1、NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 61643-321 Premire dition First edition 2001-12 Composants pour parafoudres basse tension Partie 321: Spcifications pour les diodes avalanche (ABD) Components for low-voltage surge protective devices Part 321: Specifications for avalanche breakdown
2、diode (ABD) Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 61643-321:2001Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines publications de l
3、a CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur les pub
4、lications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo- nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en
5、plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec
6、.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont galem
7、ent disponibles sur les nouvelles publications, les publications rempla- ces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.ch/JP.htm) est aussi disponible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir
8、ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 Janu
9、ary 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to t
10、he base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current t
11、echnology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committe
12、e which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/catlg-e.htm) enables you to search by a variety of criteria including
13、 text searches, technical committees and date of publication. On- line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (www.iec.ch/JP.htm) is also available by e
14、mail. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00
15、 .NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 61643-321 Premire dition First edition 2001-12 Composants pour parafoudres basse tension Partie 321: Spcifications pour les diodes avalanche (ABD) Components for low-voltage surge protective devices Part 321: Specifications for avalanche breakdow
16、n diode (ABD)Commission Electrotechnique InternationaleInternational Electrotechnical Commission Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2001 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni u
17、tilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and micr
18、ofilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission 3, rue de Varemb Geneva, Switzerland Telefax: +41 22 919 0300 e-mail: inmailiec.ch IEC web site http:/www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE P 2 61643-321 CEI:2001 SOMMAIRE AVANT-PROPOS4 1 Domaine dapplicatio
19、n.6 2 Rfrences normatives .6 3 Dfinitions et symboles .6 4 Fonction principale et description des diodes avalanche.12 5 Conditions de fonctionnement.16 6 Mthodes dessais normalises et procdures.16 6.1 Critre normalis dessai de conception.16 6.2 Conditions dessais16 6.3 Tension de blocage V C(voir fi
20、gure 2).18 6.4 Courant crte de choc assign I PPM(voir figure 2) .18 6.5 Tension maximale de fonctionnement V WMet tension maximale efficace de fonctionnement V WMeff (voir figure 3) 18 6.6 Courant non passant I D(voir figure 3) 20 6.7 Tension de claquage (davalanche) V BR (voir figure 4) .20 6.8 Cap
21、acit C j 22 6.9 Dissipation de puissance crte de choc assigne P PPM 22 6.10 Courant de choc direct assign I FSM(voir figure 1c).22 6.11 Tension directe V FS .22 6.12 Coefficient de temprature de la tension davalanche V BR 24 6.13 Correction en temprature (voir figure 5)24 6.14 Rsistance thermique R
22、thJA , R thJCou R thJL .24 6.15 Impdance thermique transitoire Z thJA , Z thJCou Z thJL 24 6.16 Dissipation de puissance moyenne assigne P MAV .26 6.17 Tension crte de dpassement V os(voir figure 7) 26 6.18 Dure de dpassement (voir figure 7) 26 6.19 Temps de rponse (voir figure 7) .26 7 Dfaillances
23、et modes de dfaillance 30 7.1 Mode de dfaillance d lusure30 7.2 Mode de dfaillance en court-circuit.30 7.3 Mode de dfaillance en circuit ouvert .30 7.4 Fonctionnement sr .30 Figure 1 Structure, condition de polarisation et caractristiques V-I dune diode avalanche unidirectionnelle 12 Figure 2 Circui
24、t dessai pour la tension de blocage V C , et le courant crte de choc I PP et le courant de choc direct assign I FSM .18 Figure 3 Circuit dessai pour la vrification de la tension maximale de fonctionnement V WM , du courant non passant I Det de la tension maximale efficace de fonctionnement V WMeff .
25、20 Figure 4 Circuit dessai pour la vrification de la tension de claquage (davalanche) V BR .20 Figure 5 Circuit dessai pour la vrification de la tension directe V FS .22 Figure 6 Courbe de discontinuit de composants de diode avalanche 26 Figure 7 Courbe illustrant la tension de dpassement, le temps
26、de rponse et la dure de dpassement 28 Figure 8 Forme donde de courant de choc .2861643-321 IEC:2001 3 CONTENTS FOREWORD.3 1 Scope.7 2 Normative references .7 3 Definitions and symbols7 4 Basic function and description for ABDs .13 5 Service conditions 17 6 Standard test methods and procedures.17 6.1
27、 Standard design test criteria17 6.2 Test conditions17 6.3 Clamping voltage V C(see figure 2)19 6.4 Rated peak impulse current I PPM(see figure 2) .19 6.5 Maximum working voltage V WMand maximum working r.m.s. voltage V WMrms (see figure 3).19 6.6 Stand-by current I D(see figure 3) 21 6.7 Breakdown
28、(avalanche) voltage V BR(see figure 4) 21 6.8 Capacitance C j 23 6.9 Rated peak impulse power dissipation P PPM 23 6.10 Rated forward surge current I FSM(see figure 1c).23 6.11 Forward voltage V FS 23 6.12 Temperature coefficient of breakdown voltage V BR 25 6.13 Temperature derating (see figure 5)
29、25 6.14 Thermal resistance R thJA or R thJCor R thJL 25 6.15 Transient thermal impedance Z thJA or Z thJCor Z thJL 25 6.16 Rated average power dissipation P MAV 27 6.17 Peak overshoot voltage V OS(see figure 7) 27 6.18 Overshoot duration (see figure 7) 27 6.19 Response time (see figure 7).27 7 Fault
30、 and failure modes 31 7.1 Degradation fault mode .31 7.2 Short-circuit failure mode.31 7.3 Open-circuit failure mode 31 7.4 “Fail-safe“ operation31 Figure 1 Structure, bias condition and V-I characteristics for a unidirectional ABD .13 Figure 2 Test circuit for clamping voltage V C , peak impulse cu
31、rrent I PP , and rated forward surge current I FSM 19 Figure 3 Test circuit for verifying maximum working voltage V WMstand-by current I D and maximum working r.m.s. voltage V WMrms 21 Figure 4 Test circuit for verifying breakdown (avalanche) voltage V BR 21 Figure 5 Test circuit for verifying forwa
32、rd voltage V FS 23 Figure 6 Derating curve for ABD components.27 Figure 7 Graph illustrating voltage overshoot, response time and overshoot duration.29 Figure 8 Impulse current waveform 29 4 61643-321 CEI:2001 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ COMPOSANTS POUR PARAFOUDRES BASSE TENSION Part
33、ie 321: Spcifications pour les diodes avalanche (ABD) AVANT-PROPOS 1) La CEI (Commission lectrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la cooprat
34、ion internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normes internationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet
35、 trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux or
36、ganisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les documents produits se prs
37、entent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publis comme normes, spcifications techniques, rapports techniques ou guides et agrs comme tels par les Comits nationaux. 4) Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent appliquer de fa
38、on transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes nationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. 5) La CEI na fix aucune pro
39、cdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilit nest pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ses normes. 6) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Norme internationale peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectue
40、lle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La Norme internationale CEI 61643-321 a t tablie par le sous-comit 37B: Composants spcifiques aux parafoudres et aux dispositifs de pr
41、otection contre les surtensions, du comit dtudes 37 de la CEI: Parafoudres Le texte de cette norme est issu des documents suivants: FDIS Rapport de vote 37B/59/FDIS 37B/62/RVD Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette n
42、orme. Cette publication a t rdige selon les Directives ISO/CEI, Partie 3. Le comit a dcid que le contenu de cette publication ne sera pas modifi avant 2005. A cette date, la publication sera reconduite; supprime; remplace par une dition rvise, ou amende.61643-321 IEC:2001 5 INTERNATIONAL ELECTROTECH
43、NICAL COMMISSION _ COMPONENTS FOR LOW-VOLTAGE SURGE PROTECTIVE DEVICES Part 321: Specifications for avalanche breakdown diode (ABD) FOREWORD 1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC
44、 National Committees). The object of the IEC is to promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is entrusted to tec
45、hnical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International
46、Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. 2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the relevant subjects since each
47、technical committee has representation from all interested National Committees. 3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form of standards, technical specifications, technical reports or guides and they are accepted by the National Com
48、mittees in that sense. 4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly indicated in the latter. 5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any equipment declared to be in conformity with one o
