1、 7 6 dite et diffuse par lUnion Technique de lElectricit (UTE) Tour Chantecoq 5, rue Chantecoq 92808 Puteaux CedexTl. : + 33 (0) 1 49 07 62 00 Tlcopie : + 33 (0) 1 47 78 73 51 Courriel : uteute.asso.fr Internet : http:/www.ute- diffuse galement par lAssociation Franaise de Normalisation (AFNOR) 11,
2、rue Francis de Pressens 93571 La Plaine Saint-Denis Cedex Tl. : 01 41 62 80 00 Impr. UTE 2008 Reproduction interdite 7 Indice de classement : ICS : 27.160 1 E : Thin-film terrestrial photovoltaic (PV) modules - Design qualification and type approval D : Terrestrische Dnnschicht-Photovoltaik (PV)-Mod
3、ule - Bauarteignung und Bauartzulassung Norme franaise homologue par dcision du Directeur Gnral dAFNOR le 1er octobre 2008 pour prendre effet compter du 1er novembre 2008. Remplace la norme homologue NF EN 61646 de janvier 2005, qui reste en vigueur jusquen juin 2011. Correspondance La norme europen
4、ne EN 61646:2008 a le statut dune norme franaise. EIle reproduit intgralement la publication CEI 61646:2008. Analyse Le prsent document donne les exigences sur la qualification de la conception et lhomologation des modules photovoltaques en couches minces pour application terrestre et pour une utili
5、sation de longue dure dans les climats gnraux dair libre, dfinis dans la NF EN 60721-2-1. Le prsent document est destin sappliquer tous les quipements module plaque plane non couverts par la NF EN 61215 mais ne sapplique pas aux modules utiliss avec des concentrations. Descripteurs Energie solaire,
6、cellule solaire, module photovoltaque, couche mince, conception, homologation, qualification, essai, caractristique lectrique, caractristique thermique, examen visuel, mesurage de temprature, marquage. Modifications Par rapport au document remplac, adoption de la nouvelle norme europenne. Correction
7、s NF EN 61646 - II - Ce document constitue la version franaise complte de la norme europenne EN 61646:2008 qui reproduit le texte de la publication CEI 61646:2008. Les modifications du CENELEC (dans le prsent document, lannexe ZA uniquement) sont signales par un trait vertical dans la marge gauche d
8、u texte. Cette Norme Franaise fait rfrence des Normes internationales. Quand une Norme internationale cite en rfrence a t entrine comme Norme Europenne, ou bien quand une norme dorigine europenne existe, la Norme Franaise issue de cette Norme Europenne est applicable la place de la Norme internation
9、ale. LUnion Technique de llectricit a vot favorablement au CENELEC sur le projet de EN 61646, le 7 avril 2008. _ 7 77 9 7 77 (EN ou HD) 9 (NF ou UTE)CEI 60068-1* EN 60068-1 (1994)* NF EN 60068-1 (1995) (C 20-700) CEI 60068-2-21* EN 60068-2-21 (2006) NF EN 60068-2-21Pr (C 20-721) CEI 60068-2-78 (2001
10、) EN 60068-2-78 (2001)* NF EN 60068-2-78 (2002) (C 20-778) CEI 60891* EN 60891 (1994)* NF EN 60891 (1995) (C 57-104) CEI 60904-1 (2006) EN 60904-1 (2006)* NF EN 60904-1 (2007) (C 57-321) CEI 60904-2* EN 60904-2 (2007)* NF EN 60904-2 (2007) (C 57-322) CEI 60904-3* EN 60904-3 (2008)* NF EN 60904-3 (20
11、08) (C 57-323) CEI 60904-7* EN 60904-7 (1998)* NF EN 60904-7 (1999) (C 57-327) CEI 60904-9* EN 60904-9 (2007)* NF EN 60904-9 (2008) (C 57-329) CEI 60904-10* EN 60904-10 (1998)* NF EN 60904-10 (1999) (C 57-330) CEI 61215* EN 61215 (2005)* NF EN 61215 (2005) (C 57-105) ISO/CEI 17025* EN ISO/CEI 17025
12、(2005)* NF EN ISO/CEI 17025 (2005) (X 50-061) Note : Les documents de la classe C sont en vente lUnion Technique de llectricit Tour Chantecoq 5, rue Chantecoq 92808 Puteaux Cedex Tl. : + 33 (0) 1 49 07 62 00 ainsi quau service diffusion de lAssociation franaise de normalisation 11, rue Francis de Pr
13、essens 93571 La Plaine Saint-Denis Cedex Tl. : 01 41 62 80 00. Les documents CEI sont en vente lUTE. Les documents ISO et de la classe X sont en vente AFNOR. * Rfrence non date. * Edition valide au moment de la publication de cette norme. _ NORME EUROPENNE EUROPISCHE NORM EUROPEAN STANDARD Aot 2008
14、CENELEC Comit Europen de Normalisation Electrotechnique Europisches Komitee fr Elektrotechnische Normung European Committee for Electrotechnical Standardization 7 ICS 27.160 Remplace EN 61646:1997Version franaise 1 (CEI 61646:2008) Terrestrische Dnnschicht-Photovoltaik (PV)-Module - Bauarteignung un
15、d Bauartzulassung (IEC 61646:2008) Thin-film terrestrial photovoltaic (PV) modules - Design qualification and type approval (IEC 61646:2008) La prsente Norme Europenne a t adopte par le CENELEC le 2008-06-01. Les membres du CENELEC sont tenus de se soumettre au Rglement Intrieur du CEN/CENELEC qui d
16、finit les conditions dans lesquelles doit tre attribu, sans modification, le statut de norme nationale la Norme Europenne. Les listes mises jour et les rfrences bibliographiques relatives ces normes nationales peuvent tre obtenues auprs du Secrtariat Central ou auprs des membres du CENELEC. La prsen
17、te Norme Europenne existe en trois versions officielles (allemand, anglais, franais). Une version dans une autre langue faite par traduction sous la responsabilit dun membre du CENELEC dans sa langue nationale, et notifie au Secrtariat Central, a le mme statut que les versions officielles. Les membr
18、es du CENELEC sont les comits lectrotechniques nationaux des pays suivants: Allemagne, Autriche, Belgique, Bulgarie, Chypre, Danemark, Espagne, Estonie, Finlande, France, Grce, Hongrie, Irlande, Islande, Italie, Lettonie, Lituanie, Luxembourg, Malte, Norvge, Pays-Bas, Pologne, Portugal, Rpublique Tc
19、hque, Roumanie, Royaume-Uni, Slovaquie, Slovnie, Sude et Suisse. 2008 CENELEC - Tous droits dexploitation sous quelque forme et de quelque manire que ce soit rservs dans le monde entier aux membres du CENELEC. Ref. n EN 61646:2008 F EN 61646:2008 2 Le texte du document 82/512/FDIS, future dition 2 d
20、e la CEI 61646, prpar par le CE 82 de la CEI, Systmes de conversion photovoltaque de lnergie solaire, a t soumis au vote parallle CEI-CENELEC et a t approuv par le CENELEC comme EN 61646 le 2008-06-01. Cette Norme Europenne remplace la EN 61646:1997. La EN 61646:2008 inclut les modifications techniq
21、ues significatives suivantes par rapport la EN 61646:1997: La modification majeure concerne les critres dacceptation/de refus. Il ne sagit plus de la satisfaction un critre plus/moins avant et aprs chaque essai, mais plutt de la satisfaction de la puissance assigne aprs la fin de tous les essais et
22、lexposition prolonge au rayonnement lumineux des modules. Ceci a t ralis en liminant le ncessaire prconditionnement spcifique de la technologie pour mesurer avec prcision les modifications engendres par lessai. (Certains modules perdent de la puissance la lumire, tandis que dautres la perdent durant
23、 la chaleur obscure.) Comme tous les modules doivent fonctionner aprs lexposition la lumire, ceci semble tre une bonne approche et rationnalisera la procdure dessai, en esprant rduire le cot des essais. mise jour des rfrences normatives; ajout dune dfinition de valeur minimum de la puissance maximal
24、e de sortie; modification de la formulation dans les dfauts visuels majeurs pour permettre quelques flexions et dsalignements sans dfaillance; ajout dexigences au rapport de la EN ISO/CEI 17025; retrait de lessai de vrillage comme ce qui a t fait pour la EN 61215, tant donn que personne na russi fai
25、re chouer cet essai; tablissement de critres dacceptation/de refus pour la rsistance disolement et le courant de fuite en milieu humide dpendant de la surface du module; ajout du coefficient de temprature de puissance ( ) aux mesures exiges; modification du paragraphe sur le coefficient de tempratur
26、e pour permettre les mesures en clairage naturel ou dlivr par un simulateur solaire; suppression de la mthode de la plaque de rfrence de la NOCT; ajout de paragraphes sur les quipements dans les procdures dessai qui nen avaient pas la EN 61646:1997; rcriture de lessai de tenue lchauffement localis;
27、suppression de la mthode dimmersion du bord de lessai de courant de fuite en milieu humide; modification de lessai de charge mcanique 3 cycles pour tre cohrent avec les autres normes; ajout de lessai thermique de la diode bypass. Les dates suivantes ont t fixes: date limite laquelle la EN doit tre m
28、ise en application au niveau national par publication dune norme nationale identique ou par entrinement (dop) 2009-03-01 date limite laquelle les normes nationales conflictuelles doivent tre annules (dow) 2011-06-01 LAnnexe ZA a t ajoute par le CENELEC. 3 EN 61646:2008 SOMMAIRE AVANT-PROPOS21 Domain
29、e dapplication et objet62 Rfrences normatives.63Echantillonnage74Marquage.75Essais86Conditions dacceptation.97 Dfauts visuels majeurs.98Rapport dessai99Modifications1010 Procdures dessai.1310.1Examen visuel.1310.1.1Objet.1310.1.2 Procdure1310.1.3Exigences1310.2 Dtermination de la puissance maximale.
30、1310.2.1Objet.1310.2.2Equipement.1310.2.3 Procdure1410.3Essai disolement1410.3.1Objet.1410.3.2Equipement.1410.3.3Conditions dessai1410.3.4 Procdure1410.3.5Exigences dessai1510.4 Mesure des coefficients de temprature.1510.4.1Objet.1510.4.2Equipement.1510.4.3 Procdure1610.5 Mesure de la temprature nom
31、inale dutilisation des cellules (NOCT).1710.5.1Objet.1710.5.2Introduction.1710.5.3Principe.1810.5.4Equipement.1810.5.5Installation du module en essai1910.5.6 Procdure1910.6 Performance STC et NOCT.2110.6.1Objet.2110.6.2Equipement.2110.6.3 Procdure2110.7Performance sous faible clairement.2110.7.1Obje
32、t.2110.7.2Equipement.2110.7.3 Procdure22 EN 61646:2008 4 10.8Essai dexposition en site naturel.2210.8.1Objet.2210.8.2Equipement.2210.8.3 Procdure2210.8.4Mesures finales.2210.8.5Exigences2210.9 Essai de tenue lchauffement localis2310.9.1Objet.2310.9.2 Effet de lchauffement localis2310.9.3Classificati
33、on des interconnexions de cellules2410.9.4Equipement.2410.9.5 Procdure2410.9.6Mesures finales.2610.9.7Exigences2610.10 Essai de prconditionnement pour les UV.2610.10.1Objet.2610.10.2Appareillage2610.10.3 Procdure.2710.10.4Mesures finales.2710.10.5Exigences.2710.11Essai de cycle thermique2710.11.1Obj
34、et.2710.11.2Appareillage2710.11.3 Procdure.2810.11.4Mesures finales.2810.11.5Exigences.2810.12Essai humidit-gel 2810.12.1Objet.2810.12.2Appareillage2910.12.3 Procdure.2910.12.4Mesures finales.3010.12.5Exigences.3010.13Essai continu de chaleur humide.3010.13.1Objet.3010.13.2 Procdure.3010.13.3Mesures
35、 finales.3010.13.4Exigences.3010.14Essai de robustesse des sorties3010.14.1Objet.3010.14.2Types de sorties3110.14.3 Procdure.3110.14.4Mesures finales.3110.14.5Exigences.3210.15Essai de courant de fuite3210.15.1Objet.3210.15.2Appareillage3210.15.3 Procdure.3210.15.4Exigences.33 5 EN 61646:2008 10.16E
36、ssai de charge mcanique3310.16.1Objet.3310.16.2Appareillage3310.16.3 Procdure.3310.16.4Mesures finales.3310.16.5Exigences.3310.17 Essai la grle.3410.17.1Objet.3410.17.2Appareillage3410.17.3 Procdure.3510.17.4Mesures finales.3610.17.5Exigences.3610.18Essai thermique de la diode bypass3610.18.1Objet.3
37、610.18.2Appareillage3710.18.3 Procdure 13710.18.4 Procdure 23810.18.5Mesures finales.3910.18.6Exigences.3910.19 Exposition prolonge au rayonnement lumineux3910.19.1Objet.3910.19.2Appareillage3910.19.3 Procdure.3910.19.4Mesures finales.4010.19.5Exigences.40Bibliographie41 Annexe ZA (normative) Rfrenc
38、es normatives dautres publications internationales avec les publications europennes correspondantes.42 Figure 1 Squence dessais de qualification.11Figure 2 Facteur de correction de NOCT20Figure 3 Effet dun chauffement localis sur un module en couches minces avec cellules connectes en srie. Le cas le
39、 plus dfavorable de condition de masquage est le masquage de 4 cellules en mme temps23Figure 4 Essai de cycle thermique.28Figure 5 Cycle humidit-gel.29Figure 6 Equipement pour lessai de tenue la grle.35Figure 7 Localisation des points dimpact.36Figure 8 Essai thermique de la diode bypass.38Tableau 1
40、 Rsum des niveaux dessai12Tableau 2 Masses des billes de glace et vitesses dessai.34Tableau 3 Localisation des impacts36 EN 61646:2008 6 Q La prsente Norme internationale donne les exigences sur la qualification de la conception et lhomologation des modules photovoltaques en couches minces pour appl
41、ication terrestre et pour une utilisation de longue dure dans les climats gnraux dair libre, dfinis dans la CEI 60721-2-1. La prsente norme est destine sappliquer tous les quipements module plaque plane non couverts par la CEI 61215. La squence dessais est issue de celle spcifie dans la CEI 61215 pour la qualification de la conception et lhomologation des modules PV au silicium cristallin pour application terrestre. Toutefois, elle ne dpend plus de la satisfaction un critre plus/moins av
