收藏
下载资源 加入VIP,免费下载

2018年七年级英语上册Unit5Doyouhaveasoccerball第八节书面表达练习（新版）人教新目标版.doc

上传人：confusegate185 文档编号：1129683 上传时间：2019-05-08 格式：DOC 页数：1 大小：318KB
下载 相关 举报
2018年七年级英语上册Unit5Doyouhaveasoccerball第八节书面表达练习（新版）人教新目标版.doc_第1页
第1页 / 共1页
亲，该文档总共1页，全部预览完了，如果喜欢就下载吧！
资源描述

1第八节 书面表达假如你是 Jim，你每天都做体育运动，并且喜欢收藏体育用品。请你根据下图提示，写信给你的中国朋友刘芳，介绍一下你收藏的体育用品，并说明它们所在的位置。Dear Liu Fang，_Your friend，Jim参考答案Dear Liu Fang，I have many sports things.Look！I have a tennis bat and a tennis ball.They are under the table.There are three basketballs on the table.I have four soccer balls.They are in the box.The box is on the chair.I also have four pingpong bats and two pingpong balls.They are under the chair.I play sports every day.Your friend，Jim

展开阅读全文
相关资源
猜你喜欢
  • EN 60749-35-2006 en Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 35 Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components《半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分 塑封电子.pdf EN 60749-35-2006 en Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 35 Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components《半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分 塑封电子.pdf
  • EN 60749-36-2003 en Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 36 Acceleration steady state《半导体器件 机械和气候试验方法 第36部分 稳态加速 IEC 60749-36-2003》.pdf EN 60749-36-2003 en Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 36 Acceleration steady state《半导体器件 机械和气候试验方法 第36部分 稳态加速 IEC 60749-36-2003》.pdf
  • EN 60749-37-2008 en Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37 Board level drop test method using an accelerometer《半导体器件 机械和气候试验方法 第37部分 使用加速计的板级跌落试验方法》.pdf EN 60749-37-2008 en Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37 Board level drop test method using an accelerometer《半导体器件 机械和气候试验方法 第37部分 使用加速计的板级跌落试验方法》.pdf
  • EN 60749-38-2008 en Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38 Soft error test method for semiconductor devices with memory《半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分 带存储器的半.pdf EN 60749-38-2008 en Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38 Soft error test method for semiconductor devices with memory《半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分 带存储器的半.pdf
  • EN 60749-39-2006 en Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 39 Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semi.pdf EN 60749-39-2006 en Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 39 Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semi.pdf
  • EN 60749-4-2002 en Semiconductor Devices Mechanical and Climatic Test Methods Part 4 Damp Heat Steady State Highly Accelerated Stress Test (HAST)《半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分 稳态温度湿度偏差耐久性试验.pdf EN 60749-4-2002 en Semiconductor Devices Mechanical and Climatic Test Methods Part 4 Damp Heat Steady State Highly Accelerated Stress Test (HAST)《半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分 稳态温度湿度偏差耐久性试验.pdf
  • EN 60749-4-2017 en Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4 Damp heat steady state highly accelerated stress test (HAST).pdf EN 60749-4-2017 en Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4 Damp heat steady state highly accelerated stress test (HAST).pdf
  • EN 60749-40-2011 en Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40 Board level drop test method using a strain gauge《半导体器件 机械和气候试验方法 第40部分 使用应变仪的板级跌落试验方法》.pdf EN 60749-40-2011 en Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40 Board level drop test method using a strain gauge《半导体器件 机械和气候试验方法 第40部分 使用应变仪的板级跌落试验方法》.pdf
  • EN 60749-42-2014 en Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42 Temperature and humidity storage.pdf EN 60749-42-2014 en Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42 Temperature and humidity storage.pdf
    • 相关搜索

    当前位置：首页 > 考试资料 > 中学考试

    copyright@ 2008-2019 麦多课文库（www.mydoc123.com）网站版权所有
    备案/许可证编号：苏ICP备17064731号-1