1、premiere iidition First edition i 990-07 Depuis le ler janvier 1997, les publications de la GEI sont numrotes partir de 60000. Les versions consolides de certaines publications de la GEI incorporant les amendements sont disponibies. Par exempie, les numros ddition 1.0, 1,s et 1.2 ndiuent respectivem
2、ent ia ublication de base, la publication de base ncooran tamendement I, et la publcaon de base incoporan lec amendemens 4 et 2. n he contenu technique des publications de la CE1 est consammenr revu par la CE! afin quil reflete ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs la date de reco
3、nfir- mation de la publication sont disponibles dans le Catogue de la CE!. Les renseignements relatifs & des questions itude el des travaux en cours entrepris par le comit technique qui a Btabli cette publication, ainsi que la lisie des pubiications tablies, se trouvent dans les documents ci- dessou
4、s: Publi annuellement et mis & jour rgulirement atalogue en ligne)” Disponible la fois au dte web= de la El* et comme priodique imprim En ce qui concerne ia terminologie gnrale, le lecteur se reportera la CE1 60050: Vocabulaire Electro- technique lufernational (VEI). Pour lec symboles graphiques, le
5、s symboles littraux et les signes dusage gnral approuves par la GEI, le lecteur consultera la CE! 60027: Symboles lifteraux 2 utiliser en lectrotechnique, la CEl 6041 7: Symboles graphiques utilisables sur le matriel. index, relev el compilation des feuilles individuelles, et la CE1 60617: Symboles
6、graphiques pour schmas. As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. s Consolidated versions of some IEC publications nciding amendments are available. For example, edition numbers 1 .O, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the b
7、ase ubiicaQn incor- porating amendment 1 and the base publcaon ncporang aendments I and 2. The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that lhe content refieets current technology. Information relating 40 the date of the reconfirmation of the pub
8、lication is available in the IEG catalogue. normation on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is to be found at the fllown IEC sources: BEC web site* Published year
9、ly with regular updates (On-ine catalogue)* Available both at the IEC web site* and as a printed periodical ue of E“ For general terminology, readers are referred to I EC 60050: International Elecfrotechnical Vocabulary For graphical symbols, and ieiker symbols and signs approved by the IEC for gene
10、ral use, readers are referred to publications IEC 60027: Letter symbols to be used in electrical technology, IEC 60417: Graphical symbols for use on equipment. index, survey and compilation o the single sheefs and IEC 60617: Graphical symbols for diagrams. (IEV). * Voir adresse sur ta page de titre.
11、 * See web site address on title page. Premiere dition O IEC 9970 Droits de rerodio rservts - Coy - all rights resewed Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni No part of this publication may be reproduced or utilized in utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun any for
12、m or by any means, electronic or mechanical, proced, electronique ou mcanique, y compris la photo- including photocopying and microfilm, without permission in copie et les microfilms, sans laccord crit de 1diteur. writing from the publisher. nernaona Eleconica Commission Telefax: +41 22 919 0300 3,
13、rue de Varernb Geneva, Switzerland IEC web cite http: /m.iec.ch e-rnail: inrnailiec.ch CODE PRIX PRICE CODE Pourprix, voir catalogue en vigueur For price, see current cataiogue Cornrnission Icrotechnie Internationale Ienational Electrotechnical Commission -2- Pages BpRfiA%muLE . 4 B”R6FACE 4 Article
14、s 1 . Domaine dapplication . . . 6 . 4 . 3 . oesse 10 age . 5 5 Clause 1 . Scope . 7 . 7 . 91 -4- 1) Les decisions ou accords officiels de la CE b en ce qui conceme les questions techntque3, prar les recoinrnandations de La CE hl &ans la mcure o& les conditions nationales le perinetti. 4) On reconna
15、it quil est dsirable que laccord international sur ces queskiis soit suivi dun eAort pour harmmiser les rkf*fes nationales de norniulisation avec ccs recommandations dans la mewre OU ies conditions naziloilales le permettent. Les Cornit& nationaux sengagent a user de leur influence dans ce but. La p
16、resente recomn1aildatioP1 a &t tablie par Ie ColicBit dEtudes 7-40 39 de fa C E I : Tubes lectroniques. Elle fait partie dune srie de publications traitant des mesezres des dispositifs photusensibies. Le Cata- logue des publications de la c E 1 donne tous renseignements SUT les ciutres parties de ce
17、tte sCrie. EI1e doit ointement avec la Premitke partie: ecomm&Mdations fondamentaies, dite comme Un premier projet fut discut lors de la runion tenue A Londres en 968, B la sraite de laquelle un projet revis fut soumis a “approbation des Comits nationaux suivant la &le des Six Mois en janvier 1969.
18、Les pays suivants se sont pronoacs explicitement en faveur de fa publication de cette troisi&me partie: Australie Etats-Unis dAmrique Fzance Israel Italie Japon suiscc TchcosHovaquie &publiques Socialistes Sovitiques FOREWORD I) The formal decisions or agreements of the I E C on technical matters, p
19、repared by Technical Committees on which all the National Committzes having a special interest therein are represented, express, as nearly is possihle, an international consensus of opinion on the stibject dealt with. They have the form of recommendations for international use and they iw accepted b
20、y lhe National Committees in that sense. 3) In order to promote this international unification, the I E $: expresszs the wish that all National Committees having as yet no national rules, when preparing such rules, should use the T E C recoii7rnendations as the Fundamental basis for these rules in s
21、o far as national conditions will permit. 4) The desirability is recognized of extending internationai agreement on these matters through an endeavour to harmonize national standardization rules with these recommendations in so far as national conditions will permit. The National Committees pledge t
22、heir influence towards that end. 2) PREFACE commendation has been prepared by I E C Te&nicaI Commiebee No. w9 Electronic It forms 03x2 of a serie% dealing With the measurement of photosensitive devices. ecomendations, with which this ublication Emst be used: is be made to the carrent Catalogue of I
23、E C Publicatioas for informmation on the other ublication 306-1 A first draft pas discussed at the meeting held in London in 1968, us a result of which a revised draft was submitted to the Wationak Committees for approrial under the six MoEt1pIs9 Australia “rance ?israeH. Italy Japan Turkey Union of
24、 Soviet Socialist Unitcd states of America 1. e mesure cnernanf les ceBi aI atigser dans le spectre visible. rdponrue u temps de montee et du temps s requis pour que la sortie lectrique croisse dm fa4 Ius lev de Ia valeur maximale lorsquua tat consta lairement est aplqu instanfa- a6ment. k gCntral,
25、on conasidike les niveaux &. 4 Ha sortie lectriqae dcroisse dun po eur maxiniaie lorsque ltat constant En gnral, on cose les niveaux &. 9 uotient de (I) la tension aux bornes du dispositf par (2) le courant travesat le celui-ci est soumis un aremet. -7- 1. e ecommeundatio.,.i1 describes measuring me
26、thods for photoconuctve cells for eise in the visible spectrum. esponse time is defined in terms of rise and faII time. 2.2.1 Rise time The time required for the electrical output to rise from a stated low percentage to a stated higher percentage of the maximum value when a steady state of unaton is
27、 insntaneousy applied. It Is usual to consider the 1 % and 90% levels. 2.2.2 Fall time The time required for the electrical output to fall from a stated high percentage to a stated lower e maximum valrme when the steady state of mnation is insantaeQusy removed. It is usual to consider the 90% and 40
28、% levels. 2.4 a resistance The quotient sf(1) the voltage across the device by (2) the current through the device when illumi- nation is applied to the device. 25.2 C5urmt i?itiaI mm &claiFement our uHI ensemble dtermin de conditions, premlitrc valetsr ratkpiement constante 5OU8 &clairenlene apes un
29、e &iodc de stockage ou de fonctionn ent dans des cnditio Note. - Le murant initial sous daircment est atteint g6n6ralernent aprks quelques secondes dexposition dans les eonditiows parPticimli6res. (1) la teasion aux ornes du dispositif par (2) le courant traversant l: dispositif en Cour8Bt circulant
30、 dans uu dispositif hoto6kx&kp?e en I“absence -9- For a particular set of conditions, t e first virtually eonstant value sf the lnato resistance of storage or state operating conditions. AWe. - The initial illumination resistance usually QCCUS after a few seconds under the particular conditions but
31、it is sometimes more practical to make the me2asuremeBpt on specific types of devices after a stated time interval. en a voltage and unaton are appk “5.2 IBitiLTl eurr-eat articular set of con eriod of storage or stated operating conditions. Nore. - The ia%& illumination emept usually occurs after a
32、 few seconhls under the particular conditions. ne quotient of QI) the voltage across tke device by (2) of luatsn. a garticuIar set of rate of change of ditions, the dark sistance after such a time, un er these conditions, dark resistance is ss than 2 % per 5 min, For a particular set of condltions,
33、the dark resistance after a stated time, under these conos, medat olng a stated oto-electric device in the 2-7- I u dark current For a particular set f condtos, the dark current er such a time, un er these conditions, t e rate of change of dark currenit as less than 2 ”/, For a particular set of con
34、ditions, the ark curre:nt after a stated time, un iately foBlowPng a state - 10 - vant la nesure, 1a cellule doit avoir subi un pricondtionement par exposition & la lermikre prescrite* La lumilre moyenne dune piece (minimum 250 lx1 est suggre comme pcondtonement b dans lobscurit est propos comme rfr
35、ence secon pcoitionneent CaUGe son importance dans les applications existaates. La dur condtioneent doit etre su nte pour obtenir 1“quilibre ou la stabilit. oivent &re faites & la temprature ambiante (25 5 “Cl. La cellule a mesurer doit &re expose B an clairement lumineux cornu, de temprature de dis
36、trk- Le courant doit &re mesar avec an potentiel appliqu infdrieur & celui pour lequel la non-linarit bueion gale 2 854 O vient apprciable. e grandes prcautions sont requises pour maintenir lerreur totale au-dessous de 5 %. irement (lorsque Ia rponse tend devenir lente), ane dure safisante doit Stre
37、 des conditions stables, mais cette dure doit etre suEsamment courte pour kiter les effets de drive vers 1“quilibre au niveau dclairement exhtant, cause moire. Les r6suItats de mesure peuvent etre prisents sous forme dune courbe reprdsentant le courant (ou la conductance, ou la rsistance en indiquan
38、t la teension aplue1 en fonction dans une plage pour laquelle la cellule est convenable. Etant donn ltendue des plages impliques, des coordonndes logarithmiques sont prfrables. re de la surface sensible illumi-sier, ou lgsuverture de la fenetre, doit etre indique dans le essin d3encon1brement, 3.2 T
39、emps de mont&? e un obturateur m6ea e est utiGs pour former les impulsions excitation. La rparti- en foctonnemnt. Les conditions de coapare doivent &re soit lobscurit, soit Ia condition sans nergie qui ne peut &re modifie par lutilisation de masqties sup6eares Voir figrare 1, page 12. scente et la f
40、riquenc tion spectrale de la source doit &Ire spciffe en plus du niveau nergtique pour les conditions Les mthodes utilisant une impulsion uniti ou un train usions sont pern1ises pourvu que les ppropries soient prises. Les dures de comuatio des imguEsions 6ergtes doi- ampllent faibles par rapport aux
41、 dures a mesurer. peut entrainer la ncessit nnes. La dure de iirnp laide dun detectear auxiliaire & caractristi- amment longle pour permettre la staistion des caacrisiqes avant les mesures de temps de descente. A cause de la non-Iinarit certains disposMs A. lnergie incidente, il est dsirable que le
42、temps de rponse soit nergie au moins, - 11 - 3. 8 3.1 Lminous XeEsitMy light u 25 lx) is suggested as a standard history. rior to easureent, the cell shall attain a prescribed light exposure history. Average room is proposed as a second reference history due to its importance in e duration of life h
43、istory nlkrst be su%cient to attain equilibrium or stability. easurements shall be ma e at room temperaterre (25 i 5 OC). The cell to be measured shall be exposed to known illuminance of 2 854 distribution tempera- easured at an applied potential below that at which non-linearity or temperature ture
44、, rise becomes appreciable- Extreme care is required to p the over-all error below 5 ”/,. me tends to be slow), a duration of time shall be allowed, which is to be attained but short eiiough to avoid the eause of the non-linear respolise to incident energy of some devices, that the response time be
45、stated at two or more leveis of energy, - 12 - photoconductrice selon 13axe de EgigPP our dterminer Ia sensibilit spectrale relative dune celltile photoconductrice, le rayonnement monochromateur est envoy sur la cellule et %a rponse est note, Un dtecteur onnait Ia valeur a%sollae de la sensibilit sp
46、ectrale, par exemple en amperes pai watt, B nne Iongaeur donde quelconque, la valeur de la sensibilit6 spectrale absolae B toute autre Ion- guem donde peut &re obtenue & partir des valeurs & sensildit spectrale relatiw. La temp61ature ambiante au moment de Ia mesure doit ei-e indique, - 13 - The ill
47、umination shall be directed along the viewing axis of the device and uniCorm1-y distributed over the active surface. Values of ambient temperatnre, bias and load, and the orieritation and inask- ing or aperture arrangement used in the masureinent shall be described. Where applicable, the history of
48、the device, time in operation and time in storage shall be stated. The naximum resistance in the measuring circuit shall be less than 1 of the lowest value of the cell resistance during the measurement. In determining the relative spectral sensitivity of a photoconductive cell, the radiation from a Is allowed to fall on tke ce41 and the output is noted. A calibrated thermopile monoChromator detector with a Bat response in the
