六年级语文上册5.3荷塘旧事教案1北师大版20190214156.doc

上传人:lawfemale396 文档编号:957184 上传时间:2019-03-09 格式:DOC 页数:2 大小:31KB
下载 相关 举报
六年级语文上册5.3荷塘旧事教案1北师大版20190214156.doc_第1页
第1页 / 共2页
六年级语文上册5.3荷塘旧事教案1北师大版20190214156.doc_第2页
第2页 / 共2页
亲,该文档总共2页,全部预览完了,如果喜欢就下载吧!
资源描述

1、1荷塘旧事学习目标:1、找出描写荷塘景色的段落,读一读,体会这样描写的作用。2、有感情地朗读课文,明白为什么多年后,那荷塘仍旧时时浮现在“我”眼前。学习重难点:体会作者描写荷塘景色的作用。学习过程一、复习检测:1、导言:往昔的岁月如水一般流淌,回忆往事犹如打开了记忆的闸门。孩子们,让我们继续走进荷塘旧事 ,和作者共同追忆那难忘的童年趣事。2、出示填空,指名填一填。荷塘旧事的作者回忆了童年时在乡下度过的难忘生活,其中他重点回忆了 月牙泡之美、快乐的生活、溺水获救。 (板书)二、出示“学习目标” ,默读。过渡:有目标,就有学习的动力。 (出示“学习目标” )指名读。三、出示导学案,自学课文(8分钟

2、)四、组内交流(6分钟)(一)找出描写荷塘景色的段落,读一读,体会这样描写的作用。1、指名4组、6组、8组的3号交流,谈体会,指导朗读。出示:月朗风清的夜晚, “只见满塘满塘浮光跃金嵌在田野上。 ”金阳灿灿的白天,“塘面跳舞的少女。 ”2、点拨描写的作用:(比喻的修辞手法。作用是描写荷塘景色的美好,也为下文作者描写快乐的生活和表现农村少年机智、善良、淳朴美好的心灵作铺垫。)(二)常言道“一切景语皆情语” 。正是这美丽、朴素的自然环境营造出了自然、快乐、美好的荷塘生活。1、指名2组、3组和5组交流(4号) ; ; 2、指导朗读“水流像母亲柔和的手,轻轻地抚摸着我们,我们像荡在摇篮中。 ”谈体会(

3、我和伙伴们在水中的惬意舒适,有依偎眷恋的感觉。 )(三)一道荷叶形成的绿色边缘线是生命线,但我自以为是城里孩子,见识多,不顾小伙伴的警告超越那道边缘线。1、指名1组、7组和10组交流(1号) ,评价,加分2、指导朗读“小伙伴们在水中排成一队,手拉手铁链般将我拖到岸上。 ”创设情境:他们善良,责无旁贷地伸出援手“小伙伴们在水中排成一队,手拉手铁链般将我拖到岸上。 ”他们机智,危急时刻迅速选择最好的办法既救人又保证自己的安全“小伙伴们在水中排成一队,手拉手铁链般将我拖到岸上。 ”四、检测1、过渡:那憨厚淳朴的笑声里含着对城里小少爷的善意批评。如今,我的孩子已经上学了,可是那荷塘却如同天上的月牙,时时浮现在我的眼前。出示:我不能忘却的是关于荷塘的一切:美丽的景色,快乐的生活,淳朴的人。2指名说一说。3带着新的感受齐读课题两遍。五、 “我的视角”2丁丁说:“我觉得不少城里人和乡下人心里也有一道边缘线,我不喜欢这道“线” 。你是什么看法?(荷塘上的一条边缘线,分开了白水和荷花荷叶,丁丁所说的边缘线指的是城里人和乡下人之间的隔阂,你是什么看法?请写在“我的视角”里)六、完成摘录笔记。七、推荐阅读朱自清荷塘月色 。课后反思:

展开阅读全文
相关资源
猜你喜欢
  • DIN EN 60749-33-2004 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33 Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave (IEC 60749-33 2004) German version .pdf DIN EN 60749-33-2004 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33 Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave (IEC 60749-33 2004) German version .pdf
  • DIN EN 60749-34-2011 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34 Power cycling (IEC 60749-34 2010) German version EN 60749-34 2010《半导体器件 机械和气候试验方法 第34部分 .pdf DIN EN 60749-34-2011 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34 Power cycling (IEC 60749-34 2010) German version EN 60749-34 2010《半导体器件 机械和气候试验方法 第34部分 .pdf
  • DIN EN 60749-35-2007 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35 Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components (IEC 60749-35 2006) G.pdf DIN EN 60749-35-2007 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35 Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components (IEC 60749-35 2006) G.pdf
  • DIN EN 60749-36-2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36 Acceleration steady state (IEC 60749-36 2003) German version EN 60749-36 2003《半导体器件 机械和气.pdf DIN EN 60749-36-2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36 Acceleration steady state (IEC 60749-36 2003) German version EN 60749-36 2003《半导体器件 机械和气.pdf
  • DIN EN 60749-37-2008 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37 Board level drop test method using an accelerometer (IEC 60749-37 2008) German version E.pdf DIN EN 60749-37-2008 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37 Board level drop test method using an accelerometer (IEC 60749-37 2008) German version E.pdf
  • DIN EN 60749-38-2008 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38 Soft error test method for semiconductor devices with memory (IEC 60749-38 2008) German .pdf DIN EN 60749-38-2008 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38 Soft error test method for semiconductor devices with memory (IEC 60749-38 2008) German .pdf
  • DIN EN 60749-39-2007 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 39 Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for s.pdf DIN EN 60749-39-2007 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 39 Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for s.pdf
  • DIN EN 60749-4-2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4 Damp heat steady state highly accelerated stress test (HAST) (IEC 60749-4 2017) German ver.pdf DIN EN 60749-4-2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4 Damp heat steady state highly accelerated stress test (HAST) (IEC 60749-4 2017) German ver.pdf
  • DIN EN 60749-40-2012 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40 Board level drop test method using a strain gauge (IEC 60749-40 2011) German version EN .pdf DIN EN 60749-40-2012 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40 Board level drop test method using a strain gauge (IEC 60749-40 2011) German version EN .pdf
  • 相关搜索

    当前位置:首页 > 考试资料 > 中学考试

    copyright@ 2008-2019 麦多课文库(www.mydoc123.com)网站版权所有
    备案/许可证编号:苏ICP备17064731号-1