1、Juni 2012DEUTSCHE NORM DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDEPreisgruppe 19DIN Deutsches Institut fr Normung e. V. Jede Art der Vervielfltigung, auch auszugsweise, nur mit Genehmigung des DIN Deutsches Institut fr Normung e. V., Berlin, gestattet.ICS 33.
2、180.99!$0l“1881373www.din.deDDIN EN 62496-2-1Optische Leiterplatten Teil 2-1: Messungen Optische Dmpfung und Isolation (IEC 62496-2-1:2011);Deutsche Fassung EN 62496-2-1:2011Optical circuit boards Part 2-1: Measurements Optical attenuation and isolation (IEC 62496-2-1:2011);German version EN 62496-2
3、-1:2011Cartes circuits optiques Partie 2-1: Mesures Affaiblissement et isolation optiques (CEI 62496-2-1:2011);Version allemande EN 62496-2-1:2011Alleinverkauf der Normen durch Beuth Verlag GmbH, 10772 Berlin www.beuth.deGesamtumfang 37 SeitenDIN EN 62496-2-1:2012-06 2 Anwendungsbeginn Anwendungsbeg
4、inn fr die von CENELEC am 2011-09-01 angenommene Europische Norm als DIN-Norm ist 2012-06-01. Nationales Vorwort Vorausgegangener Norm-Entwurf: E DIN IEC 62496-2-1:2009-03. Fr diese Norm ist das nationale Arbeitsgremium K 412 Kommunikationskabel (Kabel, Leitungen, Wellenleiter, Lichtwellenleiter, Ko
5、mponenten, Zubehr und Anlagentechnik fr die Nachrichten- und Informationsbertragung)“ der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE (www.dke.de) zustndig. Die enthaltene IEC-Publikation wurde vom TC 86 Fibre optics“ erarbeitet. Das IEC-Komitee hat entschied
6、en, dass der Inhalt dieser Publikation bis zu dem Datum (stability date) unverndert bleiben soll, das auf der IEC-Website unter http:/webstore.iec.ch“ zu dieser Publikation angegeben ist. Zu diesem Zeitpunkt wird entsprechend der Entscheidung des Komitees die Publikation besttigt, zurckgezogen, durc
7、h eine Folgeausgabe ersetzt oder gendert. Fr den Fall einer undatierten Verweisung im normativen Text (Verweisung auf eine Norm ohne Angabe des Ausgabedatums und ohne Hinweis auf eine Abschnittsnummer, eine Tabelle, ein Bild usw.) bezieht sich die Verweisung auf die jeweils neueste gltige Ausgabe de
8、r in Bezug genommenen Norm. Fr den Fall einer datierten Verweisung im normativen Text bezieht sich die Verweisung immer auf die in Bezug genommene Ausgabe der Norm. Der Zusammenhang der zitierten Normen mit den entsprechenden Deutschen Normen ergibt sich, soweit ein Zusammenhang besteht, grundstzlic
9、h ber die Nummer der entsprechenden IEC-Publikation. Beispiel: IEC 60068 ist als EN 60068 als Europische Norm durch CENELEC bernommen und als DIN EN 60068 ins Deutsche Normenwerk aufgenommen. EUROPISCHE NORM EUROPEAN STANDARD NORME EUROPENNE EN 62496-2-1 September 2011 ICS 33.180.01 Deutsche Fassung
10、 Optische Leiterplatten Teil 2-1: Messungen Optische Dmpfung und Isolation (IEC 62496-2-1:2011) Optical circuit boards Part 2-1: Measurements Optical attenuation and isolation (IEC 62496-2-1:2011) Cartes circuits optiques Partie 2-1: Mesures Affaiblissement et isolation optiques (CEI 62496-2-1:2011)
11、 Diese Europische Norm wurde von CENELEC am 2011-09-01 angenommen. Die CENELEC-Mitglieder sind gehalten, die CEN/CENELEC-Geschftsordnung zu erfllen, in der die Bedingungen festgelegt sind, unter denen dieser Europischen Norm ohne jede nderung der Status einer nationalen Norm zu geben ist. Auf dem le
12、tzten Stand befindliche Listen dieser nationalen Normen mit ihren bibliographischen Angaben sind beim Zentralsekretariat oder bei jedem CENELEC-Mitglied auf Anfrage erhltlich. Diese Europische Norm besteht in drei offiziellen Fassungen (Deutsch, Englisch, Franzsisch). Eine Fassung in einer anderen S
13、prache, die von einem CENELEC-Mitglied in eigener Verantwortung durch bersetzung in seine Landessprache gemacht und dem Zentralsekretariat mitgeteilt worden ist, hat den gleichen Status wie die offiziellen Fassungen. CENELEC-Mitglieder sind die nationalen elektrotechnischen Komitees von Belgien, Bul
14、garien, Dnemark, Deutschland, Estland, Finnland, Frankreich, Griechenland, Irland, Island, Italien, Kroatien, Lettland, Litauen, Luxemburg, Malta, den Niederlanden, Norwegen, sterreich, Polen, Portugal, Rumnien, Schweden, der Schweiz, der Slowakei, Slowenien, Spanien, der Tschechischen Republik, der
15、 Trkei, Ungarn, dem Vereinigten Knigreich und Zypern. CENELEC Europisches Komitee fr Elektrotechnische Normung European Committee for Electrotechnical Standardization Comit Europen de Normalisation Electrotechnique Zentralsekretariat: Avenue Marnix 17, B-1000 Brssel 2011 CENELEC Alle Rechte der Verw
16、ertung, gleich in welcher Form und in welchem Verfahren, sind weltweit den Mitgliedern von CENELEC vorbehalten. Ref. Nr. EN 62496-2-1:2011 DDIN EN 62496-2-1:2012-06 EN 62496-2-1:2011 Vorwort Der Text des Dokumentes (86/396/FDIS), zuknftige Ausgabe 1 der IEC 62496-2-1, erarbeitet durch IEC/TC 86 Fibr
17、e optics“, wurde zur parallelen IEC-CENELEC-Abstimmung vorgelegt und von CENELEC als EN 62496-2-1:2011 angenommen. Nachstehende Daten wurden festgelegt: sptestes Datum, zu dem die EN auf nationaler Ebene durch Verffentlichung einer identischen nationalen Norm oder durch Anerkennung bernommen werden
18、muss (dop): 2012-06-01 sptestes Datum, zu dem nationale Normen, die der EN entgegenstehen, zurckgezogen werden mssen (dow): 2014-09-01 Es wird auf die Mglichkeit hingewiesen, dass einige Texte dieses Dokuments Patentrechte berhren knnen. CENELEC (und/oder CEN) sind nicht dafr verantwortlich, einige
19、oder alle diesbezglichen Patentrechte zu identifizieren. Anerkennungsnotiz Der Text der Internationalen Norm IEC 62496-2-1:2011 wurde von CENELEC ohne irgendeine Abnderung als eine Europische Norm angenommen. In der offiziellen Fassung sind unter Literaturhinweise“ zu den aufgelisteten Normen die na
20、chstehenden Anmerkungen einzutragen: IEC 60793-1-1 ANMERKUNG Harmonisiert als EN 60793-1-1. IEC 60794-1-1 ANMERKUNG Harmonisiert als EN 60794-1-1. IEC 61280-4-1 ANMERKUNG Harmonisiert als EN 61280-4-1. IEC 61300-3-35 ANMERKUNG Harmonisiert als EN 61300-3-35. 2 DIN EN 62496-2-1:2012-06 EN 62496-2-1:2
21、011 Inhalt SeiteVorwort .2 1 Anwendungsbereich.5 2 Normative Verweisungen .5 3 Sicherheitsmanahmen .5 4 Messeinrichtung .5 4.1 Einkopplungsbedingungen und Quelle (S) 5 4.2 Leistungsmessgert (D) .6 4.3 Lichtwellenleiter (en: Optical Fibre OF).7 4.4 Modenfilter (MF).7 4.5 Licht-Umlenkreinrichtung (OD)
22、.7 4.6 Zeitweilige Verbindung (en: Temporary Joint TJ) .7 5 Durchfhrung9 5.1 Vorbehandlung.9 5.2 Sichtprfung .10 5.3 Prfung der Verbindungsfhigkeit10 5.4 Konfigurationen der OCB und Messverfahren.10 5.5 Dmpfungsmessung mit einem Leistungsmessgert 13 5.5.1 Allgemeines13 5.5.2 Rckschneideverfahren .13
23、 5.5.3 Einfgeverfahren (A) 15 5.5.4 Einfgeverfahren (B) 24 5.6 Messung der Isolation mit einem Leistungsmessgert26 5.6.1 Einfgeverfahren (C)26 5.6.2 Einfgeverfahren (D)32 5.7 Messung des Reflektorverlustes32 6 Festzulegende Einzelheiten.33 Literaturhinweise 34 Anhang ZA (normativ) Normative Verweisu
24、ngen auf internationale Publikationen mit ihren entsprechenden europischen Publikationen35 Bilder Bild 1 Einkopplungsvorrichtung fr eine Verbindung mit Stirnflchenkopplung (a) ohne OD, (b) mit OD 9 Bild 2 Rckschneideverfahren Konfiguration A14 Bild 3 Rckschneideverfahren Konfiguration B15 Bild 4 Ein
25、fgeverfahren (A) Konfiguration A.16 Bild 5 Einfgeverfahren (A), schrittweise Messung mehrerer Anschlsse Konfiguration A.17 Bild 6 Einfgeverfahren (A) Konfiguration B.18 Bild 7 Einfgeverfahren (A) Konfiguration C-1 .19 3 DIN EN 62496-2-1:2012-06 EN 62496-2-1:2011 SeiteBild 8 Einfgeverfahren (A) Konfi
26、guration C-2 20 Bild 9 Einfgeverfahren (A) Konfiguration D 21 Bild 10 Einfgeverfahren (A) Konfiguration E 22 Bild 11 Einfgeverfahren (A) Konfiguration E 23 Bild 12 Einfgeverfahren (B) Konfiguration A 24 Bild 13 Einfgeverfahren (B) Konfiguration C-1 25 Bild 14 Einfgeverfahren (C) Konfiguration A 27 B
27、ild 15 Einfgeverfahren (C) Konfiguration B 27 Bild 16 Einfgeverfahren (C) Konfiguration C-1 28 Bild 17 Einfgeverfahren (C) Konfiguration D . 29 Bild 18 Einfgeverfahren (C) Konfiguration E 30 Bild 19 Einfgeverfahren (C) Konfiguration E 31 Bild 20 Einfgeverfahren (D) Konfiguration A 32 Bild 21 Messung
28、 des Reflektorverlustes 33 Tabellen Tabelle 1 Bevorzugte Quellen und Einkopplungsbedingungen6 Tabelle 2 Bevorzugte Vorlauf- und Empfangsfasern 7 Tabelle 3 Messverfahren Dmpfung 11 Tabelle 4 Messverfahren Trennung 12 4 DIN EN 62496-2-1:2012-06 EN 62496-2-1:2011 1 Anwendungsbereich IEC 62496-2-1 besch
29、reibt verschiedene Verfahren zur Messung der optischen Dmpfung und der Isolation von optischen Leiterplatten (en: Optical Circuit Board OCB). 2 Normative Verweisungen Die folgenden zitierten Dokumente sind fr die Anwendung dieses Dokuments erforderlich. Bei datierten Verweisungen gilt nur die in Bez
30、ug genommene Ausgabe. Bei undatierten Verweisungen gilt die letzte Ausgabe des in Bezug genommenen Dokuments (einschlielich aller nderungen). IEC 60793-2-10, Optical fibres Part 2-10: Product specifications Sectional specification for category A1 multimode fibres IEC 60793-2-50, Optical fibres Part
31、2-50: Product specifications Sectional specification for class B single-mode fibres IEC 60825-1, Safety of laser products Part 1: Equipment classification and requirements IEC 61300-1, Fibre optic interconnecting devices and passive components Basic test and measurement procedures Part 1: General an
32、d guidance IEC 61300-3-1:2003, Fibre optic interconnecting devices and passive components Basic test and measurement procedures Part 3-1: Examinations and measurements Visual examination IEC 61300-3-4, Fibre optic interconnecting devices and passive components Basic test and measurement procedures P
33、art 3-4: Examinations and measurements Attenuation IEC 62496-1:2008, Optical circuit boards Part 1: General IEC 62614, Fibre optics Launch condition requirements for measuring multimode attenuation ISO 3599, Vernier callipers reading to 0,1 and 0,05 mm ISO 6906, Vernier callipers reading to 0,02 mm
34、3 Sicherheitsmanahmen Die Anforderungen nach IEC 60825-1 und die folgenden Prfanforderungen sind zu erfllen. Die Fasern sollten whrend der Messung fest in ihrer Lage eingespannt sein, damit Dmpfungsnderungen durch Biegeverluste vermieden werden. 4 Messeinrichtung 4.1 Einkopplungsbedingungen und Quel
35、le (S) Bei Mehrmodenmessungen darf keine Vollanregung erfolgen, sondern nur eine teilweise Anregung. Fr die Eignungsprfung der Vorlauffaser muss im Falle von Vorlauffasern mit 50 m und 62,5 m Gradientenindex ein begrenzter Lichtstrom nach IEC 62614, verwendet werden. Die geforderten Einkopplungsbedi
36、ngungen knnen erreicht werden, indem in die Lichtquelle geeignete Einrichtungen eingesetzt oder Modenfilter an der oder in Reihe mit der Vorlauffaser benutzt werden. Bei Einmodenmessungen mssen die Einkopplungsbedingungen IEC 61300-1, Anhang B, entsprechen. 5 DIN EN 62496-2-1:2012-06 EN 62496-2-1:20
37、11 Die Quelleneinheit besteht aus einem optischen Sender, der zugehrigen Ansteuerungselektronik und einer Anschlussfaser. In Tabelle 1 sind bevorzugte Quellen und Einkopplungsbedingungen angegeben. Tabelle 1 Bevorzugte Quellen und Einkopplungsbedingungen Nr. Typ Mitten-wellenlnge nm Spektral-breite
38、nm Stabilitt bei 23 C dB/h Ausgangs-leistung Anregungs-bedingungen Art der Quelle S1 Mehrmoden 660 30 30 0,05 a noch festzulegen Laserdiode oder LED S2 Mehrmoden 780 30 30 0,05 a noch festzulegen Laserdiode oder LED S3 Mehrmoden 850 30 30 0,05 a IEC 62614 Laserdiode oder LED S4 Mehrmoden 980 30 30 0
39、,05 a noch festzulegen Laserdiode oder LED S5 Mehrmoden 1 310 30 30 0,05 a IEC 62614 Laserdiode oder LED S6 Einmoden 1 310 30 10 0,05 a IEC 61300-1, B.2.2 Laserdiode oder LED S7 Einmoden 1 550 30 10 0,05 a IEC 61300-1, 2.2 Laserdiode oder LED aDie Ausgangsleistung der Quelle muss 20 dB ber dem klein
40、sten gemessenen Leistungspegel liegen. ANMERKUNG 1 Aufgrund ihrer groen Kohrenzlnge erzeugen Laserquellen ein instabiles Granulationsmuster auf dem Kern einer Mehrmodenfaser, welches es schwierig oder unmglich macht, Einkopplungsbedingungen des Falls 2 in einer Mehrmoden-komponente zu erzeugen. Folg
41、lich sollte bei der Messung von Mehrmodenkomponenten zugunsten von LEDs oder anderen inkohrenten Quellen auf Laser verzichtet werden. ANMERKUNG 2 Bei S5 und S6 betrgt bei Anwendung einer LED die Spektralbreite gewhnlich 150 nm. ANMERKUNG 3 Es ist mglich, dass neue Komponenten die Verwendung anderer
42、Quellenarten wie abstimmbaren Lasern erfordern knnen. In diesen Fllen ist es deshalb empfehlenswert, die bevorzugten Kennwerte in Abhngigkeit von der zu messenden Komponente festzulegen.4.2 Leistungsmessgert (D) Das Leistungsmessgert besteht aus einem optischen Empfnger, der Verbindungsmechanik und
43、der zugehrigen Empfangselektronik. Die Verbindung des Empfngers mit der Empfangsfaser erfolgt entweder mit einer Kupplung, die die blanke Faser aufnimmt, oder mit einem Anschlussstecker geeigneter Bauart. Das Messsystem muss ber die fr die Messung einer optischen Leistung erforderliche Zeit innerhal
44、b festgelegter Grenzen stabil bleiben. Bei Messungen, bei denen die Verbindung zum Empfnger zwischen den Messungen einer optischen Leistung unterbrochen werden muss, muss die Wiederholprzision der Messung innerhalb von 0,05 dB liegen. Um das zu erreichen, darf ein Empfnger mit einem groen Empfindlic
45、hkeitsbereich eingesetzt werden. Die genauen Kennwerte des Empfngers mssen den Messanforderungen entsprechen. Mit dem Dynamik-bereich des Leistungsmessgertes muss die Messung des Leistungspegels, den die Leiterplatte bei den gemessenen Wellenlngen abgibt, mglich sein. 6 DIN EN 62496-2-1:2012-06 EN 6
46、2496-2-1:2011 4.3 Lichtwellenleiter (en: Optical Fibre OF) Die fr die optischen Messungen verwendeten Lichtwellenleiter mssen die in IEC 60793-2-10 angegebenen Anforderungen aller Kategorien von Fasern der Klasse A (Mehrmodenfasern) oder Fasern der Klasse B nach IEC 60793-2-10 (Einmodenfasern) erfll
47、en. Die bevorzugten Vorlauf- und Nachlauffasern sind in Tabelle 2 angegeben. Fr die Messung einer optischen Leiterplatte (en: Optical Circuit Board OCB), die aus Mehrmoden-Lichtwellenleitern besteht, sollte der Kerndurchmesser der Vorlauffaser vorzugsweise gleich dem oder kleiner als der Kern-Innend
48、urchmesser auf der OCB sein, und die numerische Apertur (NA) sollte kleiner als die der OCB sein. Damit kann der genaueste Dmpfungswert erzielt werden. Bei Verwendung einer Vorlauffaser mit einem viel geringeren Kerndurchmesser als auf der OCB wie bei Einmodenfasern ist es wahrscheinlich, dass ein geringer Dmpfungswert erzielt wird. Die numerische Apertur von Einmodenfasern ist viel kleiner als die numerische Apertur der Mehrmoden-OCB, so dass der Einkopplungsstrahl durch die Rauigkeit der Kernwand fast nicht beeinfluss
