【考研类试卷】2010年攻读工学博士学位研究生入学考试(数值分析)真题试卷及答案解析.doc

上传人:boatfragile160 文档编号:1380869 上传时间:2019-12-02 格式:DOC 页数:5 大小:120.50KB
下载 相关 举报
【考研类试卷】2010年攻读工学博士学位研究生入学考试(数值分析)真题试卷及答案解析.doc_第1页
第1页 / 共5页
【考研类试卷】2010年攻读工学博士学位研究生入学考试(数值分析)真题试卷及答案解析.doc_第2页
第2页 / 共5页
【考研类试卷】2010年攻读工学博士学位研究生入学考试(数值分析)真题试卷及答案解析.doc_第3页
第3页 / 共5页
【考研类试卷】2010年攻读工学博士学位研究生入学考试(数值分析)真题试卷及答案解析.doc_第4页
第4页 / 共5页
【考研类试卷】2010年攻读工学博士学位研究生入学考试(数值分析)真题试卷及答案解析.doc_第5页
第5页 / 共5页
亲,该文档总共5页,全部预览完了,如果喜欢就下载吧!
资源描述

1、2010年攻读工学博士学位研究生入学考试(数值分析)真题试卷及答案解析(总分:20.00,做题时间:90 分钟)一、计算题(总题数:5,分数:10.00)1.设 x=112109,y=200911 是通过四舍五入得到的近似值,z=xsiny,试分析函数 z的绝对误差限、相对误差限和有效数字(分数:2.00)_2.用迭代法求方程组 (分数:2.00)_3.已知矩阵 (分数:2.00)_4.给定线性方程组 其中 , 为常数设有求解上述方程组的迭代格式 Bx (k+1) +Cx (k) =b,k=0,1,(A)其中 (分数:2.00)_5.设 f(x)=e x ,将区间0,1作 n等分,记 x i

2、=in,i=0,1,n 1)写出函数 f(x)在0,1的分段线性插值函数 ; 2)若要使 (分数:2.00)_二、综合题(总题数:5,分数:10.00)6.求函数 (分数:2.00)_7.给定积分 I(f)= 1)写出求 I(f)的 Simpson求积公式 S(f); 2)如果 fC 4 a,b,证明:存在(a,b),使得 (分数:2.00)_8.给定常微分方程初值问题 取正整数 n,记 h=(ba)n,x i a+ih,i=0,1,n;y i y(x i ),1in,y 0 =设有下面的求解公式: (分数:2.00)_9.给定下面的初边值问题 其中 是光滑函数,满足 =0取正整数 M,N,记

3、h=1M,=1/N,x i =ih(0iM),t k =k(0kN)设有求解上述问题的差分格式 (分数:2.00)_10.设 X是一个内积空间,(.,.)为内积, 是 x的一个 n维子空间fx, 对 ,1i,jn,b i =(f, ),1in,矩阵 A=a ij ,b=(b 1 ,b 2 ,b n ) T 1)证明:线性方程组 Ax=b存在唯一解; 2)如果 P满足f-p= (分数:2.00)_2010年攻读工学博士学位研究生入学考试(数值分析)真题试卷答案解析(总分:20.00,做题时间:90 分钟)一、计算题(总题数:5,分数:10.00)1.设 x=112109,y=200911 是通过

4、四舍五入得到的近似值,z=xsiny,试分析函数 z的绝对误差限、相对误差限和有效数字(分数:2.00)_正确答案:(正确答案:e(x) 10 -4 ,e(y) 10 -4 ,e(x)(sin y)e(x)+x(cos y)e(y)2285610 -4 e r (z)= )解析:2.用迭代法求方程组 (分数:2.00)_正确答案:(正确答案:将方程 x=y+1代入第二个方程得(y+1) 2 -2y=2+e y ,即 y 2 1=e y 作函数z=y 2 1及 Z=e y 的图像(如下所示),得知方程 y 2 1=e y 有一个实根 y * (-1,-2)用 Newton迭代求方程 y 2 1=

5、e y 的根迭代格式为 )解析:3.已知矩阵 (分数:2.00)_正确答案:(正确答案:A =6A 对称,所以A 2 =(A) A 的特征方程为 )解析:4.给定线性方程组 其中 , 为常数设有求解上述方程组的迭代格式 Bx (k+1) +Cx (k) =b,k=0,1,(A)其中 (分数:2.00)_正确答案:(正确答案:将迭代格式写为 x (k+1) =-B -1 Cx (k) +B -1 b由迭代收敛性定理得该格式收敛的充要条件是 (-B -1 C)1 迭代矩阵的特征方程为 I+B -1 C=B -1 (B+C)=B -1 B+C=0,即B 十 C=0将矩阵代入得 )解析:5.设 f(x

6、)=e x ,将区间0,1作 n等分,记 x i =in,i=0,1,n 1)写出函数 f(x)在0,1的分段线性插值函数 ; 2)若要使 (分数:2.00)_正确答案:(正确答案:1)当 xx i ,x i+1 时 =f(x i )+fx i ,x i+1 (xx i )=e xi +n(e xi+1 -e xi )(xx i ),i=0,1,n-1 2) )解析:二、综合题(总题数:5,分数:10.00)6.求函数 (分数:2.00)_正确答案:(正确答案:记 f(x)= ,则 f“(x)= 在(0,1)上保号,所以 f(x)-p 1 (x)在0,1上有 3个偏差点:0,x 1 ,1,其中

7、 x 1 (0,1)由特征定理得 即 求得 )解析:7.给定积分 I(f)= 1)写出求 I(f)的 Simpson求积公式 S(f); 2)如果 fC 4 a,b,证明:存在(a,b),使得 (分数:2.00)_正确答案:(正确答案:1) 2)作 f(x)的 3次 Hermite插值多项式 H(x),满足 则 H(x)难一确定,且有 由插值条件和 Simpson公式的代数精度以及积分中值定理得 )解析:8.给定常微分方程初值问题 取正整数 n,记 h=(ba)n,x i a+ih,i=0,1,n;y i y(x i ),1in,y 0 =设有下面的求解公式: (分数:2.00)_正确答案:(

8、正确答案:局部截断误差为 )解析:9.给定下面的初边值问题 其中 是光滑函数,满足 =0取正整数 M,N,记h=1M,=1/N,x i =ih(0iM),t k =k(0kN)设有求解上述问题的差分格式 (分数:2.00)_正确答案:(正确答案:1)由 Taylor展开得 截断误差为 2)记 r=h 2 ,s=h,则差分格式可写为(1+2r)u i k+1 =(t+s2)u i-1 k+1 +(rs2)u i+1 k+1 +u i k , i=1,2,M-1;k=0,1,N-1,易知 )解析:10.设 X是一个内积空间,(.,.)为内积, 是 x的一个 n维子空间fx, 对 ,1i,jn,b i =(f, ),1in,矩阵 A=a ij ,b=(b 1 ,b 2 ,b n ) T 1)证明:线性方程组 Ax=b存在唯一解; 2)如果 P满足f-p= (分数:2.00)_正确答案:(正确答案:1)A 对称,对 =(x 1 ,x 2 ,x 3 ) T R n 有 当 x0 时,由于 1 , 2 , n 线性无关,所以 因而 x T Ax0 A正定 A非奇异 2)记 )解析:

展开阅读全文
相关资源
猜你喜欢
  • BS CECC 45000-1977 Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components generic specification space-charge controlled tubes《电子元器件件质量评估协调体系 一般规范 空间电荷控.pdf BS CECC 45000-1977 Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components generic specification space-charge controlled tubes《电子元器件件质量评估协调体系 一般规范 空间电荷控.pdf
  • BS CECC 45004-1977 Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components - Blank detail specification disc seal power tubes《电子元器件用质量评估协调体系规范 空白详细规范 盘形.pdf BS CECC 45004-1977 Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components - Blank detail specification disc seal power tubes《电子元器件用质量评估协调体系规范 空白详细规范 盘形.pdf
  • BS CECC 46000-1978 Harmonized system of quality assessment for electronic components generic specification cold cathode indicator tubes《电子元器件用质量评估协调体系 一般规范 冷阴极显示管》.pdf BS CECC 46000-1978 Harmonized system of quality assessment for electronic components generic specification cold cathode indicator tubes《电子元器件用质量评估协调体系 一般规范 冷阴极显示管》.pdf
  • BS CECC 46001-1977 Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components - Blank detail specification cold cathode indicator tubes《电子元器件用质量评估协调体系规范 空白.pdf BS CECC 46001-1977 Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components - Blank detail specification cold cathode indicator tubes《电子元器件用质量评估协调体系规范 空白.pdf
  • BS CECC 50000 Supplement No 1-1983 Harmonized system of quality assessment for electronic components - Generic specification discrete semiconductor devices - CECC assessed process .pdf BS CECC 50000 Supplement No 1-1983 Harmonized system of quality assessment for electronic components - Generic specification discrete semiconductor devices - CECC assessed process .pdf
  • BS CECC 50008-1982 Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components Blank detail specification ambient-rated rectifier diodes《电子元器件质量评定协调体系规范 空白详.pdf BS CECC 50008-1982 Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components Blank detail specification ambient-rated rectifier diodes《电子元器件质量评定协调体系规范 空白详.pdf
  • BS CECC 50009-1982 Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components Blank detail specification case-rated rectifier diodes《电子元器件质量评定协调体系规范 空白详细规范.pdf BS CECC 50009-1982 Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components Blank detail specification case-rated rectifier diodes《电子元器件质量评定协调体系规范 空白详细规范.pdf
  • BS CECC 51001-1987 Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components - Blank detail specification mercury wetted change-over contact units magneti.pdf BS CECC 51001-1987 Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components - Blank detail specification mercury wetted change-over contact units magneti.pdf
  • BS CECC 63000-1990 Harmonized system of quality assessment for electronic components Generic specification film and hybrid integrated circuits《电子元器件用质量评估协调体系 一般规范 薄膜和混合式集成电路》.pdf BS CECC 63000-1990 Harmonized system of quality assessment for electronic components Generic specification film and hybrid integrated circuits《电子元器件用质量评估协调体系 一般规范 薄膜和混合式集成电路》.pdf
  • 相关搜索
    资源标签

    当前位置:首页 > 考试资料 > 大学考试

    copyright@ 2008-2019 麦多课文库(www.mydoc123.com)网站版权所有
    备案/许可证编号:苏ICP备17064731号-1