1、ICS 17.060 N 61 喧嚣中华人民共和国国家标准GB/T 26797-2011 E，、E2、F，、F2、M，、M-2、M2、M2-3M3等级怯码Weights of classes E1、E2、F1、F2、M1、Ml-2、M2、M2-3and M3 (01孔1LRlll-l:2004 ,NEQ) 2011-07-29发布2011-12-01实施数码防伪中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会发布G/T 26797-2011 目次前言.1 l 范围-2 规范性引用文件.3 术语和定义4 分类和命名25 计量单位.2 6 要求.3 7 试验方法8 检验规则159 标
2、志、包装、运输和贮存.15 附录A(规范性附录)不同形状和尺寸硅码的图例附录B(规范性附录)计量性能试验方法.20 附录c(规范性附录)磁性试验方法25附录D(规范性附录)密度(体积)试验方法28GB/T 26797-2011 目U吕本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。本标准使用重新起草法参考OIMLR111-1 : 2004( El、Ez、Fl、Fz、M1、MI-Z、Mz、MZ-3、M3等级硅码(英文版)编制，与OIMLRll1-1:2004的一致性程度为非等效。本标准与OIMLRll1-1:2004的主要差别如下:-一删除了OIMLR111-1:2004的前言;一改写了第1章
3、范围气-一改写了第2章术语;一一删除了OIMLR111-1 : 2004的第3章符号表;二改写了OIMLR111-1 :2004的第4章硅码的单位和标称值;一一改写了OIMLR111-1:2004的第5章折算质量描述方式，与检定规程JJG99-2006硅码一致;改写了OIMLR111-1: 2004的第13章标记，为6.9标记;二改写了OIMLR111-1:2004的第14章存放;删除了OIMLRll1-1:2004的第15章和第16章计量控制;将OIMLRll1-1 : 2004的附录B硅码测试步骤改编成本标准的第7章试验方法飞附录B计量性能试验方法、附录C磁性试验方法和附录D密度(体积)试
4、验方法;附录A对Fz等级及M等级圆柱体硅码的调整腔的位置作了补充;一一增加了规范性引用文件一章;一一增加了分类和命名一章;一增加了6.10稳定性要求;二二增加了7.4.9稳定性试验;一一增加了第8章检验规则;增加了第9章标志、包装、运输和贮存。本标准在附录B中给出了试验结果的计算方法。此附录由OIMLRll1-1 : 2004的附录B、附录C和附录D的内容汇总改编而成。请注意本标准的某些内容可能涉及专利。本标准的发布机构不承担识别这些专利的责任。本标准由中国机械工业联合会提出并归口。本标准主要起草单位:沈阳计量研究所、上海精密科学仪器有限公司、辽宁省计量科学研究院、机械工业仪器仪表综合技术经济
5、研究所、中国仪器仪表行业协会实验室仪器分会、常州市富月陆码有限公司、山东蓬莱市计量仪器元件厂、蓬莱市水玲硅码厂、上海市计量测试技术研究院。本标准参加起草单位:长沙湘平科技发展有限公司、沈阳龙腾电子有限公司、长沙湘仪天平仪器设备有限公司、湖南省计量检测研究院、上海良平仪器仪表有限公司、上海菁海仪器有限公司、赛多利斯科学仪器(北京)有限公司、上海民桥精密科学仪器有限公司、上海舜宇恒平科学仪器有限公司。本标准主要起草人:杨秀英、董莉、金丽辉、王家龙、忻秀月、董阳、于水玲、付大民、戴芳、朱俊、熊一凡、张志、周凌蝶、钟小军、冯晓升、梁辉、张柏荣、王兵、归剑刚、吴群、周锦标、邓爱群。I E，、E2、F，、
6、F2、M，、M-2、M2、M2-3、M3等级硅码G/T 26797-2011 1 范围本标准规定了陆码的分类、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本标准适用于质量标称值为1mg5 000 峙，准确度等级为EI等级、Ez等级、FI等级、Fz等级、M1等级、MI-z等级、Mz等级、MZ-3等级、M3等级的硅码。2 规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。GB/T 191-2008 包装储运图示标志(lSO780:1997 , MOD) JJG 99-200
7、6 硅码3 术语和定义下列术语和定义适用于本文件。3. 1 硅码weight 具有形状、尺寸、材料、表面状况、标称值、密度、磁性和最大允许误差等物理特性和计量特性的质量实物量具。3.2 注:对于一个硅码，它可以单独复现某一固定的质量值。对于硅码组，它不仅可以单独单个使用，也可将不同的单个砖码组合在一起使用，用以复现若干个大小不同的一组质量值。折算质量conventional mass 折算质量值the conventional value of mass 一物体在约定温度和约定密度的空气中，与一约定密度的标准器达到平衡时标准器的质量。注1约定温度为20.C，约定的空气密度为1.2 kg/m3
8、，标准器的约定密度为8000kg/m3。折算质量值m，与真空中质量值m的关系见式(1)。式中2p 硅码密度zPo二一-空气密度zm一一硅码真空中质量值;m , 砖码折算质量值;V一一硅码真空中体积;V , 硅码的约定体积。(1一生)，=m+CV，-V)po=一一_.f!_0.999 85 C 1 ) 1 GB/T 26797-2011 4 分类和命名4. 1 硅码根据准确度等级划分为Ej等级、Ez等级、Fj等级、Fz等级、Mj等级、Mj-z等级、Mz等级、MZ-3等级、M3等级和专用硅码。4.2 Ej等级硅码(原工作基准等级硅码):溯源于国家基准、副基准，用于量传Ez等级硅码、量传相应的质量计
9、量仪器，和与相应的质量计量仪器配套使用。4.3 Ez等级硅码:用于量传Fj等级及其以下的硅码，用于量传相应的质量计量仪器，和与相应的质量计量仪器配套使用。4.4 Fj等级硅码:用于量传Fz等级及其以下的硅码，用于量传相应的质量计量仪器，和与相应的质量计量仪器配套使用。4.5 Fz等级硅码:用于量传Mj等级及其以下的陆码，用于量传相应的质量计量仪器，和与相应的质量计量仪器配套使用。4.6 Mj等级硅码:用于量传Mz等级及其以下的硅码，用于量传相应的质量计量仪器，和与相应的质量计量仪器配套使用旬4.7 Mz等级硅码:用于量传M3等级硅码，用于量传相应的质量计量仪器，和与相应的质量计量仪器配套使用。
10、4.8 M3等级硅码:用于量传相应的质量计量仪器，和与相应的质量计量仪器配套使用。4.9 Mj-z等级和MZ-3等级硅码:用于量传相应的质量计量仪器，和与相应的质量计量仪器配套使用。4. 10 专用暗码:与专用仪器设备配套使用的，由质量单位导出的其他量值单位的硅码。5 计量单位5. 1 使用单位5. 1. 1 质量单位:毫克(mg)、克(g)、千克(kg)、吨(t)。5. 1. 2 密度单位t千克每立方米比g/m3)、克每立方厘米(g/cm3)、毫克每立方厘米(mg/cm3)。5.2 硅码或硅码组的质量标称值硅码或暗码组的质量标称值应等于1X 10n kg，或2X 10n 峙，或5X 10n
11、kg，其中n表示一个正的或负的整数或零。5.3 硅码序列5.3. 1 硅码组的序列应由下列之一构成:a) (1; 1; 1; 2; 5) X 10n kg; b) (1 ;1;2;2;5)X10n kg; c) (1 ;1;2;5)X10n kg; d) (1; 2; 2; 5) X 10n kg(优先使用)。5.3.2 一组硅码可以包括多个标称值相同的硅码。GB/T 26797-2011 6 要求6. 1 计量性能6. 1. 1 最大允许误差6. 1. 1. 1 相应准确度等级硅码的最大允许误差(MPE)见表1。表1单位为毫克标称值E, E2 F, F2 M, M-2 M2 M2-3 M3
12、5000 kg 25000 80000 250 000 500 000 800 000 1 600 000 2 500 000 2000 kg 10000 30000 100 000 200 000 300 000 600000 1 000 000 1 000 kg 1 600 5 000 16000 50000 100 000 160 000 300 000 500 000 500 kg 800 2500 8000 25000 50000 80000 160 000 250 000 200 kg 300 1 000 3000 10000 20000 30000 60000 100 000 1
13、00 kg 160 500 1 600 5 000 10000 16 000 30000 50000 50 kg 25 80 250 800 2500 5000 8000 16 000 25000 20 kg 10 30 100 300 1 000 3 000 10 000 10 kg 5.0 16 50 160 500 1 600 5000 5 kg 2.5 8.0 25 80 250 800 2500 2 kg 1. 0 3.0 10 30 100 300 1 000 1 kg 0.5 1. 6 5.0 16 50 160 500 500 g 0.25 0.8 2.5 8.0 25 80
14、250 200 g 0.10 0.3 1. 0 3.0 10 30 100 100 g 0.05 o. 16 0.5 1. 6 5.0 16 50 50 g 0.03 o. 10 0.3 1. 0 3.0 10 30 20 g 0.025 0.08 0.25 0.8 2.5 8.0 25 10 g 0.020 0.06 0.20 0.6 2.0 6.0 20 5 g 0.016 0.05 o. 16 0.5 1. 6 5.0 16 2 g 0.012 0.04 0.12 0.4 1. 2 4.0 12 1 g 0.010 0.03 o. 10 0.3 1. 0 3.0 10 500 mg 0.
15、008 0.025 0.08 0.25 0.8 2. 5 200 mg 0.006 0.020 0.06 0.20 0.6 2.0 100 mg 0.005 0.016 0.05 0.16 0.5 1. 6 50 mg 0.004 0.012 0.04 0.12 0.4 20 mg 0.003 0.010 0.03 0.10 0.3 10 mg 0.003 0.008 0.025 0.08 0.25 5 mg 0.003 0.006 0.020 0.06 0.20 2 mg 0.003 0.006 0.020 0.06 0.20 1 mg 0.003 0.006 0.020 0.06 0.20
16、 3 GB/T 26797-2011 6.1. 1. 2 对于专用硅码，可根据其技术资料规定的相对误差和绝对误差要求，与表1中相应的准确度等级相对应。若其质量标称值在表1中没有，可用表1中己有的质量标称值累计得到;其质量最大允许误差的绝对值亦为对应的最大允许误差绝对值之和。6. 1.2 折算质量mc6. 1.2. 1 在规定的准确度等级(E1等级硅码除外)内，任何一个质量标称值为mo的单个硅码，出厂检验时折算质量mc与陆码标称值mo之间应符合式(2)。mo-i|MPE|mc3.0 注2.3二注1.550 g 7.92,8.08 7.74 ,8.28 7.27 ,8.89 6.0 ,12.0 二
17、注4.020 g 7.84 ,8.17 7.50 ,8.57 6.6 ,10.1 4.8,24.0 三2.610 g 7.74,8.28 7.27 ,8.89 6.0 ,12.0 二主4.0二主2.05 g 7.62,8.42 6.9 ,9.6 5.3 ,16.0 二三3.02g 7.27 ,8.89 6.0 ,12.0 二三4.0二注2.01 g 6.9 ,9.6 5.3 ,16.0 二月.0500 mg 6.3 ,10.9 二三4.4二2.2200 mg 5.3 ,16.0 二三3.0100 mg 二三4.450 mg 二三3.420 mg 二三2.3注2对M3等级硅码不要求。6.6.2
18、空气密度偏移量的修正如果空气密度相对于Po=1. 2 kg/旷的偏移量超过10%，硅码密度t偏离折算值8000kg/m3，折算质量可按式(5)、式(6)进行修正，如果moIcl小于该硅码最大允许误差的九分之一，可不进行空气浮力修正。8 mct = mc, +mcrC士MX旦旦土m=m十(Vt- V,) X (P. - Po )士MX些旦土mcw(5 ) .Is .L. CW - cr I ,. t .,. r/ / ta r-O / _!_ .1. /. .Is I 1 1、其中:C = (P. - Po) (一一l. . . . . . . . . ( 6 ) 飞Ptp, I 式中:mct一
19、一被测硅码折算质量;mc，一一标准硅码折算质量;.I一一一天平的指示差;.Is一一由于灵敏度硅码引起的天平示值的改变;m臼一一灵敏度硅码折算质量;mcw一一为取得天平平衡位置所添加小硅码的折算质量;p。约定空气密度;Pa 实际空气密度;队一-被测硅码密度;p, 一一标准硅码密度。GB/T 26797-2011 6.7 表面6.7. 1 总则6. 7. 1. 1 硅码的表面状况应保证在正常使用条件下，硅码质量的变化相对于最大允许误差而言可以忽略不计。6.7. 1. 2 硅码的表面(包括底面和边角应平滑，所有棱边和棱角应修圆。6.7. 1.3 对于有镀层或涂层的硅码，其镀层或涂层应能起到提高硅码表
20、面品质的作用;在通常情况下，应能承受正常的冲击、磨损、污染、腐蚀和大气环境等影响，应有足够的牢固度。6.7.2 E，等级、E2等级、F，等级和巴等级硅码6.7.2. 1 硅码的表面应有光泽，不应有划痕。6.7.2.2 大于或等于1g的F2等级硅码，其表面可具有适当的金属镀层或涂层。6.7.3 M，等级、M-2等级、M2等级、M2-3等级、M3等级硅码6.7.3.1 对于大于或等于1g的硅码表面应有适当的金属镀层或涂层。硅码表面的镀层或涂层应平滑，不应有砂眼。6.7.3.2 毫克组硅码及中药黯秤的黄铜秤陀不应有镀层。6.7.4 硅码表面粗糙度硅码表面粗糙度的最大值应不超过表6的规定。表6硅码等级
21、E E 2 F F2 Rz/m 0.5 1 2 5 Ra/m 0.1 0.2 0.4 1 注:对于大于50kg硅码表面粗糙度最大值分别为各等级硅码规定的两倍。6.8 调整6.8. 1 给定标称值的硅码给定标称值的硅码应这样调整:在空气中测量结果的折算质量值应符合6.1. 20 6.8.2 乱等级、E2等级硅码陆码应采用打磨、研磨或适当的方法调整，调整后应符合6.7的规定。6.8.3 F，等级、F2等级硅码硅码应采用打磨、研磨或适当的方法调整，不应改变表面状况。带有调整腔的硅码应用生产硅码的同种材料，或锡、铝、鸽调整。6.8.4 1 g及其以上的M，等级、M-2等级、M2等级、M2-3等级、M3
22、等级硅码6.8.4. 1 100 g及其以上的硅码应用如铅片等金属材料调整。9 GB/T 26797-2011 6.8.4.2 1 g50 g的没有调整腔的圆柱体硅码应用打磨、研磨、切削等方法进行调整。如果这些硅码有调整腔，硅码应用如铅片等金属材料调整。6.8.4.3 1 mgl 000 mg的薄片和丝状硅码应用剪切、打磨或研磨来调整。6.8.4.4 用于调整的材料应为可以保持其质量和结构的任何固体材料。调整材料在硅码体内不应对其质量和形状有任何改变。6.9 标记6.9.1 总则6.9. 1. 1 标记的一般规定6.9. 1. 1.1 如果硅码的表面状况和稳定性不受标记和标记过程的影响，在可能
23、造成硅码混用或硅码作为贸易结算的计量器具而使用时，硅码体上应清晰的标记其质量标称值。其他情况下按制造单位的规定执行。6.9. 1. 1.2 在标记过程中硅码的表面状况和稳定性不受影响的条件下，对于准确度等级在F2等级以上的硅码，如在使用中有可能导致错误使用硅码时，100mg及其以上的硅码可采用研磨或雕刻的方式，清晰地标记其硅码器号和该硅码的准确度等级。对于F2等级、M1等级、M1、z等级、M2等级、M2-3等级、M3等级硅码按制造单位的规定执行。6. 9. 1. 1. 3 各准确度等级线状毫克组砖码、50mg及其以下的各准确度等级片状硅码、链码以及仪器中作为其零部件配套使用的硅码可不标记质量标
24、称值、硅码器号及准确度等级。6.9. 1. 2 硅码质量标称值的数字表示6.9.1.2.1 1 kg-1 000 kg(不含1000 kg)的硅码，以千克kg为标称值的单位。6.9. 1. 2. 2 1 000 kg及其以上的硅码，以吨t为标称值的单位。6.9. 1. 2. 3 克组硅码，以克g为标称值的单位。6.9. 1. 2. 4 毫克组硅码，以毫克mg为标称值的单位。6.9. 1.3 硅码准确度等级的表示硅码体的上表面用E1、Ez、F1、F2、M1、MI-2、M2、Mz-.、M标记其准确度等级。6.9. 1. 4 硅码器号的数字表示6. 9. 1. 4. 1 硅码的器号用阿拉伯数字表示，
25、相同准确度等级内的硅码器号唯一。6.9. 1. 4. 2 El等级硅码的器号为三位阿拉伯数字或英文大写字母。6.9. 1. 4. 3 E2等级硅码的器号为四位阿拉伯数字或英文大写字母。6.9.1.4.4 F等级硅码标记器号按制造单位的规定执行，但需标记硅码的标称值。6.9. 1. 5 同一标称值的硅码一组硅码中如果有两个或三个同一标称值的硅码，应用一个或两个星形或点或数字给予区别;如果是线状硅码，应用一个或两个钩给予区别。6.9.2 M1等级、Ml-2等级、M2等级、M2-3等级、M3等级硅码6.9.2. 1 50 kg5 000 kg的矩形硅码应在硅码体上用凸或凹的字体标记其标称值和kg或t
26、气见附录A的A.2.1、A.2. 3)。10 G/T 26797-2011 6.9.2.2 1 g5 000 kg的圆柱体硅码应在提钮上用凸或凹的字体标记其标称值和g或kg或t(见附录A中A.2.1、A.2. 3) 0 500 g5 000 陆的圆柱体硅码标记可在硅码体的侧表面上。6.9.2.3 M1等级硅码可用凸或凹的字体标记M1或M及其标称值(见附录A中A.2.1、A.2. 3)。矩形的M1等级硅码可标记生产厂的商标。在这种情况下，生产厂的商标应用凸或凹的字体显示在矩形硅码的中间部分(见附录A中A.2.1、A.2. 3)。6.9.2.4 M2等级硅码可用凸或凹的字体标记其标称值和M2或不做
27、等级标记(见附录A中A.2. 1、A. 2. 3)。6.9.2.5 M3等级硅码可用凸或凹的字体标记其标称值和M3(见附录A中A.2.1、A.2. 3)。6.9.2.6 M2等级和M3等级(除了线状砖码)可标记生产厂的商标。在这种情况下，生产厂商标应用凸或凹的字体显示在矩形硅码的中间部分、矩形硅码提钮的上表面或侧表面、有固定提钮的M3等级圆柱体硅码的上表面或侧表面(见附录A中A.1.1、A.2.1、A.2. 3)。6.9.2.7 等于或大于50kg的M3等级硅码应带有以数字标记的标称值和单位符号。6.9.2.8 大于50kg的MI-2等级、M2-3等级硅码，可用凸或凹的字体标记其标称值和其相应
28、的准确度等级MI-2或M2-3。6. 10 稳定性El等级及E2等级硅码在出厂检验前应进行自然时效或人工时效处理。经时效处理后的硅码，其质量变化不得大于该硅码的质量允差。7 试验方法7. 1 试验条件7. 1. 1 硅码出厂试验时应在稳定的状况下，使硅码的温度接近室温，环境条件应符合表7的规定。表7砖码等级环境温度变化(每4h) 空气的相对湿度范围空气的相对湿度变化(每4h) % % El 0.5 4060 5 E, 1 3070 主三10Fl 1 用蒸馆水清洗后2448 1224 12 1 7.3.2 温度稳定7.3.2.1 在进行任何试验之前，硅码都需要恒温以达到试验室的大气状况。特别对于
29、E1等级、E2等级、Fl等级硅码，温度应与试验室内的温度接近。7.3.2.2 表10中给出了强制的温度恒定最短时间(根据硅码尺寸、等级和本身的温度与试验室内温度的差)。一般情况，推荐的稳定时间为24h。12 GB/T 26797-20门表10温度稳定时间.T h 硅码标称值E，等级E2等级F，等级F2等级1 000 kg,2 000 kg,5 000 kg 79 5 100 kg,200 kg,500 kg 70 33 4 10 kg,20 kg,50 kg 45 27 12 3 士201 kg,2 kg,5 kg 18 12 6 2 100 g ,200 g ,500 g 8 5 3 1 1
30、0 g ,20 g ,50 g 2 2 1 1 2kg)，有必要在硅码底面多个位置上测量。在测量过程中，硅码一般是直立的。注:如果砾码放置于高强磁场(对于生产E1等级法码的典型合金钢，磁场强度2kA/m)中，测量过程可能导致被测硅码被永久磁化。因此推荐在测量过程中，砾码(E1等级底面高度和磁铁中心高度之间的距离Z。最初约为20mm.若样品磁化率太小，对于磁化率计不能产生合理的信号，才减小Zo.C.2 设备C. 2.1 标尺分度值不大于10昭的衡器;放置硅码的无磁工作台;放置磁铁的圆柱体。C.2.2 磁矩叫，在0.1Am2数量级的圆柱体磁铁(此磁距为侈钻或钦铁-棚磁铁在体积为100m旷的典型值)
31、。C. 2. 3 磁性测量示意图见图C.L磁铁的高度最好为直径的0.87倍，也可采用直径和高相等的磁铁。Z。为磁铁中心高度到硅码底面的距离。C.3 试验程序C. 3.1 测量不同的参数(Zo,Rw ，h)，见示意图C.1。C. 3. 2 应知道准确度为1%的当地重力加速度g值。C.3.3 将磁铁的北极向下，测量磁矩md;磁铁在工作台上表面产生的最大磁场为H=一旦气。其中，LXZ H的单位为Am-1，md为Am2，Z。为m。注z在测量E1等级硅码时H不得超过2000Am-1;测量已等级眩码时，H不得超过800Am一1;测量其他等级砾码不得超过200Am-1。如果磁化率计的信号太弱，可减少Zo的高
32、度来增强磁场强度H.C. 3. 4 仪器回零。C. 3. 5 将硅码放在工作台上，且在磁铁的正上方，通常测量三次，确保硅码放在中心处。操作如下za) 记录加载时间、读数时间和卸载时间;b) 根据重复测量的读数，计算衡器显示的质量变化的平均值，!:;.mj;d 确定力Fj=-!:;.mjXg。25 GB/T 26797-2011 工作台说明zh -砖码的高度zZl一一硅码顶部到磁铁中心的距离zz。一一硅码底部到磁铁中心的距离;Rw-一硅码的半径。C. 3. 6 翻转磁铁重复测量，操作如下:a) 距离Z。保持恒定;法码的顶部质量比较仪的载荷盘图C.1磁性测量示意图b) 再一次将陆码放置在工作台上，
33、且在磁铁的正上方，通常三次，确保硅码放在中心处zc) 记录加载时间、读数时间和卸载时间;d) 根据重复测量的读数，计算衡器显示的质量变化的平均值，.m2; e) 确定力F2 = - .m2 X g 0 C. 3. 7 重复c.3. 4C. 3. 60 C.4 计算C. 4.1 把各参数代人式CC.1)、式CC.2)，计算硅码磁化率和磁化强度Mz。此时假设空气的磁化率可忽略不计。C.4.2 当测量了F1等级和F2等级时，则磁化率公式为:F , XIa FmEJ0.4 Fa 311叫_ F, +F 其中:FmJZ君，Fa=71式中:Fa 一磁化率的平均力值;Fmax一一磁化率的最大力值;。一一-真
34、空中磁导率。26 C C.l ) GB/T 26797-2011 磁化强度公式为zoMz = Fb 一一_x_一BEZ.(C.2 ) 2且x- X Ib 1 + 0.23 Zo 4 F ,-F. 其中:Fb=。BEZ是实验室内大气中磁场强度的垂直分量。通常，BEZ可视为实验室当地的地球磁场强度的垂直分量，依据海拔的不同，其范围为:-48TBEZ60ToBEZ的梯度为地球的赤道上为零，极点处最大。BEZ的符号是:北半球为正号，南半球为负号。C.4.3 在上面的公式中，给出的几何修正因子1.和人分别见式(C.3)、式(C.的。空气磁化率对于所有的实际情况都可以忽略不计。(RW/ZO)2 , , (
35、Rw/Z)2 宁l41十一一丁一一. 7 ., 4 1+ ，- I一一1. =1-旦I- 1 I / n ,07 2 ., 3 + I旦Ix I r D ;)7 2 1 3 .( C.3 ) LZ J 1十(RW/ZO)2J3I LZ J 1 + (Rw/Z )2J r (Rw / ZO)2 (Rw / ZO)2 / (Z1 / ZO)3 ) Ib =2剖1+ (Rw/Zo)勺的1, I r Rw/Zo.2l3!2 . .( C.4 ) l L .L T WfO/ _j 11十(.L:w一O)21 l L - , Z1 / Zo / J J 注:上述的公式用于正圆柱体硅码。如果被测硅码不是理想
36、的正圆柱体硅码，则需要做进一步的修正，否则将产生较大的不确定度。27 GB/T 26797-2011 附录D(规范性附录)密度(体积)试验方法D.1 适用范围本附录中将介绍两种方法用于确定硅码的密度(体积)。方法一是将所使用的水或其他适宜的液体作为密度标准，该方法适用于准确度等级较高的硅码。方法二，提供常用合金列表，在列表中给出了各种材料的密度值，用户可根据需要使用。此方法适用于准确度等级较低的硅码。D.2 密度(体积)测量注意事项D. 2.1 参考温度密度的参考温度为20.C。当测量温度不在此温度条件(有些实验室恒温是18.C或23.C)时，则应采用材料的体膨胀系数y，将其修正到20.C下的
37、体积。如果的值不确切知道，则采用不锈钢的硅码，Y=50X 10-6 FC ;JF1不锈钢的硅码，=35X10-6FC。p(tref) = p(tmeas) X 1十(tmeas-tref)或V(tref)= V(tm础)X 1十Y(tmeas- tref) ( D.1 ) (tref)l 2 I _ _2 / _2 u2 p(tref)=U2 p(tmeas) I一一一|十u(y)(tmea，) (tmea, -tref)2十Lp(tm国，)J u2 (tm酬)p2(tmeas)y2 . .( D.2 ) D.2.2 小硅码的测试要求对于小于1g的硅码，在表5中没有限定值，可参考生产厂给出的硅
38、码材料密度。D.2.3 浸没硅码所用的班体该液体应对陆码没有影响。优先选用一级水，因为其密度与温度是已知的函数关系并且它的纯度也容易控制。本节的公式中假设了液体密度是常数。表D.1列出了水的密度值。表D.1tl p pl/ t C kg/m3 kg/Cm3 C) 18.0 998.593 18.5 998.499 -0.190 19.0 998.402 19.5 998.303 -0.201 20.0 998.201 20.5 998.096 0.212 28 GB/T 26797-2011 表D.1 (续)tl p .Pl / .t 。Ckg/m kg/(m C) 21. 0 997.989
39、 21. 5 997. 879 一0.22222.0 997.767 22.5 997.652 一0.23223.0 997.535 23. 5 997.415 一0.24224.0 997.293 D.2.4 水浸没调整腔具有调整腔的硅码不应浸没在水中，因为水可能在测量中渗入腔体。这可能会影响硅码的密度、质量和稳定性。对于带有调整腔的硅码，推荐采用几何体积测量法，或合金成分计算法。D.2.5 清除气泡对于在水中的精密测量，硅码和硅码支架上的空气泡，将造成密度测量的准确度降低，应清除。D.2.6 硅码支架和悬挂线在水中，将陆码放置到硅码支架上时，可能造成硅码和容器(玻璃)的损坏。选用把硅码和硅
40、码支架一起浸没在水中的方法，硅码支架能防止硅码的掉落。要求吊挂线细直、清洁，而且在经过空气和水的结合面时，要垂直。D.2.7 真空质量和折算质量在测量硅码密度(体积)时，应采用该硅码的真空质量。D. 2. 8 硅码的烘干从水中取出硅码后，应用精细布料去除残留的水珠。为确保硅码的稳定性，硅码应放置在适当的盖子下面(如倒置的烧杯，并留有缝隙以便通风)。D.3 试验方法一(渣体静力比较法)D. 3.1 测量方法示意图两个不同的标准硅码均在空气中测量:在空气中比较被测硅码和标准硅码，并且对液体中的硅码和在空气中的第二个标准硅码进行比较;密度(体积)测量方法示意图见图D.L29 GB/T 26797-2
41、011 圄D.1密度(体积)测量方法示意图D.3.2 设备D. 3. 2.1 足够大的测量能力和高分辨力(典型的相对分辨率为2XI0-6)的实验室天平，天平应备有悬挂或承载测量载荷的装置。D. 3. 2. 2 控温能力在20.C土0.2.C的水容器。D. 3. 2. 3 适用于不同尺寸硅码的悬挂线和支架。D. 3.2. 4 在水中硅码的机械加载和卸载机构。D.3.2.5 已知密度的质量标准、细纱手套、元棉绒布、实验室用慑子及照明良好的房间。D.3.3 测量程序D. 3. 3.1 确定测量时的空气密度P.和液体密度向。D. 3. 3. 2 第一次测量(被测硅码在空气中):在空气中测量被测硅码(m
42、ta)。D. 3. 3. 3 第二次测量(标准砖码在空气中，被测硅码在液体中):标准硅码在空气中，被测硅码在液体中测量(m，mtl)。D.3.3.4 第三次测量(必要时测量天平的分度值):标准硅码在空气中，被测硅码在液体中测量天平的分度值(mra,mtl) +msJ。D. 3. 3.5 第二次放的标准硅码(m通常为一群硅码，目的是使天平的显示值接近于浸没被测硅码之前，在空气中衡量的天平显示值。D.4 试验方法二大多数硅码是由有限的几种合金制造的，密度的精确值依赖于合金中各成分的相对比例。表D.2中给出了硅码最通常使用的材料密度范围。表D.2合金/材料标称密度kg/m 铅21400 镇黄铜860
43、0 30 GB/T 26797-2011 表D.2(续)合金/材料标称密度kg/m3 黄铜8400 不锈钢7 950 JF1不锈钢8 000 1Cr18Ni 9Ti不锈钢7850 碳钢7 700 铁7800 铸铁(白)7 700 铸铁(灰)7 100 铝2 700 -FON|hhNH筒。国华人民共和国家标准中E1、E2、矶、F2、M1、Ml-2、M2、M2-3、M3等级硅码GB/T 26797-2011 * 中国标准出版社出版发行北京市朝阳区和平里西街甲2号(100013)北京市西城区三里河北街16号(100045)网址总编室:(010)64275323发行中心:(010)51780235读者服务部:(010)68523946中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷各地新华书店经销* 印张2.25字数65千字2012年2月第一次印刷开本880X12301/16 2012年2月第一版 33.00元如有印装差错由本社发行中心调换版权专有侵权必究举报电话:(010)68510107书号:155066 1-43944定价GB/T 26797-2011 打印H期:2012年3月8H F002A
