1、。J中华人民共和国航天工业部部标准QJ 1460-88 半导体集成电路宽带放大器测试方法19棉一04-08发布1988一12-31实施中华人民共和国航天工业部发布中华人民共和国航天工业部部标准QJI460 88 半导体集成电路宽带般大揣测试方法本标准规定了半导体集成电蹄宽带股大桥以下简称都仲)参数测试方法-1总的要求1.1着无特殊说明，在测试期间，环绕温度就参考点的激度偏离规定僚的ii:a自应符合被削桦件详细规范的规定.1.2在测试期间，应避免外界千扰对测试精度的影响，测试设备精度引起2的测试误差应符合被测掰件详细规蔽的规定.1.3在现i试期间，撒于被削锵件的电源内阪在俄号频摔下成基本为零.施
2、于被测桥件的其它电参.的精康成符合被测糖牛详细视部的规定，1.4在被测器件线I工作区内进行测试时，交流信号幅度的变化，不应引起被测参数值的变化.1.5被割糯件与测试系统连接或断开时，不应跑过被测桦件的极限使用条件，1.6在测试期间，被测稽件应按精件详细规范的规定连接辅助电路和补偿网络.1.7在测试期间，被测榕件服避免出现自激振荡.2龟，数测试2.1 咆后增直在Av2. 1.l 主义放大榕在线憔工作区域内，单端输出信号叫3压与输入信号电!E之.2.1.2测试原理圃电压增益Av测试原理圈如图l所m.V ilA vl LLJJZZJ工二二-二二三二二三乙:乙一帆航天工业部19倒-04-08批准顾11
3、9881231实施QJl46088 2.1.3测试条件在测试期间，下列测试条件应符合棉仲详细规范的规J，a. li1榄温度T.h电lJt:电压V.、V-; C.信号源内阻Rsd.输出负载电院RL 2.1.4测试程序2.1.4.1按规定的环境条件，将被测糠仲拨人测试革统中.2.1.4.2施加规定的电源也压.2.1.4.3扫频仪输入端和输出端短接.置扫频仪输出电压寰减于110分贝.诩基准线与频标线宽合.2.1.4.4将扫频仪的输入端和输出端分别按1臣被测樱件的输出端和输入端.调节输出咆ffi衰减，使幡频恃悦曲线的平宣段与频标线激合.读出扫频仪上输出电鼠衰减分贝数，即为电压增直在.2.1.5注意事项
4、遵守总的要求-2.2 (非调谐)3分贝带宽BW2.2.1定义放大糠的电压增益下降3分只时的朔事.2.2.2测试原现圈(非调谐)3分贝宽带BW测试稳固如阻21i汗示.Ill-L 圳111 111 川l川l一一叩吵-一一一叫l一叫一一一一喃喃- - -_ . IE 2 2，2.3测试条件在测试期间下列测试条件111.符合被测棉件详细规范的规定.2 a环境说1f叭，b电源咆压V.、v_ ; f吉号源内阪Rs; d.输出负载电阻RL 2.2.4测试程序QJl460叫882. 2.4.1 tIi规寇的环境条件，将被视l精件接人测试累统中-2.2.4.2施加规定的电源咆1I.2.2.4.3扫频仪输入端和输
5、出端锁接.1:扫颇仪输出电脱衰减子OJ分贝.调3在准线与频标线激合.2.2.4，4将妇颇仪的输入端和输出分别接送被测棒件的输出端和输入端，调节输出电压衰减使帽频串串性曲线与频标线重合.然后反方向调节输出电压衰减3分贝，读出帽频特性曲线与频标钱交点的频.即为3分贝带宽.2.2.5注意事项遵守总的要求-2.3 自动增直在控制范国R.GC2.3.1定义在放大榕的AGC端旅加规定的校制电胀，放大糠的电底增就变化的最大报国-2，3.2测试顺理自动增揉按制混圈R时测试原琉如113所示.Vtel Rs Ir吨-寸1肘。1厅-11:=非营?咱01-n1 :1: , 1 日川| 己L一_j:I:11 L一一一一
6、J川1ii一-币6V一-一-一一l咱皿由山幽幽白白白白一一中m叫时E句-俑，图32.3.3测试条件在测试期间，节列测试条件应符合被测栅件详细规范的规寇。孙环城温度T，3 b电源电!Ev，、VC.信号Ij内阪Rs;d.输出负载电阻悦，2.3，4测试程序QJl4() 88 2.3.4.1按规定的环境条件，将被测楞仲接人测试系统中.2.3.4.2施加规定的电源咆压.2.3.4.3扫频仪输入端利输出端短接.置扫频仪输出电压衰减予(0分贝.诩在准线与频标线建合.2.4.4.4将拥频仪输入端和输出端，分别接:i被樵件的输出端利输人端改变AGC端的按制电胀，直延幡频特憔曲线不再继续下移调节相频仪输出电!E衰
7、减，使幅频特性航线lf直段与频标线激食，露出施加AGCI!E下的最低电!E增益为AVJ2.3.4.5计算AGCi阁楞件:tI:元AGC饱f五时的电压增放为Av，则:2.3.5 i%l事项遵守总的要求-2.4 ;在平坦!i;2.4.1定义R，但A飞r-(dB) 放大樵帽频梅除幽线平宣段咆压增益的相对变化事.2.4.2测试原理圈不平坦皮己的测试Jj(盟图如囱4所jf.图42.4.3测试条件在测试期间，下列测试条件应符合被洲带件详细规范的规定.4 叩Av A,_ 一帽品川扫频仪a.环境温IIT, ; b.电源电压V.、V_; f冒号源内阻R，;输出负载电阻RL.2.4.4测试程序QJ14例882.4
8、.4.1按规定的环境条件，将被测梯件接人测试系统中-2.4.4.2施加规定的电源电1I.2.4.4.3扫频仪输入响和输出端短揍.I扫频仪输出电脱衰减予0分贝.调第准线与频串串线重合.2.4.4.4按电压增益测试方法t露出幅频串串性曲线中最大电压增益Avtl1.2.4.4.5计算不平坦度2.4.5注意事项I守总的要求2.5噪声来数F，2.5.1 义t AhAv 主. 0/. V 放大精输入端的信号噪!比与输出端信号噪声比的比值。2.5.2 测试服现自自噪声系数FN测试原激自自如阁5所示.图52.5，3测试条件在测试期间，下列测试条件成符俞被测棉件详细规范的规定ea环境激IITA ; 5 b.电源
9、电V.、V一，C.信号源内阻Rs; 输出负载电阻Rt.2.5.4测试程序QJ14町882.5.4.1 按规定的环境条件，将被测椿件接入测试系统中-2.5.4.2施加规定的电濒电压.2.5.4.3调节噪声发生精输出使噪声为笨，功率计指示为民.2.5.4.4调节噪声发生棉输出大小，使功惠计上指示为2P，此时，赚芮发生k梯的指示为Fo, 2.5.4.5读数校lE2.5.4.5.1噪芮发生棉输出端没有外接电阻孔则实测放大榕的噪阳系数F飞需Fo 2.5.4.5.2喋向发生棉输出端串线电阻且.则实相1放大器的噪商系数F,= Fo旦一N R;+R 2.5.4.5.3噪商发生带输出端井接电自IR，则实测放大榕
10、的噪声系数式中:R;一噪院发!U骨内阻-2.5.5注意事项a.遵守总的要求.b.防止噪附饱和-归。证C.被测棉件所要求的信号源电阻R，不等于噪声发生精内阻R;时，可通过串联个电mR(就并接电阻R)来增大(减小)噪声发生稽内隙，使之等于被测部件所要求的信培源内阻Rs .按2.5.4.5.2利2.5.4.5.3计算噪声系数.2.6输剧动态范阁V酬2.6.1定义放大精夜规定咆源电属和负载条件下，能输出的最大峰峰时3压-2.6.2测试原11阁输出动态7:围Vw测试原理图如图6所QV 6 QJl物。882.6.3测试条件在测试期间，下列测试条件成符合被测桦件详细规棍的规定a.环境温度TA;b.电源电压v
11、.Vic信号源内阻Rs;d.输出负载电阻Rt.2.6.4测试粮2，6.4.1按规定的环境条件，将被测僻件按人测试系统巾，2.6.4.2溯加规定的电源电Ii.2.6.4.3调节输人倍增v，帆大小，用;if波稽测搬出最大输出信号咆压的峰一峰值，即为输出咆压动态就翻.2.6.5注.事琐遵守且的要求a2.7 静态功章程PD2.7.1定义放大#曾在输出电Ii为零时所糖1肖艳的电源功率.2.7.2测试顺理图静态功耗Po测试原现圈如图7所示.b门阁72.7.3测试条件在测试期间，下列测试*件应停合被测桦仲详细规范的规定a.环境温度TA; b.电jj咆压v.、v-;C.信号源内阻Rsd输出负貌也阪RL 7 QJl46088 2.7.4测试稳序2.7.4.1按规定的环境条件，将被测梯仲嫁人测试系统中.2.7.2精加规定的电源电.2.7白4.3咆流计读数为1t ,1 _ 2.7.4.4按公式计算:2.7.5注意事项遵守总的要求.附加说明凡=V.!.+V_I本标准幽中华人民共和国航天工业部七0八所掘出.本标樵由航天工业部六九一厂负责起疏.8
