des hergestellten Produktes erforderlich sein kann. Als solche werden sie manchmal als logische Schritte zur
36、 Prozessverbesserung bezeichnet. Diese Schritte sind folgende: a) STATISTISCHE STICHPROBENNAHME: wo, wann und warum Bestimmung eines angemessenen Umfangs von Mustern aus einem vorgegebenen Los von Erzeugnissen und Anwendung von Statistiken zur Bewertung des Auftretens von Anomalien. b) NULL-FEHLER-N
37、ORMEN: Rolle von Spezifikationen Unternehmen des Versuchs, Fehlerfreiheit in einem Produktionslos durch die Empfehlungen in Normen oder Spezifikationen zu erreichen, die die Produktanforderungen festlegen. c) WIRTSCHAFTLICHKEIT: AQL gegenber Fehlerkosten Festlegung des hchsten Grades der nicht entsp
38、rechenden Produktkennwerte, die die Kosten bestimmen, die anfallen, wenn diese festgestellt und unbeabsichtigt an den Kunden geliefert wurden (Qualittskosten) und Festlegung einer annehmbaren Qualittsbewertungsmethode, um diese Vorkommnisse zu reduzieren. d) REDUZIERTE PRFUNG DURCH SPC: Regeln fr di
39、e Anwendung und die Steuerung Schaffung eines Prozesssteuerungsprogramm, das auf Rckweisungskriterien basiert, gefolgt von kontrolliertem Experimentieren zur Verbesserung des Prozesses und dann Anwendung der statistischen Analyse zur Feststellung, dass die Prozessverbesserung das Auftreten dieser Rc
40、kweisungskriterien vermindert hat. Die schnelle Entwicklung in der elektronischen Industrie hat dazu gefhrt, dass der Leiterplattenaufbau oder die Werkstoffe fr die Produkte so komplex geworden sind, dass die Qualittslage der Produkte, die mit bekannten Fehlern geliefert werden, nicht mehr tragbar i
41、st. Die zulssige Anzahl fehlerhafter Produkte sollte darauf gerichtet sein, in den Vertrgen zwischen Hersteller und Abnehmer gegen Null zu gehen. Dieser Umstand hat zur Entwicklung neuer Verfahren der Qualittssicherung wie der Anwendung der statistischen Prozesssteuerung (SPC) gefhrt. Aufgrund der n
42、ach den AQL-Tabellen zulssigen geringen Anzahl fehlerhafter Produkte wird oft der Ausweg der 100-%-Prfung gesucht. Gleichzeitig hat sich der Qualittsgedanke so weit entwickelt, dass die Annahme von Fehlern unmglich geworden ist und die herkmmliche Anwendung von AQL-Tabellen sehr stark nachgelassen h
43、at. 5 DIN EN 61193-3:2013-11 EN 61193-3:2013 1 Anwendungsbereich Dieser Teil der IEC 61193 enthlt Stichprobenplne fr die Attributprfung einschlielich Auswahlkriterien und Umsetzungsverfahren von Stichprobenplnen fr Endprodukte von Leiterplatten und Laminaten und fertigungsbegleitende Auditierung. Di
44、e dazu angegebenen Grundprinzipien erlauben die Verwendung unterschiedlicher Stichprobenplne, die entsprechend der Klassifizierung der Bedeutung des Attributs (der Attribute) hinsichtlich der Bauart, der Eignung und der Funktion fr ein einzelnes Attribut oder eine Menge von Attributen angewendet wer
45、den knnen. 2 Normative Verweisungen Die folgenden Dokumente, die in diesem Dokument teilweise oder als Ganzes zitiert werden, sind fr die Anwendung dieses Dokuments erforderlich. Bei datierten Verweisungen gilt nur die in Bezug genommene Ausgabe. Bei undatierten Verweisungen gilt die letzte Ausgabe
46、des in Bezug genommenen Dokuments (einschlielich aller nderungen). IEC 60194:2006, Printed board design, manufacture and assembly Terms and definitions IEC 62326-4:1996, Printed boards Part 4: Rigid multilayer printed boards with interlayer connections Sectional specification ISO 9000:2005, Quality
47、management systems Fundamentals and vocabulary ISO 14560:2004, Acceptance sampling procedures by attributes Specified quality levels in non-conforming items per million 3 Begriffe Fr die Anwendung dieses Dokuments gelten die Begriffe nach IEC 60194:2006, ISO 9000:2005 und die folgenden Begriffe. 3.1
48、 Attribut Aspekt oder Merkmal einer bestimmten Produkteinheit im Hinblick auf die tatschliche Anforderung oder zulssige Abweichung Anmerkung 1 zum Begriff: Eine tatschliche Anforderung bedeutet Folgendes: eine Anforderung, die als ein Messwert mit einer zulssigen Abweichung nach oben und/oder nach unten angegeben wird; eine Anforderung, die als eine unbedingt gewnschte Bedingung mit zulssigen Unregelmigkeiten angegeben wird; eine Anforderung, die ohne Ausnahme als uneingeschrnkt gltig angegeben wird (gut/schlecht). 3.1.1 kritisches Attribut ein Attribut, bei dem ein Fehler eine Beurteil
