NF L51-413-1971 Electric convertors for aircraft Type ii 《飞机变流器 Ⅱ型》.pdf

上传人:medalangle361 文档编号:1003117 上传时间:2019-03-18 格式:PDF 页数:2 大小:70.36KB
下载 相关 举报
NF L51-413-1971 Electric convertors for aircraft Type ii 《飞机变流器 Ⅱ型》.pdf_第1页
第1页 / 共2页
NF L51-413-1971 Electric convertors for aircraft Type ii 《飞机变流器 Ⅱ型》.pdf_第2页
第2页 / 共2页
亲,该文档总共2页,全部预览完了,如果喜欢就下载吧!
资源描述
展开阅读全文
相关资源
猜你喜欢
  • EN 60749-34-2010 en Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34 Power cycling《半导体器件 机械和气候试验方法 第34部分 动力循环》.pdf EN 60749-34-2010 en Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34 Power cycling《半导体器件 机械和气候试验方法 第34部分 动力循环》.pdf
  • EN 60749-35-2006 en Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 35 Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components《半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分 塑封电子.pdf EN 60749-35-2006 en Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 35 Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components《半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分 塑封电子.pdf
  • EN 60749-36-2003 en Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 36 Acceleration steady state《半导体器件 机械和气候试验方法 第36部分 稳态加速 IEC 60749-36-2003》.pdf EN 60749-36-2003 en Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 36 Acceleration steady state《半导体器件 机械和气候试验方法 第36部分 稳态加速 IEC 60749-36-2003》.pdf
  • EN 60749-37-2008 en Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37 Board level drop test method using an accelerometer《半导体器件 机械和气候试验方法 第37部分 使用加速计的板级跌落试验方法》.pdf EN 60749-37-2008 en Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37 Board level drop test method using an accelerometer《半导体器件 机械和气候试验方法 第37部分 使用加速计的板级跌落试验方法》.pdf
  • EN 60749-38-2008 en Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38 Soft error test method for semiconductor devices with memory《半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分 带存储器的半.pdf EN 60749-38-2008 en Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38 Soft error test method for semiconductor devices with memory《半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分 带存储器的半.pdf
  • EN 60749-39-2006 en Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 39 Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semi.pdf EN 60749-39-2006 en Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 39 Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semi.pdf
  • EN 60749-4-2002 en Semiconductor Devices Mechanical and Climatic Test Methods Part 4 Damp Heat Steady State Highly Accelerated Stress Test (HAST)《半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分 稳态温度湿度偏差耐久性试验.pdf EN 60749-4-2002 en Semiconductor Devices Mechanical and Climatic Test Methods Part 4 Damp Heat Steady State Highly Accelerated Stress Test (HAST)《半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分 稳态温度湿度偏差耐久性试验.pdf
  • EN 60749-4-2017 en Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4 Damp heat steady state highly accelerated stress test (HAST).pdf EN 60749-4-2017 en Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4 Damp heat steady state highly accelerated stress test (HAST).pdf
  • EN 60749-40-2011 en Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40 Board level drop test method using a strain gauge《半导体器件 机械和气候试验方法 第40部分 使用应变仪的板级跌落试验方法》.pdf EN 60749-40-2011 en Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40 Board level drop test method using a strain gauge《半导体器件 机械和气候试验方法 第40部分 使用应变仪的板级跌落试验方法》.pdf
  • 相关搜索

    当前位置:首页 > 标准规范 > 国际标准 > 其他

    copyright@ 2008-2019 麦多课文库(www.mydoc123.com)网站版权所有
    备案/许可证编号:苏ICP备17064731号-1