X射线反射法

1、对含量的方法。
本标准适用于含有氧化硅、氧化铝、硅酸铝(包括无定形硅酸铝、高岭土或硅酸铝分子筛)的催化剂。
2 方法概要经过培烧和磨细的催化剂试样，在以CuK为辐射源及其他规定的试验条件下，收集2()角5005、6207两段X射线衍射图1(其中第一段衍射图仅作为第二段衍射图确定被测峰前背底强度时使用)，通过计算试样与-Alz03参比样20角约为670的衍射峰净强度比，得到试样中Y-Alz03相对含量。
3 意义和用途3- 1 本标准认为，出现在2()角6附近的宽散的衍射峰是由工Alz03形成的。
它适于评估蜡烧过的催化剂中-Alz03的相对含量，其中可能包括文献中被描述为?、X-J这三种形态的Alz030-Alz03在同样范围内也有衍射峰，但一般要在8000C以上形成，而大多数催化剂的处理温度都不高于此温度。
对于晶相种类的鉴别可参考有关文献，由本标准给出的结果统称为-Alz03.2 某些其他组分可能引起一些干扰，如-石英、硅酸铝分子筛、高温下形成的铝基尖晶石等。
如怀疑有干扰物质存在，就要对衍射图仔细核查。
当催化剂中含有大量重金属或稀土元素时，由于它们表现出强的。

2、 may be reproduced without prior permission ofDIN Deutsches Institut fr Normung e. V., Berlin. Beuth Verlag GmbH, 10772 Berlin, Germany,has the exclusive right of sale for German Standards (DIN-Normen).ICS 71.040.50!,y4v“9861783www.din.deDDIN 51003Total reflection X-ray fluorescence analysis (TXRF) Terminology and general principlesTotalreflexions-Rntgenfluoreszenz-Analyse (TXRF) Allgemeine Grundlagen und Begriffewww.beuth.deDocument comprises 46 pagesDIN 51003:2004-05 2 Cont。

3、2:2001 This Draft for Development, having been prepared under the direction of the Materials and Chemicals Sector Policy and Strategy Committee, was published under the authority of the Standards Policy and Strategy Committee on 4 December 2002 BSI 4 December 2002 ISBN 0 580 40601 6 National foreword This Draft for Development reproduces verbatim ISO/TS 13762:2001 This publication is not to be regarded as a British Standard. It is being issued in the Draft for Development series of public。

4、e size analysis Small angle X-ray scattering method. MOD) 2005-04-01实施2004喃09-29发布发布中华人民共和国国家质量监督检验检夜总局中国国家标准化管理委员会GB/T 13221-2004 ., 目U本标准修改采用ISO/TS13762，2001(粒度分析X射线小角散射法儿本标准代替GB/T13221-1991(超细粉末粒度分布的测定X射线小角散射法儿本标准在附录A中列出了本标准条款和国际标准条款的对照一览表。
本标准在采用国际标准时进行了修改，在附录B中给出了技术性差异及其原因的一览表。
本标准的附录A、附录B为资料性附录。
本标准由中国有色金属工业协会提出。
本标准由全国有色金属标准化技术委员会Q，.川以及到某一粒度级的累积值Q3，j以体积为权重的平均粒径7Ev，累积体积分布中位径Xsov，粒度分布的散度鸟，便可以分别按下面的(5)，(6)，(7)，(8) , (9) , (10)式计算出来。
2 忌，=，1艺创ItX.(j = 1，2.，的. ( 5 ) tQ,.j =可vtx。

5、颗粒尺寸在1300 nm范围内的超细粉末的粒度分布，也可适用于无机、有机榕胶以及生物大分子粒度的测定q本标准不适用于颗粒形状偏离球形太远的粉末.以及有微孔存在的粉末，也不运用1由不同材1茧的颗粒所组成的混合粉末。
2 原理当-束极拙的X射线穿过e超细粉末层时，经颗粒内电子的散射，就在原光束附近的做小角域内外散开来，这种现象叫做X射线小角散射。
其散射强度分布与粉末的粒度分布密切相关。
对于4稀疏的球形颗粒系，并考虑到仪器狭缝高度的影响，入射x射线束在角度处的散射强度为:川=Cf二F川) i ( 4 (T) = 3(sinx xcosx)/x3 ; 式中R一颗粒半径;J( R) 一以重量为权的粒度分布函数，制叶一球形颗粒的形象函数;F (1) 仪器狭缝的高度权重函数;t一-沿狭缝高度的角度参变量;一一入射X射线的波长;r 综合常数。
根据所测粉末的大致粒度范围(1III)将其分割成份，分割间隔随着粒度尺士的增大而增大。
取向个分布赖度。

6、适用于其它多品材料品胞参数的测定。
2 引用标准GB 5225 金属材料定量相分析X射线衍射K值法3 原理晶胞参数是矿物晶体结构的重要参数之一，它包括轴长a、b、c和轴角、P. y, 粉末X射线衍射仪法测定晶胞参数是一种间接方法。
一种矿物相的粉末X射线衍射花样是该物相晶体结构特性的表征，它以各衍射峰的峰V.、峰形和强度表示。
根据粉末衍射花样标明衍射峰位的掠射角。
和测量选用的X射线波长儿，按照布拉格公式：2dsin，可以求出各衍射峰对！茸的面网问距d值。
各种矿物的晶胞参数，依照其所属晶系的不同，可以写成回网间距及相应衍射指数的不同函数形式。
例如等轴品系即由下式表达2山川一咱k们一一一式中：Lk . 1一衍射指数：d一一面网间距，nm;a一品胞轴长，nmo本方法是利用粉末X射线衍射仪，通过对掠射角。
的精确测定，并采用计算机最小乘法修正程序，最后计算tB矿物的1W1胞参数仙。
4 仪器4.1 粉末X射线衍射仪的综合稳定度应优于l% （综合稳定度的定义见GB5225第3.1条）。
中国核工业总公司1991-10-11批准1992-03咱们实施EJ/T。

7、 中华人民共和国石油化工行业标准 / 塑料结晶度的测定 射线衍射法 发布实施 中华人民共和国工业和信息化部发布 前 言 本标准按照/ 给出的规则起草 本标准由中国石油化工集团有限公司提出 本标准由全国塑料标准化技术委员会石化塑料树脂产品分会(/ / )归口 本标准负责起草单位:中国石油天然气股份有限公司石油化工研究院、北京燕山石化高科技术有 限责任公司 本标准参加起草单位:天津。