1、Numro de rfrence ISO 14250:2000(F) ISO 2000 NORME INTERNATIONALE ISO 14250 Premire dition 2000-11-01 Aciers Caractrisation mtallographique de la grosseur et de la distribution de grain duplex Steel Metallographic characterization of duplex grain size and distributionsISO 14250:2000(F) PDF Exonration
2、 de responsabilit Le prsent fichier PDF peut contenir des polices de caractres intgres. Conformment aux conditions de licence dAdobe, ce fichier peut tre imprim ou visualis, mais ne doit pas tre modifimoins que lordinateur employcet effet ne bnficie dune licence autorisant lutilisation de ces police
3、s et que celles-ci y soient installes. Lors du tlchargement de ce fichier, les parties concernes acceptent de fait la responsabilit de ne pas enfreindre les conditions de licence dAdobe. Le Secrtariat central de lISO dcline toute responsabilit en la matire. Adobe est une marque dpose dAdobe Systems
4、Incorporated. Les dtails relatifs aux produits logiciels utiliss pour la cra t i o nd up r sent fichier PDF sont disponibles dans la rubrique General Info du fichier; les paramtres de cration PDF ont t optimiss pour limpression. Toutes les mesures ont t prises pour garantir lexploitation de ce fichi
5、er par les comits membres de lISO. Dans le cas peu probable o surviendrait un problme dutilisation, veuillez en informer le Secrtariat central ladresse donne ci-dessous. ISO 2000 Droits de reproduction rservs. Sauf prescription diffrente, aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni
6、utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lISO ladresse ci-aprso ud uco m i t membre de lISO dans le pays du demandeur. ISO copyright office Case postale 56 CH-1211 Geneva 20 Tel. + 41 22 749 01
7、 11 Fax. + 41 22 749 09 47 E-mail copyrightiso.ch Web www.iso.ch Imprim en Suisse ii ISO 2000 Tous droits rservsISO 14250:2000(F) ISO 2000 Tous droits rservs iii Sommaire Page Avant-proposiv 1 Domaine dapplication.1 2R frences normatives .1 3 Terme et dfinition.1 4T e r m e s a b r gs .1 5 Principe.
8、2 6 Appareillage .2 6.1 Gnralits .2 6.2 Mthode par comparaison pour estimer la proportion de surface occupe.2 6.3 Mthode par comptage laide dune grille de points pour estimer la proportion de surface occupe 2 6.4 Dtermination de la grosseur de grain2 7 chantillonnage et prparation des prouvettes des
9、sai2 8 Mode opratoire.3 8.1 Caractristiques et classification des grosseurs de grain duplex.3 8.2 Estimation des proportions en surface.7 8.3 Dtermination de la grosseur du grain7 9 Rapport dessai7 Annexe A (normative) Images types pour estimer les proportions en surface8ISO 14250:2000(F) iv ISO 200
10、0 Tous droits rservs Avant-propos LISO (Organisation internationale de normalisation) est une fdration mondiale dorganismes nationaux de normalisation (comits membres de lISO). Llaboration des Normes internationales est en gnral confiea u x comits techniques de lISO. Chaque comit membre intress par
11、une t u d eal ed r o i td ef a i r ep a r t i ed uc o m i t technique cr cet effet. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec lISO participent galement aux travaux. LISO collabore troitement avec la Commission lectrotechnique internationale (CEI) en
12、 ce qui concerne la normalisation lectrotechnique. Les Normes internationales sont rdiges conformment aux rgles donnes dans les Directives ISO/CEI, Partie 3. Les projets de Normes internationales adopts par les comits techniques sont soumis aux comits membres pour vote. Leur publication comme Normes
13、 internationales requiert lapprobation de 75 % au moins des comits membres votants. Lattention est appele sur le fait que certains des lm e n t sd el ap r sente Norme internationale peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. LISO ne saurait tre tenue pour respon
14、sable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et averti de leur existence. La Norme internationale ISO 14250 a t laborep a rl ec o m i t technique ISO/TC 17, Acier, sous-comit SC 7, Mthodes dessais (autres que les essais mcaniques et les analyses chimiques). Lannexe A constitue un lment n
15、ormatif de la prsente Norme internationale.NORME INTERNATIONALE ISO 14250:2000(F) ISO 2000 Tous droits rservs 1 Aciers Caractrisation mtallographique de la grosseur et de la distribution de grain duplex 1 Domaine dapplication La Norme internationale spcifie une mthode micrographique de dtermination
16、de la grosseur de grain duplex des produits forgso ul a mi n s en acier, par comparaison avec des images types ou par comptage laide dune grille de points. 2R frences normatives Les documents normatifs suivants contiennent des dispositions qui, par suite de la rfrence qui y est faite, constituent de
17、s dispositions valables pour la prsente Norme internationale. Pour les rfrences dates, les amendements ultrieurs ou les rvisions de ces publications ne sappliquent pas. Toutefois, les parties prenantes aux accords fonds sur la prsente Norme internationale sont invites rechercher la possibilit dappli
18、quer les ditions les plus rcentes des documents normatifs indiqus ci-aprs. Pour les rfrences non dates, la dernire dition du document normatif en rfrence sapplique. Les membres de lISO et de la CEI possdent le registre des Normes internationales en vigueur. ISO 643, Aciers Dtermination micrographiqu
19、e de la grosseur du grain ferritique ou austnitique des aciers. ISO 9042, Aciers Mthode manuelle destimation statistique de la fraction volumique dun constituant laide de grilles de points. 3 Terme et dfinition Pour les besoins de la prsente Norme internationale, le terme et la dfinition suivants sa
20、ppliquent. 3.1 grosseur de grain duplex condition existant lorsque la distribution des segments intercepts, diamtres ou surfaces du grain scarte dune distribution log normale simple NOTE Divers types de grosseurs de grain duplex sont dcrits en 8.1. 4 Termes abrgs ALA aussi grand que AGS grosseur moy
21、enne du grain BD structure en bandes BM structure bi-modale CS section transversale Long. longitudinal NL structure en collier OCC occasionnel Trans. transversal WR structure prsentant une large fourchette de grosseurs diffrentesISO 14250:2000(F) 2 ISO 2000 Tous droits rservs 5P r i n c i p e 5.1 Le
22、s grosseurs de grain duplex sont classes en deux classes, dans lesquelles des sous-catgories sont spcifies, puis la proportion en surface occupe par tel ou tel type de grosseur de grain est estime. 5.2 La mthode peut tre appliquea u xprouvettes ou aux produits prsentant une diffrence significative d
23、e grosseurs des grains dau moins deux indices, ceux-ci tant distribusd ef a on alatoire ou variable dun point de vue topologique. 5.3 Lensemble de la surface de lprouvette doit tre valu lorsque la mthode dessai permet de faire apparatre des carts par rapport une distribution log normale simple des g
24、rosseurs de grain et de dcrire des modles selon lesquels elles varient. 6 Appareillage 6.1 Gnralits Lappareillage utilis est fonction de la mthode dessai choisie (voir 6.2 6.4). 6.2 Mthode par comparaison pour estimer la proportion de surface occupe Cette mthode implique lutilisation dune planche di
25、mages types des fins de comparaison, pour amliorer la prcision du n ee s t i m a t i o nv i s u e l l ed el ap r o p o r t i o ne ns u r f a c eo c c u p e par un type de grosseur de grain. Les images types permettant ces comparaisons figurent dans lannexe A et illustrent les diffrents pourcentages
26、de la surface occupe par les grains clairs et par les grains foncs. 6.3 Mthode par comptage laide dune grille de points pour estimer la proportion de surface occupe Cette mthode implique lutilisation dune grille imprime sur un support transparent, ou sur un rticule, comme spcifi dans lISO 9042. 6.4
27、Dtermination de la grosseur de grain Les dispositifs spcifis dans lISO 643 doivent tre utiliss. 7 chantillonnage et prparation des prouvettes dessai Pour caractriser les modles de distribution de la grosseur de grain duplex, lvaluation doit porter sur lensemble de la section transversale de lprouvet
28、te prleve dans le produit. La surface examined o i ts es i t u e rl el o n gd el axe longitudinal dans un plan parallle la direction dans laquelle le produit a subi la dformation maximale, sauf sil sagit de barres et de tubes, auquel cas la surface examined o i t tre perpendiculaire l ad i r e cti o
29、 nd el ad formation maximale. Le nombre dprouvettes et lendroit o elles doivent tre prleves doivent tre spcifis dans la norme produit correspondante. Si tel nest pas le cas, ils sont laisss lapprciation du producteur. E nv u ed el examen micrographique, une des surfaces planes de lprouvette doit tre
30、 polie puis subir une attaque acide pendant une dure suffisante et selon une mthode approprie. Lattaque acide doit faire apparatre tous, ou presque tous, les joints des grains.ISO 14250:2000(F) ISO 2000 Tous droits rservs 3 8 Mode opratoire 8.1 Caractristiques et classification des grosseurs de grai
31、n duplex 8.1.1 Grosseur de grain duplex suivant une distribution alatoire 8.1.1.1 Gnralits Une grosseur de grain duplex suivant une distribution alatoire est dfinie par lun des points suivants. 8.1.1.2 Grains grossiers suivant une distribution alatoire Prsence de grains grossiers isols suivant une d
32、istribution alatoire, et dont la taille sc a r t ed el at a i l l em o y e n n e de la majorit des grains dau moins trois indices ISO. Il convient que ces gros grains isolsr e p r sentent moins de 5 % de la surface de lprouvette. Sils occupent plus de 5 % de la surface de lprouvette, celle-ci doit t
33、re traiteco mmed crit en 8.1.1.4. La Figure 1 donne une illustration photomicrographique de la structure ALA. 8.1.1.3 Large tendue de grosseur de grains Prs e n c ed eg r a i n sd ed i f f rentes grosseurs, dans une fourchette dune tendue inhabituelle, suivant une distribution alatoire, lcart entre
34、la plus grande et la plus petite grosseur des grains tant suprieur ou gal cinq indices ISO. La Figure 2 donne une illustration photomicrographique de cette structure caractrise par une large tendue de grosseur des grains. 8.1.1.4 Grains bi-modaux Prsence de deux grosseurs de grain diffrentes, suivan
35、t une distribution alatoire, prsentant un cart entre les tailles suprieur quatre indices ISO, et couvrant, ensemble, une proportion de plus de 75 % de la surface totale de lprouvette. La Figure 3 donne une illustration photomicrographique de la structure bi-modale. 8.1.2 Grosseur de grain duplex top
36、ologique 8.1.2.1 Gnralits Une grosseur de grain duplex topologique est dfinie par lun des points suivants. 8.1.2.2 Variations de la grosseur des grains sur la section transversale Prsence dune variation systmatique de la grosseur des grains sur la section transversale du produit telle que lcart entr
37、e les grosseurs moyennes des grains dun endroit lautre est suprieur ou gal trois indices ISO; ou, prsence de grosseurs de grain diffrentes en des endroits spcifiques de la section transversale du produit (par exemple, prsence de grains grossiers rsultant dune croissance germinative des grains sur de
38、s zones soumises des contraintes critiques) telle que lcart entre la grosseur des grains prsents sur ces zones spcifiques et la grosseur moyenne caractrisant le reste de la section transversale est suprieur ou gal trois indices ISO. La Figure 4 donne une illustration photomicrographique de la struct
39、ure de la section transversale ainsi observe.ISO 14250:2000(F) 4 ISO 2000 Tous droits rservs 8.1.2.3 Grains en collier Prsence de grains grossiers isols, entours par des anneaux de grains plus fins, lcart entre la grosseur des grains grossiers et celle des grains fins tant suprieur ou gal trois indi
40、ces ISO. La Figure 5 donne une illustration photomicrographique de la structure en collier. 8.1.2.4 Grains en bandes Prs e n c ed eg r a i n sd ed i f f rentes grosseurs structurs en bandes; lcart entre les grosseurs tant suprieur ou gal trois indices ISO. La Figure 6 donne une illustration photomic
41、rographique de la structure en bandes. Figure 1 Structure ALA Figure 2 Structure WRISO 14250:2000(F) ISO 2000 Tous droits rservs 5 Figure 3 Structure BM Figure 4 Structure CSISO 14250:2000(F) 6 ISO 2000 Tous droits rservs Figure 5 Structure NL Figure 6 Structure BD NOTE Les images types des grosseur
42、s de grain sont reproduites, avec autorisation, partir de lASTM E 1181. Pour obtenir des illustrations micrographiques des classes de grosseur de grain duplex, contacter lASTM, 100 Barr Harbor Drive, Philadelphia, PA 19428-3914, en mentionnant la rfrence complmentaire n o ADJ E 1181. Cette informati
43、on est donne lintention des utilisateurs de la prsente Norme internationale et ne signifie nullement que lISO approuve ou recommande lemploi exclusif du produit ainsi dsign. Des produits quivalents peuvent tre utilisss i le s td montr quils conduisent aux mmes rsultats.ISO 14250:2000(F) ISO 2000 Tou
44、s droits rservs 7 8.2 Estimation des proportions en surface 8.2.1 Mthode par comparaison La mthode consiste comparer le champ observ avec limage type. Le grossissement utilis doit permettre une rsolution visuelle suffisante pour bien distinguer les zones constitues par les grains grossiers de celles
45、 constitues par les grains fins. Pour les grosseurs de grain duplex rpartition alatoire, la comparaison doit porter sur au moins cinq zones de lprouvette slectionnes au hasard. Pour les grosseurs de grain duplex du type topologique, la comparaison doit porter sur lensemble de la surface de lprouvett
46、e. Calculer, pour chacune des zones examines, les proportions estimes en surface moyenne (exprimes en pourcentage de la surface totale) que reprsentent les diffrentes grosseurs de grain. 8.2.2 Mthode par comptage laide dune grille de points La mthode dfinie dans lISO 9042 doit tre applique sur la ba
47、se spcifieen8 .2 .1 . 8.2.3 Mthode par mesurage direct Cette mt h o d en es applique qu une prouvette prsentant une grosseur de grain duplex du type topologique et des couches superficielles de diffrentes grosseurs de grain. Dix mesurages au moins, en diffrents points, doivent tre effectuss u rl paisseur dune couche donne. Lpaisseur moyenne est calcule partir des rsultats de ces dix mesurages. Une estimation de la proportion en surface peut tre calcule partir de cette moyenne et de lensemble de la surface observe. 8.3 Dtermination
