1、 NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 62471CIE S 009:2002Premire ditionFirst edition2006-07Scurit photobiologique des lampes et des appareils utilisant des lampes Photobiological safety of lamps and lamp systems Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 62471:2006 Numrotation des publica
2、tions Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.
3、1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu pa
4、r la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo-nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude
5、 et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (w
6、ww.iec.ch/searchpub) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications remplaces ou retires, ainsi q
7、ue sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.ch/online_news/justpub) est aussi dispo-nible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au
8、 sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. F
9、or example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base p
10、ublication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is av
11、ailable in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued,
12、 is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/searchpub) enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On-line information is
13、 also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (www.iec.ch/online_news/justpub) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further
14、 information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 . NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 62471CIE S 009:2002P
15、remire ditionFirst edition2006-07Scurit photobiologique des lampes et des appareils utilisant des lampes Photobiological safety of lamps and lamp systems Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2006 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucun
16、e partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means,
17、electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, SwitzerlandTelephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www
18、.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE X 2 62471 CEI:2006 SOMMAIRE AVANT-PROPOS .6 INTRODUCTION10 1. DOMAINE DAPPLICATION.12 2. REFERENCES NORMATIVES 12 3. DEFINITIONS, SYMBOLES ET ABRVIATIONS12 4. LIMITES DEXPOSITION (LES).24 4.1 Gneralits.24 4.2 Facteurs spcifiques impliqus dans le calcul et lapplication de
19、s limites dexposition rtinienne .26 4.2.1 Diamtre de la pupille .26 4.2.2 Mesures de ltendue angulaire de la source, dans le champ de vision 26 4.3 Limites du risque des expositions 28 4.3.1 Limite de risque li aux expositions au rayonnement UV actinique pour la peau et lil 28 4.3.2 Limite de risque
20、 li aux expositions dans le proche-UV pour lil .30 4.3.3 Limite de risque rtinien li aux expositions la lumire bleue32 4.3.4 Limite de risque rtinien li aux expositions la lumire bleue - source ponctuelle .36 4.3.5 Limite de risque thermique rtinien li aux expositions la lumire 38 4.3.6 Limite de ri
21、sque thermique rtinien li aux expositions - stimulus visuel faible38 4.3.7 Limite de risque li aux expositions au rayonnement infrarouge pour loeil .40 4.3.8 Limite de risque thermique, li aux expositions la lumire, pour la peau 40 5. MESURE DES LAMPES ET DES APPAREILS UTILISANT DES LAMPES42 5.1 Con
22、ditions de mesure 42 5.1.1 Vieillissement des sources (stabilisation) .42 5.1.2 Environnement de test44 5.1.3 Radiation parasite.44 5.1.4 Mode opratoire de la source .44 5.1.5 Mode opratoire de lappareil utilisant des lampes 44 5.2 Procdure de mesure 44 5.2.1 Mesures de lclairement nergtique44 5.2.2
23、 Mesures de la luminance nergtique48 5.2.3 Mesure de la taille de la source 52 5.2.4 Mesure de la largeur des pulsations pour les sources pulses52 5.3 Mthodes danalyses52 5.3.1 Interpolations pour la courbe de pondration .52 5.3.2 Calculs 52 5.3.3 Dtermination de lincertitude sur la mesure 52 6. CLA
24、SSIFICATION DES LAMPES58 6.1 Lampes en cycle continu58 6.1.1 Groupe sans risque 58 6.1.2 Groupe de risque 1 (faible risque) 58 6.1.3 Groupe de risque 2 (risque modr) 60 6.1.4 Groupe de risque 3 (risque lev) 60 6.2 Lampes pulses.60 62471 IEC:2006 3 CONTENTS FOREWORD 7 INTRODUCTION11 1. SCOPE.13 2. NO
25、RMATIVE REFERENCES 13 3. DEFINITIONS, SYMBOLS AND ABBREVIATIONS.13 4. EXPOSURE LIMITS (ELS)25 4.1 General 25 4.2 Specific factors involved in the determination and application of retinal exposure limits.27 4.2.1 Pupil diameter.27 4.2.2 Angular subtense of source and measurement field-of-view .27 4.3
26、 Hazard exposure limits.29 4.3.1 Actinic UV hazard exposure limit for the skin and eye29 4.3.2 Near-UV hazard exposure limit for the eye.31 4.3.3 Retinal blue light hazard exposure limit 33 4.3.4 Retinal blue light hazard exposure limit - small source.37 4.3.5 Retinal thermal hazard exposure limit 3
27、9 4.3.6 Retinal thermal hazard exposure limit weak visual stimulus .39 4.3.7 Infrared radiation hazard exposure limits for the eye41 4.3.8 Thermal hazard exposure limit for the skin.41 5. MEASUREMENT OF LAMPS AND LAMP SYSTEMS.43 5.1 Measurement conditions43 5.1.1 Lamp ageing (seasoning) .43 5.1.2 Te
28、st environment45 5.1.3 Extraneous radiation.45 5.1.4 Lamp operation.45 5.1.5 Lamp system operation 45 5.2 Measurement procedure 45 5.2.1 Irradiance measurements.45 5.2.2 Radiance measurements49 5.2.3 Measurement of source size 53 5.2.4 Pulse width measurement for pulsed sources53 5.3 Analysis method
29、s .53 5.3.1 Weighting curve interpolations .53 5.3.2 Calculations 53 5.3.3 Measurement uncertainty .53 6. LAMP CLASSIFICATION .59 6.1 Continuous wave lamps .59 6.1.1 Exempt group .59 6.1.2 Risk Group 1 (Low-Risk) 59 6.1.3 Risk Group 2 (Moderate-Risk)61 6.1.4 Risk Group 3 (High-Risk)61 6.2 Pulsed lam
30、ps61 4 62471 CEI:2006 ANNEXE A (informative) RSUM DES EFFETS BIOLOGIQUES.64 Donnes pour les effets biologique #1 Cataracte au rayonnement infrarouge 64 Donnes pour les effets biologiques #2 Photokratite.64 Donnes pour les effets biologique #3 Photortinite66 Donnes pour les effets biologique #4 Lsion
31、 rtinienne thermique68 Donnes pour les effets biologique #5 Cataracte au rayonnement ultraviolet .70 Donnes pour les effets biologique #6 Erythme actinique .72 ANNEXE B (informative) METHODE DE MESURE76 B.1 Instrumentation 76 B.1.1 Double monochromateur: instrument recommand.76 B.1.2 Dtecteur bande
32、large .76 B.2 Limitations de linstrument76 B.2.1 Eclairement nergtique quivalent au bruit de fond .76 B.2.2 Rponse spectrale de lappareil .78 B.2.3 Prcision sur les longueurs dondes .80 B.2.4 Flux nergtique parasite .80 B.2.5 Optiques dentre pour les mesures de lclairement nergtique spectrique. Reco
33、mmandations .82 B.2.6 Linarit 82 B.3 Sources pour ltalonnage .82 ANNEXE C (informative) ANALYSE DES INCERTITUDES84 ANNEXE D (informative) REFERENCES GENERALES.87 62471 IEC:2006 5 ANNEX A (informative) SUMMARY OF BIOLOGICAL EFFECTS 65 Bioeffect datasheet #1: Infrared cataract .65 Bioeffect datasheet
34、#2: Photokeratitis65 Bioeffect datasheet #3: Photoretinitis.67 Bioeffect datasheet #4: Retinal thermal injury69 Bioeffect datasheet #5: Ultraviolet cataract71 Bioeffect datasheet #6: Ultraviolet erythema73 ANNEX B (informative) MEASUREMENT METHOD 77 B.1 Instrumentation 77 B.1.1 Double monochromator:
35、 Recommended instrument77 B.1.2 Broadband detectors 77 B.2 Instrument limitations .77 B.2.1 Noise equivalent irradiance 77 B.2.2 Instrument spectral response .79 B.2.3 Wavelength accuracy .81 B.2.4 Stray radiant power.81 B.2.5 Input optics for spectral irradiance measurements: Recommendation 83 B.2.
36、6 Linearity 83 B.3 Calibration sources 83 ANNEX C (informative) UNCERTAINTY ANALYSIS 85 ANNEX D (informative) GENERAL REFERENCES89 6 62471 CEI:2006 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ SCURIT PHOTOBIOLOGIQUE DES LAMPES ET DES APPAREILS UTILISANT DES LAMPES AVANT-PROPOS 1) La Commission Electr
37、otechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation compose de len-semble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coop-ration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llec
38、tricit et de llectronique. A cet effet, la CEI entre autres activits publie des Normes internationales, des Spcifications techniques, des Rapports tech-niques, des Spcifications accessibles au public (PAS) et des Guides (ci-aprs dnomms “Publication(s) de la CEI“). Leur laboration est confie des comi
39、ts dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, partici-pent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Nor
40、malisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possi-ble, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux de la CE
41、I intresss sont repr-sents dans chaque comit dtudes. 3) Les Publications de la CEI se prsentent sous la forme de recommandations internationales et sont agres comme telles par les Comits nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI sassure de lexactitude du conte
42、nu technique de ses publications; la CEI ne peut pas tre tenue responsable de lventuelle mauvaise utilisation ou interprtation qui en est faite par un quelconque utilisateur final. 4) Dans le but dencourager luniformit internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent, dans toute la mesure po
43、ssible, appliquer de faon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications nationales et rgionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications nationales ou rgionales correspondantes doivent tre indiques en termes clairs dans ces dernires. 5) La CEI
44、na prvu aucune procdure de marquage valant indication dapprobation et nengage pas sa responsabilit pour les quipements dclars conformes une de ses Publications. 6) Tous les utilisateurs doivent sassurer quils sont en possession de la dernire dition de cette publication. 7) Aucune responsabilit ne do
45、it tre impute la CEI, ses administrateurs, employs, auxiliaires ou mandataires, y com-pris ses experts particuliers et les membres de ses comits dtudes et des Comits nationaux de la CEI, pour tout prju-dice caus en cas de dommages corporels et matriels, ou de tout autre dommage de quelque nature que
46、 ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les cots (y compris les frais de justice) et les dpenses dcoulant de la publication ou de lutilisation de cette Publication de la CEI ou de toute autre Publication de la CEI, ou au crdit qui lui est accord. 8) Lattention est attire sur les rfrences n
47、ormatives cites dans cette publication. Lutilisation de publications rfrences est obligatoire pour une application correcte de la prsente publication. 9) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Publication de la CEI peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectu
48、elle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La Norme internationale CEI 62471 a t soumise par la Commission Internationale de lEclairage (CIE) et a t traite par le comit dtudes 76 de la CEI: Scurit des rayonnements optiques et mat-riels laser. Cette norme a t labore comme Norme CIE S 009:2002 par la Commission Internationale de lEclairage. Elle a t soumise aux comits nationaux de la
